太陽電池特性測定検査システム総合カタログ

SHORT FORM CATALOGUE
太陽電池特性測定検査システム
Innovative
PV Test Systems
共進電機株式会社は、最先端且つ革新的な太陽電池測定技術の関連製品群を KOPEL ブランドとして、供給していきます。
太陽電池セル用検査システム
太陽電池モジュール用検査システム
Ｉ－ V テスター
測定治具
のこだわり
KOPEL Method – 測定の三大要素
正しく安定した測定を行う為に、KOPEL は「光ー光源の安定性」・「電気ー I-V 計測の応答性」・「温度－測定温度の制御」の三大要素
を守り、製品開発を行っております。
光
光の安定性は、専用の電源と制御系の新規開発により、変動誤差を± 0.1％までに狭小化する事に成功しました。
Light
この新しいシステムにより、パルス発光は、50 ms の単一パルス、あるいは 2 段階、3 段階のパルスとすることが
電
I-V 計測システムは高速のバイポーラ電源を内蔵し、4 象限動作で太陽電池セルの特性を正確に測定します。4 端
Electric
温
Temp.
可能です。IEC /JIS 規格で規定しているセルの内部抵抗（Rs）の測定も可能です。
子法により電圧と電流を同時に高速に測定し、非常に短いパルスの間を正確な実測の I-V データを取ることができ
ます。測定は、掃引電圧の方向 Isc から Voc、Voc から Isc を高速、精密に測定できます。データは、Isc, Jsc, Voc,
Pmax, FF, Rs, Rsh, Iv, Vi, Eff, 温度などの正確な測定データを表示できます。
温度制御は、被測定セルとプレートの温度管理をする事により国際規格で規定された 25℃での測定環境を守りま
す。通常定常光ないしはロングパルス光 (300ms ～ 1000ms) の照射では温度上昇を抑える事は難しいので、日本以
外ではショートパルスを採用する事が多くみられます。当社では 10ms ～ 50ms でのパルス光源の短い照射により
温度上昇を極力抑えています。
Light
高安定光源
Temp.
セル温度・環境
精密管理
Electric
最適プロービング
高精度電気測定
当社では「光」
「電気」
「温度」測定の三大要素を管理
する事により、正確で安定した測定を提供します
2
Innovative PV Test Systems
Light Instability　―光の安定性―
光源は下の Fig.1 に示されるように正確に制御されています。
一般的な定常光のショートアーク・キセノンランプでは、アークの揺らぎ、電源のリップルノイズなどの影響で、± 0.5％前後の誤差
がでます。
当社の KSX シリーズでは、光の変動を± 0.1％程度に抑えています。
この変動では、測定データに大きな影響することはありません。特に量産時のクラス分けでは、0.2％前後の精度を要求される場合、
光の安定度は重要になります。
Fig.1　光の安定性
Fig.2　二段階パルス
I-V Measuring Unit　―I-V テスター ―
I-V テスターは非常にシンプルです。定常光タイプや一般的なフ
ラッシュタイプのシステムと異なり、当社のパルス光タイプは光
源が充分安定しているので補正も調整も不要です。電源が Isc から
Voc あるいは Voc から Isc に掃引します。正確な I-V データはセル
の位置で電圧と電流が同時に測定されます。
このシステムは４象限の機能を使って、暗電流と Voc を正確に測
定することができます。
Fig.3　ダイナミック I-V 計測
I-V テスターは他のシミュレーターと
組み合わせての測定も可能です。
詳細は P10-11
を参照下さい。
Data Correlation　―高い測定安定性―
Fig.4 は、同じ 8 枚のセルを 10 回測定したデータです。
各々のセルのクラス分けを正確に再現性の高い精度で測定・分類
が可能です。
Fig. 4 測定安定性
3
KOPEL Method
最先端の新技術で高効率セルでの高精度・高速測定を実現
共進電機は、独立行政法人産業技術総合研究所（AIST）との共同で高効率の太陽電池の I-V 測定を 50ms 以下の短いパルスで計測す
る方式を開発しました。その方式は、PDA (Photo and Dark Analysis) technology 方式と呼ばれます。この方式を実現するために、
共進電機は、高速で正確なバイポーラ電源とそのコントロール部・ソフトウェアを開発しました。
そのシステムが KOPEL Method です。( 国際特許出願中 )
一般的な結晶系太陽電池の I-V 測定
