Agilent Measurement Forum 2012 開催のご案内 受講料 無料 事前申込制 計測のイノベーションが ビジネスを変える アジレント・テクノロジーは、 お客様と共に次なる時代を見据え、 計測のイノベーションと総合力で、 お客様のビジネスの成功に貢献いたします 受講料 無料（事前申込制） 会 場 パシフィコ横浜 アネックスホール 会 期 2012年6月19日（火）、20日（水） Agilent Measurement Forum 2012 開催にあたって 平素は格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申し上げます。 さて、欧米経済の停滞や新興国の台頭など、 グローバルのビジネス環境は大きく変化しています。又、その変化の 中で競争の基準も「機能の改善や向上」から「ビジネスモデルのイノベーション」へと変化しています。日本のお客 様が次代に向けた競争を勝ち抜く為のイノベーションの中核となる技術とアプリケーションを、100カ国以上の 国々でグローバルにビジネスを展開するアジレントが計測の視点からサポートさせていただきます。 （火） と20日 （水）の2日間に亘り、 「計測のイノベーションがビジネスを変える」をテーマ つきましては、来る6月19日 ここにご案内申し上げます。技術・ に、 アジレント・メジャメント・フォーラム2012を開催する運びとなりましたので、 アプリケーションセミナー、300 点を超える製品展示、デモンストレーションなど、様々なアプローチを通じて アジレント・テクノロジー株式会社 代表取締役社長 電子計測本部長 アジレントの計測のイノベーションと総合力をご紹介させていただきます。 時節柄ご多忙の折とは存じますが、万障お繰り合わせのうえ、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。 梅島 正明 製品展示／ミニセミナ 技術／アプリケーション・セミナ 来場登録のみでご覧いただけます。 来場登録およびセミナ毎の事前登録が必要です。 300点以上、10億円以上の計測器を一挙に展示。またミニセミナでは実機を用 最新の技術動向、計測ソリューションをご紹介いたします。基調講演として、第一 いてのデモンストレーション、 ソリューションやサービスをまとめてご紹介いたし 線でご活躍されている方々にご講演いただきます。また、各分野に精通した弊社 ます。アジレントの全てを実感できるこの機会をぜひご活用ください。 エンジニアが分かり易く、具体的にご紹介いたします。毎年大好評のセミナで す。席に限りがございますので、お早めにご登録ください。 来場登録はこちらから＞＞ アジレント AMF2012 で 検索 または http://www.agilent.co.jp/find/AMF 事前登録でA賞：iPad（2名様）、B賞：iPod Shuffle（10名様）、C賞：クオカード1000円分（100名様） が当たるチャンス！ 詳しくはホームページでご確認ください。 展示エリア（来場登録のみでご覧いただけます） AMF（Agilent Measurement Forum) はアジレントが主催する最大のイベントです。 AMFでしか見られない、AMFならではのメリットをお見逃しなく！イノベーションの“ヒント”がきっと見つかります。 展示製品（当日展示する製品のほんの一部です） ソリューション展示 ラインナップ展示 300点以上、10億円以上の アプリケーションごとのソリューション 業 界 をリードする高 性 能 な を展示いたします。セミナやミニ・セミ 製品から、基本機能に絞った ナの内容を実機を用いてデモンスト シンプ ル で 価 格 を 抑えた製 高性能製品からコスト・パフォーマンスに優れた製品まで、アジレントの主要な レーションいたしますので、 より具体的 品、ハンディタイプの製品など 計測器を一堂に展示いたします。これだけの数の計測器が展示されることは他 にソリューションをイメージいただけます。展示予定のソリューション：パワー/ ラインナップを展示いたします。ラインナップ展示予定製品：オシロスコー のイベントではありません。大人気のオシロスコープを自由にお試しいただける シグナル・インテグリティ、次世代無線ＬＡＮ （802.11ac）、 ＬＴＥ、DDR、高速シリ 体験コーナーや、業界最高性能の新製品も展示予定です。ご期待ください。 アル・インタフェース、電子部品測定、光伝送など。 計測器、計測ソリューションを展示 Pick Up! プ、ネットアナ、スペアナ、信号源、LCR/インピーダンス・メータ、基本測定器 （DMM、DC電源、ファンクション・ジェネレータなど） Pick Up! ミリ波∼テラヘルツ波 DC電源アナライザ/ バッテリ・ ドレイン・アナライザ ミリ波∼テラヘルツ波はレーダ、 計測器、 ソリューションおよびサービスを紹介 広帯通信、セキュリティ、メタマ 消費電流測定の切り札。アジレ テリアルなど材料開発など様々 計測器や計測技術の紹介はもちろんのこと、例えば、生産性向上につながる「計測制御」 についてのミニセミナや、計測の確度を保ち証明するための「校正や JCSS 認定校正 な 用 途 に 活 用 さ れ て い ます 。 