作成日:2015 年 3 月 3 日スペイン商標情報検索ミニガイド目次内容 1．データベースへのアクセス ........................................................................................................ 2 2．商標の検索方法 ............................................................................................................................ 3 2.1 トップ画面から検索画面まで ............................................................................................. 3 2.2 番号検索 ................................................................................................................................. 6 2.3 複雑な検索：権利者検索、分類検索など ......................................................................... 7 3．補足：スペイン知的財産制度情報入手先 .............................................................................. 10 1 1．データベースへのアクセススペイン商標を収録したデータベース（DB）としては、無料のものとしてはスペイン知的財産庁（OEPM）が運営するデータベースがある。有料（商用）のものもほとんど種類はない。このミニガイドでは原則無料、かつ過去数年間にわたり安定運用されているＤＢを列挙する。 1.1. Oficina espanola de Patentes y Marcas 1.1.1.運営母体スペイン特許商標庁（OEPM：Oficina espanola de Patentes y Marcas） 1.1.2.URL http://www.oepm.es/es/signos_distintivos/index.html 1.1.3.特徴スペイン特許商標庁が運営する公的なデータベースである。言語はスペイン語のみである。 2.1. TMview 2.1.1.運営母体欧州共同体（EU：European Union） 2.1.2.URL https://www.tmdn.org/tmview/welcome.html 2.1.3.特徴欧州共同体 EU が運営するデータベースで、共同体商標だけではなくスペインを含む欧州各国の商標やアメリカ・韓国・ロシアなどの商標も横断的に調べることができる。言語は英語以外にも欧州の各国言語に対応している。 2 2．商標の検索方法 2.1 トップ画面から検索画面までまずスペイン特許商標庁のトップページから検索サイトまでたどる手順について説明する。まず、OEPM のトップページへ行く(URL: http://www.oepm.es/es/index.html)。ウェブサイト左上にある“MARCA Y NOMBRES COMERCIALES”をクリックすると下記のページに移る。検索メニューは 3 つ用意されている。 3 検索メニュー検索メニュー検索可能項目 (スペイン語) (日本語) Busuqueda Simple 簡易検索・キーワード Busuqueda avanzada 高度な検索・キーワード・ニース分類・ウィーン図形分類 Busuqueda Por No expediente 番号照会・商標番号もう 1 つの無料商標検索ウェブサイトである TMview は、トップページ上段にブランクがあり、ここでキーワードを入力し簡易的な検索を行うことができる。またブランクの下に「Advanced search」というボタンがあり、こちらを押すともう少し複雑な検索を行うことができる。 4 なお TMview の Advanced Search では下記のような項目について検索することが可能である。・商標・商標タイプ・ステータス・出願人／権利者・ニース分類・ウィーン図形分類・出願日・登録日本ミニガイドでは商標 1 件 1 件の詳細を確認するためにスペイン特許商標庁の利用方法を説明し、分類や権利者等を用いた複雑な検索を行うために TMview の利用方法を説明していく。 5 2.2 番号検索スペイン特許商標庁の 3 つの検索メニューのうち、一番右側にあるタブ「Busuqueda Por No expediente」から番号照会を用いて番号検索を行う。商標番号の先頭にアルファベットがついているが、検索時にはそれを除いて検索ボックスに入れる（上記の例は M3005289 を検索する場合）。さらに先頭のアルファベットは Modalidad（モード）を示しているため、先頭のアルファベットと Modalidad のプルダウンメニューは予め揃えておく必要がある。今回の例では M3005289 であるため、Modalidad のプルダウンメニューからは“M – Marca a nacional”を選択する。次に Localiizar をクリックすると、次のような検索結果画面が表示される。 6 結果表示画面の上は書誌事項にあたり日付や権利者情報などが掲載されている。次にニース分類やウィーン図形分類の情報が表示されている（案件によっては上記のようにウィーン図形分類関連の記載がないものもある）。下段には経過情報（ACTOS DE TRAMITACION）や維持年金支払い状況（ANOTACIONES DE PAGOS）が掲載されている。上記の例は出願が比較的最近であったため維持年金支払い状況（ANOTACIONES DE PAGOS）の項目が掲載されていない。 2.3 複雑な検索：権利者検索、分類検索などスペイン特許商標庁のウェブサイトでは、番号検索や分類検索（ニース分類・ウィーン図形分類）は可能であるが権利者で検索することができない。そこで権利者検索も含めて、より複雑なスペイン商標検索を行いたい場合は TMview の Advanced search を利用する。まずは Trade mark offices のプルダウンメニューから ES を選びスペイン商標に限定する。 7 ここで、例として商標所有者が Qualcomm のケースを考えてみる。Applicant name のところに Qualcomm と入力すると自動提案で別の候補が示される。 8 例ではスペイン商標であり、かつ所有者が Qualcomm という条件で絞り込みを行った。その結果は下記のように表示されます。このリストには・図形情報・商標・管轄特許庁・出願番号／登録番号・ニース分類・出願人・保有者情報・出願日・商標のタイプ・登録日が掲載されている。例として 1 件クリックすると下図のような個別案件の結果表示になる。しかしスペイン商標の詳細については TMview に掲載されていない。そのため、2.2 で説明した番号検索を用いてステータスや年金管理状況などについてチェックする必要がある。 9 上記の例は権利者による検索であったが、もちろんニース分類やウィーン図形分類を用いた検索も可能である。 3．補足：スペイン知的財産制度情報入手先  世界の産業財産権制度および産業財産権侵害対策概要ミニガイド   http://iprsupport‐jpo.go.jp/miniguide/miniguide.html 日本国特許庁:各国産業財産権法概要一覧表  http://www.jpo.go.jp/cgi/link.cgi?url=/torikumi/kokusai/kokusai2/sangyouzasisankenhou _itiran.htm  日本国特許庁:各国・地域の産業財産権庁又は機関に関する情報並びに産業財産権に関する制度の概要について  http://www.jpo.go.jp/torikumi/kokusai/kokusai2/sangyouzaisanken_gaiyou.htm 10