Fig.K-1 に結晶型セルの I-V 測定を示します。結晶型は光の変化に速く応答
するため、数 ms のパルス光照射の間に掃引電圧の方向を Isc から Voc まで変
化させて測定する事が可能です。その為、従来 1 ～ 10ms 程度の短いパルス
光で測定されていました。特に正確な測定を行うためには、温度上昇をでき
る限り小さくする必要があり、短い光照射で計測する必要があります。また、
短いパルス光での I-V 測定が国際的には主流です。
高効率太陽電池の測定
Fig.K-1　結晶型セルの I-V 測定
これに対して、一般的に高効率の太陽電池は複雑な構造をもち、静電容量
が高いことから、従来のショートパルス方式（100ms 以下）では正確な特性
を測定する事はできませんでした。これは従来の結晶型とは異なり、電圧の
変化に対して応答が遅れます。
このため、一般的には定常光ないしはロングパルス光（600-800ms) で計測
を行っています。この光で計測する場合、太陽電池の温度上昇や光の変動を
考慮する必要があります。逆に、短時間のパルス光で計測すると静電容量の
影響から、計測時の I-V カーブの挙動に差が生じます。現象としては高効率 ( 高
容量）太陽電池への短時間パルス発光では、この容量成分に十分な充電がな
されないために、一般的な IV 計測で行われる、掃引電圧の方向を Isc ⇒ Voc
では、Pmax 付近の値が低くなってしまいます。逆に Voc ⇒ Isc で計測した場
合は、Pmax 付近の値が高くなります。このため、太陽電池の正確な特性評価
はできません。
Fig.K-2 は HIT® に印加する電圧を、Isc から Voc、Voc から Isc にそれぞれ
Fig.K-2 高効率セルの短時間掃引による
I-V 特性カーブの挙動差
20ms で変化させた場合の測定結果です。
HIT® や IBC などの高い静電容量により変化が追随しないのが分かります。
電圧変化を 20ms ではなく 300ms 以上で変化させると、曲線の歪みがなくな
り、双方向とも黒い線と重なります。
しかし、その間安定した光を太陽電池に当てている必要があり、セル、モ
ジュールの温度が上昇し、また、光源に対する負担が大きくなります。例え
ば、800ms の照射により温度は約１℃上昇し、この影響により Voc が減少し、
Pmax が低く測定されます。
Fig.K-3 に、ある HIT® モジュールの測定データを示します。これによると
200ms 〜 300ms では誤差が殆どなくなりますが、100ms では Pmax の誤差
が± 1% 程度となります。もっと短い光では方向により非対称になります。
実際には 600ms 以上の照射が必要となります。
今後、太陽電池各社は、高効率化を目指しているため、更に静電容量が増
加する傾向にあります。
静電容量の高いセルやモジュールでも高精度・高速測定を可能にしたのが、
最新技術 PDA（KOPEL Method）です。
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Fig.K-3　掃引スピードと方向による影響（HIT®）
静電容量の高いセルやモジュールでも高精度・高速測定を可能にしたのが
最新技術 PDA (KOPEL Method) です。
KOPEL Method の原理
Fig.K-2 で示したように静電容量の高い太陽電池では、印加電圧を急激に変化
させても、両極間の電圧はすぐには応答しません。この遅れは純粋に電気的な静
電容量による遅れであり、太陽電池の光化学的な特性等には依存しないのではと
我々は考えました。
もし太陽電池が光を当てても当てなくても同じ挙動をするのなら、光を当てな
い状態でゆっくりと電圧を変化させたデータと急速に電圧を変化させたデータお
よび光を当てた状態で急速に電圧を変化させたデータを使って推定ができるはず
です。
Fig.K-4 は HIT® セルを明状態と暗状態で測定した結果です。この二つに相関性
があれば、その相関性を利用して求めたい測定データが得られる事になります。
Fig.K-4　明状態と暗状態の I-V 特性
Fig.K-5 は、明状態と暗状態の両方向の I-V カーブを重ねて表記したものです。
データを重ねて見ると二つのデータは特性が異なります。これでは相関性から正
しいデータを導きだす事はできません。
電圧変化に対する遅れが明状態と暗状態で異なる原因は、太陽電池の内部抵抗
の影響であると考えられます。明状態と暗状態では明らかに太陽電池に流れる電
流の状況が異なります。電圧 0V を印加した状態では、明状態では最大電流（Isc）
が流れ、暗状態では全く電流が流れません。この電圧値の違いを補正してから比
