Přehled publikační činnosti: Jiří Luňáček, doc. Dr. RNDr.
Původní příspěvek ve vědeckém časopise s IF
1) Luňáček, J., Kuchař, L.: The correlation of distribution coefficients of admixtures in
germanium and silicon on generalization moment. Metallic Materials - Kovové materiály,
1992, vol. 30, no. 5, p. 393 - 403. ISSN 0023-432X
2) Drápala, J., Luňáček, J., Kuchař, L., Kuchař, L.jr.: Systematic study and periodic
dependence of equilibrium distribution coefficients of admixtures on the atomic number of
admixtures and their importance for crystallization. Material Science and Engineering, 1993,
vol. A173, p. 73 - 77. ISSN 0921-5093
3) Luňáček, J., Kuchař, L.: Periodical dependence of the equilibrium distribution coefficients
of admixtures in titanium on the atomic-number of admixtures. Metallic Materials - Kovové
materiály, 1993, vol. 31, no. 2, s. 164 - 175. ISSN 0023-432X
4) Luňáček, J.: The periodical dependence of equilibrium distribution coefficients of
admixtures in Ti, Zr, Hf on the atomic-number of admixtures and the generalized moments.
Metallic Materials - Kovové materiály, 1993, vol. 31, no. 6, s. 499 - 505. ISSN 0023-432X
5) Kuchař, L., Drápala, J., Luňáček, J.: Purification methods of Cd, Te and CdTe and
periodicity of segregation coefficients of admixtures. Journal of Crystal Growth, 1996, vol.
161, p. 94 - 103. ISSN 0022-0248
6) Luňáček, J. : Activity Coefficients and Equilibrium Segregation Coefficients of Solute
Elements in Ti Base Binary Alloys. Physica status solidi (a), 1996, vol. 157, p. 321 - 327.
ISSN 0031-8965
7) Luňáček, J.: Application of the Thermodynamic Solution Model of Dilute Binary Systems.
I. Activity Coefficients of Solute Elements in Solid Binary Alloys in Infinite Dilution.
Physica status solidi (a), 1997, vol. 163, p. 369 - 375. ISSN 0031-8965
8) Luňáček, J.: Aplication of the Thermodynamic Solution Model of Dilute Binary Systems.
II. Equilibrium Segregation Coefficient of Solute Elements in Infinite Dilution. Physica status
solidi (a), 1997, vol. 164, p. 665 - 672. ISSN 0031-8965
9) Luňáček, J.: Thermodynamic solution model of dilute binary systems Part I. Activity
coefficients of solute elements in solid phase in Cr, Mo and W base dilute alloys. Metallic
Materials-Kovové materiály, 1997, vol. 35, no. 6, p. 392 - 399. ISSN 0023-432X
10) Luňáček, J.: The thermodynamic solution model of dilute binary systems - Part II.
Equilibrium segregation coefficients of solute elements in Cr, Mo, and W base dilute alloys.
Metallic Materials-Kovové materiály, 1998, vol. 36, no. 2, p. 61 - 69. ISSN 0023-432X
11) Luňáček, J.: Prediction of the equilibrium segregation coefficients of solutes in binary
systems of VIII and IX-group transition metals. Metallic Materials-Kovové materiály,
2000,vol. 38, no. 1, p. 62 – 73. ISSN 0023-432X
12) Luňáček, J.: Prediction of the equilibrium phase binary diagrams Tc – M close to the pure
Tc. Metallic Materials-Kovové materiály, 2002, vol. 40, no. 1, p. 64 – 67. ISSN 0023-432X
13) Životský, O., Postava, K., Kraus, L., Malátek, M., Janičkovič, D., Ciprian, D., Luňáček,
J., Pištora, J.: Surface crystallized Co66Fe4B15Si15 amorphous ribbons studied using magnetooptical magnetometry. Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 2005, vol. 290-291, p.
625 - 628. ISSN 0304-8853
14) Barcova K., Zboril R., Mashlan M., Jiraskova Y., Filip J., Lunacek J., Hrabovska K.:
Influence of enamel ageing on mechanical properties and phase composition of the steel–
enamel system. Surface and Interface Analysis, 2006, vol. 38, p. 413 - 416. ISSN 1096-9918
15) Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáček, J. Lesňák, M.: Thickness of SiO2 thin film on silicon
wafer measured by dispersive white-light interferometry. Applied Physics B, 2006, vol. 84, p.
