深紫外(266nm)レーザー加工装置と 微細加工への応用 第4高調波レーザ加工機の紹介 特長 加工例 SiC・GaNウェハマーキング デスクトップ加工装置 薄膜加工装置(フラッシュランプ励起) タカノ株式会社 画像計測グループ 松崎 裕也・那須野 正支・矢島 正男 1 YAG第4高調波レーザ加工機 UVTS-4500 装置の特徴・ソフトウエア・加工例を紹介 2 レーザタイプ別の比較 種類 加工 加工 加工径 波長 価格 (nm) 速度 品質 (μm) 長所 CO2レーザ 10600 ◎ ◎ × YAGレーザ(基本波) 1064 ○ ○ △ グリーンレーザ(2倍波) 532 ○ ○ △ 安価・小型 高出力 溶接 50 汎用性大 汎用性大 30 UV-YAG(3倍波) 355 △ △ ○ 20 DUV-YAG(4倍波) 266 △ × ◎ 15 エキシマ 248 × 193 ○ ◎ - 100 微細加工 光分解 微細加工 光分解 微細加工 光分解 3 特徴:LD励起SHG+FHG波長変換 ハーフコスト・ハーフサイズの加工システム 日常のメンテナンス時間・コストの低減 加工工法(プログラム)を提案 生産性向上に寄与するシステム提案 充実したメンテナンス体制 4 266nmレーザ仕様 266nmレーザ仕様 比較表 基本仕様 UVTSUVTS-4300 ランプ励起 UVTSUVTS-4500 LD励起( 励起(200mW LD 励起(200mW) 200mW) C社 A製品 レーザの種類 NdNd-YAG第四 YAG第四高調波 第四高調波 NdNd-YAG第四高調波 YAG第四高調波 NdNd-YVO4第四高調波 YVO4第四高調波 基本発振器 ランプ励起パルスレーザ LD LD励起パルスレーザ 励起パルスレーザ LD励起パルスレーザ LD励起パルスレーザ (基本波) (第二高調波) (第四高調波) 波長変換結晶 発振波長 光出力 パルス周波数 パルス幅 収束スポット径 スキャンエリア 冷却方式 BBO(第二高調波) BBO(第二高調波) BBO(第四高調波) BBO(第四高調波) - BBO(第四高調波) BBO(第四高調波) LBO(第二高調波) BO(第二高調波) CLBO CLBO(第四高調波) BO(第四高調波) 266nm 266nm 266nm 250mW@ 250mW@2.5kHz 1kHz~ 1kHz~10kHz 60ns/2.5kHz 20μm 20μm(調整可) 30~ 30~50mm□( 50mm□(変更可) □(変更可) 水冷 200mW@ 0mW@10kHz 10kHz 1kHz~ 1kHz~40kHz 40kHz 5ns/5kHz ← ← 空冷 3.0W@30kHz 1kHz~ 1kHz~300kHz <20ns@30kHz ← ← 水冷 5 波長と光透過率 石英以外の材料 で,10%以上の 吸収率. サファイア・ガラ ス・のカット・溝加 工が可能. 樹脂でも熱ダレを 極小に出来る. 6 光分解加工 熱加工 光分解加工 分子 分子 分子 分子 分子 分子 分子 分子 分子を振動させ(加熱) 結合を破壊する 結合を光で断ち切るので 熱の発生が少ない 7 難加工材を効率的に加工 光分解加工 266nm(FHG):355nm(THG):532nm(SHG)加工特性比較 熱影響による加工痕が残る 波長 下地メタルにダメージ発生 銅上のフォトレジストフィルムの除去加工 266nm 355nm 532nm 加工結果 デブリ パターン 形状 ○ △ × ◎ ○ × 8 ダイレクト描画加工 自在な加工が可能(マスクレス加工) 高精度ガルバノスキャナにより、高速・高精度の加工が可能 加工パタンはプログラムで生成 → 金型やマスクが不要. タングステンの ダイレクトパターニング 9 その他の機能 ビットマップ・DXFファ イルを変換可能. フォントなどもBMPと して取り込める. DXFファイルを変換し た例:自転車 ポリイミド線幅 最小線幅10µm 10 加工例:有機材料 ポリイミドフィルムの穴開け加工例 ポリイミド・アラミド等のエンジニアリングプラスチック類など ポリイミド アクリル 11 加工例:金属 SUS・チタン・タングステン タンタル・銅・金など 12 加工例:複合材料 カテーテルサイドホール加工 銅 + エポキシ基板貫通穴 カテーテルストリップ(金属残し カテーテルストリップ 金属残し)加工 金属残し 加工 マーキングの例 13 微細なマーキングが可能 14 アプリケーション:ウェハマーカ レーザ加工が浅く、パーティク ルの発生が極めて少ない。 発生したパーティクルは付着 が少なく、 容易に除去できる。 エピ膜にマーキングを留める ことにより、ウェハ界面での剥 離を抑制できる。 SiC・ SiC・GaNデバイス製造工程 GaNデバイス製造工程 のトレーサビリティ確保が可 能である。 15 マーキング例(SiC・GaN) GaNウェハ ウェハ SiCウェハ ウェハ ウェハレーザマーカ:主な仕様 項 目 ウェハ 対象 サイズ 処理能力 搬送方法 フォント 種 類 位置精度 レーザ 描画方式 装 置 サ イズ 重量 ユーティリティ 電源 クリーン対応 仕 様 SiC/GaN/サファイア/その他の化合物半導体 2”3”4”または3”4”6” 60枚~100枚/時間:50枚(25枚カセット2本)を連続マーキング スカラロボットによる毎葉処理 SEMI準拠(ベクトル/ドットマトリックス/ヘリカルドット) ±100μm YAG第4高調波レーザ(266nm) 250mW@10kHz 2軸ガルバノスキャン W2.0m×D1.2m×H1.8m 1500kg以下 電源/真空/圧空/工場排気 3相200V/50A 装置内でマーキングエリアをパーティションとシャッタで 分離し,ダウンフローにより雰囲気を装置下部に排気する 17 デスクトップ加工機 用途: 研究機関・企業開発部門 での少量多品種加工 特徴: 266nmレーザによる 高品質微細加工を 手軽に扱える -仕様- 装置サイズ 加工エリア D900× ×W800× ×H800mm 150× ×150× ×20mm 18 薄膜加工装置(フラッシュランプ励起) 加工原理・構造 加工イメージ リペア ヘッド基本構成 基本構成 レーザ発振器 欠陥画像 光学ユニット スリットユニット スリットサイズ設定 Laser照射① 照射① AFユニット 照明ユニット UV加工レンズ UV加工レンズ スリットサイズ設定 Laser照射②、③ 照射②、③ カラーカメラ 対象ワーク 修正後画像 19 薄膜加工装置(フラッシュランプ励起) 単体機 用途: 研究機関・企業開発部門 での少量多品種加工 特徴: スリット投影方式により 広範囲(□150μm)を 一括で加工が可能 20 20
© Copyright 2024 Paperzz