較しないと、明状態と暗状態の特性を正しく比較した事になりません。
Fig.K-6 に KOPEL Method の測定シーケンスを示します。暗状態で 2 種類の電
圧と電流を測定します。次に 50ms の明状態での電圧と電流を測定します。
Fig.K-7 は内部抵抗の影響を除かない状態で KOPEL Method の処理を示した図
Fig.K-5　特性を重ね合わせた場合
です。
上の赤い斜線と下の青い斜線は実は内部抵抗の影響を除くと同じ電圧になり、
この二つの線は一直線に繋がります。内部抵抗の影響を除いてみると明状態も
暗状態も同じ特性を示す事から正しい I-V 特性が正確に測定できるというのが
KOPEL Method の原理です。
最後に、Fig.K8 は、HIT® セルを基準測定の AIST で測定したロングパルス
（1000ms）と 50ms のパルス照射を KOPEL Method（KSX-3000H）で HIT® セル
計測データです。測定の差は、0.2％以下になっています。また、モジュールで
も同様の計測が可能です。
（KSX-2012HM）
測定および演算に掛かる時間は全て合わせて１秒以下です。
Fig.K-6　KOPEL Method の I-V 測定のしくみ
KOPEL Method は研究開発用の高精度測定ばかりでなく、その高速性から生産
ラインにも適した方式です。
● 国際特許出願中 ( 日本・米国・ドイツ・スイス・中国・台湾・韓国）
Fig.K-7　暗状態と明状態の比較
Fig.K-8　KOPEL Method I-V テスターによる計測結果
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太陽電池セル用検査システム
KSX-1000
シリコン結晶系セル用検査システム
シリコン結晶系の研究開発評価用並びに量産ラインの I-V 自動測定とクラス分けに適したシステムです。
正確で安定したパルス光源、精密 I-V 測定機能、高測定再現性、低保守コスト、高スループットを高信頼性設計で提供する画期的
な太陽電池セル検査システム
KSX-3000H
高効率太陽電池セル用検査システム
KSX-3000H は、当社と独立行政法人産業技術総合研究所（AIST）との共同研究により開発した KOPEL Method 対応の I-V テスター
を内蔵した最新のシステムです。HIT® や IBC 等の高効率太陽電池セルの研究開発、品質管理並びに量産ラインに威力を発揮し
ます。
正確で安定した光源
専用の電源で安定な光源
安定度 0.1％を実現
高生産性と I-V データの高い相関性
AIST と共同開発した KOPEL Method による測定
HIT®、IBC など高効率セルの I-V 特性も 50ms のパルス光での短時間測定が可能
IEC60904-9/JIS 規格：Class AAA
正確な I-V テスター
特別設計の I-V テスター
（50ms 以下のパルス光で高効率セルを補正なしに正確に測定）
低いメンテナンスコスト
高寿命パルスランプ (100 万ショット以上 )
シンプル構成 ( 光学系部品・シャッター不要 )
側面のドアからランプ交換ができ、光軸調整が不要
４象限動作
ランプ交換は、10 分程度で可能
電圧 / 電流同時測定
パルス光のため、フィルター等の消耗も少なくすみます。
ソフト補正を最小限に抑えた、実データを提供
IEC60904-1/JIS C8913 規格　準拠
高再現性を実現
安定光源と I-V テスターの組み合わせで常に安定した計測を保証
セルのクラス分け精度の向上
KSX-1000/KSX-3000H 共、R&D、品質保証部門でのスタンドアロンでの使用だけでなく、量産ラインへの導入も考慮した設計になっ
ています。特に光源の発光時間は、50 ｍｓと短いため、タクトタイムの短縮が可能です。
量産ラインへの導入のご検討には、当社にお問い合わせください。
Fig.K-2 高効率セルの短時間掃引による
I-V 特性カーブの挙動差
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Fig.K-8　KOPEL Method I-V テスターによる計測結果
システム構成（R&D 用）と仕様
測定の三大要素をまもった省スペースなシステム構成です。
KSX-1000 と KXS-3000H とも同様のシステム構成の為、KSX-1000 のシステムより I-V
テスターとソフトウエアを変更するだけで KSX-3000H にアップグレード可能です。
KSX-3000H の R&D 対応システム
( 真空ポンプ、チラーはオプション )
Light
Temp.