511 - 516. ISSN 0946-2171
16) Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáček, J. Lesňák, M.: Disperive white-light spectral
interferometry with absolute phase retrieval to measure thin film. Optic Express, 2006, vol. 14
(17), p. 7678 - 7685. ISSN 1094-4087
17) Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáček, J.: Dispersive white-light spectral interferometry
including the effect of thin-film for distance measurement. Optik, 2007, vol. 117, p. 319–324.
ISSN 0030-4026
18) Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáček, J., Chlebus, R.: Phase retrieval from the spectral
interference signal used to measure thickness of SiO2 thin film on silicon wafer. Applied
Physics B, 2007, vol. 88, p. 397-403. ISSN 0946-2171
19) Hlubina, P., Luňáček, J., Ciprian, D., Chlebus, R.: Windowed Fourier transform applied
in the wavelength domain to process the spectral interference signals. Opt. Comm. 2008, vol.
281, no. 9, p. 2349-2354. ISSN 0030-4018
20) Hlubina, P., Luňáček, J.,Ciprian, D., Chlebus, R.: Spectral interferometry and
refectometry used to measure thin films. Applied PhysicsB, 2008, vol. 92, no. 2, p. 203-207.
ISSN 0946-2171
21) Hlubina, P., Luňáček, J., Ciprian, D., Chlebus, R.: Dispersion error of a beam splitter cube
in white-light spectral interferometry. Opto-Electronics Review, 2008, vol. 16, no. 4, p. 439443. Online published 10.9.2008, DOI 10.2478/s11772-008-0040-1. ISSN 1230-3402 (Print)
1896-3757 (Online)
22) Luňáček, J., Hlubina, P., Luňáčková, M.: Simple method for determination of the
thickness of a nonabsorbing thin film using spectral reflectance measurement. Applied Optics,
2009, vol. 48, no. 5, p. 985-989. ISSN 0003-6935
23) Hlubina, P., Luňáček, J., Ciprian, D.: The effect of silicon substrate on thickness of SiO2
thin film analysed by spectral reflectometry and interferometry. Applied Physics B, 2009, vol.
95, no. 4, p. 795-799. ISSN 0946-2171
24) Hlubina, P., Luňáček, J., Ciprian, D.: Spectral interferometry and reflectometry used for
characterization of a multilayer mirror. Optics Letters, 2009, vol. 34, no. 10, p. 1564-1566
ISSN 0146-9592
25) Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáček, J.: Spectral interferometric technique to measure
ellipsometric phase of a thin-film structure. Optics Letters, 2009, vol. 34, no. 17, p. 26612663 ISSN 0146-9592
26) Hlubina, P., Luňáček, J., Ciprian, D.: Maxima of the spectral reflectance ratio of polarized
waves used to measure the thickness of a nonansorbing thin film. Optics and Lasers in
Engineering, 2010, vol. 48, p. 786-791. ISSN 0143-8166
27) Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáček, J.: Spectral interferometric technique to measure the
relative phase change on refection from a thin-film structure. Applied Physics B, 2010, vol.
101, no. 4, p. 869-873. ISSN 0946-2171
28) Hlubina, P., Luňáček, J., Ciprian, D.: White-light spectral interferometric technique to
measure a nonlinear phase function of a thin-film structure. Optisc Communications, 2010,
vol. 283, no. 24, p. 4877-4881. ISSN: 0030-4018
29) Dvorský, R., Luňáček, J., Slíva, A.: Dynamics analysis of cavitation disintegration of
microparticles during nanopowder preparation in a new Water Jet Mill (WJM) device.
