参考資料標準試料データ

参考資料
標準試料データ
目次
クリソタイル標準試料
JAWE111
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・107
アモサイト標準試料
JAWE211
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・112
クロシドライト標準試料
JAWE311
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・117
クリソタイル標準試料
JAWE121
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・122
アモサイト標準試料
JAWE221
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・130
クロシドライト標準試料
JAWE321
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・138
アンソフィライト標準試料
JAWE411
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・146
トレモライト標準試料
JAWE511
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・154
クリソタイル標準試料
UICC
A
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・162
クリソタイル標準試料
UICC
B
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・170
アモサイト標準試料
UICC
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・178
クロシドライト標準試料
UICC
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・186
アンソフィライト標準試料
UICC
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・194
走査型電子顕微鏡による形態・元素組成・元素マッピング
偏光顕微鏡による光学特性・FT-IR による赤外吸収スペクトル
粉末 X 線回折分析・化学組成・結晶子サイズ
日本水処理工業株式会社にて分析
透過型電子顕微鏡による形態・電子線回折
帝人エコ・サイエンス株式会社にて分析
106
クリソタイル標準試料 JAWE111
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
107
cps/eV
クリソタイル標準試料 JAWE111
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
20
18
16
14
12
C
O
Fe
Mg
Si
Fe
10
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
3.0
2.5
2.0
O Mg
Fe
Si
Fe
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
108
クリソタイル標準試料 JAWE111
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
109
クリソタイル標準試料 JAWE111
5
偏光顕微鏡による光学特性
100.0
95
90
形態・色
曲線状・白色
多色性
なし
複屈折
低い
伸長性
正
消光角（最大）
0度
110
クリソタイル標準試料 JAWE111
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
100.0
95
90
85
80
75
70
65
%T
60
55
50
45
40
35
30
27.4
4000.0
3600
3200
2800
2400
2000
1800
cm-1
1600
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
111
1400
1200
1000
800
650.0
アモサイト標準試料 JAWE211
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
112
cps/eV
アモサイト標準試料 JAWE211
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
18
16
14
12
10
C
O
Mn
Fe
Mg
Si
Mn
Fe
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
4.5
4.0
3.5
3.0
2.5
Mn
O Mg
Fe
Si
Mn
Fe
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
113
アモサイト標準試料 JAWE211
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
114
アモサイト標準試料 JAWE211
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
角柱針状・灰色～茶色
多色性
非常に弱い
複屈折
中度
伸長性
正
消光角（最大）
0度
115
アモサイト標準試料 JAWE211
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
116
クロシドライト標準試料 JAWE311
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
117
cps/eV
クロシドライト標準試料 JAWE311
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
22
20
18
16
14
12
C
O
Fe
Na
Mg
Si
Fe
10
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
4.0
3.5
3.0
2.5
Na
O Mg
Fe
Si
Fe
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
118
クロシドライト標準試料 JAWE311
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
119
クロシドライト標準試料 JAWE311
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
角柱針状・青色
多色性
α青色、γ灰色
複屈折
低い
伸長性
負
消光角（最大）
0度
120
クロシドライト標準試料 JAWE311
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
121
クリソタイル標準試料 JAWE121
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
122
cps/eV
クリソタイル標準試料 JAWE121
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
22
20
18
16
14
C
12
O
Fe
Mg
Si
Fe
10
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
4.5
4.0
3.5
3.0
2.5
O Mg
Fe
Si
Fe
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
123
クリソタイル標準試料 JAWE121
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
124
クリソタイル標準試料 JAWE121