生産ラインにも
対応可能！！
お問合せ下さい！
Electric
(1) KSS-P001 パルス式ソーラシミュレータ
項目
仕様
有効照射面積
装置性能
照射照度
分光分布
スペクトル波長域
スペクトル合致度
照度場所むら
照度時間変動率
発光パルス幅
ランプタイプ
ランプ寿命
寸法
重量（固定具込み）
定格
200 mm x 200 mm
等級ＡＡＡ (JIS C8913,IEC60904-1)
1000W/㎡ (300 - 1200 W/㎡)
AM1.5G に近似
350-1100 nm
±20%　以内　(JIS C8912, C8933, IEC60904-9) ClassA
±1.5% 以内　ClassA
±0.2% 以内　ClassA
有効 50 ms
キセノンロングアーク専用球
100 万ショット（ミス発光無しでの連続発光回数）
W500 x D500 x H800 mm
50 kg (110 lb)
1.8 kW
(2) KSS-P001 パルスソーラシミュレータ電源
項目
仕様
出力制御
発光間隔
タッチパネル
手動操作部
安全装置
接続
入力電源
寸法
重量
高安定放射照度制御
最短 1.5 秒
パルス光の条件設定、メニュー、自動手動切替、充電状態モニター、点灯回数表示
照射スタート、停止、非常停止、モード切替
過電流検知・温度異常検知
電源コネクタ、出力コネクタ（ランプハウスと接続）、信号コネクタ
三相 200 V – 415 V、50/60 Hz、4 kVA
W570 x D630 x H1000 mm
280 kg (620 lb)
(3)　I-V テスター/ KST-P15Ce（KSX-1000用）KST-PH C(KSX-3000H 用）
P10 I-V Tester を参照ください
(4) 測定プログラム/KSW-01F （KSX-1000用）KSW-01CKM(KSX-3000H用） P10 I-V Tester を参照ください
(5) その他のコンポーネント
項目
仕様
セルセッター
装置フレーム
キセノンランプ
KSJ-021C（手動）、自動化可能
T1001B
LF-000-W0015
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太陽電池モジュール用検査システム
KSX-2012HM
高効率モジュール対応検査システム
HIT® 等や IBC などの高効率（高容量）型太陽電池モジュールを 50 ms 以下のパルス照射で正確に計測できる検査システムです。
正確な I-V 測定機能と安定した光源を内蔵した KSX-2012HM は、パナソニックの HIT® 等、高効率太陽電池モジュール用の最先端太
陽電池検査システムです。
KSX-2012HM システムは、この KOPEL Method の革新的技術により、50 ms 以下の単一パルス照射で HIT® や IBC その他の高効率 (
高容量 ) 太陽電池モジュールを正確に測定することができます。
50 ms 以下の単一パルスの I-V データが、定常光下で 1000 ms で測定した I-V データと非常に良く一致し、違いは僅かに 0.2-0.3%
です。
また、定常光ないしは数百 ms 以上のパルス発光には、大型の試験機と長距離の発光（約 10m）スペース（暗室）が必要でした。
KOPEL Method では、上面発光のパルス型ソーラーシミュレータを使用することで省スペースが可能になり、また、モジュール反
転不要でインライン化が容易にできます。
正確で安定したパルス光源
高効率（高容量）太陽電池モジュールを 50 ms 以下パルス光で正確測定を実現
新技術 KOPEL Method によりパルス光の使用による安定した測定結果
正確で安定したパルス光源
基準太陽光 AM-1.5G のスペクトル合致度 20% 以内を実現
JIS C8912, C8933, IEC/EN.60904-9, ASTM-E927 規格に対して、等級 AAA を満足
シングルランプと独自の場所むら調整方式により放射照度場所むら± 2％以内を実現
シングルランプと特殊 AM フィルター（特許）の使用でスペクトラムの場所むらも殆ど無し
上面発光でモジュール反転不要でインライン化が容易
暗室不要
シングルランプでランプ交換が簡単で、光学系の調整が一切不要