Advanced Powder Technology, 2011, vol. 22., p. 639-643. ISSN 0921-8831
30) Dvorský, R., Luňáček, J., Slíva, A., Šancer, J.: Preparation of Si Nanoparticular
Nanocomposite, Journal of Nanoscience and Nanotechnology, 2011, vol. 11 (11), p. 9065 –
9071. ISSN 1533-4899
Původní recenzovaný příspěvek ve vědeckém časopise
1) Luňáček, J., Kuchař, L.: Rozdělovací koeficienty příměsí v křemíku a germaniu a jejich
vztahy k zobecněným momentům. Sborník vědeckých prací VŠB Ostrava, řada hornickogeologická, 1991, vol. 37, no. 2, p. 223 - 238. ISSN 0474-8476
2) Luňáček, J.: Calculation of the Parameters a, , log k mA B within the Framework of
Parabolic Approximation of the Periodical Dependence of the Equilibrium Distribution
Coefficient k oAB of the Admixtures B in the Basic Element A on the Atomic Number of
Admixtures. Sborník vědeckých prací VŠB Ostrava, řada hutnická, 1992, vol. 38, no. 1, p. 29
- 32. ISSN 0474-8484
3) Luňáček, J.: The Equilibrium Distribution Coefficients of Admixtures in Titanium and the
Generalized Moments. Sborník vědeckých prací VŠB Ostrava, řada hutnická, 1993, vol. 39,
no. 1, p. 43 - 51. ISSN 0474-8484
4) Luňáček, J.: The Periodical Dependence of Equilibrium Distribution Coefficients of
Admixtures in Silicon and Germanium on the Atomic Number of Admixtures. Sborník
vědeckých prací VŠB-TU Ostrava, řada hutnická, 1994, vol. 40, no.1, p. 51 - 58. ISSN 04748484
5) Luňáček, J., Lesňák, M., Drápala, J., Mádr, V., Kursa, M., Kapusta, P.: Preparation of
specific materials in three-dimensional segment furnace. Journal of Electrical Engineering,
1997, vol. 48, no. 9, p. 74 - 78. ISSN 0013-578X
6) Vašek, P., Luňáček, J., Drápala, J., Lesňák, M.: Inteligentní řízení (IMP) jako efektivní
metoda přípravy monokrystalů GaSb. Zeszyty naukove, Seria Mechanika, 1998, z. 58, s. 159 162. ISSN 1429-6055
7) Chlebus, R., Hlubina, P., Ciprian, D.; Luňáček, J., Lesňák, M.: Měření tloušťky tenké
vrstvy SiO2 na křemíkovém substrátu s využitím spektrální interferometrie v bílém světle.
Jemná Mechanika a Optika, 2007, vol. 52, no. 1, s. 13 – 16. ISSN 0447-6441
8) Lesňák, M., Luňáček, J., Talik, A., Hlubina, P., Pištora, J.: Úprava elipsometru Gaertner
L119 a jeho použití pro studium tenkých vrstev. Jemná Mechanika a Optika, 2007, vol. 52,
no.2, s. 40 – 42. ISSN 0447-6441
9) Luňáček, J., Hlubina, P., Ciprian, D., Lesňák, M., Chlebus, R.: White-light interferometric
method to measure thickness of thin films. Material Science and Technology, 2007, 7, (pouze
internetová verze). ISSN 1335-9053
10) Luňáček, J., Luňáčková, M., Hlubina, P., Ciprian, D.: Využití okenní Fourierovy
transformace a waveletové transformace k rekonstrukci fáze spektrálního interferenčního
signálu. Jemná Mechanika a Optika, 2008, vol. 53, no. 4, s. 111 – 114. ISSN 0447-6441
11) Luňáčková, M., Luňáček, J.,Ciprian, D. Hlubina, P.: Vliv použitého modelu odrazivosti
na určení tloušťky tenké vrstvy. Jemná Mechanika a Optika, 2008, vol. 53, no. 11-12, s. 293 –
295. ISSN 0447-6441
12) Slíva, A., Zegzulka J., Brázda R., Dvorský, R., Luňáček, J.: Particle Characterisation of
Nanoparticle material in Water Jet Mill Device, Journal of Scientific Conference Proceedings,
2009, Vol. 1, No. 2, p. 1 – 4. ISSN 1937-6464 (online)
13) Slíva, A., Zegzulka J., Brázda R., Dvorský, R., Luňáček, J.: Particle Characterisation of
Nanoparticle material in Water Jet Mill Device, Journal of Scientific Conference Proceedings.
