6/23
（木）
■ トラックのご紹介
アジレント・シンポジウム・ウィーク展示製品のご案内
会場：アネックスホール
トラックA
F201+F202
本トラックでは、高速化が進む各種シリアル通信規格のうち、特に Gen3"と呼ばれる最新規格のそれぞれの技術解説を行います。
PCI Express Gen3、USB 3.0、SATA/SASというコンピュータだけではなく、今後広く組み込み家電にも採用されるインタフェースの規格及び測
定手法の最新動向を踏まえながら技術の解説を行います。
トラックB
受講料
アジレントとソリューション・パートナーが一堂に展示！
高速デジタル ３Ｉ/Ｏ プラス ∼PCIe3.0、USB3.0、SATA/SASのGen3規格最新動向と次世代のI/F∼
無料
以下の製品以外にも多くの展示を予定しています。
事前申込制
F203
LTE時代の高周波部品測定
携帯端末はスマートフォン化、
マルチフォーマット、
マルチバンドが進み、内部で使用されるRF部品もそれらの変化に対応し、複雑化してきています。
本トラックでは、端末用RFの部品の動向、LTEに対応した部品の評価法を紹介します。
また、RF回路の設計フローを改善するXパラメータの最新動
向も、
アップデートします。
トラックC
F205
最新DRAMのトレンドおよびFPGA搭載システムへの実装と評価の勘所
次世代高速ワイヤレス規格への準備
DCA-Xオシロスコープ
MXGベクトル信号発生器
F206
ロジックアナライザ
∼WiGigから11acまで∼
次世代無線への準備は万全ですか？ハイビジョン映像のリアルタイム無線伝送、CDやDVDのキオスク・ダウンロードなど、需要の高まりをうけ、近距離でのギガビット
無線 はにわかに現実味を帯びてきています。WiGig, WirelessHD, 802.15c/11adなどの60GHz帯を用いた超広帯域無線、
MIMOの高度化によって5GHz帯で高伝
送レートを確保する11n/11acなど、多数の規格が議論され、商品化が始まっています。
ではどの規格が最終的に 業界標準 となるのでしょうか？また、
そのために必要
な測定とはどのようなものでしょうか？規格の覇権争いが終わるまで投資を控えるしかないのでしょうか？本トラックではキーテクノロジーとなる、主要な規格の最新動
向、必要となる測定、及び汎用性の高い測定ソリューションを紹介し、
家電メーカやPC・周辺機器メーカのエンジニアの皆様にお役に立てる内容となっております。
トラックE
任意波形発生器
光パワーメータ
分散/ロス アナライザ
J-BERT高性能シリアルBERT
PXAシグナルアナライザ
Thundebolt™など新しい高速I/F技術が注目されています。
そこでは、銅線による高速伝送の限界を打ち破る
「光インターコネクション」、現在の半
導体技術の先にある
「シリコンフォトニクス」
といった次世代の高速伝送を実現する新しい技術が必要となります。
そこでは、光・電気混在回路が基盤
となるため、
その設計・評価においても、光から電気まで幅広い技術が必要となります。本トラックでは、最新の業界動向のお話しをいただきながら、
高速・大容量光伝送の分野で長年培った当社の測定技術を、
こういった最新の技術にいかに貢献させるか、
という観点でご紹介いたします。
（金）
トラックF
アジレント・シンポジウム・ウィーク 開催のご案内
F204
光インターコネクションと次世代高速I/F
6/24
PNA-Xネットワーク・アナライザ
光変調アナライザ
最新DRAMのトレンドからDRAM選択のポイント、LPDDR2/DDR3等の高速メモリでの実装と評価についてのポイントからFPGA搭載システムを
例にメモリ・コントローラやSI/PIの考慮を含めた設計と評価に必要なポイントを押さえます。
また近年急増している、電源周りのトラブルへの対処方
法や信頼性とデバッグ効率を劇的に向上するDDRメモリの最新評価技術を紹介します。
トラックD
ENAネットワーク・アナライザ
90000Xオシロスコープ
EMPro
3次元電磁界シミュレーション環境
ファンクション・ジェネレータ
会場：アネックスホール
F201
PXIモジュール計測器
PSGアナログ信号発生器
CISPRコンプライアンスの基礎と測定
家電、情報通信機器、AV機器の高速化・デジタル化が進み、電磁妨害によるSIの乱れやその重大性が増してます。
さらに、
こうしたデジタル通信の高度化によって
集積化・高速化するトランジスタをまかなうため、電源モジュールにかかる負荷が増大しPIが問題となるケースも増えています。
こうした背景を受けて、CISPRの