ランプ交換のための装置停止時間がほとんど不要
メーカー交換・専門技術者の調整が不要（技術者派遣費用が不要）
チャージ時間約 15 秒の高速測定が可能
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システム構成
仕様
(1) KSX-2012HM パルス式ソーラシミュレータ光源部
項目
仕様
有効照射面積
装置性能
照射照度
分光特性
スペクトル合致度
照度場所むら
照度時間変動率
スペクトラムの場所むら
発光パルス幅
ランプ
ランプ寿命
冷却方式
寸法
重量
2000 mm×1200 mm (最大: 2000m×1500 mm）
等級ＡＡＡ (JIS C8912, C8933, IE C60904-9)
200～1000W/㎡　（0.2～1SUN)　可変可能
AM1.5G に近似
±20%以内　(JIS C8912, C8933, IEC60904-9)　ClassA ※有効面積内9ポイント測定
±2% 以内　ClassA ※6inch太陽電池セルにて有効面積内全面測定
±1% 以内　ClassA
±3％以内
有効 60ms　（要求により、最大100ｍｓまで対応可能：別途見積）
直管型キセノンフラッシュランプ　1　灯
平均100万発光、保証50万発光
強制空冷
約　W2600 x D1800～2200 x H1000 mm (有効照射面 1900 mm×1200 mmの時）
約 1250 kg (2,800 lb)
(2) KSX-2012HM パルス式ソーラシミュレータ電源部
項目
仕様
発光間隔
手動操作部
安全装置
接続
入力電源
寸法
重量
最短15秒
電源ＯＮ／ＯＦＦ、出力調整、手動テスト発光
電源入力ブレーカー、筐体カバーインターロック、過熱停止
電源入力、光源部への出力、計測部からのトリガー信号入力、光源部へのトリガー信号出力
3相200V、50/60Hz、9kVA
1200 x 1000 x 1500
約 1000 kg (2,200 lb)
(3) KST-P80MO I-V テスター詳しくは、P11の I-V Tester を参照ください
(4) KSW-01F 測定プログラム　詳しくは、P11の I-V Tester を参照ください
(5) その他のコンポーネント (オプション）
項目
仕様
モジュール用ガイドレール
モジュール温度測定装置
自動照度測定システム
手動、自動化可能
最大6箇所の測定が可能
有効面積内の照度均一性を自動で測定Uソフトウェア付き（校正用）
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I-V テスター
共進電機が提供する I-V テスター KST シリーズは、太陽電池セル・モジュールの I-V 特性を高速・高精度で測定します。
IV テスターには、太陽電池セル、モジュールに対応しています。また、定常用とパルス光用があります。新たに開発した KOPEL
Method により、HIT® や IBC などに高効率太陽子電池セル・モジュールを 50ms の単一パルスで I-V 計測可能です。
また、新規開発した高速 I-V 計測装置 KST-5Ce-LC は、1000Sun までの集光型ソーラーシミュレータでの短時間、高速測定が可能です。
特長
● IEC60904-1/JIS C 8913 準拠
● すべてを一つにまとめたコンパクト設計＝一台の単独校正が可能
● 専用ソフトウェア標準添付
● 測定精度± 0.2％ FS 以内の高速サンプリング
● 最大 1024 ポイントを 100 μ s/20 μ s（新開発中の高速タイプ /KST-5Ce-LC）で、高速掃引が可能
スイープ方向は任意設定可能。Isc ⇒ Voc / Voc ⇒ Isc の両方向が可能
● 内蔵セルチェック機能で、ソーラーシミュレータと組み合わせることでダーク試験が可能
● KOPEL Method（PDA 方式）への対応が可能
HIT® など高効率 PV セル・モジュールを 50 ｍｓ以下で高速 I-V 測定可能
（既存のパルス型ソーラーシミュレータへの対応も可能＝発光時間、発光波形の条件は、ご相談ください。）
● 一般的な、定常光、パルス方式のそれぞれのソーラーシミュレータへ対応が可能
