2009 年 7 月 15 日 2009 年 ISO/TC 172/SC 1 分科委員会活動中間報告案 （期間：2009 年 1 月 1 日～2009 年 7 月 31 日) SC 1 (Fundamental standards) 1. 構成 長：Karl Lenhardt （ドイツ） 議 事務局：ドイツ（Elisabeth Leitner DIN Pforzheim） メンバー P メンバー オーストリア、オーストラリア、ベルギー（追加）、中国、フランス、ドイツ、日本、韓 国、ルーマニア、ロシア、スイス、イギリス、アメリカ （13 カ国） O メンバー ブルガリア、チェコ、デンマーク、エチオピア、ハンガリー、インド、イラン、メキシ コ、ポーランド、セルビア、スロバキア、スペイン （12 カ国） WG WG1: General optical test methods Convenor: H. –J. Heimbeck （スイス） WG2: Preparation of drawings for optical elements and systems Convenor: 菊地 彰（日本） WG3: Environmental test methods Convenor: N. Wittekindt（ドイツ） WG4: Data transfer：Contents and management Convenor: P. Wormell（イギリス） ２．２００９年活動計画 ・ＳＣ１では、2009 年 11 月にベルリンで開催される予定の国際会議に向け、日本から 提案中の光学データの電子変換に関する規格(ISO 25297 関係)についての対応を引き続 き行っていく予定である。 ３．２００９年の活動実績 3-1 国際会議 (1) ISO/TC172/SC1/WG4 国際会議 ・日時・開催場所・参加国・出席者数 2009 年 1 月 29 日。DIN（ベルリン，ドイツ） 。英１名（Convener） 、独５名（SC1 秘 書 1 名、アシスタント秘書 1 名を含む）、仏 1 名、日本 1 名（山本公明（KM オプト ） 。 ラボ。WG4 エクスパート） ・主な議決事項 ・ ISO25297-1 の FDIS の発行までの手順、ISO25297-2 の CD 投票までの手順を 決めた。 ・ ISO23584-2.2 の内容について議論。今後第３回目の CD 投票とするか、DIS 投票に移行するかの決定は、2009 年秋に開催予定の TC172 の会議にゆだねる 方向で進めることになった。 3-2 国内会議 (1) TC172 国内委員会関係 ・TC172 国内委員会（2009 年 7 月 9 日開催） TC172 委員長及び各 SC 分科委員会会長から、2008 年度の活動報告が行われた。 (2) SC1 分科委員会関係 ・SC1 分科委員会(2009 年 5 月 21 日開催) 分科会会長と各 WG 主査から、2008 年度の SC1 活動報告と WG4 ベルリン会議の 報告を行った。 (3) SC1/WG1 関係 ・SC1/WG1 委員会(2009 年 1 月 22 日開催) ISO 9336-1, ISO 9336-2, ISO 9358, ISO 14997 の 4 件のＳＲ書面審議結果確認を 行った。 ・SC1/WG1 委員会(2009 年 6 月 11 日開催) ISO 9336-2 廃案の投票審議を行った。 (4) SC1/WG2 関係 ・SC1/WG2 委員会（2009 年 1 月 22 日（木）開催） ISO 10110-1 SR の審議を行った。 (5) SC1/WG3 関係 ・SC1/WG3 委員会（2009 年 2 月 19 日（木）開催） ISO 9022 シリーズ 18 件、ISO 10109 シリーズ 3 件の SR の審議を行った。 (6) SC1/WG4 関係 ・SC1/WG4 委員会（2009 年 6 月 15 日開催） SC1/WG4 ベルリン会議報告、CD 25297-2 及び DIS 23584-2 クラス構造案の審議 を行った。 ・SC1/WG4/TG 会議（2009 年 6 月 2 日開催） SC1/WG4 ベルリン会議報告、CD 25297-2 の審議を行った。 ４. 発行された国際規格 ・ISO 23584-1： Optics and photonics – Specification of reference dictionary – Part 1:General overview on organization and structure（2009 年 5 月） ５. 規格案等審議及び投票関係 5-1 CD、DIS, FDIS（括弧内は日本の投票/ 投票結果） (1) CD 25297-2：Electronic exchange of optical data - Part 8: Mapping to the classes and properties defined in ISO 23584（Yes with comments/ 未発表） 5-2 定期(発効後 3 年、以後 5 年置き)見直し (括弧内は日本の投票/ 投票結果を参考に 載せる（ただし必ずしも最終決定ではない）) (1) ISO 9358：1994：Optics and optical instruments – Veiling glare of image forming systems（Confirm/Confirm 過半数） (2) ISO 9336-1：1994：Optics and optical instruments – Optical transfer function -Application -- Part 1: Interchangeable lenses for 35 mm still cameras （Confirm with correction errors / Confirm 過半数） (3) ISO 9336-2：1994： Optics and optical instruments – Optical transfer function -Application -- Part 2: Lenses for office copiers (confirm/ Confirm 過半数) (4) ISO 14997：2003： Optics and optical instruments – Optical transfer function -- Application -- Part 2: Lenses for office copiers (confirm/ Confirm 過半数) (5) ISO10110-1:2006: Optics and optical instruments – Preparation of drawings for optical elements and systems-Part 1: General (confirm/ Confirm 過半数) (6) ISO9022-1:1994 Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 1:Definitions, extent of testing (Confirm/ Confirm 過半数) (7) ISO9022-3:1998: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 3: Mechanical stress (Confirm/ Confirm 過半数) (8) ISO9022-5:1994: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 5:Combined cold, low air pressure(Confirm/ Confirm 過半数) (9) ISO9022-6:1994: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 6:Dust(Confirm/ confirm 過半数) (10) ISO9022-7:2005: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 7: Resistance to drip or rain (Confirm/ Confirm 過半数) (11) ISO9022-8:1994: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 8: High pressure, low pressure, immersion (Confirm/ Confirm 過半数) (12) ISO9022-9:1994: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 9: Solar radiation (Confirm/ Confirm 過半数) (13) ISO9022-10:1998: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 10: Combined sinusoidal vibration and dry heat or cold (Withdraw/Confirm ４,Revise2,Withdraw1) (14) ISO9022-11:1994: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 11: Mould growth (Confirm/ Confirm 過半数) (15) ISO9022-12:1994: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 12: