(3)ナノワイヤーの材料強度物性評価

第 3 部 物質・材料研究における今後の研究動向
第 6 章 信頼性・安全性を向上するための材料
3.信頼性評価技術の新展開
(3)ナノワイヤーの材料強度物性評価
土佐 正弘 材料信頼性センター、物質・材料研究機構
1 .はじめに
フラーレンやナノチューブをはじめナノシートや
ナノファイバーなどナノ機能材料として現在その新
規物性解析や新機能発現が注目され、特に炭素原子
第
6
章
信
頼
性
・
安
全
性
を
向
上
す
る
た
め
の
材
料
おける振幅強度の自乗根平均をプロットして求めて
おり、平均して 1.8TPa とかなり高い値が得られて
いる。
2.2 原子間力顕微鏡
から構成されるカーボンナノチューブ(CNT)に
二硫化モリブデン(MoS2)基板表面に固定した炭
ついては、高輝度電界放出電子源や超高速トランジ
化ケイ素(SiC)ナノロッド(径: 23.0 nmφ)
、およ
スター等エレクトロニクスデバイス応用をめざし
び、MW-CNT(径: 32.9 nmφ)一本ごとについて
て、電気・電子特性の評価を主としてその測定手法
TEM 内で観察しながら原子間力顕微鏡(AFM/LFM)
の開発が世界中で数多く推し進められていている。
2)
を用いてヤング率や破壊強度等を測定している 。
しかしながら、微小構造材料として重要な特性であ
基板表面から伸びたナノロッドや CNT の梁に LFM
る機械的強度については、ナノスケールというその
プローブを水平方向に走査して当てて曲げ、梁先端
微小サイズがゆえに自由な取り扱いや持ち運びが困
部から根本の間にわたってプローブを当てる位置を
難であり、通常サイズの構造材料で一般的に行われ
順次ずらしていき、各位置での曲げを TEM 観察す
る引っ張り試験器等を用いた自在な材料強度測定手
ることで、曲げ強度(水平力: LF)と曲げ量との
法については世界的にもほとんど確立されていな
関係からヤング率を求めており、SiC ナノロッドに
い。ここでは CNT をはじめとする直径数 nm ∼数
ついては 610GPa とウイスカーに近い値が得られて
百 nm のナノワイヤーについての機械的強度の測定
おり、また、CNT については 1.06TPa が得られて
に関する研究についてその現状と今後について簡単
いる。
に述べたい。
2 .世界の研究動向
機械的強度特性としてナノスケール材料の曲げ強
度や引っ張り強度の測定が試みられており、以下に
2.3 試料治具
TEM 内で引っ張り試験を行える応力印加治具を
微細加工により作製してアルミニウムの薄片(全長
10 µm、厚さ 100 nm)の応力歪み曲線を測定してい
る 3)。
透過型電子顕微鏡(TEM)内で力学的現象に基づ
く挙動を In-situ 観察しながら強度特性が計測され
た主な例を示す。
CNT を主としたナノワイヤーの強度測定が行わ
2.1 熱振動
れているが、ナノワイヤーのサイズほどではなくて
CNT を TEM 測定用 Ni 製リングサンプルホル
ダーの坑内端に付着させ、その固有の熱振動の振幅
を TEM 内で室温から 1,000K まで徐々に加熱しな
がら観察することによって CNT(全長:0.66 ∼ 5.81
µm、径: 1.0 ∼ 6.6 nmφ)一本ごとのヤング率を測
1)
定している 。これは、各所定の CNT 加熱温度に
398
3 .国内の研究動向
もミクロンスケールなら微小材料においても正確な
引っ張り強度測定が行われている。
3.1 共振周波数
引っ張り用のプローブを 2 本装備した走査型電子
顕微鏡(SEM)内で MWCNT について、プローブ
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第 3 部 物質・材料研究における今後の研究動向
第 6 章 信頼性・安全性を向上するための材料
を対抗させその間に CNT を挟んで内層引き抜き強
度測定や座屈による変位-応力曲線の測定を行った
り、また、片持ち梁として機械的に共振させること
で比較的簡単に一本ごとにヤング率を測定すること
に成功している 4)。
3.2 評価試験装置
サイズはミクロンレベルと大きめではあるが、そ
