太陽光発電素子のPL観察でわかること

ITES Technical Information for Solar Panel Evaluation & Testing / Maintenance & Inspection
技術レポート
2015/3/25UP
太陽光発電素子のPL観察
太陽光発電素子の 観察でわかること
観察でわかること
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太陽光パネルのレントゲン、EL画像検査装置PVXはパネル内のマイクロクラックなどの微細な潜在欠
陥をEL発光専用の高精細カメラで写しだす。ただ、欠陥によっては、ほぼ真っ黒になるEL画像からはそ
れ以上の情報が得難い。PL観察ではさらに詳しい画像が得られ、さらなる欠陥の切り分けが可能とな
る。ELとPLの原理の違いから、その組み合わせでわかるようになった新たな真実、を解説する。
■POPLIでお手軽に
でお手軽にPhotoluminescenceイメージを撮影
イメージを撮影
でお手軽に
PVX(太陽電池EL画像 検査装置)に、PL光源 (商品名
POPLI)を組み合わせることにより、PL現象をPVXのカメラ
で捉えることができる。PVXは、EL (ElectroLuminescence)
つまり、電気エネルギーでキャリアを励起させ、キャリアが再
結合することで基底状態になり、そのエネルギー差(band to
band)分の波長の光を捉える。
PLは、光励起であるから
PL光源の光エネルギーを
吸収してキャリアが励起し、同様に再結合する、そのエネルギ
ー差がほぼ同じになり、ELと同じ波長の発光である。だから、
PVXを用いれば、ELもPLも観測可能である。
■ELと
とPLを両方使って、
を両方使って、Rs上昇と
低下を分離
を両方使って、 上昇とRsh低下を分離
上昇と
EL画像を撮影してほぼ真っ黒な画像になった場合、なにも写っていないのだから、情報が得られない。
インターコネクター剥がれや銀電極の腐食が発生すると、シリーズ抵抗(Rs)が極端に高くなり、EL撮影
のための電力が供給できなくなる。また、発電層の短絡やPID(電圧誘導劣化)が発生すると、シャント
抵抗(Rsh)が低下し、抵抗が低い領域に電流が集中して流れ、セル全体が発光しなくなる。つまり、両
方とも、真っ黒で区別できない。しかしながら、ELとPLには励起させるエネルギーの流れに差があるの
で、この点を利用する。
左図の等価回路に、RsやRshが正常状態でのELの電流の流れを青点線で入れ、右図に同様にRsや
Rshが正常状態でのPLの電流の流れを青実線で書き入れる。PL状態は、外部の電力でなくセル内部
の発電電力で発光するため、正常であればRsの影響を受けない。
MMvol.18 50325KT
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太陽光発電素子のPL観察
太陽光発電素子の 観察でわかること
観察でわかること
フィンガー電極が高抵抗化EL画像
PL画像
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正常状態EL画像
(PVX300、 POPLI使用)
このセルでは、バスバーに電力が供給されるが、フィンガー電極が高抵抗しているため、全面のEL発
光が観測できない。しかし、発電層は健全であるため、PL発光はセル全面に観測できる。また、正常状
態のELで見えているフィンガー電極の断線は、PLでは見られない。ELとPLの特徴を理解し画像DATA
を解析することで、不良の原因を理解できる。
■PLならば
ならば、
ならば、電極形成前のセルプロセスに対応
EL画像の良い点は、電極を介して電力を供給し発光させるため、電極の欠陥も観測できる。ただ、電極
がないとELはできない。その点、PLは光励起なので電極が無くてもPL画像が得られる。たとえば、熱拡
散工程(PN接合層形成)後のセルが撮像可能である。
①PN接合層形成
Pタイプの単結晶と多結晶のウェハーに、リンを熱拡散しPSGを除去した試料(PVX300、POPLI-3C使用)
単結晶 良品
単結晶 NG品
多結晶 良品
単結晶NG品のPL画像には、中央から年輪状の縞(ドーパント濃度のムラ)が、観察される。 また、黒
点や線状(結晶欠陥)も観察できる。 多結晶のPL画像にある黄色の輪の暗い領域は、結晶欠陥が集
中していると考えられる。
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②SiN形成
シリコンナイトライド層は、反射防止
膜と説明されているが、単に反射を
防止しているだけでなく、セルの保
護膜の機能も併せ持つ。具体的に
は発生したキャリアがセル表面で
再結合して消費されることを防ぐ。
PL画像も、シリコンナイトライド層が
形成されたセルは、PL輝度が上が
る。
単結晶セル
多結晶セル
③BSF形成
セルの製造工程では、表面電極(
銀ペースト)と裏面P+層(アルミペ
ースト)の焼成を1度に行うので、
この構造のセルはないのである
が 、 BSF ( BackSide electric
Field layer)のみを形成した。
単結晶セル
多結晶セル
単結晶良品のセルにも、黒点と線状の結晶欠陥が観察され、多結晶セルの結晶欠陥が同じ位置にくっ
きり見える。電極が形成されていないセルプロセス中の半製品であっても、PLなら非破壊で観察が可
能である。
PVXにPOPLIを組み合わるだけで、EL画像だけでなくPL画像も観察できるため、EL画像だけでは判別
できなかったRsトラブル(配線異常)やRsh(発電層異常)が切り分けられる。また、電極がなくてもPN接
合層が形成されていれば、PL画像から問題を捉えることができる。
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