● 開発用から、品質管理向け、量産用まで対応可能
● 量産向けのクラス分け機能を標準装備
（16 ランク、それ以上は、オプション対応可能）
● 集光型ソーラーシミュレータへの対応も可能　-KST-5Ce-LC
(1ms で 50 ポイントの計測が可能 )
KST-15Ce シリーズ
太陽電池セル専用 I-V テスター
仕様
セル用I- Vテスター
モデル
KST-15Ce
KST-P15Ce
KST-P15HC
ソフトウェアモデル
KSW-001
KSW-01F
KSW-01CKM
KSW-01LC
対応ｾﾙ
結晶系太陽電池ｾﾙ
結晶系太陽電池ｾﾙ
多接合型太陽電池ｾﾙ（HIT等）
集光型太陽電池ｾﾙ
対応ｿｰﾗｰｼｭﾐﾚｰﾀﾀｲﾌﾟ
定常光ﾀｲﾌﾟ
ﾊﾟﾙｽ光ﾀｲﾌﾟ
KST-5Ce-LC
定常光ﾀｲﾌﾟ
出力測定方法規格
IEC60904-1,JIS C8913に準拠
集光型太陽電池専用機
掃引ﾊﾞｲｱｽ電圧
±2V
±10V
Isc t o Vo c , Vo c t o Isc
掃引方向
測定電圧
±2V
±2V
測定電流
-2A～+15A
-2A～+5A
15A , 1.5A , 0.15A , 0.015A
5A , 0.5A , 0.05A , 0.005A
測定電流ﾚﾝｼﾞ切替
注1)
測定ﾎﾟｲﾝﾄ
30～1024 ﾎﾟｲﾝﾄ
30～300 ﾎﾟｲﾝﾄ（最大1024ポイント）
30～1024 ﾎﾟｲﾝﾄ
測定速度
100us～100ｍs/1ﾎﾟｲﾝﾄ
60us～100ｍs/1ﾎﾟｲﾝﾄ
20us～100ｍs/1ﾎﾟｲﾝﾄ
測定精度
0.2%FS
I-Vｶｰﾌﾞ, P-Vｶｰﾌﾞ　（光・暗測定）
最大出力(Pmax) , 開放電圧(Voc)
短絡電流(Isc) , 曲線因子(FF)
測定項目
変換効率(η)
最大出力動作電圧(Vpm)
最大出力動作電流(Ipm)
直流抵抗(Rs) , 並列抵抗(Rsh)
入力電源
単相100V～240V、50/60Hz、200VA
寸法
W430 x D360 x H160 mm
重量
8 kg (18 lb)
対応ＯＳ
Windows XP,Windows 7(32/64-bit)
データ出力
LAN方式
データ形式
CSV形式
注 1) PC での任意選択
10
使いやすいソフトウェア
パラメータ入力画面
(KOPEL Method)
測定画面
セル毎ランク別
Ｉ－Ｖ特性データ画面一覧表
1. 測定モード
「測定線チェック」
「セルチェック」
「I-V 測定」「ダーク測定」
拡大 I-V カーブ
2. 印加電圧
3. ポイント間時間・開始時間・終了時間
KST-P80 シリーズ
太陽電池モジュール専用 I-V テスター
仕様
ﾓｼﾞｭｰﾙ用 I- Vﾃｽﾀｰ
ﾓﾃﾞﾙ
ｿﾌﾄｳｪｱﾓﾃﾞﾙ
KST-P80MO
KST-P80HC
KST-P300HC
KSW-01M
KSW-01MKM
KSW-02M
対応ﾓｼﾞｭｰﾙ
結晶系太陽電池ﾓｼﾞｭｰﾙ
多接合型太陽電池ﾓｼﾞｭｰﾙ（HIT等）
対応ｿｰﾗｰｼｭﾐﾚｰﾀﾀｲﾌﾟ
ﾊﾟﾙｽ光ﾀｲﾌﾟ , ﾛﾝｸﾞﾊﾟﾙｽ式
ﾊﾟﾙｽ光ﾀｲﾌﾟ
出力測定方法規格
±8V/±80V
薄膜系太陽電池ﾓｼﾞｭｰﾙ
太陽電池ﾓｼﾞｭｰﾙ
ﾊﾟﾙｽ光ﾀｲﾌﾟ , ﾛﾝｸﾞﾊﾟﾙｽ式
±8V/±80V
注1)
注1)
±300V
±300V
Isc to Voc , Voc to Isc
掃引方向
測定電圧
±8V/±80V
測定電流
測定ﾎﾟｲﾝﾄ
KSW-01MCS
結晶系,多接合型,薄膜系
IEC60891,JIS C8914に準拠
掃引ﾊﾞｲｱｽ電圧
測定電流ﾚﾝｼﾞ切替
KST-P300MO
±8V/±80V
注1)
-15A～+15A (±8V/±80V時)
±15A
注1)
±1A (瞬間±3A) (±300V時)
30～300 ﾎﾟｲﾝﾄ (ﾊﾟﾙｽ光ﾀｲﾌﾟ)
±300V
±1A (瞬間±3A)
15A,1.5A,0.15A,0.015A (±8V/±80V時)
15A , 1.5A , 0.15A , 0.015A
30～1024 ﾎﾟｲﾝﾄ (ﾛﾝｸﾞﾊﾟﾙｽ式)
注1)
±300V
1A , 0.1A , 0.01A
1A,0.1A,0.01A (±300V時)
30～300 ﾎﾟｲﾝﾄ (ﾊﾟﾙｽ光ﾀｲﾌﾟ)
30～300 ﾎﾟｲﾝﾄ