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
曲線状・白色
多色性
なし
複屈折
低い
伸長性
正
消光角（最大）
0度
屈折率γ
1.550～1.565
屈折率α
1.542～1.555
125
クリソタイル標準試料 JAWE121
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
126
クリソタイル標準試料 JAWE121
7
粉末X線回折分析
測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
8
化学組成
鉄が全て二価の場合
ｗｔ％
SiO２
45.89
鉄が全て三価の場合
ｗｔ％
SiO２
43.54
Al２O３
0.80
Al２O３
0.76
FeO
4.41
Fe２O３
9.31
MnO
0.03
MnO
0.03
MgO
44.31
MgO
42.04
CaO
Na２O
0.44
0.42
2.11
CaO
Na２O
K２O
1.02
K２O
0.97
P２ O ５
0.21
0.20
その他
成分
0.77
P２ O ５
その他
成分
2.00
0.73
測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)
(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)
127
クリソタイル標準試料 JAWE121
9
結晶子サイズ
指数hkl
角度2θ（°）
結晶子サイズ（nm）
002
12.803
15.2
004
24.343
14.9
060
60.190
6.3
測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
128
クリソタイル標準試料 JAWE121
10
透過型電子顕微鏡
形態
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
倍率　左2500倍右20000倍、加速電圧100ｋｖ
11
透過型電子顕微鏡
電子線回折
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
加速電圧100ｋｖ
129
アモサイト標準試料 JAWE221
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
130
cps/eV
アモサイト標準試料 JAWE221
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
18
16
14
12
10
C
O
Mn
Fe
Mg
Si
Mn
Fe
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
3.5
3.0
2.5
2.0
O
Mn Mg
Fe
Si
Mn
Fe
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
131
アモサイト標準試料 JAWE221
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
132
アモサイト標準試料 JAWE221
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
角柱針状・灰色～茶色
多色性
非常に弱い
複屈折
中度
伸長性
正
消光角（最大）
0度
屈折率γ
1.691～1.703
屈折率α
1.668～1.683
133
アモサイト標準試料 JAWE221
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
134
アモサイト標準試料 JAWE221
7
粉末X線回折分析
測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
8
化学組成
鉄が全て二価の場合
ｗｔ％
SiO２
52.07
鉄が全て三価の場合
ｗｔ％
SiO２
44.91
Al２O３
1.14
Al２O３
0.71
FeO
33.32
Fe２O３
46.02
MnO
2.11
MnO
1.31
MgO
5.58
MgO
3.47
CaO
Na２O
1.23
0.76
2.63
CaO
Na２O
K２O
1.54
K２O
0.96
P２ O ５
0.06
0.03
その他
成分
0.31
P２ O ５
その他
成分
1.63
0.19
測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)
(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)
135
アモサイト標準試料 JAWE221
9
結晶子サイズ
指数hkl
角度2θ（°）
結晶子サイズ（nm）
020
9.731
41.6
110
10.695
44.3
400
19.042
45.1
測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
136
アモサイト標準試料 JAWE221
10
透過型電子顕微鏡
形態
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
倍率2500倍、加速電圧100ｋｖ
11
透過型電子顕微鏡
電子線回折
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
加速電圧100ｋｖ
137
クロシドライト標準試料 JAWE321
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
138
cps/eV
クロシドライト標準試料 JAWE321
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
22
20
18
16
14
12
O
Fe
Mg
Na
Si
Fe
10
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
5
4
3
Na
O Mg
Fe
Si
Fe
2
1
0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
139
クロシドライト標準試料 JAWE321
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
140
クロシドライト標準試料 JAWE321
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
角柱針状・青色
多色性
α青色、γ灰色
複屈折
低い
伸長性
負
消光角（最大）
0度
屈折率γ
1.683～1.703
屈折率α
1.682～1.699
141
クロシドライト標準試料 JAWE321
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
142
クロシドライト標準試料 JAWE321
7
粉末X線回折分析
測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
8
化学組成
鉄が全て二価の場合
ｗｔ％
SiO２
54.09
鉄が全て三価の場合
ｗｔ％
SiO２
50.81
Al２O３
0.24
Al２O３
0.14
FeO
33.46
Fe２O３
42.14
MnO
0.08
MnO
0.05
MgO
3.32
MgO
1.88
CaO
Na２O
1.42
0.80
5.45
CaO
Na２O
K２O
1.69
K２O
0.96
P２ O ５
その他
成分
P２ O ５
その他
成分
0.01以下
0.24
3.09
0.01以下
0.14
測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)
(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)
143
クロシドライト標準試料 JAWE321
9
結晶子サイズ
指数hkl
角度2θ（°）
結晶子サイズ（nm）
020
9.250
50.5
040
19.617
30.4
110
10.509
30.0
310
