各位平成 26 年 5 月 19 日株式会社戸上電機製作所ストリングトレーサ（形式：ＳＰＳＴ－Ａ、ＳＰＳＴ－Ａ１、ＳＰＳＴ－Ａ２） I-V 特性測定時のお願い拝啓時下ますますご清栄のこととお喜び申しあげます。平素は格別のお引き立て賜り、厚く御礼申しあげます。さて、お買い上げ頂きました表記装置におきまして、プローブを用いて I-V 特性測定を行う際、注意事項がございますので、ご報告いたします。ご確認いただきますよう、何卒よろしくお願い申し上げます。敬具記１，概要本装置で I-V 特性測定を行う際、付属のプローブを用いて測定を行うことが可能ですが、針状プローブで複数ストリングの同時測定や、改造されたワニ口プローブでの測定などを行うと、ブレーカ端子部分が接触不良の状態で測定が行われ、アークが発生する場合があります。そのアークの影響により、測定波形に乱れが発生します。また、上記状態で測定を続けることにより、内部電子部品が破損し、測定ができなくなるおそれがありますのでご注意ください。【ワニ口プローブの改造】【針状プローブ 4 本以上による同時測定】 ※同時測定の際は、ワニ口プローブまたは、マグネットプローブをご使用下さい。２，対象製品名称形式：ストリングトレーサ：ＳＰＳＴ－Ａ：ＳＰＳＴ－Ａ１：ＳＰＳＴ－Ａ２３，対策移動測定モードにて I-V 特性測定を行う場合は、プローブの接触不良とならないよう、測定時はプローブとブレーカ端子を確実に接触させて測定を行ってください。同時測定モードにて I-V 特性測定を行う場合は、針状プローブを使用せず、同梱しているワニ口プローブをご使用いただくか、オプション品のマグネットプローブを用いて測定を行ってください。プローブの改造等は行わないようお願いいたします。以上