Print April 2010, Vol. 2., No. 1, p. 45-48. ISSN 1937-6456 (print);
14) Luňáčková, M., Luňáček, J., Potůček, Z., Hlubina, P.:Určení tloušťky tenké vrstvy
z měření spektrální odrazivosti pomocí nové varianty obálkové metody. Jemná Mechanika a
Optika, 2009, vol. 54, no. 6, s. 188 – 191. ISSN 0447-6441
15) Dvorský, R., Luňáček, J., Slíva, A., Barabaszová, K., Seidlerová, J., Matýsek, D.:
Morfologie agregátů nanočástic křemíku připravených v desintegrátoru Water Jet Mill. Jemná
Mechanika a Optika, 2009, vol. 54, no. 6, s. 179 – 184. ISSN 0447-6441
Recenzovaný příspěvek ze sborníku konferencí SPIE
1) Luňáček, J., Kuchař, D., Lesňák, M.: Thermal donors removing in silicon single crystal
wafers, In Proceedings of SPIE, 2004, vol. 5445, p. 298-300. ISSN 0277-786
2) Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáček, J., Lesňák, M., Chlebus, R.: Dispersive white-light
spectral interferometry used to measure thickness of a thin film on a substrate. In Proceedings
of SPIE, 2007, vol. 6609, 66090X, p. 9. ISSN 0277-786X.
3) Chlebus, R., Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáček, J.: Measurement of thin films using slightly
dispersive spectral interferometry. In Proceedings of SPIE, 2007, vol. 6582, 65821D, p. 9.
ISSN 0277-786X.
4) Hlubina, P., Ciprian, D., Chlebus, R., Luňáček, J., Lesňák, M.: White-light spectral
interferometric technique used to measure thickness of thin films. In Proceedings of SPIE,
2007, vol. 6616, 661605, p. 9. ISSN 0277-786X.
5) Hlubina, P. Luňáček, J.,Ciprian, D. Chlebus, R. Luňáčková, M: Phase retrieval from the
spectral interferograms by windowed Fourier transform. In: Proceedings of SPIE, 2008, vol.
6995, p. Z9950. ISSN 0277-786X, ISBN 978-0-8194-7193-2
6) Hlubina, P. Luňáček, J., Ciprian, D. Chlebus: Variable effective thickness of beamsplitter
cube and dispersion error in white-light spectral interferometry. In: Proceedings of SPIE,
2008, vol. 7141, 71410X. ISSN 0277-786X.
7) P. Hlubina, J. Luňáček, D. Ciprian, M. Luňáčková: Measuring small thickness changes of a
thin film by white-light spectral interferometry. In Proceeding of SPIE - Optical Senzors, Vol.
7356, 735618, (May. 18, 2009). Francesco Baldini, Jiří Homola, Robert A. Lieberman,
Editors, Conference Europe Optics and Optoelectronics, Prague, 20-23 April 2009. ISSN
0277-786X
8) Petr Hlubina, Jiří Luňáček, Dalibor Ciprian: White-light spectral interferometry and
reflectometry to measure thickness of thin films. SPIE Europe Optical Metrology, 19th
International Congress on Photonics in Europe, co-located with LASER World of Photonics
2009, Munich, 14-18 June 2009.
9) P. Hlubina, J. Luňáček, D. Ciprian: Spectral polarimetry-based measurement of the
thickness of a thin film. Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VII, edited by
Peter H. Lehmann, Wolfgang Osten, Kay Gastinger, Proceedings of SPIE, Vol. 8082, 80822T
© 2011 SPIE CCC code: 0277-786X/11/$18 · doi: 10.1117/12.889417
Referát publikovaný ve sborníku mezinárodní vědecké konference
1) Luňáček, J.: The distribution coefficients of admixtures in titanium, zirconium and
hafnium. In Book of abstracts of european conference JUNIOR EUROMAT, Lausanne,
FEMS-DGM, 1992, p. 256.
2) Luňáček, J.: The periodical dependence of equilibrium distribution coefficients of
admixtures in silicon and germanium on the atomic number of admixtures and the generalized
moments. In: Book of abstracts of european conference JUNIOR EUROMAT, Lausanne,
FEMS-DGM, 1994, p. 384.
3) Luňáček, J.: Periodická závislost rovnovážných rozdělovacích koeficientů příměsí v
prvcích IV. grupy. In Sborník přednášek 3. mezinárodní metalurgické sympozium METAL’94,
Ostrava, Tanger s.r.o.,1994, díl IV, s. 67.