サービス」についての展示（パネル）なども充実。アジレントの全てをご覧いただけます。 アジレントでは、汎用の高性能 ント独自の特許技術、 “シームレ ス電流測定” 機能は、スリープ時 の微小な電流から動作時の大き PNA、PNA-Xネットワークアナラ イザ、PXAシグナル・アナライザ、PSG信号発生器をベースに、周波数エクス テンダを追加することで、1.1THzまでの周波数に対応した、Sパラメータ評 価、信号発生、スぺクトラム解析を 会場には各専門性を持った100名を越えるアジレントのスタッフが控えております。技術的なこと、 修理・校正に関すること、海外での計測器サポートのこと、計測器の購入方法に関することなど、 お気軽にスタッフまでお声掛けください。 13：45∼14：00 ミニセミナ会場 01 スマートメータ信号生成と技適自動計測のデモ ミニセミナ会場 02 14：50∼15：05 16：35∼16：50 09 スマートメータ信号生成と技適自動計測のデモ 実演！今日から使えるオシロの小技100連発 デジタル回路におけるEMIデバッグのために、 17：00∼17：15 13 17：25∼17：40 04 89601B使いこなし。10のヒント 6月20日（水） 11：00∼11：15 マルチチャンネル・マルチドメインアナライザデモ B2900A トランジスタ評価から高性能バイアス源としてまで 12 汎用的に使用できるSMU によるIV評価 02 初心者向け；ここが勘所！よくあるスペクトラムアナライザお問い合わせ 02 初心者向け；ここが勘所！よくあるスペクトラムアナライザお問い合わせ ミニセミナ会場 07 InfiniiSimによる観測点移動と、プローブ/ケーブルのf特補正の実演 実演！超簡単、5分で出来るオシロ測定の自動化プログラム作成 12：50∼13：05 10 計測制御プログラムを成功させる10個の勘所! 13：20∼13：35 19 最新のスペアナテクノロジ 13：45∼14：00 スペクトラム解析・信号生成システム 21 シミュレーションが測定値とピタリ！ 高速デジタル基板設計での測定とシミュレーションの融合 18 こんなに便利、FPGAベンダの標準ツールとの連携デバッグ ソリューション・パートナー展示 さい。じっくり操作いただく体験コーナもご用意しておりますので、ぜひ実機 携帯電話、無線 LAN 、自動車での通信など、 をご確認ください。 環境に対応するべく、アジレントではソリュー 09 実演！今日から使えるオシロの小技100連発 ション・パートナーによる様々な測定ソリュー 10 計測制御プログラムを成功させる10個の勘所! ションをご提供しています。 11 パートナ各社様によるこれらのソリューション シミュレーションモデルの精度（MQA)を簡単にチェック。 高精度な回路解析を可能にします。 14 もご紹介いたします。 その他にも数多くの測定器を展示いたします。これだけ数多くの測定器を ご提案できるのはアジレントだけ！一度にこれだけの測定器をご覧いただける のはＡＭＦだけです！ぜひこの機会をご活用ください。 測定治具の最新評価法と補正法（サマリ版） ミニセミナ会場 16 測定器のオトクな導入方法、各種ご紹介いたします 17 忘れちゃいけない音声品質試験！オーディオ測定ソリューションの今昔 20 SystemVue + M8190 + PXI = DPD 09 内蔵ファンクション発生器や内蔵電圧計機能も好評です。今後、汎用オシロス コープを検討する際には絶対にはずせません。この機会に実機をご確認くだ 開発・設計・評価においてますます複雑になる ミニセミナ会場 08 TDRオシロスコープを置き換える、ENA-TDRデモンストレーション 3000Xシリーズ。1GHzモデルも 2月に新登場しました。世界初の 1.1THzまで対応する 次世代パワー半導体向けシミュレーション用モデル NeuroFET 15 E6621A PXTを用いたLTE対応スマートフォンの特性試験 06 販売開始以来、爆発的な人気の 05 ESD放電ガン始業前点検の自動化 11：15∼11：30 12：20∼12：35 NEW 08 TDRオシロスコープを置き換える、ENA-TDRデモンストレーション 01 新・定番オシロスコープ 用意し、 ご覧いただきます。 05 ESD放電ガン始業前点検の自動化 15：05∼15：20 16：10∼16：25 Pick Up! ミニセミナ会場 03 04 89601B使いこなし。10のヒント ル・サポートを提供し安心してご利 用いただけます。当日は実機をご 初心者向け；ここが勘所！よくあるスペクトラムアナライザお問い合わせ 14：00∼14：15 14：15∼14：30 す。電源の出力シーケンスや任意波形発生機能も搭載し、電源周りの検証に 新・定番オシロスコープ2000X/ ミニセミナ・タイムテーブル（展示エリア内ミニセミナ会場にて実施いたします。来場登録のみでご覧いただけます。） 6月19日（火） す。