定めるEMC規格もその重要性を増すとともに、規格内容も変更されています。一方弊社では2011年3月から、高速・高精度EMIレシーバを市場に投入し、東陽
テクニカ様をはじめとするパートナー様とともにこれからのEMI測定に最適なシステムを提案しています。本トラックでは、CISPR規格の変遷を概説するととも
に、
これからのEMI測定に必要なレシーバおよび測定システムについて解説します。
トラックG
F203
ADS デザイン・シミュレーション
PXIモジュール計測器
（広帯域RFソリューション）
新世代の高周波・高速回路設計・検証EDA
DC電源アナライザ
FieldFoxハンドヘルド
RFベクトル・ネットワーク・
高集積化が進む今日、IC設計・検証も複雑化しています。午前の部では、考慮すべき要素を反映し、実際の変調新号を用いるといった、
出戻りなしの
設計には不可欠な評価手法を、実例と共に紹介します。
また、IC等を統合させたSiP、
モジュールの検証において、
デバイス、
パッケージ、伝送路など各
要素を取り込んだ検証の効率化が、差別化、低コスト化実現の為に重要となります。午後の部では、統合デバイスの評価に最適な最新のＡＤＳを紹介
すると共に、各種電磁界ソリューションとの協調による効率的検証手法を実例を交えて紹介します。
トラックH
ハンドヘルド・オシロスコープ
高速デジタル機器の設計時における、
シグナルインテグリティ、EMIノイズ、パワーインテグリティの問題を関連性のある一連の問題ととらえ、周波数軸 vs
時間軸での評価、実測 vs シミュレーションの相関など様々な切り口で問題をとらえ、解決のアイデアをエンジニアに提供することを目指します。今後のデー
タレートの高速化、電源電圧の低電圧化、電力消費の動向、EMI規格の変更により、
さらに必要性が増すと考えられ、継続的に技術情報を提供します。
Sパラメータ基礎と最新測定手法
トラックJ
F204
トラックK
次世代のディスプレイ・テクノロジ
F202
年々高精度化・高密度化する画像データを処理するために、
ディスプレイの内部・外部インタフェースではより高速で、
より高信頼性のある設計及び
検証が求められています。
そのためのシステムの設計方法や、波形測定方法、伝送を確立させるために必要となる要素技術に関して、具体的なインタ
フェース、具体的な被測定物を題材にあげながら、解説します。
また、各セッションの最後には、実デバイスを用いた測定のデモをご覧いただきなが
ら、理解を深めていただきます。
お問合せ時間：月曜日∼金曜日までの9:00∼17:00（祭日を除く）
e-mail : [email protected]
交通
パシフィコ横浜 アネックスホール
期 間
2011年6月23日（木）、24日（金）
http://www.agilent.co.jp/find/sympo
定員になり次第締め切らせていただきます。
お早めにお申し込みください。
横 浜 港
横浜みなと
みらいホール
みなとみらい線
●みなとみらい駅より
[ 徒歩 ] で約 3 分
●横浜駅より
交番
パンパシフィック
ホテル横浜
みなとみらい駅
横浜
美術館
よこはま
コスモスワールド
クイーンズ
スクエア横浜
日本丸メモリアル
パーク
横浜ランド
マークタワー
ワシントン
ホテル
みなとみらい大通り
[ バス / 東口そごうターミナル ] パシフィコ横浜方面行き約 10 分
横浜銀行
[ タクシー東口ポルタ内タクシーのりば ] 約 10 分
[ 海上バス（シーバス）/ 横浜そごう駐車場隣シーバスのりば ] 約 10 分
ヨコハマグランド
インターコンチネンタルホテル
国際大通り
[ 徒歩 ] 動く歩道で約 12 分
[ タクシー ] 約 5 分
国立大ホール
展示ホール
新港地区
●桜木町駅より
[ バス ] パシフィコ横浜方面行き約 7 分
臨港パーク
アネックスホール
けやき通り
ついに世界中の複数の地域でLTEの商用サービスが開始されました。
これから数年かけて、
サービスエリアが拡大し、
データ伝送速度も向上していく
ことになります。
また、3GPPではLTE-Advancedの標準化作業も順調に進んでおります。本トラックは、主にLTE端末及び端末向けデバイスの開発、
設計に従事されている方を対象として、LTEの物理層、端末RF測定、MIMOといった基礎的な解説から、MIMO-OTA試験、及び更に先のLTEAdvancedといった最新の情報までを網羅した内容となっております。
アジレント・テクノロジー（株）
イベント事務局
TEL：03−3255−8131
会 場
詳細とお申し込みは下記Webサイトまで
アジレント・テクノロジー株式会社
代表取締役社長 電子計測本部長
梅島 正明
パシフィコ横浜 アネックスホール