30～1024 ﾎﾟｲﾝﾄ (ﾛﾝｸﾞﾊﾟﾙｽ式)
±0.2%FS
測定精度
I-Vｶｰﾌﾞ, P-Vｶｰﾌﾞ
最大出力(Pmax) , 開放電圧(Voc)
短絡電流(Isc) , 曲線因子(FF)
測定項目
変換効率(η)
最大出力動作電圧(Vpm)
最大出力動作電流(Ipm)
直流抵抗(Rs) , 並列抵抗(Rsh)
入力電源
寸法
重量
対応ＯＳ
データ出力
データ形式
単相200V、50/60Hz、200VA
W570 x D630 x H850 mm
150 kg (330 lb)
単相100-240V、50/60Hz、200VA
W570 x D630 x H1200 mm
220 kg (485 lb)
Windows XP,Windows 7(32/64-bit)
W570 x D630 x H850 mm
150 kg (330 lb)
LAN方式
CSV形式
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測定治具
KSJ シリーズ
超高性能太陽電池セルセッター
測定対象の太陽電池セルの正確なアライメントと安定したプロービングを保証、
測定データの高再現性を実現します。
KOPEL が提供する KSJ-026 セルセッターは、± 0.1 ㎜の高精度セルアライメ
ント機構を採用、測定対象セルに対するプロービングの安定性と測定データ
の高再現性を実現しています。ダイヤルゲージにより、プローブピンの接触
圧を精密に設定・管理することができます。本製品は、セル吸着機能とセル
温度管理機能を装備しているので、測定条件の再現や FF 値の安定化が容易
に可能です。
特長
■ ダイヤルゲージの採用によりプローブピンの接触圧を精密に設定・管理可能
■ セル吸着機能を標準装備
■ セル温度測定用熱電対を標準装備
■ 表面 / 裏面プローブバーは 2・3・4・5 本まで対応可能 (3 本標準 )
■ 対象セルサイズ：50㎜・4・5・6in 対応
各種太陽電池セルに対応可能な柔軟な機器構成
KOPEL KSJ-026 セルセッターは、対象セルの電極の位置、接触方法により、搭載する KOPEL KSM シリーズプローブバーの組み合
わせによって、4 種類の構成で提供されます。貴社の測定対象セルの種類に合わせて、適切なプローブバーを選択してセルセッターを
構成します。従来型のシリコン系セルから、HIT® 等の高効率セルや薄膜系及び、バックコンタクト型太陽電池セルにも対応できます。
この 4 種類の構成は、以下の通りです
機器構成BS (Both Side)
＋電極プローブバー、−極プローブバー搭載
測定対象太陽電池：従来型シリコン系セル、HITセル、薄膜系セル
機器構成EP (Electrical Potential Distribution)
電位分布用表面プローブバー、裏面プローブプレート搭載
機器構成SP (Surface/Plate)
表面プローブバー、裏面電極プレート
測定対象太陽電池：従来型シリコン系セル、HITセル、薄膜系セル、バスバーレスセル
機器構成BC (Back Contact)
測定対象太陽電池：従来型シリコン系セル、HITセル、薄膜系セル
表面・裏面プローブバー搭載
測定対象太陽電池：バックコンタクト型セル
電位分布測定装置 ( オプション : 独立行政法人産業技術総合研究所との共同開発製品）
KOPEL では、独立行政法人産業技術総合研究所（AIST）と電位分布測定装置
を共同開発しました。本器は、通常の電位差計と異なり、セル表面の複数箇
所の電位を測定できるので、セル内の電位のムラを把握することができる画
期的な装置です。この測定結果で I-V 特性の測定結果を補完することによって、
セル評価の精度を大幅に向上させることが期待できます。また、本器 PC に接
続して、自動測定も可能です。
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特注構成－ＫＳＪシリーズラインナップ
当社のセルセッターは、前面引き出しタイプ、上面開閉タイプ、側面スライドタイプ等、お客様の御要求に応じて対応可能です。また、
量産ラインにも対応できます。
バックコンタクトタイプ
前面引出しタイプ
生産ライン用
プローブバー
KSM シリーズ