スマートフォンや携帯機器のバッテリ寿命改善に最強のソリューションで 広く使える新しいコンセプトの計測器です。 実現するソリューションとトータ よろず相談、お任せください な電流まで正確な測定が可能で 会場レイアウト 展示エリア（展示エリアは来場登録のみでご利用いただけます。※ミニセミナの受講も可能です。） ミニセミナ会場 展示エリア アネックスホール入口 ホワイエ 実演！今日から使えるオシロの小技100連発 22 DDRメモリにおけるデバックといえばInfiniiScan 実用化が迫る光インターコネクションの測定基礎 23 RF信号の連続記録による間欠障害の解析 14：45∼15：00 25 ミリ波ソリューション総覧 15：05∼15：20 27 ゼロから始める電磁界シミュレーション 07 InfiniiSimによる観測点移動と、プローブ/ケーブルのf特補正の実演 15：35∼15：50 09 実演！今日から使えるオシロの小技100連発 35 15：55∼16：10 30 実変調信号を用いたIC設計、検証設計/ GoldenGateとSystemVueの協調シミュレーション 22 DDRメモリにおけるデバックといえばInfiniiScan 31 信号源の位相雑音が受信試験を左右する 16：25∼16：40 33 インピーダンス測定アップデート 04 89601B使いこなし。10のヒント 10 計測制御プログラムを成功させる10個の勘所! 24 セミナ・エリア 26 Custom OFDMを用いたシステムのSystemVueでの設計と検証 ハイパワー、高ダイナミックレンジ測定を実現する 新RFネットワークアナライザ 28 25Gを超える光トランシーバ測定最前線 29 Passive Intermodulation測定について ミニセミナ会場 （セミナの受講には来場登録に加えてセミナ申込が必要です。） テラス 14：20∼14：35 展示エリア 14：00∼14：15 ミニセミナ会場 展示エリア PNA-X 非線形デバイスの測定を1台で複数の役割をこなす 17：00∼17：15 32 汎用インピーダンス測定を可能にするネットワークアナライザ 34 17：25∼17：40 02 初心者向け；ここが勘所！よくあるスペクトラムアナライザお問い合わせ 15 E6621A PXTを用いたLTE対応スマートフォンの特性試験 ネットワークアナライザ 展示エリアの詳細（展示場所、ミニセミナ会場等） につきましては、当日、総合受付にてお渡しいたします詳細情報をご確認ください。 タイムスケジュール Agilent Measurement Forum 2012 セミナ・エリア（来場登録に加えて、セミナ毎の事前登録が必要です） 6月19日（火） 受付 12：30∼ 12：00 コース＃01 スマートメータ 13：00 101B1 12:45∼13:35 【基調講演】 （ 仮）見えてきたWiSUN -スマートグリッドを担う無線規格の 最新動向- 独立行政法人 情報通信研究機構 ワイヤレスネットワーク研究所 スマートワイヤレス研究室 室長 原田 博司様 14：00 ミニセミナ 01、02 102A1 12:45∼13:35 コース＃02 最先端メモリ実装でのSI/PI/ EMIシミュレーションの活用事例 パワー・インテグリティと ノイズ対策 Agilent Technologies EEsof EDA Division Sr. Application Expert Hany Mohamed Fahmy 15：00 101D3 15:10∼16:00 ルネサスエレクトロニクスのZigBee ソリューションと設計事例のご紹介 明日から測れるスマートメータ 102A2 13:50∼14:40 ICへの電源電圧揺れていませんか？ ピタリと止めるPI最新評価手法 シグナル・インテグリティの改善 高性能組み込みシステムの評価 102C3 15:10∼16:00 08 東京エレクトロンデバイス株式会社 ソリューション事業統括本部 PLD事業部 PLDソリューション部 ソリューショングループ 天野 泰典 様 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 竹中 慎吾 発事例に学ぶデバッグ手法の勘所 105E1 13:15∼14:05 【基調講演】 アセッサから見たEMCサ イト・測定設備の維持・管理について EMI認証、その考え方と ミニセミナ 05 一般財団法人 日本品質保証機構 総合製品安全部門 品質・技術推進室（ＪＱＡ） 参与 羽田 隆晴 様 測定を基礎から学ぶ 106F1 13:15∼14:05 コース＃06 【基調講演】CMOSでミリ波回路を実現-最新 技術動向と今後必要とされる技術について WiGig/ミリ波高速無線LANを ミニセミナ 04 東京工業大学 大学院理工学研究科 電子物理工学専攻 准教授 岡田 健一 様 開発する ミニセミナ 09 108D1 13:00∼13:50 GaN系パワー素子の 技術トレンドと今後の課題 最新のパワーデバイス評価 株式会社パウデック 技術開発グループ 主任 理学博士 八木 修一様 104E3 15:25∼16:15 これで完璧！