〒220-0012 横浜市西区みなとみらい 1-1-1
総合案内 TEL.045-221-2155
無料
（事前申込制）
いちょう通り
LTE端末開発の測定
お問い合せ先
会場案内
デジタル・マルチメータ
受講料
さくら通り
Sパラメータやインピーダンスは電子部品を評価する上で基本的なパラメータであり、
その高精度化、利便性は常に求められています。
そのためには
機器の正しい理解と、機能の活用が欠かせません。本トラックでは、
ネットワーク・アナライザの仕様の正しい理解から校正手法、
また最新機能を紹
介し、
さらにインピーダンス測定の最新動向も併せて紹介します。
時節柄ご多忙の折とは存じますが、万障お繰り合わせの上、
皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。
敬具
F205
F206
さて、
このたび弊社では、来る6月23日（木）から24日（金）
にかけて
「アジレント・シンポジウム・ウィーク2011」を開催する運びとなりましたので、
ここにご案内申し上げます。
世界トップレベルのエンジニアから、市場で注目度の高い最新技術やアプリケーション動向、
適応する最先端の計測ソリューション、そして設計・テストに関連する技術情報を、セミナー・
製品展示・デモンストレーションなど、様々なアプローチを通じてご紹介させていただきます。
当シンポジウムが日本復興の要となる日本のものづくりにおける技術力向上の支援に
つながれば幸いでございます。
半導体デバイスアナライザ
最新のSI/PI/EMI対策手法
トラックI
SSA信号源アナライザ
アナライザ
拝啓
陽春の候、益々ご多祥のこととお慶び申し上げます。
又、平素は格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申し上げます。
一方、
このたびの東日本大震災で被災された方々に衷心よりお見舞い申し上げますと共に、
一日も早い復興と皆様のご健康を心よりお祈り申し上げます。
JR 京浜東北線
高島町駅
東急東横線
日石
横浜ビル
動く
歩道
桜木町駅
国道 16 号線
6月23日（木）
6月24日（金）
受付 12：30∼
会場
トラックB
トラックC
トラックD
トラックE
F201、F202
F203
F205
F206
F204
会場
200
100
100
100
100
定員
（名）
高速デジタル ３Ｉ/Ｏ プラス
∼PCIe3.0、USB3.0、SATA/SASの
A-1
13：00
13：50
PCIe 3.0 Industry update
and technical review
16：15
C-2
D-2
E-2
USB3.0 Industry update
and technical review
最新のマルチポートSパラメータ
測定手法
最新FPGAにおける高速メモリ
インターフェイスの実現方法
OFDMの理論と、独自OFDMシス
テム設計・測定の実際
アジレント・テクノロジー・インク
ディジタル・テスト・ディビジョン
マーケティング
Jim Choate
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
長谷川 寛
東京エレクトロンデバイス株式会社
PLDソリューション事業部 PLDソリューション部 ソリューショングループ
戸田 安彦様
光インターコネクションをはじめと
する次世代I/Fにおけるアジレント
の貢献
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
宇野 昌紀
弊社 ディジタル・テスト・ディビジョン 開発マネージャ
Hansjoerg Haisch
B-3
C-3
D-3
E-3
SATA/SA Industry update
and technical review
Ｘパラメータを使った
パワーアンプ設計
実測とシミュレーションの連携に
よるDDR3の信号品質評価
アジレント・テクノロジー・インク
ディジタル・テスト・ディビジョン
マーケティング
MIN-JIE CHONG
アジレント・テクノロジー・インターナショナル株式会社 弊社 電子計測本部 電子部品計測事業部 アプリケーション・エンジニアリング部
柳本 吉之
佐貫 聡信
A-4
B-4
2011年度版
正しいネットアナの選び方、使い方
SI/PI/ノイズ解析の最新動向
弊社 電子計測本部
マーケティングセンタ
辻井 修
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
石井 幹
C-4
DDR3論理検証の最新技術と実例