28.566
29.4
測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
144
クロシドライト標準試料 JAWE321
10
透過型電子顕微鏡
形態
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
倍率2500倍、加速電圧100ｋｖ
11
透過型電子顕微鏡
電子線回折
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
加速電圧100ｋｖ
145
アンソフィライト標準試料 JAWE411
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
146
cps/eV
アンソフィライト標準試料 JAWE411
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
18
16
14
12
10
O
Fe
Mg
Si
Fe
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
4.5
4.0
3.5
3.0
2.5
O Mg
Fe
Si
Fe
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
147
アンソフィライト標準試料 JAWE411
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
148
アンソフィライト標準試料 JAWE411
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
角柱針状・白色
多色性
なし
複屈折
中度
伸長性
正
消光角（最大）
0度
屈折率γ
1.626～1.639
屈折率α
1.601～1.626
149
アンソフィライト標準試料 JAWE411
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
150
アンソフィライト標準試料 JAWE411
7
粉末X線回折分析
測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
8
化学組成
鉄が全て二価の場合
ｗｔ％
SiO２
62.55
鉄が全て三価の場合
ｗｔ％
SiO２
57.56
Al２O３
0.38
Al２O３
0.35
FeO
7.09
Fe２O３
14.51
MnO
0.24
MnO
0.22
MgO
24.36
MgO
22.42
CaO
Na２O
0.51
0.47
1.49
CaO
Na２O
K２O
1.59
K２O
1.46
P２ O ５
その他
成分
P２ O ５
その他
成分
0.01以下
1.78
1.37
0.01以下
1.64
測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)
(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)
151
アンソフィライト標準試料 JAWE411
9
結晶子サイズ
指数hkl
角度2θ（°）
結晶子サイズ（nm）
020
9.814
57.1
040
19.682
55.2
610
29.282
59.9
12 00
59.782
71.9
測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
152
アンソフィライト標準試料 JAWE411
10
透過型電子顕微鏡
形態
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
倍率2500倍、加速電圧100ｋｖ
11
透過型電子顕微鏡
電子線回折
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
加速電圧100ｋｖ
153
トレモライト標準試料 JAWE511
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
154
cps/eV
トレモライト標準試料 JAWE511
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
18
16
14
12
O
10
Fe
Mg
Si
Ca
Fe
Ca
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
4.0
3.5
3.0
2.5
O Mg
Fe
Si
Ca
Fe
2.0 C a
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
155
トレモライト標準試料 JAWE511
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
156
トレモライト標準試料 JAWE511
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
角柱針状・白色
多色性
なし
複屈折
中度
伸長性
正
15度
消光角（最大）
屈折率γ
1.618～1.633
屈折率α
1.603～1.626
157
トレモライト標準試料 JAWE511
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
158
トレモライト標準試料 JAWE511
7
粉末X線回折分析
測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
8
化学組成
鉄が全て二価の場合
ｗｔ％
SiO２
51.91
鉄が全て三価の場合
ｗｔ％
SiO２
49.09
Al２O３
0.30
Al２O３
0.28
FeO
4.69
Fe２O３
9.87
MnO
0.32
MnO
0.30
MgO
25.41
MgO
24.03
CaO
Na２O
16.90
15.98
0.12
CaO
Na２O
K２O
0.07
K２O
0.07
P２ O ５
その他
成分
P２ O ５
その他
成分
0.01以下
0.27
0.12
0.01以下
0.25
測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)
(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)
159
トレモライト標準試料 JAWE511
9
結晶子サイズ
指数hkl
角度2θ（°）
結晶子サイズ（nm）
110
10.414
42.6
020
9.711
40.6
200
18.524
40.8
040
19.535
40.8
測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
160
トレモライト標準試料 JAWE511
10
透過型電子顕微鏡
形態
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
倍率2500倍、加速電圧100ｋｖ
11
透過型電子顕微鏡
電子線回折
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
加速電圧100ｋｖ
161
クリソタイル標準試料 UICC　A
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
162
cps/eV
クリソタイル標準試料 UICC　A
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
25
20
15
C
O
Fe
Mg
Si
Fe
10
5
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
4.5
4.0
3.5
3.0
2.5
O Mg
Fe
Si
Fe
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
163
クリソタイル標準試料 UICC　A
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
164
クリソタイル標準試料 UICC　A
