JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
JAXA-QTS-2040C
平成 24 年 5 月 7 日廃止
登録番号
認仕－1056
宇宙開発用信頼性保証 固定コンデンサ
共通仕様書
独立行政法人
宇宙航空研究開発機構
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
改
訂 履 歴 表
記 号
年 月 日
主
要 改 訂 内 容
NC
H16. 3.31
新規作成
A
H17. 8.24
(1) 車載品を宇宙用に転用した新規開発品（チップ形固定積層セラミック
コンデンサ）に対応する要求仕様（付則 L）を追加
(2) 付則 A、B 及び C の工程内検査に非破壊内部検査と低電圧耐湿負荷を
追加
(3) 試験条件を外部規格（MIL 規格及び JIS 規格）に合わせて修正・統一
B
H20. 2.15
(1) すずウィスカに対する注意事項を追加（6.2.2 項、K.1.3.3 項、L.1.3.6
項）
(2) Hot Solder Dip 品の再認定試験の成果を反映
・ 寸法公差を変更（表 L-2）
・ 熱衝撃及び浸せきサイクルにおける熱衝撃の試験条件を-55℃～
+125℃、250 サイクルに変更（C.4.4.9.5.1 項、L.4.4.9.5.1 項）
(3) その他、要求内容の明確化及び整合を図るための修正
・ 端子強度の試験方法をアキシャルリードからラジアルリードに対
する試験方法に修正（A.4.4.7.1 項、B.4.4.7.1 項）
・ 寿命試験後の外観要求に「表示を判読できること」を追加
（C.3.10.1 項）
・ 熱衝撃及び電圧エージングにおける熱衝撃の段階 3 の温度公差を
+4/-0 に変更（C.4.4.9.4.1 項）
・ 耐プリント板曲げ性の試験基板にガラエポ基板を指定（L.4.4.8.3
項）
・ 電圧エージングでの電圧印加時間（規定電圧までの到達時間）を
変更（L.4.4.9.4.2 項）
・ 電圧エージングの試験回路に抵抗器の使用を許容（図 L-5）
C
H24.3.23
(1) 付則 K（チップ形タンタル固体電解コンデンサ）の全面的な見直し
・ 部品番号の定義を“NASDA****”から“JAXA****”に変更
（K.1.3 項）
・ 軽減電圧とサージ電圧の係数の見直し（表 K-2）
・ 端子仕上げ（表 K-3）からすずめっきを削除し、はんだめっきの
記号を“C”から“H”に変更
・ 表示内容の見直し（K.3.3.1 項）
・ 耐プリント板曲げ性（K.3.7.3 項）及びはんだ耐熱性（K.3.7.6 項）
に電気的特性の要求を追加
・ 熱衝撃（Ⅱ）試験後の等価直列抵抗を「個別仕様書の規格値以下」
から「個別仕様書の規格値の 125%以下」に緩和（K.3.8.7 項）
・ 耐溶剤性から電気的特性の要求を削除（K.3.8.10 項）
・ 耐放射線性を削除
-i-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
改
記 号
年 月 日
C
H24.3.23
訂 履 歴 表
主
要 改 訂 内 容
・ 認定試験（表 K-6）及びグループ A 試験（表 K-7）にリフローコ
ンディショニング、熱衝撃、サージ電流及び放射線写真を追加。
DPA の試料数を「2 個」から「3 個」に変更
・ 低温及び高温における安定性、サージ電圧及びはんだ付け性をグ
ループ B 試験からグループ A 試験の対象に変更（表 K-7）
・ はんだ耐熱性、引きはがし強度、耐湿性、寿命、ランダム振動及
び衝撃をグループ C 試験からグループ B 試験の対象に変更
（表 K-8）
・ 標準状態の温度条件を“25℃±3℃”から“15℃～35℃”に緩和
（K.4.4.1 項）
・ 引きはがし強度（K.4.4.6.2 項）
、固着性（K.4.4.6.4 項）及びはん
だ耐熱性（K.4.4.6.6 項）の試験に使用するサンプル取付け用基板
の材質にアルミナを指定
・ 耐プリント板曲げ性試験に使用するサンプル取付け用基板の材質
にガラエポを指定。加圧治具の先端形状を“R230”から“R5”
に変更（K.4.4.6.3 項）
・ 低温及び高温における安定性試験において、段階 3 への移行前処
理を追加（K.4.4.7.8 項）
・ 長期保管品の検査項目にはんだ付け性を追加（K.4.5 項）
・ その他、要求内容の明確化、整合を図るための修正、表記方法の
統一及び誤記訂正
D
H24.5.7
(1) 新規開発品（表面実装用小形大容量積層セラミックコンデンサ）に対
応する要求仕様（付則 M）を追加
- ii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
1. 総則 .............................................................................................................................................. 1
1.1 適用範囲 ................................................................................................................................ 1
1.2 用語の定義 ............................................................................................................................. 1
1.3 品種の区分 ............................................................................................................................. 1
1.4 部品番号 ................................................................................................................................ 1
2. 適用文書など ............................................................................................................................... 2
2.1 適用文書 ................................................................................................................................ 2
2.2 参考文書 ................................................................................................................................ 2
2.3 優先順位 ................................................................................................................................ 3
2.4 個別仕様書 ............................................................................................................................. 3
2.4.1 個別仕様書番号............................................................................................................... 3
2.4.2 個別仕様書の改定符号.................................................................................................... 3
2.4.3 個別仕様書の取扱い ....................................................................................................... 3
2.4.4 個別仕様書の様式 ........................................................................................................... 3
3. 要求事項 ...................................................................................................................................... 3
3.1 認定 ........................................................................................................................................ 3
3.1.1 認定の範囲 ...................................................................................................................... 3
3.1.2 初期認定.......................................................................................................................... 4
3.1.3 継続認定.......................................................................................................................... 4
3.1.4 認定の有効期間............................................................................................................... 4
3.1.5 認定の範囲の変更 ........................................................................................................... 4
3.2 品質保証プログラム .............................................................................................................. 4
3.2.1 品質保証プログラムの設定 ............................................................................................ 4
3.2.2 TRB の設置 ...................................................................................................................... 4