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
竹中 慎吾
F204(基調のみF201+F202)
F202
100
100
100
100
100(基調のみ200）
100
CISPRコンプライアンスの
基礎と測定
新世代の高周波・
高速回路設計・検証EDA
メモリ効果を考慮に入れたRF回路の
変調波シミュレーション：GoldenGate
のケーススタディ (その1)
F-3
光バックプレーン・光配線技術と
その標準化を含む将来展望
D-4
E-4
光インターコネクション向け
デバイス評価の基礎
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
エンジニア
12：50
13：40
13：55
14：45
∼
＊A-5とE-2は同じ内容となっております。
F206
11：55
15：00
15：50
弊社 ディジタル・テスト・ディビジョン 開発マネージャ
Hansjoerg Haisch
F205
11：05
基調講演
独立行政法人 産業技術総合研究所 臨海副都心センター所長代理
伊藤 日出男様
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
杉山 裕之
F203
通訳
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
栗山 有美
次世代無線LAN、11acとは何か？
その規格動向と測定手法
F201
10：50
通訳
高速デジタルI/Fの進化
∼銅線から光へ∼
18：10∼
基礎から整理する 802.11n規格
の成り立ちと試験手法
トラックK
10：00
∼
∼
18：10
Thunderbolt(LightPeak)及び
50Gbitシリコンフォトニクス
B-2
通訳
トラックJ
G-1
アジレント・テクノロジー・インターナショナル株式会社 マイクロウェーブ・コミュニケーション事業部
インテル株式会社
ワイヤレステスト開発部 プロジェクトマネージャ
インテル技術本部
横山 充
合田 雅博様
通訳
トラックI
E-1
エルピーダメモリ株式会社
コンピューティング Div. システム・テクノロジー
波多野 進様
A-5
17：20
D-1
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
小薮 哲夫
アジレント・テクノロジー・インク
ディジタル・テスト・ディビジョン
マーケティング
Rick Eads
∼
17：05
C-1
次世代高速I/F
∼
∼
16：00
∼WiGigから11acまで∼
トラック名
60GHz ‒より速く、
より大量に、
しかしより複雑になる課題への挑戦
A-3
15：10
LTE規格試験概要と部品測定
評価の勘所
光インターコネクションと
トラックH
∼
∼
14：55
B-1
FPGA搭載システムへの実装と への準備
DDRメモリの動向と
設計上のポイント
A-2
14：05
通訳
次世代高速ワイヤレス規格
トラックG
∼
∼
アジレント・シンポジウム・ウィーク タイムスケジュール
Gen3規格最新動向と次世代のI/F∼
LTE時代の高周波部品測定
最新DRAMのトレンドおよび
トラックF
プロダクトフェア
16：05
∼
16：55
16：55∼
基調講演
IS化が見えてきたマルチメディア
機器エミッション規格
CISPR 32の最新動向
最新のSI/PI/EMI対策手法
Sパラメータ基礎と
H-1
J-1
SI/PIのデバッグ＆検証事例
基調講演
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
依田 達夫
G-2
H-2
高精度なビヘイビアLO信号生成によ
る、RFIC回路の高速シミュレーション：
GoldenGateのケーススタディ
（その2）
ネットワーク・アナライザによる
高速デジタル伝送路評価
LTEの基礎と機能試験
弊社 電子計測本部 第三営業統括部
EDAアプリケーション・エンジニアリング
小野 高一
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
青木 秀樹
弊社 電子計測本部
アプリケーション・エンジニアリング部
山口 勲
G-3
H-3
パワー・インテグリティを向上させ
る、
ＰＤＮ
（パワー・ディストリビュー
ション・ネットワーク）
の実測手法
J-2
I-3
2011年度版正しいネットアナの
選び方、使い方
J-3
K-3
LTE Advanceの基礎
最適なインターフェースの選定眼
─多種多様な高速シリアル規格の
本質を理解するために─