DDR規格の正しい 理解と最新の評価手法 104E4 16:30∼17:20 デバッグを１００倍楽に！MSO とロジアナは、 こう使いこなせ！ 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 佐貫 聡信 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 菊地 秀 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 池原 司益 株式会社 東陽テクニカ EMCマイクロウェーブ計測部 嶋田 翔太 様 106B3 14:55∼15:45 近距離無線システム用60GHz 帯ミリ波IC設計事例 106B4 16:00∼16:50 製品化が進むWiGig/11adと ミリ波測定の最先端 105A4 16:00∼16:50 パナソニック株式会社 通信コア開発センター 斉藤 典昭 様 明日から測れるスマートメータ 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 田中 賢悟 ミニセミナ 03 108F2 14:20∼15:10 ハイパワー・高精度解析を両立 -パワー・デバイス解析ソリューション アジレントテクノロジー・インターナショナル 半導体パラメトリックテスト事業部 開発部 柿谷 寿生 ミニセミナ 05、13 106B5 17:05∼17:55 ADS2012 What's New -熱と 回路の連成解析と操作性の向上- 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 井上 賢一 101D3 15:10∼16:00 東京工業大学 大学院理工学研究科 電子物理工学専攻 准教授 岡田 健一 様 コース＃08 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 青木 秀樹 EMIレシーバ MXE とソフトウエア EP7による「EMI測定時間半減のご提案 【基調講演】CMOSでミリ波回路を実現-最新 技術動向と今後必要とされる技術について 近距離無線の最前線 10 105A3 14:55∼15:45 デジタルIFによるEMIレシーバの 技術革新とCISPR規格のおさらい 106F1 13:15∼14:05 コース＃07 ミニセミナ 実動作状態でのTDRインピーダンス 測定ができる！-最新の設計評価手法 芝浦工業大学 工学部電子工学科 教授 須藤 俊夫 様 104C2 14:05∼14:55 高性能FPGA/DDR組込システム開 14 102F4 16:30∼17:20 【基調講演】チップ・パッケージ・ボードの統 合PDNによる電源ノイズ制御と伝搬抑制 ミニセミナ ミニセミナ 株式会社 東陽テクニカ EMCマイクロウェーブ計測部 課長/ソリューションアドバイザ 衛藤 正悟 様 芝浦工業大学 工学部電子工学科 教授 須藤 俊夫 様 Xilinx 28nm 最新FPGAで実現する 1866MbpsDDR3 SDRAMインタフェース コース＃05 102C4 16:15∼17:05 最新デスクトップ近傍界スキャナを用い たノイズ対策/アンテナ設計手法の紹介 合PDNによる電源ノイズ制御と伝搬抑制 08 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 大津谷 亜士 104C1 13:00∼13:50 01、10 【基調講演】チップ・パッケージ・ボードの統 ミニセミナ 18：00 ミニセミナ 102C3 15:10∼16:00 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 松尾 道夫 コース＃04 17：00 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 田中 賢悟 ルネサス エレクトロニクス株式会社 MCU事業本部 福岡 淳 様 103B2 13:50∼14:40 オシロの波形がおかしい！-高速 基板をＴＤＲとSパラで評価する コース＃03 16：00 101D2 14:05∼14:55 弊社 電子計測本部 EDAアプリケーションエンジニアリング 橋本 憲良 107D4 16:15∼17:05 見 えてきた 次 世 代 高 速 無 線： 11acの規格と測定 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 杉山 裕之 108F3 15:25∼16:15 カーブトレーサによるパワーデバ イス解析の落とし穴と効果的対応 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 藤澤 宏行 ミニセミナ 02、04 106B5 17:05∼17:55 ADS2012 What's New -熱と 回路の連成解析と操作性の向上- ミニセミナ 09、11、12 弊社 電子計測本部 EDAアプリケーションエンジニアリング 橋本 憲良 ■ おすすめのセミナの組合せをコースとしてご紹介しております。