3.3 材料 ........................................................................................................................................ 4
3.3.1 アウトガス ...................................................................................................................... 5
3.4 設計及び構造 ......................................................................................................................... 5
3.5 外観、寸法、表示など........................................................................................................... 5
3.6 ワークマンシップ .................................................................................................................. 5
3.7 定格 ........................................................................................................................................ 5
3.8 電気的性能 ............................................................................................................................. 5
3.9 機械的性能 ............................................................................................................................. 5
3.10 環境的性能 ........................................................................................................................... 5
3.11 耐久的性能 ........................................................................................................................... 5
4. 品質保証条項 ............................................................................................................................... 5
4.1 一般要求 ................................................................................................................................ 5
4.2 試験及び検査の分類 .............................................................................................................. 6
4.3 工程内検査 ............................................................................................................................. 6
- iii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
4.4 認定試験 ................................................................................................................................ 6
4.4.1 試料 ................................................................................................................................. 6
4.4.2 製造記録.......................................................................................................................... 6
4.4.3 試験項目及び試料数 ....................................................................................................... 6
4.4.4 合否の判定 ...................................................................................................................... 6
4.4.5 試験後の処置 .................................................................................................................. 7
4.5 品質確認試験 ......................................................................................................................... 7
4.5.1 品質確認試験（グループ A） ......................................................................................... 7
4.5.2 品質確認試験（グループ B 及びグループ C） ............................................................... 7
4.6 試験方法 ................................................................................................................................ 8
4.6.1 外観、寸法、表示など.................................................................................................... 8
4.6.2 ワークマンシップ ........................................................................................................... 8
4.6.3 電気的性能 ...................................................................................................................... 8
4.6.4 機械的性能 ...................................................................................................................... 8
4.6.5 環境的性能 ...................................................................................................................... 8
4.6.6 耐久的性能 ...................................................................................................................... 8
4.7 長期保管 ................................................................................................................................ 9
4.7.1 認定取得業者において長期保管された製品に対する処置 ............................................. 9
4.7.2 調達者における保管処置 ................................................................................................ 9
4.8 試験及び検査の変更 .............................................................................................................. 9
5. 引渡しの準備 ............................................................................................................................... 9
5.1 包装 ........................................................................................................................................ 9
5.2 包装への表示 ......................................................................................................................... 9
6. 注意事項 .................................................................................................................................... 10
6.1 認定取得業者に対する注意 ................................................................................................. 10
6.1.1 適用データ・シートの作成、登録 ............................................................................... 10
6.1.2 互換性 ........................................................................................................................... 10