ナショナル セミコンダクター ジャパン株式会社
プロダクト・マーケティング本部
河西 基文様
弊社 電子計測本部 第三営業統括部
EDAアプリケーション・エンジニアリング
高野 修平
弊社 電子計測本部
アプリケーション・エンジニアリング部
大津谷 亜士
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
石井 幹
弊社 電子計測本部
アプリケーション・エンジニアリング部
森下 幹夫
F-4
G-4
H-4
I-4
J-4
統合回路解析の効率化：
回路シミュレータADSと電磁界
シミュレーションの協調解析事例
パワーインテグリティ問題への
効率的対応：シミュレーションを
用いたPDN設計・検証と最適化
通訳
会場：F201+F202
CISPR/SC-I/WG2エキスパートメンバー 株式会社 電磁環境試験所認定センター
認定業務部 部長
長部 邦広様
CISPR試験の基礎と、
これからのEMIレシーバ
テクノロジ
Taking 4G from standards to
the shopping mall: A review of
LTE deployment opportunities
and challenges
弊社 電子計測本部 第三営業統括部
EDAアプリケーション・エンジニアリング
菊池 崇弘
マルチテクノロジー対応 最新版
ADS2011.01の有効活用法
次世代のディスプレイ・
LTE端末開発の測定
最新測定手法
VNA校正の基礎
K-4
LTE端末のRF性能試験
次世代画像伝送インターフェース
V-by-One® HS
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
池原 司益
弊社 電子計測本部 第三営業統括部
EDAアプリケーション・エンジニアリング
佐々木 広明
弊社 電子計測本部 第三営業統括部
EDAアプリケーション・エンジニアリング
梅川 光晴
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
戸高 嘉彦
弊社 電子計測本部
アプリケーション・エンジニアリング部
小薮 哲夫
ザインエレクトロニクス株式会社
営業企画部
藤木 礼様
F-5
G-5
実測とシミュレーションの活用に
よる高速基板の設計と評価手法
H-5
DDR3メモリのノイズ対策手法の
ご紹介
I-5
J-5
K-5
株式会社 東陽テクニカ
開発部
坪井 直樹様（iNARTE認定EMCエンジニア）
弊社 電子計測本部 第三営業統括部
EDAアプリケーション・エンジニアリング
陰浦 俊則
株式会社 村田製作所
コンポーネント事業本部 EMI事業部
第１商品開発部 アプリケーション開発課
市村 崇様
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
桜井 昭寛
弊社 電子計測本部
アプリケーション・エンジニアリング部
吉田 生
ルネサスエレクトロニクス株式会社
アナログ＆パワー事業本部
表示システム事業部 商品企画部
遊佐 和幸様
F-6
G-6
H-6
I-6
放射EMI測定における課題と最先
端測定システムによる
ソリューションのご紹介
プローブアレイ・ニアフィールド
スキャナを用いたEMC対策の
ための測定技術
株式会社 東陽テクニカ
EMCマイクロウェーブ計測部
衛藤 正悟 様
初心者のための電磁界解析基礎・
活用事例紹介
弊社 電子計測本部 第三営業統括部
EDAアプリケーション・エンジニアリング
中原 段
革新を続けるネットワーク・
アナライザの最新機能
最新のインピーダンス測定手法と
応用測定事例
プリント基板の電源安定化
設計手法
アイカ工業株式会社 電子カンパニー 基板商品開発グループ
田中 顕裕様
アジレント・テクノロジー・インターナショナル株式会社
電子部品計測事業部
森 康弘
OTA評価方法と最新の規格動向
ＬＣＤ用ドライバＩＣの
次世代インタフェースのご紹介
K-6
ディスプレイ・インタフェース
(HDMIおよびMHL、DisplayPort)の
最新測定ソリューション
弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
今岡 淳
プロダクトフェア
お申込頂くセッションは、
トラックに関わらずお選び頂く事が出来ます。
（同じ時間帯で、重複するお申込は出来ませんのでご了承ください。）
Agilent Symposium Week 2011 in Annex Hall in PACIFICO Yokohama, 23-24 JUN.
トラックA
定員
（名）
トラック名
受付 9：30∼