コース内の一部のセミナのみの受講や、異なるコースのセミナを組み合わせて受講していただくことも可能です。 （ただし、時間が重なるセミナの組合せはできません。） 空き時間におすすめ！ミニセミナのご案内 ※ミニセミナは来場登録のみでご覧いただけます。 01 スマートメータ信号生成と技適自動計測のデモ 02 初心者向け；ここが勘所！よくあるスペクトラムアナライザお問い合わせ 03 次世代パワー半導体向けシミュレーション用モデル NeuroFET 11 シミュレーションモデルの精度（MQA)を簡単にチェック。 高精度な回路解析を可能にします。 12 B2900A トランジスタ評価から高性能バイアス源としてまで 汎用的に使用できるSMU によるIV評価 20 SystemVue + M8190 + PXI = DPD 21 シミュレーションが測定値とピタリ！ 高速デジタル基板設計での測定とシミュレーションの融合 22 DDRメモリにおけるデバックといえばInfiniiScan 04 89601B使いこなし。10のヒント 13 デジタル回路におけるEMIデバッグのために、 マルチチャンネル・マルチドメインアナライザデモ 23 RF信号の連続記録による間欠障害の解析 05 ESD放電ガン始業前点検の自動化 14 測定治具の最新評価法と補正法（サマリ版） 24 実用化が迫る光インターコネクションの測定基礎 25 ミリ波ソリューション総覧 06 実演！超簡単、5分で出来るオシロ測定の自動化プログラム作成 15 E6621A PXTを用いたLTE対応スマートフォンの特性試験 07 InfiniiSimによる観測点移動と、プローブ/ケーブルのf特補正の実演 16 測定器のオトクな導入方法、各種ご紹介いたします。 08 TDRオシロスコープを置き換える、ENA-TDRデモンストレーション 17 忘れちゃいけない音声品質試験！オーディオ測定ソリューションの今昔 27 26 Custom OFDMを用いたシステムのSystemVueでの設計と検証 ゼロから始める電磁界シミュレーション 09 実演！今日から使えるオシロの小技100連発 18 こんなに便利、FPGAベンダの標準ツールとの連携デバッグ 28 25Gを超える光トランシーバ測定最前線 10 計測制御プログラムを成功させる10個の勘所! 19 最新のスペアナテクノロジ 29 Passive Intermodulation測定について 30 実変調信号を用いたIC設計、検証設計/ GoldenGateとSystemVueの協調シミュレーション 31 信号源の位相雑音が受信試験を左右する 32 汎用インピーダンス測定を可能にする ネットワークアナライザ 33 インピーダンス測定アップデート 34 PNA-X 非線形デバイスの測定を1台で複数の 役割をこなすネットワークアナライザ 35 ハイパワー、高ダイナミックレンジ測定を実現する 新RFネットワークアナライザ ） 6月20日（水） 受付 9：30∼ 10：00 11：00 12：00 13：00 201A3 12:45∼13:35 コース＃01 202A2 11:05∼11:55 最先端28nm FPGAによる高速シリアル 10Gbps超バックプレーン通信の最適化 技術 いよいよ10Gbpsへ！ 高速シリアルインターフェイス ミニセミナ 日本アルテラ株式会社 応用技術部 渡辺 隆文様 マーケティング部 橋詰 英治様 203A1 10:00∼10:50 HDMI 1.4b測定の勘所と HDMI最新動向 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 今岡 淳 203C2 11:20∼12:10 これで納得！ LVDS評価の基礎技術 ミニセミナ 07 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 小室 行央 204B2 11:05∼11:55 オシロの波形がおかしい！-高速 基板をＴＤＲとSパラで評価する コース＃04 シグナル・インテグリティの改善 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 松尾 道夫 ミニセミナ 06、16 10、18 203C3 13:00∼13:50 DisplayPortの測定手法と最 新情報 ∼eDP、iDP、MYDP∼ 16 08、16 ∼本当の波形を観る∼実測不可点の波形 観測を実現する観測点移動技術とＤＤＲ３ デバッグへの活用 パナソニック株式会社 プロセス開発センター 基盤技術開発G デジタルEMC開発チーム 木下 智博様 コース＃07 1日でわかる無線LAN コース＃08 世界を見据えたLTE端末開発 コース＃09 これからの複合端末 コース＃10 組み込み機器評価 コース＃11 実アプリケーションから見る 高速デジタルとシグナル・インテグリティ ミニセミナ 21 設計の肝は誘電率にアリ。