研究開発 / 品質保証 / 量産ライン用まで
KOPEL が提供する KSM シリーズプローブバーは、測定治具 KSJ シリーズに搭載さ
れ、安定したプロービングを約束します。プロービング性能が I-V 測定精度を左右
するため、太陽電池セルの I-V 測定において、測定データの高再現性を保証するた
最大 100 万回耐久
めに不可欠な部品です。量産ラインでは生産コストの低減のために、プローブバー
最少 0.5㎜厚
には耐久性が要求されますが、KOPEL KSM シリーズは、100 万回のプロービング
を保証しています。
高耐久性に加え、薄くて強靭な独自のバー構造は、影の影響を最小限にするために、
低抵抗で正確な I-V 測定を実現しています。
特注対応いたします ( 守秘義務対応 )
お気軽にお問合せ下さい
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KOPEL 東京テクニカルセンター
太陽電池セル、モジュールの
最新の測定検査システムのデモ
当社の東京テクニカルセンター（神奈川県相模原市：さがみはら産
業創造センター内）では、皆さんに太陽電池セル、モジュール用の
最新の I-V 測定検査システムを使用いただけます。
サンプル試料などを持参いただければ、無料で実験・計測が可能です。
（要事前予約）
製品構成は下記になります
1.　パルス式セル用ソーラーシミュレータ
＋ KOPEL Method による IV 計測
セル大きさ
：156mm x 156mm（最大照射面 200 x 200）
対象太陽電池
：結晶系、HIT®、IBC などの高効率セル
パルス光幅
：最大 50ms
試料台温度コントロールチラー・真空ポンプ付き
2.　定常光式セル用ソーラーシミュレータ　＋ IV 計測
セル大きさ
：156mm x 156mm
対象太陽電池
：結晶系、HIT®、IBC, CIGS などのあらゆる太陽電池セル
光源
：Xe ランプ　１ｋｗ
試料台温度コントロールチラー・真空ポンプ付き
3.　パルス式モジュール用ソーラーシミュレータ
＋ KOPEL Method による IV 計測
モジュール大きさ：1900mm x 1200mm
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対象太陽電池
：結晶系、HIT®、IBC などの高効率セル
パルス光幅
：最大 100ms
測定に関する問い合わせはメールにてお願いします
MAIL to: [email protected]
共進電機株式会社
東京営業所 / 東京テクニカルセンター
〒 252-0131　相模原市緑区西橋本 5-4-21
さがみはら産業創造センター内　SIC-1310
アクセスマップ
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きょうしんくん
ご要求により他の構成あるいはオプションも対応可能です。担当の代理店、あるいは KOPEL 共進電機までご連絡ください。このカタログに記載の仕様および外観は、都合により予告なしに変更
する場合があります。
＊ KOPEL は共進電機の登録商標です。　＊ HIT® はパナソニックの登録商標です。
製造元 :
販売代理店 :
■　本社
〒 600-8865　京都市下京区七条御所ノ内西町 18 番地
T E L : 0 7 5 - 3 1 1 - 8 5 5 5 FA X : 0 7 5 - 3 1 2 - 4 1 8 0
MAIL: [email protected]
■　東京営業所 / 東京テクニカルセンター
〒 252-0131　相模原市緑区西橋本 5-4-21
さがみはら産業創造センター内　SIC-1310
T E L : 0 4 2 - 7 0 3 - 6 4 6 4 FA X : 0 4 2 - 7 0 3 - 7 3 8 1
MAIL: [email protected]
www.kyoshin-electric.co.jp
www.kopel.jp
Copyright 2014 Kyoshin Electric Co,.Ltd.
SC-GC01-01JP-1410

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