6.2 調達者に対する注意 ............................................................................................................ 10
6.2.1 調達時に指定すべき事項 .............................................................................................. 10
6.2.2 すずウィスカへの注意.................................................................................................. 10
付則 A
温度補償用固定磁器コンデンサ
付則 B
固定磁器コンデンサ
付則 C
チップ形固定磁器積層コンデンサ
付則 F
固定マイカコンデンサ
付則 G 固定プラスチックフィルムコンデンサ
付則 H
固定タンタル固体電解コンデンサ
付則 J
固定タンタル湿式電解コンデンサ
付則 K
チップ形タンタル固体電解コンデンサ
- iv -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 L
チップ形固定積層セラミックコンデンサ
付則 M 表面実装用小形大容量積層セラミックコンデンサ
-v-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
宇宙開発用信頼性保証固定コンデンサ
共通仕様書
1. 総則
1.1 適用範囲
この仕様書は、宇宙機に搭載する電子機器などに用いる宇宙開発用信頼性保証固定コンデン
サ（以下、「コンデンサ」という）に適用し、それらの要求事項、品質保証条項などを規定す
る。
なお、この仕様書は、QML 認定を取り入れた一般共通仕様書（JAXA-QTS-2000）に従って
作成されたものであるとともに、次に示す共通仕様書を継承したものである。
a) NASDA-QTS-1002D
宇宙開発用信頼性保証温度補償用固定磁器コンデンサ共通仕様書
b) NASDA-QTS-39014D
宇宙開発用信頼性保証固定磁器コンデンサ共通仕様書
c) NASDA-QTS-55681C
宇宙開発用信頼性保証チップ形固定磁器積層コンデンサ共通仕様書
d) NASDA-QTS-39001E
宇宙開発用信頼性保証固定マイカコンデンサ共通仕様書
e) NASDA-QTS-55514A
宇宙開発用信頼性固定プラスチックフィルムコンデンサ共通仕様書
f) NASDA-QTS-39003D
宇宙開発用信頼性固定タンタル固体電解コンデンサ共通仕様書
g) NASDA-QTS-39006C
宇宙開発用信頼性固定タンタル湿式電解コンデンサ共通仕様書
h) NASDA-QTS-55365A
宇宙開発用信頼性チップ形タンタル固体電解コンデンサ共通仕様書
1.2 用語の定義
この仕様書では、JAXA-QTS-2000 及び次の用語を定義して適用する。
a) 定格条件
定格条件とは、寿命試験において適用する最高温度で、コンデンサに定格電圧を印加
する試験条件をいう。
b) 加速条件
加速条件とは、寿命試験において適用する最高温度で、コンデンサに定格電圧の何倍
かを印加する試験条件をいう。
1.3 品種の区分
コンデンサの品種の区分は表 1 による。
1.4 部品番号
コンデンサの部品番号は JAXA-QTS-2000 の A.3.1.4 項による。詳細は付則による。
-1-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 1 品種の区分
種
類
付 則
対応する旧来の適用仕様書
温度補償用固定磁器コンデンサ
A
NASDA-QTS-1002D
固定磁器コンデンサ
B
NASDA-QTS-39014D
チップ形固定磁器積層コンデンサ
C
NASDA-QTS-55681C
固定マイカコンデンサ
F
NASDA-QTS-39001E
固定プラスチックフィルムコンデンサ
G
NASDA-QTS-55514A
固定タンタル固体電解コンデンサ
H
NASDA-QTS-39003D
固定タンタル湿式電解コンデンサ
J
NASDA-QTS-39006C
チップ形タンタル固体電解コンデンサ
K
NASDA-QTS-55365A
チップ形固定積層セラミックコンデンサ
L
なし
表面実装用小形大容量積層セラミックコンデンサ
M
なし
2. 適用文書など
2.1 適用文書
次の文書は、この仕様書で規定する範囲でこの仕様書の一部とする。また、これらの文書は、
契約又は適用時点で入手し得る最新版とする。
なお、版を指定する必要がある場合は、個別仕様書に規定する。
a) JAXA-QTS-2000
宇宙開発用共通部品等一般共通仕様書
b) MIL-STD-202
Test Method Standard, Electronic and Electrical Component
Parts
c) JIS Z 9015-1
計数値検査に対する抜取検査手順－第 1 部：ロットごとの検
査に対する AQL 指標型抜取検査方式
d) ASTM E595
Standard Test Method for Total Mass Loss and Collected
Volatile Condensable Materials from Outgassing in a Vacuum
Environment
e) MIL-STD-810
Environmental Engineering Considerations and Laboratory
Tests
f) MIL-STD-883
Test Method Standard, Microcircuits
g) JIS K 1522
イソプロピルアルコール（イソプロパノール）
h) JIS K 5902
ロジン
i)
はんだ－化学成分及び形状
JIS Z 3282
2.2 参考文書
次の文書は、この仕様書の参考文書とする。
a) JERG-0-035
宇宙開発事業団 部品適用ハンドブック
b) JP002
Current Tin Whiskers Theory and Mitigation Practices
Guideline
-2-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
2.3 優先順位
適用仕様書に規定されている要求事項などの間に矛盾がある場合、適用する要求事項は次の
順位による。
a) 個別仕様書
b) この仕様書
c) JAXA-QTS-2000
d) この仕様書の適用文書（2.1 項）（ただし、JAXA-QTS-2000 を除く）
2.4 個別仕様書
コンデンサの形状、性能などに関する詳細な規定は個別仕様書による。
なお、個別仕様書は JAXA-QTS-2000 の A.4 項に基づき、認定取得業者が作成及び制定し、
宇宙航空研究開発機構（以下、
「JAXA」という）に登録しなければならない。
2.4.1 個別仕様書番号
個別仕様書番号は、JAXA-QTS-2000 の A.2.2.2 項に従って次のように表す。
例
JAXA-QTS-2040
この仕様書の番号
/
A
□□□
A
付則記号
個別番号
改定符号
2.4.2 個別仕様書の改定符号
個別仕様書の改定に伴う改定符号の付与方法は、JAXA-QTS-2000 の A.2.2.2.4 項による。
2.4.3 個別仕様書の取扱い
個別仕様書は 2.4.1 項による個別仕様書番号ごとに、それぞれ独立した仕様書として取り
扱う。
2.4.4 個別仕様書の様式
個別仕様書の様式は JAXA-QTS-2000 の A.6 項 b)による。また、個別仕様書に規定すべき
事項は JAXA-QTS-2000 の A.4 項によらなければならない。
3. 要求事項
3.1 認定
3.1.1 認定の範囲
認定の範囲は付則による。
-3-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
3.1.2 初期認定
この仕様書に従って認定を取得しようとする業者は、この仕様書の 3.2.1 項に従って品質
保証プログラムを設定し、4.4 項に規定する認定試験を実施して、JAXA-QTS-2000 の 3.4.1
項に従ってコンデンサの認定を受け、JAXA 認定取得業者表（JAXA QML）に記載されなけ
ればならない。
3.1.3 継続認定
この仕様書に従ってコンデンサを継続して供給しようとする認定取得業者は、この仕様書
の 3.1.4 項に規定された認定の有効期間の終了する日の 60 日から 30 日前までに、
JAXA-QTS-2000 の 3.4.2.1 項に従って継続認定の手続きを取らなければならない。
なお、認定の有効期間内にコンデンサの製造がなくて品質確認試験が行われていない場合
は、品質確認試験を省略して申請することができる。
3.1.4 認定の有効期間
この仕様書に基づく認定の有効期間は 3 年間とする。
3.1.5 認定の範囲の変更
認定の範囲を変更する場合は、JAXA-QTS-2000 の 3.4.3 項に従って再認定手続きをとら
なければならない。
3.2 品質保証プログラム
3.2.1 品質保証プログラムの設定
認定を取得しようとする業者は、JAXA-QTS-2000 の 3.3.1 項及びこの仕様書の要求事項
を満足する品質保証プログラムを設定しなければならない。また、JAXA-QTS-2000 の 3.3.2
項に従って品質保証プログラム計画書を作成し、その審査を JAXA-QTS-2000 の 3.3.6 項に
従って受けなければならない。
3.2.2 TRB の設置
この仕様書に従って認定を取得しようとする業者は、JAXA-QTS-2000 の 3.3.5 項に従っ
て TRB を設置し運営しなければならない。
3.3 材料
コンデンサに使用する材料は、この仕様書で規定したものを使用しなければならない。特に
規定がない材料については、この仕様書の要求を満足するものを用いなければならない。これ
らの材料は、品質保証プログラムの製造条件を規定する文書に明記しなければならない。
-4-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
3.3.1 アウトガス
コンデンサに使用する有機材料は ASTM E595 によって試験したとき、原則として次の値
を満足しなければならない。
a) 質量損失比（TML）(1)：1.0%以下
b) 再凝縮物質量比（CVCM）(2)：0.1%以下
注(1) TML：Total Mass Loss
(2) CVCM：Collected Volatile Condensable Materials
3.4 設計及び構造
設計及び構造は付則による。詳細な要求については、個別仕様書で規定しなければならない。
3.5 外観、寸法、表示など
コンデンサの外観、寸法、質量、表示などは付則による。
3.6 ワークマンシップ
コンデンサのワークマンシップは付則による。
3.7 定格
コンデンサの定格は付則による。
3.8 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する要求は付則による。
3.9 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する要求は付則による。
3.10 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する要求は付則による。
3.11 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する要求は付則による。
4. 品質保証条項
4.1 一般要求
認定取得業者は、この仕様書の 3.2 項で設定された品質保証プログラムの履行と TRB を適切
に運営する責任を有する。
-5-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
4.2 試験及び検査の分類
試験及び検査は、JAXA-QTS-2000 の 4.3 項に従って次の 3 種類に分類する。
