高性能FLIMシステム蛍光寿命イメージング測定システム高速スキャンニング、ピコ秒時間分解イメージング、多機能ソフトウェア付属ベッカーアンドヒックル社製蛍光寿命イメージング測定システムは、既存の顕微鏡と組合わせることで、高性能な共焦点イメージン制御用ソフトウェア蛍光寿命イメージング測定用ソフトウェアグシステムが構築できます。システムは、DCS-120型高速ガルバノ SPCM スキャナー、ピコ秒パルスレーザー、高感度GaAsPハイブリッド検出 TCSPCモジュールの調整･制御、蛍光減衰曲線、蛍光寿命イメージのデータ収集器、時間相関単一光子計数 (TCSPC)モジュールで構成されます。蛍光寿命イメージング測定 (FLIM)の他にりん光寿命イメージング測定 (PLIM)、蛍光相関分光測定 (FCS)にも非常に適しております。また、お手持ちの共焦点レーザー顕微鏡にTCSPC機能をアップグレードしてFLIMやPLIMシステムを構築することも可能です。部品単位からシステムまで幅広くご提案をさせて頂きます。特長 ■ 高速レーザースキャンニング 100 ms∼数秒/フレームレート DCS-120型共焦点ガルバノスキャナー内部構造と標準光学系の特性データレーザーコンバイナー ■ 多機能ソフトウェア付属Ｔ ■ ピコ秒ダイオードレーザー、波長可変レーザー搭載 z405bcm 420 フロントパネル ● レーザー用可変式NDフィルター DCS-120型共焦点ガルバノスキャナー制御用画面 ● 蛍光用交換可能フィルタースライダー SPCMソフトウェア内で制御可能 ● 11段階調整ピンホール ■ 高感度GaAsPハイブリッド検出器採用 400 ガルバノスキャナー外観 ● セカンドダイクロイックミラー 600 ■ 時間相関単一光子計数 (TCSPC)方式メインダイクロイックミラーＴ ■ サポート体制完備Ｔ z405rdc z405-473 用途 400 600 ● ピコ秒時間分解蛍光寿命測定Ｔ 400 ● 2波長同時FLIM 560dclp ● レーザー入射ポート (2ポート) 600 400 蛍光寿命イメージング解析用ソフトウェア SPC-Image 600 蛍光減衰曲線、蛍光寿命イメージの解析フィルター光学系 hq485lp hq435lp レーザーコンバイナ光学系 (3成分までのデコンボリューション、フィッティング解析) ＴＴ ● 多波長 (16チャンネル)同時FLIM 485 435 レーザー用可変式 ND フィルター ● 連続測定FLIM (Time-series) メインダイクロイックミラー ● 近赤外FLIM 11 段階切替調整ピンホール ● りん光寿命イメージング測定 (PLIM) セカンドダイクロイックミラー蛍光バンドパスフィルターレーザー光カットフィルター 400 スキャンレンズ 600 Ｔ hq620/60m 400 600 Ｔ hq480/40m 590-650 460-500 Ds Red CFP 400 600 Ｔ 400 600 Ti:サファイアレーザーも入射可能 hq535/30m 520-550 ガルバノミラー (X,Y 軸の 2 軸 ) 05 蛍光寿命イメージング測定システムバックパネルＴ ● 検出器用出射ポート (2ポート) ● 多光子励起FLIM ● 蛍光相関分光測定 (FCS) 600 510dclp ● 蛍光寿命イメージング測定 (FLIM) ● Z軸断層FLIM 400 セカンドダイクロイックミラー YFP 400 600 蛍光寿命イメージング測定システム 06 DCS-120型共焦点ガルバノスキャナー対応FLIMシステム構成例 HPM-100 ハイブリッド検出器波長可変レーザー PMC-100 PMT 検出器 R3809U MCP PMT 検出器共焦点レーザー走査顕微鏡対応FLIMアップグレードシステム構成例 DCC-100 検出器制御用モジュール倒立顕微鏡 (共焦点ガルバノスキャナー使用) ○ 励起レーザーピコ秒ダイオードレーザー正立顕微鏡 (共焦点ガルバノスキャナー使用) ピコ秒ダイオードレーザー波長可変レーザー (Ti:サファイアレーザー、ピコ秒ダイオードレーザー GaAsP 検出器スーパーコンティニュアム波長可変光源) GaAsP 検出器 1 ή ‫܇‬ TCSPCモジュール 16ch PMT+ 分光器 ѕឪFLIM ○ 蛍光検出器ダイレクトカップリングガルバノスキャナー高感度GaAsPハイブリッド検出器ピコ秒ダイオードレーザー