様々な試 料に使える複素誘電率、透磁率測定 ミニセミナ 16 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 戸高 嘉彦 207B1 10:00∼10:50 製品化が進むWiGig/11adと ミリ波測定の最先端 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 井上 賢一 207D2 11:20∼12:10 今から始める無線LAN： 11a/b/g/nの規格整理 ミニセミナ 02 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 依田 達夫 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 栗山 有美 208C1 10:15∼11:05 LTE端末および技術の世界動 向について講演予定 208C1 10:15∼11:05 LTE端末および技術の世界動 向について講演予定 ミニセミナ 15 208E2 11:35∼12:25 LTEの基礎とLTE-Advanced の概要 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 森下 幹夫 207D2 11:20∼12:10 今から始める無線LAN： 11a/b/g/nの規格整理 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 栗山 有美 203C2 11:20∼12:10 これで納得！ LVDS評価の基礎技術 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 小室 行央 ミニセミナ 10、16、17 日本アルテラ株式会社 応用技術部 渡辺 隆文様 マーケティング部 橋詰 英治様 ミニセミナ 19、20 ミニセミナ 25 ミニセミナ ミニセミナ 16 ミニセミナ 07、27 パナソニック株式会社 プロセス開発センター 基盤技術開発G デジタルEMC開発チーム 木下 智博様 16 ∼本当の波形を観る∼実測不可点の波形 観測を実現する観測点移動技術とＤＤＲ３ デバッグへの活用 パナソニック株式会社 プロセス開発センター 基盤技術開発G デジタルEMC開発チーム 木下 智博様 ザインエレクトロニクス株式会社 製品企画部 製品企画グループ 山本 周平 様 弊社電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 依田 達夫 実動作状態でのTDRインピーダンス 測定ができる！-最新の設計評価手法 ミニセミナ 10、33 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 青木 秀樹 205B6 16:00∼16:50 ライバルに差をつけるトレーサ ブルなSパラメータ測定 ミニセミナ 29、35 ミニセミナ 32、34 弊社 電子計測サービス部門 青木 俊明 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 小薮 哲夫 ミニセミナ 09 ミニセミナ 測定ができる！-最新の設計評価手法 27 10 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 青木 秀樹 207D5 15:10∼16:00 その無線モジュール、 設計通りの性能出てますか？ 26 208B4 13:50∼14:40 LTE端末開発テストの実際 - RFからプロトコルまで 実動作状態でのTDRインピーダンス ミニセミナ ミニセミナ ミニセミナ 弊社 電子計測本部 EDAアプリケーションエンジニアリング 福島 理絵 208B5 14:55∼15:45 MIMO性能を担保する： OTA規格動向と測定システム 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 吉田 生 04、10 ミニセミナ 30、31 208B5 14:55∼15:45 MIMO性能を担保する： OTA規格動向と測定システム 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 杉山 裕之 204B3 12:45∼13:35 ミニセミナ 23 207F3 13:15∼14:05 見えてきた次世代高速無線： 11acの規格と測定 ∼本当の波形を観る∼実測不可点の波形 観測を実現する観測点移動技術とＤＤＲ３ デバッグへの活用 V-by-One HS概要 ∼次世代高速ビデオ・インターフェース 204F5 15:25∼16:15 204B3 12:45∼13:35 202A2 11:05∼11:55 最先端28nm FPGAによる高速シリアル 10Gbps超バックプレーン通信の最適化 技術 10、17 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 荒井 信隆 204F5 15:25∼16:15 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 大沼 克己 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 杉山 裕之 ミニセミナ PCI Expressの最新動向と 測定事例 09 205F4 14:20∼15:10 校正手法のあくなき進化！ ネットアナ使用方法の新パラダイム 207F3 13:15∼14:05 見えてきた次世代高速無線： 11acの規格と測定 ミニセミナ 202C6 16:15∼17:05 ミニセミナ 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 長嶺 銀河 ∼本当の波形を観る∼実測不可点の波形 観測を実現する観測点移動技術とＤＤＲ３ デバッグへの活用 パナソニック株式会社 プロセス開発センター 基盤技術開発G デジタルEMC開発チーム 木下 智博様 10、16、17 Agilent Technologies Measurement Research Lab. IEEE Fellow Doug Baney 203A5 16:00∼16:50 204B3 12:45∼13:35 206F1 10:30∼11:20 アジレント光測定技術のベース となるコア・テクノロジー 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 竹嶋 茂樹 203E4 14:20∼15:10 スマートフォンやタブレットに おけるMIPIとMHLの測定手法 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 石井 幹 コヒーレント光通信を支える 光コンポーネント測定技術 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 岡崎 淳起 204D4 14:05∼14:55 最新トレンド∼オシロスコープ 上での波形観測点移動 205D3 13:00∼13:50 大丈夫ですかその測定？測定治 具の最新評価法と補正法 最新電子部品測定事情 材料、基板評価に役立つ情報 22 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 長嶺 銀河 204B3 12:45∼13:35 ミニセミナ 24 ミニセミナ 28 17：00 201E6 16:30∼17:20 202A5 14:55∼15:45 USB3.0は、 こう測れ！ USB3.0評価とチャレンジ ミニセミナ 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 坂田 健 ミニセミナ 16：00 201E5 15:25∼16:15 ミニセミナ 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 山口 修司 202E3 13:15∼14:05 わかるSATA Gen3評価 コース＃05 コース＃06 いよいよ次の段階へ… 変調解析の新たな形 東北大学 電気通信研究所 所長 中沢 正隆 様 コース＃02 次世代ディスプレイ・ インターフェイス 15：00 201C4 14:05∼14:55 【 基 調 講 演 】テラビット光セッ ション向 特別基調講演 テラビット・ネットワークに 向けた光測定技術 コース＃03 14：00 208D6 16:15∼17:05 LTE用チップセット開発の 取りくみとRFICの設計事例 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 長嶺 銀河 204D4 14:05∼14:55 最新トレンド∼オシロスコープ 上での波形観測点移動 ミニセミナ 10 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 依田 達夫 210Ｆ6 16:30∼17:20 これで完璧！DDRメモリ規格の 正しい理解と最新の評価手法 ミニセミナ 22 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 佐貫 聡信 204F5 15:25∼16:15 ミニセミナ 27 実動作状態でのTDRインピーダンス 測定ができる！-最新の設計評価手法 02、15 ルネサス モバイル株式会社 モバイルマルチメディア事業本部 SoC事業部エグゼクティブ 田中 聡様 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 吉田 生 203E4 14:20∼15:10 スマートフォンやタブレットに おけるMIPIとMHLの測定手法 ミニセミナ ミニセミナ 弊社 電子計測本部 アプリケーションエンジニアリング部 青木 秀樹 ■ おすすめのセミナの組合せをコースとしてご紹介しております。コース内の一部のセミナのみの受講や、異なるコースのセミナを組み合わせて受講していただくことも可能です。 （ただし、時間が重なるセミナの組合せはできません。） 