a) 工程内検査
b) 認定試験
c) 品質確認試験
4.3 工程内検査
認定取得業者はコンデンサの製造工程中に、製品の信頼性及び品質に重大な影響を及ぼす欠
陥の有無、ワークマンシップ、又は製品となってからでは測定できない特性の確認のために、
次に例示する工程内検査を実施しなければならない。工程内検査は、品質保証プログラム計画
書の製造工程フローチャートに明記しなければならない。
a) 半完成状態での内部目視検査（非破壊の全数又は抜取検査）
b) 半完成状態での物理的又は化学的検査（破壊又は非破壊の全数又は抜取検査）
c) 半完成状態での特性検査（非破壊の全数又は抜取検査）
4.4 認定試験
4.4.1 試料
認定試験の試料は、品質保証プログラムで規定した工程及び管理を通じて製造されたもの
で、認定の範囲を代表するものでなければならない。試料の詳細については付則による。
4.4.2 製造記録
認定を取得しようとする業者は認定試験に供するコンデンサについて、使用した材料の証
明書又は材料などの受入検査データ若しくは試験データ、試料を製造したときの工程記録及
び工程内検査データなどを保管・管理し、要求があれば提示できるようにしておかなければ
ならない。
4.4.3 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目、試験順序、試料数及び抜取方式は付則による。
4.4.4 合否の判定
付則に規定する認定試験の試験項目がすべて合格と判定された場合、認定試験を合格とす
る。ただし、規定された許容不良数以内であっても、不合格品の故障モードが破局故障（オー
プン、ショートなど、コンデンサとしての機能を失う故障）の場合には、認定試験を不合格
とする。
-6-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
4.4.5 試験後の処置
認定試験に供したコンデンサは、出荷してはならない。
なお、認定試験に合格した試料と同一検査ロットの製品については、グループ A 試験を実
施して合格した製品のみを出荷することができる。
4.5 品質確認試験
4.5.1 品質確認試験（グループ A）
グループ A 試験は、すべての製品の製造時に実施しなければならない。
4.5.1.1 試料
グループ A 試験の検査ロットの構成は、品質保証プログラムの製造条件を規定する文書
に明記しなければならない。
4.5.1.2 試験項目及び試料数
グループ A 試験の試験項目、試験順序、試料数及び抜取方式は付則による。
4.5.1.3 合否の判定
付則に規定するグループ A 試験の試験項目がすべて合格と判定された場合、グループ A
試験を合格とする。ただし、規定された許容不良数以内であっても、不合格品の故障モー
ドが破局故障（オープン、ショートなど、コンデンサとしての機能を失う故障）の場合に
は、グループ A 試験を不合格とする。
4.5.1.4 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
詳細については付則による。
4.5.2 品質確認試験（グループ B 及びグループ C）
グループ B 試験及びグループ C 試験の実施時期は次による。
a) グループ B 試験は、原則として認定有効期間内の最初の製造ロットで実施しなければ
ならない。
b) グループ C 試験は、認定の有効期間内に製造がなくて品質確認試験を実施せずに継続
認定を受けた場合、生産再開時に実施しなければならない。
4.5.2.1 試料
グループ B 試験及びグループ C 試験の検査ロットは、グループ A 試験に合格した検査
ロットから抜き取った試料で構成しなければならない。
-7-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
4.5.2.2 試験項目及び試料数
グループ B 試験及びグループ C 試験の試験項目、試験順序及び試料数は付則による。
抜取方式は、任意の形状及び任意の容量値のものから定数抜取によるか、又は JIS Z
9015-1 による。
4.5.2.3 合否の判定
付則に規定するグループ B 試験又はグループ C 試験の試験項目がすべて合格と判定さ
れた場合、各グループの品質確認試験を合格とする。ただし、規定された許容不良数以内
であっても、不合格品の故障モードが破局故障（オープン、ショートなど、コンデンサと
しての機能を失う故障）の場合には、グループ B 試験又はグループ C 試験を不合格とす
る。
4.5.2.4 試験後の処置
グループ B 試験又はグループ C 試験に供した試料は、出荷してはならない。また、グ
ループ B 試験又はグループ C 試験が不合格と判定された場合、認定取得業者は不合格品
について故障解析を実施し、材料や工程に対して是正処置を講じなければならない。製品
の出荷は、是正処置の結果が JAXA によって承認されるまで中止しなければならない。
4.6 試験方法
4.6.1 外観、寸法、表示など
コンデンサの外観、寸法、質量、表示などに関する試験方法は付則による。
4.6.2 ワークマンシップ
コンデンサのワークマンシップに関する試験方法は付則による。
4.6.3 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験方法は付則による。
4.6.4 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験方法は付則による。
4.6.5 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験方法は付則による。
4.6.6 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験方法は付則による。
-8-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
4.7 長期保管
4.7.1 認定取得業者において長期保管された製品に対する処置
グループ A 試験後 24 ヶ月以上保管されたコンデンサは、調達者への引渡しに先立って付
則に規定された項目について全数試験を行い、合格したコンデンサのみを出荷することがで
きる。
4.7.2 調達者における保管処置
調達者における保管処置については個別仕様書による。
4.8 試験及び検査の変更
この仕様書に規定された工程内検査及び品質確認試験を変更する場合は、JAXA-QTS-2000
の 4.4 項及び 6.1 項に従わなければならない。
5. 引渡しの準備
引渡しの準備は JAXA-QTS-2000 の 5 項及び次による。
5.1 包装
認定取得業者から調達者への引渡しにあたって、信頼性保証部品として適切な包装をするこ
と。
a) 個装
コンデンサには適切な個装を施さなければならない。個装は 5 個、10 個、20 個など
の適当な数量単位とする。
b) 包装
個装されたコンデンサは、緩衝材などで製品に悪影響を与えないように固定し包装す
る。より詳細な規定が必要な場合は、調達文書などによる。
5.2 包装への表示
個装又は包装には、次の事項を表示しなければならない。
a) 部品名
b) 部品番号
c) 適用仕様書番号
d) ロット識別記号
e) 納入先
f) 認定取得業者名
g) 包装数量
h) 検査年月日
i)
検査結果
-9-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
6. 注意事項
6.1 認定取得業者に対する注意
6.1.1 適用データ・シートの作成、登録
認定取得業者は、JAXA-QTS-2000 の付則 G に従って適用データ・シートを作成し、JAXA
に登録しなければならない。
6.1.2 互換性
同一部品番号でコンデンサの認定を取得しようとする場合は、先に認定を取得した業者の
製品と実装も含めた互換性がなければならない。
6.2 調達者に対する注意
製品の詳細データ、注意事項などについては、適用データ・シートを参照すること。
6.2.1 調達時に指定すべき事項
この仕様書に従って製造されたコンデンサを調達する場合には、次の事項を指定すること。
a) 部品番号
b) この仕様書の番号
c) 個別仕様書の番号
d) 出荷時に提出すべき試験データ及び源泉検査の有無
e) その他
e)項として、特定の用途に起因する事項を要求することはできるが、この仕様書と矛盾す
る事項を要求する場合には、この仕様書に基づくコンデンサとしての表示を要求してはなら
ない。
6.2.2 すずウィスカへの注意
すずの含有量が 96wt%を超える合金の端子仕上げを使用したコンデンサでは、すずウィス
カが通常の使用条件下で製造後から数年の間に成長し、電子機器の動作に悪影響を及ぼす可
能性がある。端子仕上げの上からコンフォーマル・コーティングを施しても、すずウィスカ
の形成を抑制することはできない。一般に、4wt%以上の鉛が含有されていれば、すずウィ
スカを抑制することができると言われている。さらに詳細な情報については、JP002 を参照
すること。
- 10 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 A
温度補償用固定磁器コンデンサ
A.1. 総則 ....................................................................................................................................... A-1
A.1.1 適用範囲 .......................................................................................................................... A-1
A.1.2 区分.................................................................................................................................. A-1
A.1.3 部品番号 .......................................................................................................................... A-1
A.1.3.1 形式 ........................................................................................................................... A-1
A.1.3.2 特性 ........................................................................................................................... A-1
A.1.3.3 公称静電容量 ............................................................................................................ A-2
A.1.3.4 静電容量許容差 ......................................................................................................... A-2
A.2. 適用文書など ......................................................................................................................... A-2
A.2.1 適用文書 .......................................................................................................................... A-2
