Epsilon 3 x シリーズ 高性能デスクトップタイプ 蛍光 X 線分析装置 EPSILON 3 X シリーズ 究極の軽元素分析性能 Epsilon 3X は、従来機の経験と成功を受け継ぐとともに、先進の 励起および検出技術が盛り込まれたデスクトップタイプのエネ ルギー分散型蛍光 X 線分析装置 (EDXRF) です。信頼性と使いや すさに重点が置かれており、炭素又はナトリウム～アメリシウム まで周期律表全体にわたる元素に対して優れた分析性能を発揮 します。 Epsilon 3X は、最先端のノンスタンダード分析、オイル分析、迅 速な同定フィンガープリント ( 真贋判定機能 )、多層膜分析、規 制準拠に対応した各種ソフトウェアモジュールによって機能が強 化されていて、優れたコストパフォーマンスと柔軟性を実現した、 さまざまな用途に適した分析ツールです。 Epsilon 3X と Epsilon 3XLE バージョン • 励起と検出に対するインテリジェントな設計により高感 度を実現 • 市場をリードする軽元素分析性能 • 優れた X 線安全性 • 完全なデータトレーサビリティ • 規制への準拠 • フルオートバッチ分析 • 世界各国でのオンラインサポート • 幅広い用途に適した非常に柔軟な分析ツール : - Epsilon 3X - 研究開発からプロセス管理に至る分野での 元素分析 (Na 〜 Am) に使用 - Epsilon 3XLE - 軽元素分析機能を強化および拡張 (C 〜 Am)。 より高いサンプルスループットのために使用 ユーザーを選ばないシンプルな 分析操作 化学分析法による元素分析では、通常、研究者やプロセス / 品質 管理技術者による複雑な処理が要求されます。Epsilon 3X の優れ た操作性、設置性、および保守性により、分析技術者は煩雑な処 理を行う必要がなくなり、より重要な仕事に専念することができ ます。 母国語での分析操作 が可能 1. サンプルを装填します 2. 分析方法を選択します 3. サンプル情報を入力し ます 4. 測定ボタンをクリック Measure します 测量 測定 あらゆるサンプルに対応 可能 Epsilon 3X は、固体、粉末 ( プレス成形 / 粉体 )、液体、 およびフィルタなど、重量が数ミリグラムのものから 大きなバルクサンプルまで、さまざまなタイプのサン プルを分析できます。 Mesurer Messung Mesure Zmierzyć Medida Измерить Médir EPSILON 3 X シリーズ 産業用ソリューション 石油化学 • 関連する ASTM、ISO および IP 規格に準拠 • 潤滑油中の燃料とバイオ燃料の混合物や摩耗金属の分 析用の Oil-Trace ソフトウェア • VHG Labs 認定のオイルおよび燃料の標準試料 • 迅速にラウンドロビン結果を得るためのオンラインパ フォーマンステストプログラム (PTP) • 未知のサンプルのための Omnian ノンスタンダード 分析 プラスチック / ポリマー • ASTM F2617 に準拠 (RoHS 2) • フィンガープリントによるプラスチック分類 • ポリエチレン中の添加剤の認証済み標準試料 (ADPOL) • ポリマー中の添加物および有害元素用の専用ソリューション • ポリエチレン中の有害重金属および PVC の認証済み標準試料 (TOXEL) • ポリエチレン中の規制対象の有害元素の認証済み標準試料 (RoHS) • 未知のサンプルのための Omnian ノンスタンダード分析 環境 • 汚染土壌分析 • EPA 法 IO 3-3 に準拠した大気中の無機化合物分析 • 排水分析 • 未知のサンプルのための Omnian ノンスタンダー ド分析 製薬 • USP <735> と <233> に準拠 • API および賦形剤中の触媒および金属残留物分析 • フィンガープリントによる偽薬の合格 / 不合格分析 • FDA CFR 21 Part 11 Enhanced Data Security ソフトウェア • 据付時適格性確認と稼働性能適格性確認のパッケージ (IQ と