IRSF1.4m望遠鏡用可視・近赤外線 同時分光器の開発 國生拓摩、竹内菜未、山中阿砂、金田英宏（名古屋大学）、永山貴宏（鹿児島大学） Outline 1. IRSF望遠鏡 2. 光学設計、仕様 3. 開発状況 -光学調整 -InGaAs検出器 4. まとめ 1. IRSF望遠鏡 （InfraRed Survey Facility） 南アフリカ サザーランド観測所 （南緯-32度, 東経20度, 標高1716 m） 1.4 m望遠鏡+近赤外線3バンド 同時撮像カメラSIRIUS (7’.7 FoV, 0”.45/pix) 直線・円偏光観測ユニット ND、狭帯域フィルター 大規模サーベイ、モニタリング観 測による豊富なデータベース 分光器によるフォローアップ 観測、南半球天体の分光観測 3. 光学設計、仕様 冷凍機 望遠鏡からの光 可視光分光部 （0.45-0.90 μm） 波長分解能（λ/Δλ） [email protected] μm [email protected] μm [email protected] μm [email protected] μm [email protected] μm [email protected] μm 点源に対する感度 （10分間積分,S/N=10） 16.0等@1.2 μm 近赤外分光部 15.5等@1.6 μm （1.0-2.5 μm） 14.5等@2.2 μm 18.5等@0.55 μm 18.0等@0.64 μm • 可視光・近赤外線を同時分光 • 少ない光学面数⇒高い光学系スループット（~70%） 17.2等@0.80 μm 3. 光学設計、仕様 冷凍機 望遠鏡からの光 可視光分光部 （0.45-0.90 μm） 波長分解能（λ/Δλ） [email protected] μm [email protected] μm [email protected] μm [email protected] μm [email protected] μm [email protected] μm 点源に対する感度 （10分間積分,S/N=10） 17.6等@1.2 μm 近赤外分光部 16.8等@1.6 μm （1.0-2.5 μm） 15.7等@2.2 μm 18.5等@0.55 μm 18.0等@0.64 μm • 可視光・近赤外線を同時分光 • 少ない光学面数⇒高い光学系スループット（~70%） 17.2等@0.80 μm 3. 光学設計、仕様 検出器へ 望遠鏡からの光 可視光分光部 （0.45-0.90 μm） 近赤外スリット部 断面図 冷凍機 波長分解能（λ/Δλ） 冷凍機 冷凍機 スリット(幅70 μm～1”) 片面は反射鏡 [email protected] μm [email protected] μm J-band filter [email protected] μm [email protected] μm [email protected] μm [email protected] μm 点源に対する感度 （10分間積分,S/N=10） 17.6等@1.2 μm Slit viewer 17.6等@1.2 17.6等@1.2 μm の画像 μm 16.8等@1.6 16.8等@1.6 近赤外分光部 16.8等@1.6 μm • 焦点位置に近赤外線スリットビュワーを設置 15.7等@2.2 15.7等@2.2 μm （1.0-2.5 μm） スリット 15.7等@2.2 μm • 周囲の星の位置情報をもとに、観測天体をス 18.5等@0.55 18.5等@0.55 μm 18.5等@0.55 μm リットに導入（専用ソフトウェアを開発） 18.0等@0.64 18.0等@0.64 μm 18.0等@0.64 μm • •可視光・近赤外線を同時分光 InGaAs検出器を使用 17.2等@0.80 μm 17.2等@0.80 観測天体 5 • 少ない光学面数⇒高い光学系スループット（~70%） 17.2等@0.80 μm 5 3’×4’ 4. 開発状況 光学素子の測定・組み上げ <0.1λRMS 0.1λ 球面鏡 表面形状誤差@80K スリットビュワー Φ1m真空チャンバー プリズム オプトクラフト制作 球面鏡 製作中の真空容器 検出器 -0.1λ 4. 開発状況 -光学調整 光源:レーザーダイオード フーリエ分光器で スペクトルを測定 中心波長:1.533 μm FWHM:~2 nm • Roither LaserTechnik社製 • 波長校正源として使用 1.528 1.532 1.536 [μm] 測定結果（@300 K、InGaAs検出器を使用） 6pix 6pix シミュレーションとの比較 • 結像位置:±3pixで一致 • 冷却下でも測定中 • 焦点位置にマスクを設置し、スリット ビュワーで測定: 4. 開発状況 -InGaAs検出器の評価 InGaAs検出器（台湾製）：安価な二次元アレイ検出器 →天体観測用としての性能評価（リニアリティ、暗電流、冷却試験） 12 mm パラメータ @25℃ 画素数 640×512 画素サイズ 25 μm×25 μm 有高感度波長 0.9-1.7 μm 量子効率 >70% 読み出し回路 Nagayama+08 4. 開発状況 -InGaAs検出器の評価2.0 （仕様値と10%で一致） • full wellの85%以下で高い リニアリティ 暗電流 • 282-304 K間の7点で測定 • データ点をフィッティング: 𝑰𝒅 = A × exp −𝑬𝒈 𝟐𝒌𝑩 𝑻 + BG （A:定数、BG:背景光、Eｇ:energy gap） • カットオフ波長:1.65 μm • 160 Kで暗電流~1e− /sと予想 1.5 1.0 0.5 0 検出器出力 [Me− /s] • 2温度の暗電流で測定 • full well: 1.76 Me− 光子数 [Me− ] リニアリティ 10 積分時間 [s] 18 データ点: × 仕様値: ■ フィッティング: ー 1 0.1 302 K + 282 K × 307 289 温度 [K] 277 4. 開発状況 -InGaAs検出器の評価 冷却試験 • 冷凍機を使用 • ヒーターで検出器の温度を制御し、 160-300 K間で暗電流を測定 検出器出力 [e− /s] 10𝟓 𝟒 クライオスタット内部 • デフォルト:暗電流1000 e− /s • MUXの駆動電圧・電流を 下げると200 e− /sまで低減 • MUXのFET glowが原因? 10𝟑 300 250 検出器 温度計 MUX current ■5.5 V, normal ●5.5 V, minimum ▲5.0 V, minimum 10 ヒーター 200 温度 [K] 170 150 スリットビュワーに使用 5. まとめ 南半球天体の分光観測、これまでにIRSFで観測した天体のフォ ローアップ観測のため、新しい分光器を開発中。 特徴:可視・近赤外を同時分光、高い光学系スループット。近赤外線 スリットビュワーにより、観測天体をスリットに導入。 常温・冷却下で光学調整を行っている（今年度中の実験室内完成を 目指す）。 InGaAs検出器の評価: MUXを駆動する電流、電圧を調整し、暗電 流は200 e− /s ⇒スリットビュワーに使用する予定。
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