A.2.2 参考文書 .......................................................................................................................... A-2
A.3. 要求事項 ................................................................................................................................ A-3
A.3.1 認定の範囲....................................................................................................................... A-3
A.3.2 材料.................................................................................................................................. A-3
A.3.2.1 構造 ........................................................................................................................... A-3
A.3.3 非破壊内部検査 ............................................................................................................... A-3
A.3.4 外観、寸法、表示など .................................................................................................... A-3
A.3.4.1 外観及び表示 ............................................................................................................ A-3
A.3.4.2 寸法及び質量 ............................................................................................................ A-4
A.3.5 ワークマンシップ ............................................................................................................ A-4
A.3.5.1 DPA ............................................................................................................................ A-5
A.3.6 定格.................................................................................................................................. A-5
A.3.7 電気的性能....................................................................................................................... A-5
A.3.7.1 電圧エージング ......................................................................................................... A-5
A.3.7.2 静電容量.................................................................................................................... A-5
A.3.7.3 誘電正接.................................................................................................................... A-5
A.3.7.4 耐電圧 ....................................................................................................................... A-7
A.3.7.5 絶縁抵抗.................................................................................................................... A-7
A.3.7.6 温度係数及び静電容量のずれ ................................................................................... A-7
A.3.8 機械的性能....................................................................................................................... A-9
A.3.8.1 端子強度.................................................................................................................... A-9
A.3.8.2 はんだ付け性 ............................................................................................................ A-9
A.3.8.3 はんだ耐熱性 ............................................................................................................ A-9
A.3.9 環境的性能..................................................................................................................... A-10
- A-i -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
A.3.9.1 耐振性 ..................................................................................................................... A-10
A.3.9.2 衝撃 ......................................................................................................................... A-10
A.3.9.3 熱衝撃（Ⅰ） .......................................................................................................... A-11
A.3.9.4 熱衝撃及び浸せきサイクル .................................................................................... A-11
A.3.9.5 耐湿性 ..................................................................................................................... A-11
A.3.9.6 低電圧耐湿負荷 ....................................................................................................... A-12
A.3.9.7 減圧 ......................................................................................................................... A-12
A.3.9.8 耐溶剤性.................................................................................................................. A-12
A.3.10 耐久的性能................................................................................................................... A-12
A.3.10.1 寿命 ....................................................................................................................... A-12
A.4. 品質保証条項 ....................................................................................................................... A-12
A.4.1 工程内検査..................................................................................................................... A-12
A.4.2 認定試験 ........................................................................................................................ A-13
A.4.2.1 試料 ......................................................................................................................... A-13
A.4.2.2 試験項目及び試料数 ............................................................................................... A-13