Simple-TAU TCSPCモジュール Simple-TAU TCSPCモジュールガルバノスキャナー PMT検出器、 MCP-PMT検出器ファイバーカップリング多波長検出用16chPMT＋分光器ガルバノスキャナー制御モジュールファイバーカップリング DCC-100型検出器制御用モジュールガルバノスキャナー電源ユニット ○ 計測器倒立顕微鏡 (NDDポート使用) 時間相関単一光子計数 (TCSPC)モジュール制御用ノートパソコン共焦点ガルバノスキャナー正立顕微鏡 (NDDポート使用) Ti：サファイアレーザーレーザー制御 Ti：サファイアレーザー GaAsP 検出器 ‫ ٶ‬ή ‫܇‬ ѕឪFLIM 測定データ共焦点顕微鏡 tm 1 ns 高感度GaAsPハイブリッド検出器 2.5 ns tm 0 Simple-TAU ガルバノスキャナー TCSPCモジュールガルバノスキャナー Simple-TAU TCSPCモジュール 1 ns GaAsP 検出器 conforcalイメージ HPM-100-40型GaAsP検出器使用 Non-conforcalイメージ従来のSPAD検出器使用 Simple-TAU TCSPCモジュール 2波長同時FLIM 2 ns tm 多波長 (16チャンネル)同時FLIM 2.9 ns tm 1 ns 3 ns ‫ ٶ‬ඬ ᧈ ѕឪFLIM 400 nm 412 nm 425 nm 437 nm 450 nm 462 nm 475 nm 487 nm 500 nm 512 nm 525 nm 537 nm 550 nm 562 nm 575 nm 587 nm 16chPMT ハンドルファイバー分光器蛍光波長484∼560 nm 蛍光波長 590∼650 nm 波長可変レーザー励起波長 405 nm 蛍光波長イメージ内に記載 1.5 ns Exc.488 nm Em.525 nm Exc.488 nm Em.620 nm tm 3 ns Exc.580 nm Em.620 nm 多光子励起FLIM 16 ȝｍ 32 ȝｍ 0 48 ȝｍ FLIMアップグレードシステム仕様 tm 励起波長 488 nm 励起波長 580 nm 蛍光波長 525±1 nm 蛍光波長 620±30 nm 蛍光波長 620±30 nm 連続測定FLIM (Time-series) 400 ps tm 0.5 s 1.0 s 1.5 s 2.0 s 2.5 s 3.0 s Carl Zeiss 社製 LSM710 / LSM780、Olympus 社製 FV1000 / FV1200、その他共焦点レーザー顕微鏡に対応励起レーザーピコ秒ダイオードレーザー：405、445、473、488、510、640 nm ( その他の波長は、別途お問い合わせください。) スーパーコンティニュアム波長可変光源：400 ∼ 650 nm Ti: サファイアレーザー蛍光検出器高感度 GaAsP ハイブリッド検出器：300 ∼ 730 nm 計測器時間相関単一光子計数 (TCSPC) モジュール制御用ソフトウェア 800 ps りん光寿命イメージ測定 (PLIM) 600 ns 0.0 s 対応顕微鏡 60 ȝｍ励起波長 800 nm 512×512 ピクセル, 256 channel 励起波長 488 nm 500 ps tm ※サンプル位置、スキャンエリア、ズームファクター、焦点距離、ピンホールサイズ、レーザー出力は顕微鏡側のソフトウェアで調整 800 ns 3.5 s 制御用パソコン 4.0 s 5.0 s 4.5 s 5.5 s 6.0 s フレームレート 2 fps 07 蛍光寿命イメージング測定システム 6.5 s 7.0 s 7.5 s りん光寿命 673.62 ns SPCM：TCSPC モジュールの調整･制御、蛍光減衰曲線、蛍光寿命イメージのデータ収集 SPC-Image：蛍光減衰曲線、蛍光寿命イメージの解析 (3 成分までのデコンボリューション、フィッティング解析 ) OS : Microsoft Windows7 (32 bit または 64 bit) CPU : Intel Core i3 相当以上メインメモリー : 4 GB 以上内蔵ハードディスク : 500 GB 以上筺体 : PCI ボードを 4 つ以上搭載可能モニター : 15 型以上の液晶ディスプレイ付属蛍光寿命イメージング測定システム 08