4) Luňáček, J.: Třídimenzionální teplotně řízený růst monokrystalů. In Sborník přednášek 4.
mezinárodního metalurgického sympozia METAL’95, Ostrava, Tanger s.r.o., 1995, díl IV, s.
98.
5) Luňáček, J.: Přípravný kurz z fyziky na VŠB-TU Ostrava. In Sborník příspěvků
mezinárodní vědecké konference VŠB-TU Ostrava, sekce: Aplikovaná fyzika, Ostrava, VŠBTU, 1995, s. 209 - 215.
6) Luňáček, J.: Zhodnocení efektivity přípravného kurzu z fyziky na VŠB-TU Ostrava. In
Sborník příspěvků 12. konference českých a slovenských fyziků, sekce 13: Fyzikální
vzdělávání, Ostrava, VŠB-TU, 1996, s. 449 - 452.
7) Luňáček, J.: Termodynamický model výpočtů koeficientů aktivity v pevné fázi. In Sborník
příspěvků 12. konference českých a slovenských fyziků, sekce 9: Kovové materiály, Ostrava,
VŠB-TU, 1996, s. 655 - 658.
8) Luňáček, J.: Thermodynamic solution model to predict a equilibrium segregation
coefficient of solute elements in infinite dilution. In Book of abstracts of european conference
JUNIOR EUROMAT, Lausanne, FEMS-DGM, 1996, p. 79.
9) Luňáček, J., Lesňák, M., Pastrňák, R., Mádr, V., Kapusta, P., Drápala, J., Kursa, M.:
Třídimenzionální segmentová pec pro řízený růst krystalů. In Sborník přednášek 6.
mezinárodní metalurgické sympozium METAL’97, Ostrava, Tanger s.r.o.,1997, díl 3, s. 229 234. ISBN 80-902142-8-2 (3. díl)
10) Luňáček, J., Lesňák, M., Drápala, J., Mádr, V., Kursa, M., Kapusta, P.: Příprava krystalů
v třídimenzionální gradientní peci směrovou krystalizací. In Zborník prednášok
TECHNOLOGIA ‘97, Bratislava, SF STU, 1997, diel I, s. 138 - 141. ISBN 80-227-0976X
11) Drápala, J., Luňáček, J., Lesňák, M., Kapusta, P.: Technologie přípravy krystalů GaSb v
třídimenzionální segmentové peci. In Sborník přednášek 7. mezinárodní metalurgické
sympozium METAL’98, Ostrava, Tanger s.r.o., 1998, díl 4, s. 123 - 130. ISBN 80-8612214-X
12) Luňáček, J.: Theoretical prediction of refining processes in refractory metals. In
Proceedings 4th Conference on Environment and Mineral Processing, Ostrava, VŠB-TU,
1998, part II, p. 551 -558. ISBN 80-7078-565-9
13) Houserová, J., Vřešťál, J., Friák, M., Šob, M., Luňáček,J.: Determination of energetics of
sigma-phase formation in some Cr-and V-based systems by ab initio calculations. 2.4.2.
Workshop of WG1 COST Action P3, Herakleion, Greece, 5.5.2000
14) Luňáček, J., Kuchař, D., Lesňák, M.: Thermal donors removing in silicon single crystal
wafers. In Book of Abstracts 9th International Symposium on Microwave and Optical
Technology, Ostrava, Czech Republic, August 11-15, 2003, p.43. ISBN 80-248-0355-0
15) Luňáček, J., Pištora, J., Postava, K.: Physics Status in the Nanotechnology Education
Project at the VŠB-Technical University of Ostrava, In Proceedings of Abstracts,
International Conference on Engineering Education and Research „Progress Through
Partnership“ - ICEER 2004, Olomouc, Czech Republic, June 27-30, 2004, p.112.