A.4.3 品質確認試験 ................................................................................................................. A-15
A.4.3.1 試料 ......................................................................................................................... A-15
A.4.3.2 試験項目及び試料数 ............................................................................................... A-15
A.4.3.3 試験後の処置 .......................................................................................................... A-15
A.4.4 試験方法 ........................................................................................................................ A-16
A.4.4.1 試験条件.................................................................................................................. A-16
A.4.4.2 試験の処理 .............................................................................................................. A-17
A.4.4.3 非破壊内部検査 ....................................................................................................... A-17
A.4.4.4 外観、寸法、表示など ............................................................................................ A-17
A.4.4.5 ワークマンシップ ................................................................................................... A-17
A.4.4.6 電気的性能 .............................................................................................................. A-18
A.4.4.7 機械的性能 .............................................................................................................. A-22
A.4.4.8 環境的性能 .............................................................................................................. A-22
A.4.4.9 耐久的性能 .............................................................................................................. A-26
A.4.5 長期保管 ........................................................................................................................ A-26
A.4.6 試験及び検査の変更 ...................................................................................................... A-27
A.5. 引渡しの準備 ....................................................................................................................... A-27
A.6. 注意事項 .............................................................................................................................. A-27
- A-ii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 A
温度補償用固定磁器コンデンサ
A.1. 総則
A.1.1 適用範囲
この付則は、コンデンサのうち、温度補償用固定磁器コンデンサ（以下、
「コンデンサ」と
いう）に適用し、それらの要求事項、品質保証条項などを規定する。
A.1.2 区分
コンデンサの区分は表 A-1 による。
表 A-1 区
構
分
造
形
非金属ケース、端子同一方向
式
1002S/05
1002S/06
A.1.3 部品番号
コンデンサの部品番号は次の例のように表す。詳細は個別仕様書による。
NASDA(1)
例
1002S/05
形
式
（A.1.3.1 項）
CH
特
性
（A.1.3.2 項）
100
D
公称静電
静電容量
容
許 容 差
量
（A.1.3.3 項）
（A.1.3.4 項）
1
注( ) “NASDA”は、宇宙開発用共通部品等であることを示す。
“N”と省略できる。
A.1.3.1 形式
形式は、
“1002S”と 2 数字を“/”で結んで表す。
“1002S”は信頼性保証温度補償用固定
磁器コンデンサを示し、これに続く 2 数字はコンデンサの大きさを表す。
A.1.3.2 特性
特性は温度係数を表す。温度係数は、表 A-2 のとおり 2 英大文字で表す。最初の文字は静
電容量温度係数の公称値（以下、「公称温度係数」という）を表し、最後の文字は静電容量
温度係数許容差（以下、
「温度係数許容差」という）を表す。
- A-1 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 A-2 温度係数
単位 10-6/℃
記 号
公称温度係数
CG
0±030
CH
0±060
CJ
0±120
CK
0±250
A.1.3.3 公称静電容量
公称静電容量は 3 桁の数字で表し、ピコファラド（pF）を単位とする。最初の 2 数字は有
効数字を表し、最後の数字はこれに続く零（0）の数を表す。ただし、小数点がある場合は、
小数点を英大文字“R”で表し、すべて有効数字とする。
例 102：1,000pF、R50：0.50pF、1R5：1.5pF
A.1.3.4 静電容量許容差
静電容量許容差は、表 A-3 のとおり 1 英大文字で表す。
表 A-3 静電容量許容差
記
号
静電容量許容差
C
±0.25pF
D
±0.50pF
(1)F(1)
2
±01%
2
( )G( )
±02%
J
±05%
K
±10%
1
公称静電容量が 10pF 以下のときは、この許容差は±1.0pF である。
2
公称静電容量が 10pF 以下のときは、この許容差は±2.0pF である。
注( )
()
A.2. 適用文書など
A.2.1 適用文書
この付則の適用文書は、2.1 項による。
A.2.2 参考文書
次の文書は、この付則の参考文書とする。
- A-2 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
a) MIL-PRF-20
Capacitor, Fixed, Ceramic Dielectric (Temperature Compensating),
Established Reliability and Non-Established Reliability, General
Specification for
A.3. 要求事項
A.3.1 認定の範囲
認定されるコンデンサの範囲は、この仕様書の A.3.2 項から A.3.10 項に規定された材料、設
計、構造、定格及び性能を満足するコンデンサの製造ラインを用いて製造される製品群で、認
定試験に合格した試料で代表される範囲のものとする。したがって、この認定の範囲内におい
て個別仕様書で規定する個々の製品を供給することができる。
なお、より詳細な認定の範囲の規定が必要な場合は、個別仕様書に規定する。
A.3.2 材料
コンデンサに使用する材料は 3.3 項によるほか、次による。
A.3.2.1 構造
コンデンサの構造は次によるほか、個別仕様書による。
a) コンデンサ素子
磁器誘電体を用いること。
b) リード端子
コンデンサの端子は、容易にはんだ付けできるように適切な処理が施されているも
のを用いなければならない。
c) ケース及び充てん材料
コンデンサのケース及び充てん材料は、最高使用温度に耐え、耐湿性及び電気的絶
縁性を維持できるものでなければならない。また、コンデンサの性能に影響するもの
であってはならない。
A.3.3 非破壊内部検査
端子の仕上げ前に、すべてのコンデンサを超音波探傷検査、又は品質保証プログラムで規定
した非破壊の内部検査に供さなければならない。A.4.4.3 項によって試験したとき、デラミネー
ション、ボイド、クラックなど、欠陥の応答を示すコンデンサがあってはならない。
A.3.4 外観、寸法、表示など
A.4.4.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
A.3.4.1 外観及び表示
コンデンサの表面には割れ、腐食などがあってはならない。また、表示は少なくとも次の
項目を含み、容易に消えない方法でなされていなければならない。
a) 部品番号
- A-3 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) ロット識別記号
c) 認定取得業者名又はその略号（表示できる場合のみ）
A.3.4.2 寸法及び質量
コンデンサの寸法及び質量は、個別仕様書による。
A.3.5 ワークマンシップ
コンデンサは良好な設計に基づいて、この仕様書の 3.2.1 項で設定された品質保証プログラ
ムに従って製造されていなければならない。
コンデンサの本体にはひび割れ、ピンホール、傷など、電気的又は機械的性能に影響する欠
陥があってはならない。また、リード端子にも折損、つぶれ、その他の傷などがあってはなら
ない。
a) はんだ付け
はんだ付けは、機械的強度を得るための手段として使用してはならない。また、過剰
なフラックス及びはんだは取り除かれていなければならない。
電気的接続を目的とするはんだ付けの場合は、あらかじめ機械的に接続されているこ
とが望ましく、かつ、はんだ付けの後は電気的にも完全な接続でなければならない。
はんだ付けに際して、一切の酸又は酸性塩を使用してはならない。ただし、電気的接
続部分の予備すず引きには用いてもよい。
電気回路の形成を目的としない機械的結合部のすず引き又ははんだ引きには、酸又は
酸性塩を用いてもよい。
事後処理によって完全に除去されるものでない限り、絶縁材料に近接して酸又は酸性
塩を使用してはならない。
酸又は酸性塩の使用が許容される場合においても、はんだ付けの後、速やかに完全な
る中和、洗浄などの処理が施されなければならない。
b) 仕上げ
コンデンサの仕上げは、ケース表面にはげ落ち、割れ、腐食などの痕跡を生ずるもの
であってはならない。
c) 端子と封口