のスケールの形状のまま、強度、靱性、疲労特性等、
一般的な機械的性質を正確に測定できる評価試験装
置を開発し、世界最小のミクロンサイズの試験片の
引っ張り強度や破壊靱性および疲労特性等の材料強
図 2 SiC ナノワイヤーの実測値と予測値
5)
度物性の評価が試みられている 。
3.3 NIMS の現状
現在まで、NIMS ではシリコン(Si)ナノワイ
に成功しており、この値は理論予想されるよりも非
常に高い強度が示されている。ナノワイヤーの自在
なマニピュレーションについては、100 nmφ以下、
ヤーとして直径 10 ∼ 200 nm、全長 10 µm ∼ 10 mm
特に 10 nmφ以下の微小なナノワイヤーを容易に操
のものを多種類作製することに成功しており、その
作・計測するべく、レーザー光を用いたマイクロレ
作成温度については図 1 に示すように 250℃以下の
ベルでの微小光硬化接合やマイクロ微小球体の光ピ
低温で結晶性長尺 Si ナノワイヤー(∼数十 nm 径)
ンセット操作・接合手法、ならびに、走査型電子顕
を任意の場所に作製することに成功している。これ
微鏡内で 2 本のマイクロプローバーを用いてナノワ
は低圧・低温 CVD 法などを用いて独自に開発した
イヤーを持ち上げる、運ぶ、所定位置に配置という
ものであり、特に 250℃以下でも結晶性ワイヤーを
基本的微小操作の確立を推し進めている。
第
3
部
物
質
・
材
料
研
究
に
お
け
る
今
後
の
研
究
動
向
作製したのは世界的にも初めてであり、さらに、図
2 に示すように計算上非常に高い強度(∼ 46 GPa:
数 µm 長)が予想されている。また、ナノスケール
4 .今後の研究動向
の特性評価に関しては、ナノワイヤーの熱伝導率計
これまで単発的ながらある程度強度データが得ら
測用デバイスを設計・試作している段階であり、ま
れてきているが、どのケースもかなり高度な技術や
た、強度特性については、歪みゲージを装備するマ
経験が要求されるものばかりであり、やはりナノワ
イクロプローバーを試作し、これを用いて約 100
イヤーの機械的強度測定における課題は構造材料一
nm 径のナノワイヤーについて大気中光学顕微鏡下
般で普通に行われているように測定したいナノワイ
で簡易的に曲げ強度特性の測定(180 µN の応力で
ヤーをいかに容易に測定治具にセットするかであ
1.7 倍の伸びの観察により約 160 GPa 以上の強度)
り、今後はそのような簡便な測定手法の確立に向け
て研究が進んでいくであろう。
5 .まとめ
CNT をはじめとする直径数 nm ∼数百 nmφのナ
ノワイヤーについての機械的強度の測定に関する研
究についてこれまでの主な研究について記述した
が、ナノスケールというその微小サイズがゆえに自
由な取り扱いや持ち運びが困難であり、依然として
図 1 250 ℃の低温合成により作製した Si ナノワイヤー
2006年度物質材料研究アウトルック
多種多様の構造材料の系統的材料強度測定の研究と
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第 3 部 物質・材料研究における今後の研究動向
第 6 章 信頼性・安全性を向上するための材料
は比較できるレベルにはなく、今後の一層進展が望
まれる。
引用文献
1 )M. M. J. Treacy, T. W. Ebbesen and J. M. Gibson:
Nature 381(1996)678.
2 )E. W. Wong, P. E. Seehan and C. M. Lieber: Science 277
(1997)1971.
3 )M. A. Haque and T. A. Saif: Proc. National Academy of
Science 101(2004)6335.
4 )秋田成司、中山喜萬:第 53 回応用物理学関連連合講
演会講演予稿集、No. 0、2006、p. 15.
5 )TIT, http://www.ames.pi.titech.ac.jp/index.html
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