OQ) • 未知のサンプルのための Omnian ノンスタンダード分析 • マルチユーザー向けウォークアップシステム 採掘 / 鉱物 • サンプルの高さ 10cm 以下の岩石、鉱石およびコアの 分析 • 選鉱 • フィンガープリントによる材料分析 • 生産ラインのプロセス管理向けに自動化が可能 • 未知のサンプルのための Omnian ノンスタンダード分析 建材 • ASTM C114 および ISO 29581-2 に準拠 • セメント、クリンカ、原材料のプロセス管理と 品質管理 • 代替燃料の分析 (AFR) • ビード用セメント標準試料 (CEMOXI) • 生産ラインのプロセス管理向けに自動化が可能 • • • • • • 研究 / 教育 あらゆるタイプのサンプルを定量分析 Stratos 多層分析ソフトウェア フィンガープリントによる材料分析 理想的な教育ツール 未知のサンプルのための Omnian ノンスタンダード分析 マルチユーザー向けウォークアップシステム 鉄鋼 / 非鉄 • Stratos 多層分析ソフトウェア • フィンガープリントによる金属分類と合格 / 不 合格レポート • 鉄および非鉄分析 • スラグ分析 • 未知のサンプルのための Omnian ノンスタン ダード分析 • • • • • • 食品 / 化粧品 栄養素の定量分析 食品、家畜飼料、化粧品のプロセス管理 粉ミルクの正確な定量分析 フィンガープリントによる受け入れ製品の合格 / 不合格分析 FDA CFR 21 Part 11 Enhanced Data Security ソフトウェア 未知のサンプルのための Omnian ノンスタンダード分析 EPSILON 3 X シリーズ 専用の産業用ソフトウェアオプション ? Omnian Oil-Trace OIL-TRACE OMNIAN 高度なノンスタンダード分析 Oil-Trace は、オイルおよび石油化学物質の分析における課題を 克服する革新的なパッケージです。燃料とバイオ燃料の混合物か パナリティカルの強力な FP ソフトウェア Omnian は、定量分析を ら未使用および使用済み潤滑油に至るまで、さまざまな種類の 必要とするサンプルに対して検量線法が適用できない場合に最適 サンプルに対応するソリューションを提供します。 です。認証済み標準試料が存在しない非ルーチンサンプルの場合 また、アプリケーションの保守と分析手順が簡単で、試料前処理 でも、元素組成に関する詳細なデータを提供します。 が容易で比較的安価な標準試料を使用できるため、分析コスト削 減が可能であるというメリットもあります。 Omnian は、迅速かつ信頼性の高い定量分析を実行できるように 開発されており、その高度なファンダメンタルパラメータ (FP) アルゴリズムにより、さまざまなサンプルの分析に関する課題に 自動的に対処できます。 Stratos STRATOS 既知の物質 未知の物質 検量線法 Stratos モジュールは、多層薄膜試料の化学組成と厚さの同時測 定を可能にするアルゴリズムを備えています。このソフトウェ アを使用すれば、コーティング、表面層、多層膜構造の迅速かつ 簡単な非破壊的分析を行うことができます。 バルク標準試料、または組成および層構造が未知試料とは異な る標準試料を使用することにより、正確な結果を得ることが可 能です。 フィンガープリント 従来の検量線 技法 ノンスタン ダード分析 FINGERPRINT フィンガープリントとは、スペクトルの迅速な統計処理を使用し て単純な Yes/No 判定を行う物質同定手法です。 フィンガープリントに使用するスペクトルを従来の組成分析に 使用して、元素比較分析を実施することもできます。 優れたデータセキュリティ 機能 ! DATA SECURITY 製薬など規制の厳しい業界のために、Epsilon 3X の設置と操作基 準は厳格に規定されています。本装置のソフトウェア処理とデー タセキュリティは、FDA CFR 21 Part 11 に準拠しています。 