16) Luňáček, J., Pištora, J., Postava, K.: Physics Status in the Nanotechnology Education
Project at the VŠB-Technical University of Ostrava, In Proceedings of International
Conference on Engineering Education and Research, Olomouc, Czech Republic, June, 2004,
pp.745-748. ISBN 1562-3580
17) M. Foldyna, K. Postava, D. Ciprian, J. Pištora, O. Životský, J. Luňáček, R. Ossikovski:
Optics of Nanogratings. In Nano ´05, Brno, November 8-10, 2005, pp. 284-289. ISBN 80214-3085-0
18) Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáček, J. Lesňák, M. Chlebus, R.: Dispersive white-light
interferometry used to measure thickness of a thin film on a substrate. In Book of abstracts of
the 15th Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of
Contemporary Optics, 2006, Liberec, p. 26. ISBN 80-86742-13-X.
19) Hlubina, P., Luňáček, J., Ciprian, D.: Interferometry-based optical metrology. 3 rd CzechJapan Science and Technology Days, Tokyo, May 22 – 24, 2007. (miniposter)
20) A. Slíva, J. Zegzulka, R. Brázda, R. Dvorský, J. Luňáček: Particle Characterization of
Nanoparticle Materials in Water Jet Mill Device, 1st Nanomaterials and Nanotechnology
Meeting in Ostrava, September 1-4, 2008 Ostrava, Czech Republic, p. 27. ISBN 978-807329-190-7
21) R. Dvorský, A. Slíva, J. Luňáček: Preparation of Nanoparticle Materials in New Device
WJM (Water Jet Mill). 1st Nanomaterials and Nanotechnology Meeting in Ostrava, September
1-4, 2008 Ostrava, Czech Republic, p. 30. ISBN 978-80-7329-190-7
22) R. Dvorský, J. Luňáček, A. Slíva: Dynamics Phenomena of Cavitation Disintegration of
Nanoparticles in a Liquid Suspension using Water Jet Mill (WJM). 1st Nanomaterials and
Nanotechnology Meeting in Ostrava, September 1-4, 2008 Ostrava, Czech Republic, p. 60.
ISBN 978-80-7329-190-7
23) G.Simha Martynková, A.Slíva, K.Barabaszová, J.Zegzulka, O.Guney, R.Dvorský,
J. Lunacek: Carbonaceous Nanoparticles Prepared on Clay Template, NanoSmart 2009, 4th
International Conference on Surface Coatings and Nanostructured materials, Oct 19-22,
2009, Rome, Italy. (abstrakt)
24) R. Dvorsky, J. Lunacek, A. Sliva, J. Sancer: Preparation of Silicon Nanoparticular
Nanocomposite with Thin Interparticular Tin Matrix, NanoSmart 2009, 4th International
Conference on Surface Coatings and Nanostructured materials, Oct 19-22, 2009, Rome,
Italy. (abstrakt)
25) R. Dvorský, J. Luňáček, A. Slíva: Morphology analysis of silicon nanoparticles prepared
by cavitation disintegration. Proceedings of Development of Materials Science in Research
and Education, 19th Joint Seminar, August 31 - September 4, 2009, Závažná Poruba, Czech
and Slovak Association for Crystal Growth, 2009, p. 44-45. ISBN 978-80-89088-81-2
26) M. Luňáčková, J. Luňáček, Z. Potůček, P. Hlubina: Thin-film thickness determination
from a spectral reflectance measurement by using an alternative envelope method.
Proceedings of Development of Materials Science in Research and Education, 19th Joint
Seminar, August 31 - September 4, 2009, Závažná Poruba, Czech and Slovak Association for
Crystal Growth, 2009, p. 92-93. ISBN 978-80-89088-81-2
27) J. Luňáček, D. Ciprian, P. Hlubina: Simulation of a surface plasmon resonance-based
fiber-optic refractive index sensor. Proceedings of Development of Materials Science in
Research and Education, 21th Joint Seminar, August 29 - September 2, 2011, Kežmarské
Žlaby, Slovak Expert Group of Solid State Chemistry and Physics, 2011, p. 38-39. ISBN 97880-8134-002-4
28) J. Luňáček, M. Luňáčková, P. Hlubina, D. Ciprian: Simulation of a surface plasmon
resonance-based refractive index sensor using spectral interference. Proceedings of
Development of Materials Science in Research and Education, 21th Joint Seminar, August 29
- September 2, 2011, Kežmarské Žlaby, Slovak Expert Group of Solid State Chemistry and
Physics, 2011, p. 40-41. ISBN 978-80-8134-002-4
Referát publikovaný ve sborníku tuzemské vědecké konference
1) Lukáč, P., Luňáček, J.: Zpevnění monokrystalů zinku. In Sborník abstraktů 7. konference
čs. fyziků, Praha, MFF UK, 1981, část 04-02, s. 53 - 54.