すべての端子部分及び封口部分に、グリース、その他の異物の付着などがあってはな
らない。
d) はんだ仕上げ
不十分な加熱による突起、粗い面などがあってはならない。はんだ付けは、必要最少
量のフラックス及びはんだで行われなければならない。過剰なフラックスを取り除くと
きには、コンデンサを傷つけるおそれのある方法を用いてはならない。また、分散した
フラックス粒子、ブラシの毛又は他の異物をコンデンサ内部又は表面に残したりしては
ならない。
はんだ付けの熱によって絶縁物が損傷を受けたり、固定されている部品がゆるんだり
してはならない。
- A-4 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
A.3.5.1 DPA
A.4.4.5.1 項によって試験したとき、コンデンサは個別仕様書の要求を満足しなければなら
ない。
A.3.6 定格
次の事項を個別仕様書で定めなければならない。
a) 公称静電容量
b) 特性
c) 定格電圧
d) 使用温度範囲
A.3.7 電気的性能
コンデンサは次の電気的性能を満足しなければならない。
A.3.7.1 電圧エージング
A.4.4.6.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 絶縁抵抗
1) 最高使用温度において、A.3.7.5 項による。
2) 標準状態において、A.3.7.5 項による。
b) 誘電正接
図 A-1 に示した値（初期必要条件）以上であること。
c) 静電容量
A.3.7.2 項による。
A.3.7.2 静電容量
A.4.4.6.2 項によって試験したとき、静電容量は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
A.3.7.3 誘電正接
A.4.4.6.3 項によって試験したとき、誘電正接は図 A-1 に示した値以上でなければならない。
- A-5 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
図 A-1 誘電正接の最小値
- A-6 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
A.3.7.4 耐電圧
A.4.4.6.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 端子間
損傷や絶縁破壊がないこと。
b) 端子と外装間
損傷や絶縁破壊がないこと。
A.3.7.5 絶縁抵抗
A.4.4.6.5 項によって試験したとき、絶縁抵抗は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
A.3.7.6 温度係数及び静電容量のずれ
a) 温度係数
A.4.4.6.6 項によって試験したとき、静電容量－温度曲線は図 A-2 に示した温度特性
許容差を表す包絡線内になければならない。
なお、包絡線から読みとった最大値及び最小値を表 A-4 に示す。
b) 静電容量のずれ
静電容量のずれは、0.2%又は 0.05pF のいずれか大きい方の値以内になければなら
ない。ただし、測定周波数が 1MHz に該当するものに適用する。
- A-7 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
図 A-2 温度係数 C に対する許容誤差包絡線
- A-8 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 A-4 図 A-2 の許容誤差包絡線からの読み
単位 10-6
25℃における静電容量からの許容静電容量変化
特
性
-55℃
最大
-40℃
最小
最大
-10℃
最小
最大
最小
CG
4,300
-2,200
3,400
-1,900
1,700
-1,100
CH
7,300
-4,400
5,800
-3,700
2,900
-2,000
CJ
13,300
-9,300
10,500
-7,600
5,400
-4,200
CK
26,100
-19,700
20,800
-16,100
10,700
-8,600
45℃
最大
65℃
最小
最大
85℃
最小
最大
125℃
最小
最大
最小
CG
600
-700
1,100
-1,400
1,700
-1,800
3,000
-3,000
CH
1,300
-1,500
2,400
-2,500
3,600
-3,600
6,000
-6,000
CJ
2,300
-2,700
4,700
-5,100
7,200
-7,200
12,000
-12,000
CK
5,000
-5,500
10,000
-10,400
15,000
-15,000
25,000
-25,000
A.3.8 機械的性能
コンデンサは次の機械的性能を満足しなければならない。
A.3.8.1 端子強度
A.4.4.7.1 項によって試験したとき、端子に切断、ゆるみ、抜けなどがあってはならない。
A.3.8.2 はんだ付け性
A.4.4.7.2 項によって試験したとき、端子の表面は、新しい滑らかなはんだの被膜で少なく
とも 95%は覆われていなければならない。はんだの表面には小さいピンホール、又は粗い点
に限ってはんだで覆われていない部分があってもよいが、これらは集中していてはならない。
また、その面積の合計は 5%未満でなければならない。
A.3.8.3 はんだ耐熱性
A.4.4.7.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 絶縁抵抗
個別仕様書の規定を満足すること。
b) 静電容量
初期値からの変化量が 5%又は 0.5pF（10pF より小さい値に対しては 0.25pF）のい
ずれか大きい値以下であること。
c) 誘電正接
図 A-1 に示した値（初期必要条件）以上であること。
- A-9 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
A.3.9 環境的性能
コンデンサは次の環境的性能を満足しなければならない。
A.3.9.1 耐振性
A.3.9.1.1 高周波振動
A.4.4.8.1.1 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、断線などがあってはな
らない。また、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 静電容量
初期値からの変化量が 2%又は 0.5pF（10pF より小さい値に対しては 0.25pF）の
いずれか大きい値以下であること。
c) 誘電正接
図 A-1 に示した値以上であること。
d) 耐電圧（端子間）
損傷や絶縁破壊がないこと。
e) 絶縁抵抗
A.3.7.5 項による。
A.3.9.1.2 ランダム振動
A.4.4.8.1.2 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、断線などがあってはな
らない。また、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 静電容量
初期値からの変化量が 2%又は 0.5pF（10pF より小さい値に対しては 0.25pF）の
いずれか大きい値以下であること。
c) 誘電正接
図 A-1 に示した値以上であること。
d) 耐電圧（端子間）
損傷や絶縁破壊がないこと。
e) 絶縁抵抗
A.3.7.5 項による。
A.3.9.2 衝撃
A.4.4.8.2 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、断線などがあってはならな
い。また、機械的損傷や破壊があってはならない。
- A-10 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
A.3.9.3 熱衝撃（Ⅰ）
A.4.4.8.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 静電容量
初期値からの変化量が 5%又は 0.5pF（10pF より小さい値に対しては 0.25pF）のい
ずれか大きい値以下であること。
c) 誘電正接
図 A-1 に示した値以上であること。
d) 耐電圧（端子間）
損傷や絶縁破壊がないこと。
e) 絶縁抵抗
個別仕様書の規定を満足すること。
A.3.9.4 熱衝撃及び浸せきサイクル
A.4.4.8.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 静電容量
初期値からの変化量が 5%又は 0.5pF（10pF より小さい値に対しては 0.25pF）のい
ずれか大きい値以下であること。
c) 誘電正接
図 A-1 に示した値以上であること。
d) 耐電圧（端子間）
損傷や絶縁破壊がないこと。
e) 絶縁抵抗
個別仕様書の規定を満足すること。
A.3.9.5 耐湿性
A.4.4.8.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 静電容量
初期値からの変化量が 5%又は 0.5pF（10pF より小さい値に対しては 0.25pF）のい
ずれかの大きい値以下であること。
c) 絶縁抵抗
個別仕様書の規定を満足すること。
- A-11 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
A.3.9.6 低電圧耐湿負荷
A.4.4.8.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 絶縁抵抗（+25℃）
A.3.7.5 項の要求を満足すること。
c) 静電容量変化
初期値からの変化量が 5%又は 0.5pF（10pF より小さい値に対しては 0.25pF）のい
ずれかの大きい値以下であること。
A.3.9.7 減圧
A.4.4.8.7 項によって試験したとき、試験中及び試験後に短絡や機械的損傷があってはなら
ない。
A.3.9.8 耐溶剤性
A.4.4.8.8 項によって試験したとき、表示を判読できなければならない。
A.3.10 耐久的性能
コンデンサは次の耐久的性能を満足しなければならない。
A.3.10.1 寿命
A.4.4.9.1 項によって試験したとき、試験中及び試験後に短絡や機械的損傷があってはなら
ない。また、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 静電容量
初期値からの変化量が 5%又は 0.5pF（10pF より小さい値に対しては 0.25pF）のい
ずれか大きい値以下であること。
c) 誘電正接
図 A-1 に示した値以上であること。
d) 絶縁抵抗
個別仕様書の規定を満足すること。
A.4. 品質保証条項
A.4.1 工程内検査
コンデンサの製造ロットごとに表 A-5 に規定された工程内検査を実施しなければならない。
なお、業者の選択により 4.3 項に従い、表 A-5 に規定する以外の工程内検査を実施してもよ
い。
- A-12 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 A-5 工程内検査
項目
試験項目
番号
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
非破壊内部検査
A.3.3
A.4.4.3
2
低電圧耐湿負荷(1)
A.3.9.6
A.4.4.8.6
試料数
全数
12
注(1) 磁器誘電体の厚さが 30μm（公称）を超える場合、又は各層が 2 枚以上の
誘電体素子で構成されている場合は、適用しない。詳細は個別仕様書による。
A.4.2 認定試験
認定試験は 4.4 項によるほか、次による。
A.4.2.1 試料
認定試験の検査ロットは、工程内検査に合格した検査ロットから抜き取った試料で構成し
なければならない。認定試験の試料は、形式、特性及び定格電圧が同じものを 1 つの組合せ
として、その中で公称静電容量の最大のものを選定する。
A.4.2.2 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目及び試料数は表 A-6 による。Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ群の試験を行った後、Ⅳ群以