EPSILON 3 X シリーズ 先進のテクノロジによるパフォーマンスの向上 先進の励起および検出技術とインテリジェントな設計が融合され た Epsilon 3XLE は、大型で高出力の分析装置に匹敵する分析性 能を誇ります。最適な励起を実現する X 線管球出力と検出シス テムの高い能力が優れたシステム性能の基礎を成しています。 励起 高 性 能 な メ タ ル セ ラ ミ ッ ク X 線 管 球 は、 パ ナ リ テ ィ カ ル が Epsilon 3X 専用に開発したものです。複数用意されたアノード材 (Rh、Ag、Mo)、4.0 〜 50kV の電圧設定、3.0mA の最大電流設定を 可能とし、測定元素全体にわたり各元素固有の最適な励起条件を 設定することができます。 検出 Epsilon 3X には、最新のシリコンドリフト検出器が搭載されてい ます。パルスリセット電子回路により、200,000cps を超える計 数直線性を有し、計数率に依存することなく 135eV もの高分解 能を得ることができ、スペクトル内の分析線の良好な分離を実現 します。 XLE 高出力WDXRFの 性能 Epsilon 3XLE Epsilon 3 XL 低出力WDXRFの 性能 Epsilon 3X Epsilon 3 MiniPal 4 MiniPal 2 MiniPal EDXRFの性能 MiniMate 1995 2000 時間 2005 2011 2014 デスクトップタイプ分析装置のパフォーマンス Ultra シリコンドリフト検出器は、 Epsilon 3 に搭載された SDD 炭素、窒素および酸素などの超軽元素の分析を可能にします。 XRF 分析法では、サンプルの酸やアルカリによる溶解は必要 ありません。サンプルの不完全な溶解により測定精度が不正 確になる問題を回避できるため、正確かつ信頼性の高い結 果を得られます。 • • • • • • • • 非破壊分析 固体、液体、粉末に最適 安全かつ簡便なサンプルプレパレーション 正確かつ再現性の高いデータ 毎日の再校正が不要 幅広い分析濃度範囲 ( 数 ppm 〜 100%) 非常に低いランニングコスト 正確、精密かつ信頼性の高い分析 明確なポリマー試料中の 85% の炭素の蛍光ピーク。Epsilon 3XLE は、X 線管球 と検出器双方の極薄ウィンドウにより炭素、窒素、酸素およびフッ素の分析を 可能にします。 補正された強度 XRF の長所 20 24 28 32 36 フッ素濃度(wt%) 40 44 48 蛍石中のフッ素の分析、(10:1) ガラスビードとしてプレパレーション EPSILON 3 X シリーズ すばやく容易なサンプルプレパレーション 他の分析手法と異なり、XRF ではサンプルプレパレ－ションは ほとんど不要です。 Epsilon 3X は、数ミリグラムのサンプルから大きなバルクサンプ ルまで、さまざまなタイプのサンプルの重量を測定できます。分 析可能なサンプルは次のとおりです。 • 固体 • プレス粉末 • 粉末 • 液体 • ガラスビード 粉末 • スラリー • 顆粒 • フィルタ • 薄膜、コーティング膜 大きなサンプル 前処理されていない大き なサンプルまたは不規則 な形状のサンプルを安全 に 測 定 で き ま す。 高 エ ネ ルギー X 線源が開放され ることはありません。 固体 成熟したソフトウェアによる 高品質のデータ 高度なスペクトル処理と先進の補正および定量アルゴリズムによ り、正確で高精度なデータが得られます。 • • • • • 卓越したスペクトルデコンボリューションによる正確な強度 ラインオーバーラップおよびマトリックスの自動補正 ソフトウェアによる一定の温度読み出しと空気圧センサー 分析条件の容易なセットアップと条件最適化機能 多言語に対応したソフトウェア 液体 専門知識へのアクセス PANassist 世界最大級のサービス網により、包括的なサポートパッケージを PANassist は、迅速かつ安全で信頼性の高 提供することができます。 いリモートサポートを提供します。世界中 のどこで Epsilon 3X 分析装置を使用して 専門知識 : いても、パナリティカルによるパフォー マンスの監視やトラブルシューティングの • オンサイトトレーニング 実施が可能です。 • XRF トレーニングコース • パフォーマンスの最適化 次のサービスを提供しています。 • カスタマイズ可能な専門家向けプログラム • 詳細なリモート診断データ • 複数事業所の標準化をサポート • リアルタイムスペクトル • リモート監視 • アプリケーションサポート • 履歴ログ • パフォーマンス分析 • リモートからのファームウェアアップ デート • ワールドワイドなパフォーマンス監視シ ステムのインターフェイス 過去 10 年間、パナリティカルは、自社の製品ポートフォリオにさまざまな分析技術を加えてきました。XRD および XRF には、発 光分光分析技術 (OBLF 社、ドイツ )、パルス高速熱中性子活性化技術 ( ソダーン社、フランス )、および近赤外技術 (ASD 社 ) が盛 り込まれています。これにより、お客様のニーズに合わせた分析ソリューションを提供することができ、セメント、金属、ナノ材料、 ポリマーなど幅広い物質の分析に役立てることができます。 パナリティカルの本社はオランダのアルメロにあります。日本、中国、米国、オランダには完全装備のアプリケーションラボラトリを 設置しています。また、研究拠点をアルメロ ( オランダ ) と University of Sussex ( イギリス・ブライトン ) に、生産工場と教育セン ターをオランダのアルメロ (X 線装置の開発および製造 ) とアイントホーヘン (X 線管の開発および製造 ) の 2 箇所に、近赤外線装置 の開発および製造拠点をボールダー ( 米国 ) に設置しています。さらに、世界 60 か国以上に張り巡らされた販売 / サービス網を利用 して、業界最高水準のカスタマーサポートを提供しています。 販売とサービスについては、ISO 9001 および ISO 14001 を取得しています。 弊社業務内容の詳細につきましては、Web サイト (http://www.panalytical.jp/) を参照してください。 パナリティカルは、生産性向上を図る計測 ･ 制御機器を取り扱うスペクトリス株式会社のグループ企業です。 Global and near スペクトリス株式会社 事業部本部 〒 105-0013 東京都港区浜松町 1-7-3 第一ビル Tel 03-5733-9750( 代表 ) Fax 03-5733-9751 E-mail: [email protected] http://www.panalytical.jp/ 大阪営業所 〒 532-0003 大阪市淀川区宮原 5-1-18 新大阪サンアールセンタービル Tel: 06-6396-8501 Fax: 06-6396-8505 名古屋営業所 〒 460-0003 愛知県名古屋市中区錦 1-20-19 名神ビル Tel: 052-202-3050 Fax: 052-220-6082 福岡営業所 〒 811-3102 福岡県古賀市駅東 2-8-12-203 Tel: 092-943-1410 Fax: 092-943-1420 アプリケーション・ラボラトリ 〒 105-0013 東京都港区浜松町 1-7-3 第一ビル www.panalytical.com/epsilon3Xspectrometers 本書の内容の正確性については細心の注意を払っていますが、本書のいかなる内容も情報の正確性、最新性、または完全性について表明または保証す るものではありません。本書に含まれている内容は、予告なく変更されることがあります。本書の最新版または詳細については、パナリティカルまで お問い合わせください。© PANalytical B.V. 2009. 9498 707 43891 PN9470 PANalytical パナリティカルは、X 線回折 (XRD) と蛍光 X 線 (XRF) 分析用の装置およびソフトウェアの世界屈指のサプライヤです。パナリティカ ルのシステムは、科学的な研究開発、工業分野でのプロセス制御アプリケーション、半導体計測などで幅広く使用されています。
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