Contamination (Confirm/ Confirm 過半数) (16) ISO9022-13:1998: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 13: Combined shock, bump, or free fall and dry heat or cold (Revise/ Confirm ４,Revise3,) (17) ISO9022-14:1994: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 14: Dew, hoarfrost, ice (Confirm/Confirm 過半数) (18) ISO9022-15:1998: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 15: Combined digitally controlled broad-band random vibration and dry heat or cold (Confirm/ Confirm 過半数) (19) ISO9022-16:1998: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 16: Combined bounce or steady-state acceleration and dry heat or cold (Withdraw / Confirm 過半数) (20) ISO9022-17:1994: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 17: Combined contamination, solar radiation (Confirm/ Confirm 過半数) (21) ISO9022-18:1994: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 18: Combined damp heat and low internal pressure (Confirm/ Confirm 過半 数) (22) ISO9022-19:1994: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 19: Temperature cycles combined with sinusoidal or random vibration (Revise/ Confirm4,Revise3) (23) ISO9022-21:1998: Optics and optical instruments -- Environmental test methods -- Part 21: Combined low pressure and ambient temperature or dry heat (Confirm/ Confirm 過半数) (24) ISO10109-1:2005: Optics and optical instruments -- Environmental requirements - Part 1: General overview, terms and definitions, climatic zones and their parameters (Confirm/ Confirm 過半数) (25) ISO10109-6:2005: Optics and optical instruments -- Environmental requirements - Part 6: Test requirements for medical optical instruments (Withdraw / Confirm 過 半数) (26) ISO10109-8:2005: Optics and optical instruments -- Environmental requirements - Part 8: Test requirements for extreme conditions of use (Withdraw / Confirm 過 半数) 5-3 CIB（括弧内は日本の投票/ 投票結果） ・ISO 9336-2：1994： Optics and optical instruments – Optical transfer function -Application -- Part 2: Lenses for office copiers の廃案提案（Withdraw / 未発表） ６. 今後の予定 6-1 現在審議中の規格案 (1) PWI 10110-2: Optics and optical instruments – Preparation of drawings for optical elements and systems – Part 2: Material imperfections – Stress birefringence (2) PWI 10110-3: Optics and optical instruments – Preparation of drawings for optical elements and systems – Part 3: Material imperfections – Bubbles and inclusions (3) PWI 10110-4: Optics and optical instruments – Preparation of drawings for optical elements and systems – Part 4: Material imperfections – Inhomogeneity and striae (4) PWI 10110-6: Optics and photonics – Preparation of drawings –Part6 Centring tolerances (5) PWI 10110-7: Optics and photonics – Preparation of drawings –Part７ Surface imperfection tolerances (6) DIS 10110-8: Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems – Part 8: Surface texture（投票期日：2009 年 10 月 22 日） (7) PWI 10110-17: Optics and photonics – Preparation of drawings for optical elements and systems – Laser irradiation damage threshold (8) FDIS 25297-1: Optics and photonics – Fundamental standards – Electronic exchange of optical data Part:1 NODIF information model (9) CD 25297-2: Optics and photonics – Fundamental standards – Electronic exchange of optical data Part:2 Mapping to the classes and properties defined in ISO 23584 (10) CD 23584-2.2: Optics and photonics – Specification of reference dictionary :Part-2: Classes’ and properties’ definitions (TC172 案件) 6-2 ベルリン会議への参加 2009 年 11 月 2 日～11 月 5 日にドイツのベルリンで TC172/SC1 会議を開催予定（同 時に TC172 会議、TC172/SC3 会議、TC172/SC9 会議も開催予定）。上記案件を中心に 審議予定である。 ７. トピックス 日本提案の光学データの電子交換に関する規格(ISO 25297 関係)であるが、2008 年 5 月 の SC1 ブ カ レ ス ト 会 議 で ２ 部 構 成 に す る こ と に な り 、 そ の 第 １ 部 (NODIF information model)の前文に NODIF の有用性と第 2 部(Mapping to the classes and properties defined in ISO 23584)との関係を記述することになった。日本から第 1 部の FDIS 用案を提出済である。 第 2 部 25297-2 は、上述のとおり ISO 23584（光学及びフォトニクスにおける参照辞 書の仕様）において定義されたクラス、プロパティーとのマッピングである。CD 25297-2 投票において、日本としては「参照辞書の ID number が、NODIF のキーワード全てに 割り振られるべきである」とのコメントを付けて賛成投票を行った。 基となる ISO 23584 においてクラス、プロパティーを定義するのは第 2 部の 23584-2 であるが、その 23584-2 については、2 回目の CD 投票が終了したが、今後 3 回目のＣ Ｄ投票を行うか、DIS 投票とするか、TC172 会議で審議する方向で調整が行われている。 また、現在、日本では、ドイツ作成のプロパティー対応資料の見直し作業を行ってお り完成したらドイツに送付予定である。 以上
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