10 セミナ・エリア/基調講演詳細（来場登録に加えて、セミナ毎の事前登録が必要です） コース＃01 スマートメータ 【基調講演】 講演内容については、変 更の可能性があります。あ らかじめご了承ください。 見えてきたWiSUN -スマートグリッドを担う無線規格の最新動向コース＃05 EMI認証、その考え方と測定を基礎から学ぶ 6月19日（火） 【基調講演】 アセッサから見たEMCサイト・測定設備の 維持・管理について コース＃06 WiGig/ミリ波高速無線LANを開発する コース＃07 近距離無線の最前線 むWiSUN(wireless smart utility network)について、標準化動向や問題点、今後の展望について解説する。 独立行政法人 情報通信研究機構 ワイヤレスネットワーク研究所 スマートワイヤレス研究室 室長 原田 博司様 現在自社の製品の EMC 性能を確認するために多くの企業が EMC 測定設備を有しており、認定サイトに限らず 試験結果の信頼性の検証要求が高まってきている。 本セミナでは試験結果の信頼性の維持・向上を図るための EMC測定設備の管理について説明する。 一般財団法人 日本品質保証機構 総合製品安全部門 品質・技術推進室（ＪＱＡ）参与 羽田 隆晴様 近年、 ミリ波帯利用技術の研究開発が活発化している． 従来より、 ミリ波は高速な無線通信や レーダー、イメージングに利用されている． 以前はGaAsなどの化合物半導体の利用が主で するようになっており、それが今日のミリ波利用の一大ブームの大きな要因ともなっている。 CMOSでミリ波回路を実現 ─最新技術動向と今後必要とされる 技術について コース＃02 パワー・インテグリティとノイズ対策 コース＃03 シグナル・インテグリティの改善 【基調講演】 チップ・パッケージ・ボードの統合PDNによる 電源ノイズ制御と伝搬抑制 6月20日（水） は小電力無線全体の技術動向について言及し、特に米国 IEEE802委員会でIEEE802.15.4e/4gとして標準化が進 あったが、半導体技術の改善により、安価なCMOSトランジスタがミリ波でも十分に動作 【基調講演】 コース＃01 省エネルギー社会に向けたスマートネットワークの実現において、電気・ガスメータ等の自動検針と管理は不可欠 なパーツであり、 こうしたスマートメータを実現するために多様な技術の可能性が討議されている。本セッションで テラビット・ネットワークに向けた光測定技術 【基調講演】 本講演では、 ミリ波帯での無線アプリケーションについて概説し、回路や実装技術について の側面から今後新たに必要となる技術の動向についても解説する。 東京工業大学 大学院理工学研究科 電子物理工学専攻 准教授 岡田 健一様 これまでのボードのPDN（電源インピーダンス） だけでは顕在化できないチップ・パッケージ の反共振問題を議論するためには、チップ自身のPDNも反映させた統合PDNを正確に把握 することが不可欠になってきた。このとき、おおまかな目安として、一定値のターゲットイン ピーダンスを設計目標としてきたが、適正なマージン設計するには、LSIのスイッチング動作 時の電源電流成分を考慮した新たなターゲットインピーダンスの考え方が必要となる。 本セミナーでは、 このような新たな考え方による電源ノイズ制御と、EBG構造によるノイズ 伝搬抑制について紹介する。 芝浦工業大学 工学部電子工学科 教授 須藤 俊夫様 次世代光通信に向け、東北大・中沢先生から特別にご講演をいただけます。詳しくは別途 掲載予定の当社ホームページをご確認ください。 テラビット光セッション向 特別基調講演 東北大学 電気通信研究所 所長 中沢 正隆様 会場案内 パシフィコ横浜 アネックスホール 〒220-0012 横浜市西区みなとみらい 1-1-1 アネックスホール ヨコハマグランド インターコンチネンタルホテル 横浜みなと みらいホール みなとみらい線 みなとみらい駅 [ タクシー ] 約 5 分 ●みなとみらい駅より 横浜 美術館 クイーンズ スクエア横浜 日本丸メモリアル パーク けやき通り いちょう通り [ バス ] パシフィコ横浜方面行き約 7 分 交番 パンパシフィック ホテル横浜 さくら通り 国際大通り ●桜木町駅より 横浜ランド マークタワー ワシントン ホテル みなとみらい大通り [ 徒歩 ] で約 3 分 横浜銀行 JR 京浜東北線 高島町駅 お問い合わせ先 国立大ホール 新港地区 交通 [ 徒歩 ] 動く歩道で約 12 分 展示ホール 東急東横線 日石 横浜ビル 動く 歩道 桜木町駅 国道 16 号線 アジレント・テクノロジー（株） イベント事務局 TEL：03−3255−8131 お問合せ時間：月曜日∼金曜日までの9:00∼17:00（祭日を除く） e-mail : [email protected] ©Agilent Technologies. Inc. 2012 Published in Japan, March 29,2012 5991-0010JAJP 0000-08A
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