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
曲線状・白色
多色性
なし
複屈折
低い
伸長性
正
消光角（最大）
0度
屈折率γ
1.544～1.562
屈折率α
1.542～1.556
165
クリソタイル標準試料 UICC　A
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
166
クリソタイル標準試料 UICC　A
7
粉末X線回折分析
測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
8
化学組成
鉄が全て二価の場合
ｗｔ％
SiO２
38.96
鉄が全て三価の場合
ｗｔ％
SiO２
37.35
Al２O３
2.24
Al２O３
2.15
FeO
3.51
Fe２O３
7.48
MnO
0.07
MnO
0.06
MgO
50.61
MgO
48.53
CaO
Na２O
1.07
1.02
1.44
CaO
Na２O
K２O
0.69
K２O
0.66
P２ O ５
0.39
0.37
その他
成分
1.03
P２ O ５
その他
成分
1.38
0.99
測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)
(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)
167
クリソタイル標準試料 UICC　A
9
結晶子サイズ
指数hkl
角度2θ（°）
結晶子サイズ（nm）
002
12.084
15.9
004
24.343
12.0
060
60.174
5.6
測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
168
クリソタイル標準試料 UICC　A
10
透過型電子顕微鏡
形態
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
倍率　左2500倍右20000倍、加速電圧100ｋｖ
11
透過型電子顕微鏡
電子線回折
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
加速電圧100ｋｖ
169
クリソタイル標準試料 UICC　B
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
170
cps/eV
クリソタイル標準試料 UICC　B
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
5
4
3
C
O
Fe
Mg
Si
Fe
2
1
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
4.0
3.5
3.0
2.5
O Mg
Fe
Si
Fe
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
171
クリソタイル標準試料 UICC　B
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
172
クリソタイル標準試料 UICC　B
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
曲線状・白色
多色性
なし
複屈折
低い
伸長性
正
消光角（最大）
0度
屈折率γ
1.550～1.567
屈折率α
1.542～1.556
173
クリソタイル標準試料 UICC　B
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
174
クリソタイル標準試料 UICC　B
7
粉末X線回折分析
測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
8
化学組成
鉄が全て二価の場合
ｗｔ％
SiO２
41.63
鉄が全て三価の場合
ｗｔ％
SiO２
39.74
Al２O３
1.36
Al２O３
1.30
FeO
3.87
Fe２O３
8.22
MnO
0.07
MnO
0.07
MgO
49.06
MgO
46.84
CaO
Na２O
0.70
0.67
1.58
CaO
Na２O
K２O
1.18
K２O
1.13
P２ O ５
その他
成分
P２ O ５
その他
成分
0.01以下
0.55
1.51
0.01以下
0.52
測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)
(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)
175
クリソタイル標準試料 UICC　B
9
結晶子サイズ
指数hkl
角度2θ（°）
結晶子サイズ（nm）
002
12.073
15.7
004
24.312
14.9
060
60.172
6.1
測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
176
クリソタイル標準試料 UICC　B
10
透過型電子顕微鏡
形態
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
倍率　左2500倍右20000倍、加速電圧100ｋｖ
11
透過型電子顕微鏡
電子線回折
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
加速電圧100ｋｖ
177
アモサイト標準試料 UICC
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
178
cps/eV
アモサイト標準試料 UICC
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
22
20
18
16
14
12
C
O
Mn
Fe
Mg
Si
Mn
Fe
10
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
4.0
3.5
3.0
2.5
Mn
O Mg
Fe
Si
Mn
Fe
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
179
アモサイト標準試料 UICC
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
180
アモサイト標準試料 UICC
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
角柱針状・灰色～茶色
多色性
非常に弱い
複屈折
中度
伸長性
正
消光角（最大）
0度
屈折率γ
1.689～1.701
屈折率α
1.664～1.681
181
アモサイト標準試料 UICC
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
182
アモサイト標準試料 UICC
7
粉末X線回折分析
測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
8
化学組成
鉄が全て二価の場合
ｗｔ％
SiO２
54.67
鉄が全て三価の場合
ｗｔ％
SiO２
47.65
Al２O３
1.13
Al２O３
0.69
FeO
32.90
Fe２O３
44.75
MnO
1.76
MnO
1.08
MgO
6.21
MgO
3.80
CaO
Na２O
0.82
0.50
1.16
CaO
Na２O
K２O
1.26
K２O
0.77
P２ O ５
その他
成分
P２ O ５
その他
成分
0.01以下
0.10
0.71
0.01以下
0.06
測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)
(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)
183
アモサイト標準試料 UICC
9
結晶子サイズ
指数hkl
角度2θ（°）
結晶子サイズ（nm）
020
9.766
42.0
110
10.726
45.0
400
19.084
48.7