2) Lukáč, P., Luňáček, J.: Vliv teploty deformace a rychlosti deformace na c monokrystalů
zinku. In Sborník abstraktů 7. konference čs. fyziků, Praha, MFF UK, 1981, část 04-04, s. 53 54.
3) Lukáč, P., Luňáček, J. , Trojanová, Z.: Vysokoteplotní deformace monokrystalů zinku. In
Sborník přednášek, Valtice, 1982, část II, s. 110 - 115.
4) Drápala, J., Luňáček, J. , Lesňák, M. , Klusák, Z. , Kursa, M. , Mádr, V.: Threedimensional furnace for metal refining and preparing of single crystals. In Book of Abstracts
of Development of Materials Science in Research and Education, 6th Joint Seminar,
Karlštejn, 1996, p. 14.
5) Luňáček, J., Lesňák, M. , Drápala, J. , Mádr, V. , Kursa, M. , Kapusta, P.: Preparation of
specific materials in three-dimensional segment furnace. In Book of Abstracts of DMS - RE
'97, Kočovce, Softec, 1997, p. 22.
6) Luňáček, J.: Termodynamické funkce a rovnovážné rozdělovací koeficienty ve zředěných
slitinách tranzitivních kovů. In Sborník VII semináře difúze a termodynamika materiálů, Tři
Studně, ÚFM AVČR Brno,1998, s 77 - 80. ISBN 80-214-1128-7
7) Drápala, J., Vašek, P., Luňáček, J., Lesňák, M.: „Electro-dynamic gradient“ - metoda
přípravy krystalů polovodičových sloučenin. In Sborník TRANSFER ‘99, Brno, 1999, s. H-2526. ISBN 80-214-1341-7
8) Luňáček, J., Drápala, J., Lesňák, M.Vašek, P.: Experience from preparing of the GaSb
crystals in the horizontal segment furnace. In Book of Abstracts of Development of Materials
Science in Research and Education, 10th Joint Seminar, Zlenice, Czech and Slovak
Association for Crystal Growth, 2000, p. 9. ISBN 80-85912-37-6
9) Luňáček, J. : Binary diagrams in technetium-base alloys. In Proceedings of Development of
Materials Science in Research and Education, 11th Joint Seminar, Kežmarské Žľaby, Czech
and Slovak Association for Crystal Growth, 2001, p. 61-62. ISBN 80-85330-90-3
10) Kuchař, D., Luňáček, J., Lesňák, M., Pánek, P.:Optimization process of the thermal
donors elimination in silicon. In Proceedings of Development of Materials Science in
Research and Education, 11th Joint Seminar, Kežmarské Žľaby, Czech and Slovak
Association for Crystal Growth, 2001, p. 53-54. ISBN 80-85330-90-3
11) Kuchař, D., Luňáček, J., Pánek, P., Lesňák, M.: Thermal donors in Silicon single crystals.
In Proceedings of Development of Materials Science in Research and Education, 12th Joint
Seminar, Ostravice, Czech and Slovak Association for Crystal Growth, 2002, p. 27-28. ISBN
80-85912-85-8
12) Luňáček, J.: Estimation of Atom-Occupation in Some Sigma Phases by LMTO-ASA
Method. In Proceedings of Development of Materials Science in Research and Education,
13th Joint Seminar, Račkova dolina, Czech and Slovak Association for Crystal Growth, 2003,
p. 38-39. ISBN 80-89088-16-3
13) Luňáček, J., Pištora. J., Postava, K.: Department of Physics in Nanotechnology Education
Project at the VŠB-Technical University of Ostrava. In Proceedings of Development of
Materials Science in Research and Education, 15th Joint Seminar, September 5-9, 2005,
Kežmarské Žľaby, Slovensko, Czech and Slovak Association for Crystal Growth, 2005, p. 4445. ISBN 80-89088-42-2
14) Luňáček, J., Hlubina, P., Ciprian, D., Lesňák, M., Chlebus, R.: Nondestructive
measurement of thickness of silicon oxide thin film on silicon substrate. In Proceedings of
Development of Materials Science in Research and Education, 16th Joint Seminar, September
12-15, 2006, Valtice, Czech and Slovak Association for Crystal Growth, 2006, p. 38-39.