測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
184
アモサイト標準試料 UICC
10
透過型電子顕微鏡
形態
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
倍率2500倍、加速電圧100ｋｖ
11
透過型電子顕微鏡
電子線回折
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
加速電圧100ｋｖ
185
クロシドライト標準試料 UICC
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
186
cps/eV
クロシドライト標準試料 UICC
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
20
18
16
14
12
C
O
Mg
Fe Na
Si
Fe
10
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
cps/eV
3.0
2.5
2.0
Na
O Mg
Fe
Si
Fe
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
187
クロシドライト標準試料 UICC
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
188
クロシドライト標準試料 UICC
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
角柱針状・青色
多色性
α青色、γ灰色
複屈折
低い
伸長性
負
消光角（最大）
0度
屈折率γ
1.697～1.703
屈折率α
1.694～1.701
189
クロシドライト標準試料 UICC
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
190
クロシドライト標準試料 UICC
7
粉末X線回折分析
測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
8
化学組成
鉄が全て二価の場合
ｗｔ％
SiO２
54.06
鉄が全て三価の場合
ｗｔ％
SiO２
47.82
Al２O３
0.61
Al２O３
0.36
FeO
34.76
Fe２O３
45.59
MnO
0.12
MnO
0.07
MgO
2.38
MgO
1.40
CaO
Na２O
1.44
0.85
5.03
CaO
Na２O
K２O
1.33
K２O
0.79
P２ O ５
0.12
0.07
その他
成分
0.15
P２ O ５
その他
成分
2.97
0.09
測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)
(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)
191
クロシドライト標準試料 UICC
9
結晶子サイズ
指数hkl
角度2θ（°）
結晶子サイズ（nm）
020
9.297
47.7
040
19.737
47.8
110
10.619
52.3
310
28.777
46.0
測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
192
クロシドライト標準試料 UICC
10
透過型電子顕微鏡
形態
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
倍率2500倍、加速電圧100ｋｖ
11
透過型電子顕微鏡
電子線回折
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
加速電圧100ｋｖ
193
アンソフィライト標準試料 UICC
1
走査型電子顕微鏡
形態
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ
194
cps/eV
アンソフィライト標準試料 UICC
2
走査型電子顕微鏡
元素組成
cps/eV
16
14
12
10
O
Fe
Mg
Si
Fe
8
6
4
2
0
2
4
6
keV
8
10
12
14
加速電圧15ｋｖ
4.0
cps/eV
3.5
3.0
2.5
2.0
O Mg
Fe
Si
Fe
1.5
1.0
0.5
0.0
5
10
15
keV
20
25
30
加速電圧30ｋｖ
測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）
EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ
195
アンソフィライト標準試料 UICC
3
走査型電子顕微鏡
元素マッピング
4
走査型電子顕微鏡
元素マッピング　（元素別）
196
アンソフィライト標準試料 UICC
5
偏光顕微鏡による光学特性
形態・色
角柱針状・うすい灰色
多色性
なし
複屈折
中度
伸長性
正
消光角（最大）
0度
屈折率γ
1.610～1.633
屈折率α
1.607～1.617
197
アンソフィライト標準試料 UICC
6
FT-IRによる赤外吸収スペクトル
FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製)
検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）
積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1
198
アンソフィライト標準試料 UICC
7
粉末X線回折分析
測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）
CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：
step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）
8
化学組成
鉄が全て二価の場合
ｗｔ％
SiO２
58.02
鉄が全て三価の場合
ｗｔ％
SiO２
50.04
Al２O３
2.24
Al２O３
2.24
FeO
6.48
Fe２O３
14.43
MnO
0.13
MnO
0.13
MgO
28.52
MgO
28.55
CaO
Na２O
0.83
0.83
1.60
CaO
Na２O
K２O
1.46
K２O
1.46
P２ O ５
0.26
0.26
その他
成分
0.46
P２ O ５
その他
成分
1.60
0.46
測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)
(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)
199
アンソフィライト標準試料 UICC
9
結晶子サイズ
当該アンソフィライト標準試料にはタルクが多く含まれており、アンソフィライトのみの
エックス線回折ピークを選定することができず、有意なデータが得られなかった。
200
アンソフィライト標準試料 UICC
10
透過型電子顕微鏡
形態
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
倍率2500倍、加速電圧100ｋｖ
11
透過型電子顕微鏡
電子線回折
測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製)
加速電圧100ｋｖ
201
備考：JIS A 1481-3の解説に記載された海外の標準試料の輸入・使用に当たっては、労働安
全衛生法第55条ただし書きに基づき都道府県労働局長の許可が必要となること。また、輸入
後の譲渡は認められないため、当該試料を使用する予定の分析機関が直接輸入する必要が
あることに留意すること。ただし、輸入に係る輸出元の事業者との調整等諸事務を輸入業者
に代行させることについては、輸入業者が輸入行為それ自体を行うものではないため、認め
られること。
202

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