ISBN 80-901748-7-6
15) Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáček, J., Lesňák, M., Chlebus, R.: Měření tloušťky SiO2
vrstvy na Si substrátu metodou spektrální interferometrie v bílém světle. Optická konference
Brno, 2006, 26.-28.6.2006, kniha abstraktů s. 19.
16) Luňáček, J., Hlubina, P., Ciprian, D., Lesňák, M., Chlebus, R.: White-light interferometric
method to measure thin films. In Proceedings of Development of Materials Science in
Research and Education, 17th Joint Seminar, September 10-14, 2007, Tatranská Štrba, Czech
and Slovak Association for Crystal Growth, 2007, p. 38-39. ISBN 978-80-89088-55-3
17) Luňáček, J., Dvorský, R., Slíva, A.: Preparation of a nanoparticular suspension in the new
Water Jet Mill (WJM) device using cavitation disintegration. In Proceedings of Development
of Materials Science in Research and Education, 18th Joint Seminar, September 1-5, 2008,
Hnanice, Czech and Slovak Association for Crystal Growth, 2008, p. 37-38. ISBN 978-80254-0864-3
18) Luňáček, J., Z. Potůček, M. Luňáčková, P. Hlubina, D. Ciprian: Spectral reflectometry of
SiO2 thin films on the silicon wafers. In Proceedings of Development of Materials Science in
Research and Education, 18th Joint Seminar, September 1-5, 2008, Hnanice, Czech and
Slovak Association for Crystal Growth, 2008, p. 39-40. ISBN 978-80-254-0864-3
19) J. Luňáček, P. Hlubina, D. Ciprian: Spectral interferometric technique to measure spectral
reflectance ratio of polarized waves used to thin-film thickness determination. Proceedings of
Development of Materials Science in Research and Education, 20th Joint Seminar, August 31
- September 3, 2010, Bořetice, Czech and Slovak Association for Crystal Growth, 2010, p.
39-40. ISBN 978-80-254-7237-8
20) M. Luňáčková, J. Luňáček, Z. Potůček , P. Hlubina: Alternative method to thin-film
thickness determination using the spectral reflectance measurement. Proceedings of
Development of Materials Science in Research and Education, 20th Joint Seminar, August 31
- September 3, 2010, Bořetice, Czech and Slovak Association for Crystal Growth, 2010, p.
41-42. ISBN 978-80-254-7237-8
Ročenka VŠB-Technical University of Ostrava
1) P. Hlubina, J. Luňáček, D. Ciprian, M. Lesňák and R. Chlebus: Measurement of thin film
thickness by white-light spectral interferometry. In Annual Proceedings of Science and
Technology at VŠB-TUO, 2007, part I, p. 52– 56. ISBN 978-80-248-1662-3
2) J. Luňáček, P. Hlubina, D. Ciprian, M. Luňáčková: Windowed Fourier transform and
wavelet transform applied to the phase retrieval of the spectral interference signal. In Annual
Proceedings of Science and Technology at VŠB-TUO, 2008, part II, p. 106 – 109. ISBN 97880-248-1863-4
3) Luňáček, J., Luňáčková, M., Potůček, Z., Hlubina, P.: Thin-film thickness calculation from
a spectral reflectance measurement by using a new envelope method. In Annual Proceedings
of Science and Technology at VŠB-TUO, 2009, part III, p. 77 – 80. ISBN 978-80-248-2113-9
4) Luňáček, J., Hlubina, P., Ciprian, D., Luňáčková, M.: Measurement of the spectral
reflectance ratio of polarized waves used to thin-film thickness determination. In Annual
Proceedings of Science and Technology at VŠB-TUO, 2010, part IV, p. 99 – 102. ISBN 97880-248-2367-6
5) J. Luňáček, P. Hlubina, D. Ciprian: White-light spectral interferometric technique to
measure a nonlinear phase function of a thin-film structure. In Annual Proceedings of Science
and Technology at VŠB-TUO, 2011, (in print)