下の各群に試料を分けて試験を行う。ただし、Ⅳ群以下の試験は群番号の順に行わなくても
よい。各群内の試験項目は上から順に行う。
- A-13 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 A-6 認定試験
試
験
群
順序
項
Ⅰ
1
電圧エージング
Ⅱ
(3)
Ⅲ
Ⅳ
試験方法
項目番号
項目番号
A.3.7.1
A.4.4.6.1
1
外観、寸法、表示など
A.3.4
A.4.4.4
1
静電容量
A.3.7.2
A.4.4.6.2
2
誘電正接
A.3.7.3
A.4.4.6.3
3
耐電圧
A.3.7.4
A.4.4.6.4
4
減圧
A.3.9.7
A.4.4.8.7
5
絶縁抵抗
A.3.7.5
A.4.4.6.5
1
はんだ付け性
A.3.8.2
A.4.4.7.2
A.3.7.6
A.4.4.6.6
A.3.9.1.1
A.4.4.8.1.1
A.3.9.4
A.4.4.8.4
1
Ⅴ
目
要求事項
2
3
温度係数及び
静電容量のずれ
高周波振動
熱衝撃及び
浸せきサイクル
合 否 判 定
試料数
許容不良数(1)
全数
0
2
1
全数( )
(4)
1
280
6
1
18
1
1(5)
1
衝撃
A.3.9.2
A.4.4.8.2
2
端子強度
A.3.8.1
A.4.4.7.1
3
耐湿性
A.3.9.5
A.4.4.8.5
1
はんだ耐熱性
A.3.8.3
A.4.4.7.3
2
耐溶剤性
A.3.9.8
A.4.4.8.8
寿命
定格条件
1
A.3.10.1
A.4.4.9.1
159
0
加速条件
A.3.10.1
A.4.4.9.1
52
0
Ⅸ
1
DPA
A.3.5.1
A.4.4.5.1
2
0
Ⅹ
1
ランダム振動
A.3.9.1.2
A.4.4.8.1.2
6
0
ⅩⅠ
1
熱衝撃（Ⅰ）
A.3.9.3
A.4.4.8.3
12
0
材料
A.3.2
Ⅵ
Ⅶ
Ⅷ
－
注(1)
－
18
1
6
1
(6)
1 個の試料が同じ試験群に属する試験項目の二つ以上の項目で不合格であっても、不良数
は 1 個と数える。
(2)
寸法については、JIS Z 9015-1 付表 2-A なみ検査の 1 回抜取方式による合格品質水準
（AQL）1.0%で検査を行ってもよい。
(3)
4
()
非破壊試験である。
Ⅲ群で許容される不良のための交換として許される 1 個の試料が、280 個の試料の中に含
まれる。
5
()
Ⅳ群からⅦ群の試験を通じて、許容不良数の合計は 1 個とする。
(6)
設計仕様を満足していることを証明する資料を提出すること。
- A-14 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
A.4.3 品質確認試験
品質確認試験は 4.5 項によるほか、次による。
A.4.3.1 試料
グループ A 試験の検査ロットの構成は、4.5.1.1 項による。
グループ B 試験及びグループ C 試験は、形式、特性及び定格電圧の組合せごとに実施し、
検査ロットの構成は 4.5.2.1 項による。同一時期にグループ A 試験に供した組合せの中にロッ
トが複数ある場合は、その中で公称静電容量の最も大きいロットから試料を抜き取って構成
しなければならない。
A.4.3.2 試験項目及び試料数
品質確認試験の試験項目及び試料数は、グループ A 試験を表 A-7 に、グループ B 試験を
表 A-8 に、グループ C 試験を表 A-9 に示す。グループ A 試験は群番号の順に実施する。各
群内の試験項目は順序番号の順に行う。
A.4.3.3 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
ただし、A1 群の順序 2 及び／又は A2 群が不合格となったときには、不合格となった項目に
ついて全数試験を行い、良品のみを出荷することができる。
表 A-7 品質確認試験（グループ A）
試
群
験
順序
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
全数
0
電圧エージング
A.3.7.1
A.4.4.6.1
（絶縁抵抗）
(A.3.7.5)
(A.4.4.6.5)
（誘電正接）
(A.3.7.3)
(A.4.4.6.3)
（静電容量）
(A.3.7.2)
(A.4.4.6.2)
2
外観、寸法、表示など
A.3.4
A.4.4.4
AQL(1) 1.00%
A2
1
耐電圧
A.3.7.4
A.4.4.6.4
AQL(1) 0.65%
A3
1
DPA
A.3.5.1
A.4.4.5.1
2
A1
注(1)
1
0
表中の AQL は、JIS Z 9015-1 付表 2-A なみ検査の 1 回抜取方式による合格品質水準を表
す。
- A-15 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 A-8 品質確認試験（グループ B）
試
験
目
試験方法
項目番号
項目番号
群
順序
B1
1
はんだ付け性
A.3.8.2
A.4.4.7.2
1
はんだ耐熱性
A.3.8.3
A.4.4.7.3
2
耐溶剤性
A.3.9.8
A.4.4.8.8
B2
項
要求事項
合 否 判 定
試料数
許容不良数
6
0
8
0
表 A-9 品質確認試験（グループ C）
試
群
順序
C1
1
1
C2
2
3
験
項
目
減圧
温度係数及び
静電容量のずれ
高周波振動
熱衝撃及び
浸せきサイクル
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
A.3.9.7
A.4.4.8.7
A.3.7.6
A.4.4.6.6
A.3.9.1.1
A.4.4.8.1.1
A.3.9.4
A.4.4.8.4
合 否 判 定
試料数
許容不良数
6
0
18
0
18
0
1
衝撃
A.3.9.2
A.4.4.8.2
2
端子強度
A.3.8.1
A.4.4.7.1
3
耐湿性
A.3.9.5
A.4.4.8.5
C4
1
寿命（加速条件）
A.3.10.1
A.4.4.9.1
12
0
C5
1
ランダム振動
A.3.9.1.2
A.4.4.8.1.2
6
0
C6
1
熱衝撃（Ⅰ）
A.3.9.3
A.4.4.8.3
6
0
C3
A.4.4 試験方法
A.4.4.1 試験条件
MIL-STD-202 の 4 項による。ただし、次の条件を適用する。
a) 標準状態
標準状態とは、温度 25℃±3℃、相対湿度 25%～75%、気圧 86kPa～106kPa の環境
条件をいう。試験及び測定は、特に規定がない限り標準状態で行う。再現性のある結
果を得るためにこれらの条件を厳密に管理しなければならないときには、b)の判定状
態を適用する。換算を必要とする場合は、c)の基準状態を用いる。
なお、判定に疑義を生じなければ、標準状態以外で試験及び測定を行ってもよい。
b) 判定状態
判定状態は、温度 25-20℃、相対湿度 50±2%、気圧 86kPa～106kPa とする。
c) 基準状態
基準状態は、温度 25℃、相対湿度 50%、気圧 101.3kPa とする。
- A-16 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 基準測定
エージング前後の測定値を比較する場合は、エージングに先立ち 25±3℃で測定され
た値を基準値とする。この基準値が試験開始時点から 30 日以前に測定された場合には、
再測定を行い、これを基準値としなければならない。
e) 試験電圧の測定精度は、規定された電圧の±3.0%以内でなければならない。
f) 寿命試験に用いる電源電圧の変動は、規定された試験電圧の±3%以内でなければなら
ない。
A.4.4.2 試験の処理
必要がある場合は、次の処理を行う。
a) 前処理
試験及び測定に先立ち、供試コンデンサを 30 分以上測定温度に保ち、放電させてお
く。
b) 強制乾燥
試験及び測定に先立ち、特に規定がない限り、表 A-10 によって乾燥を行う。
表 A-10 乾燥条件
温
度
55℃±2℃
相対湿度
20%以下
気
圧
大気圧
保持時間
6 時間±0.5 時間
A.4.4.3 非破壊内部検査
超音波探傷装置、又はコンデンサが A.3.3 項の要求を満足していることを確認できる非破
壊の内部検査方法によって検査する。検査方法は品質保証プログラム計画書に明記し、3.2.1
項に従って JAXA の審査を受けなければならない。
A.4.4.4 外観、寸法、表示など
A.3.4 項に規定された外観、構造、寸法、質量及び表示について試験する。ただし、質量
は、認定試験及びグループ C 試験に先立って実施するグループ A 試験においてのみ行う。
A.4.4.5 ワークマンシップ
A.4.4.5.1 DPA
コンデンサを分解して、内部構造及び溶接、はんだ付けなどの工程が確実に実施されて
いることを確認するもので、品質保証プログラム計画書の DPA マニュアルに従って実施
しなければならない。
- A-17 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
A.4.4.6 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験は、次の方法による。
A.4.4.6.1 電圧エージング
次の条件で試験しなければならない。
a) 電圧エージング条件
1) 温度：最高使用温度+4
0℃
2) 印加時間：100 時間±4 時間
3) 印加電圧：定格電圧の 200%
b) 電気的特性測定条件
1) 絶縁抵抗(1)
1.1) 最高使用温度において、A.4.4.6.5 項による。
1.2) 標準状態において、A.4.4.6.5 項による。
2) 誘電正接
A.4.4.6.3 項による。
3) 静電容量
A.4.4.6.2 項による。
注(1) 最高使用温度における絶縁抵抗の測定は、電圧エージングに続けて実施
する。この際、同じ温度で維持されている他の槽に移し換えてもよい。
ただし、移し換えの時間は 15 分を超えてはならない。
A.4.4.6.2 静電容量
MIL-STD-202 の試験方法 305 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数
1) 公称静電容量が 1,000pF 以下のとき：1MHz±100kHz
2) 公称静電容量が 1,000pF を超えるとき：1kHz±100Hz
b) 測定電圧：1.0Vrms±0.2Vrms
A.4.4.6.3 誘電正接
ブリッジか他の適当な装置によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数：A.4.4.6.2 項 a)
b) 測定電圧：A.4.4.6.2 項 b)
A.4.4.6.4 耐電圧
MIL-STD-202 の試験方法 301 によって試験する。試験は、次の 2 項目について行う。
a) 端子間
次の条件を適用する。
1) 試験電圧：個別仕様書に規定がない場合は、定格電圧の 300%
2) 印加時間：5 秒±1 秒
- A-18 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
3) 充放電電流：50mA 以下
b) 端子－外装間
次の条件を適用する。
1) 試験電圧：個別仕様書に規定がない場合は、定格電圧の 150%
2) 印加時間：5 秒±1 秒
3) 充放電電流：50mA 以下
A.4.4.6.5 絶縁抵抗
MIL-STD-202 の試験方法 302 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件
1) 試験電圧：定格電圧
2) 充放電電流：50mA 以下
3) 充電時間：120+10
0秒
b) 測定点：端子間
c) 試験温度
個別仕様書に規定がない場合は、標準状態で測定を行う。
d) 特別な条件
50%を超える相対湿度で判定に疑義が生ずる場合は、50%以下の相対湿度で再度
測定してもよい。
A.4.4.6.6 温度係数及び静電容量のずれ
a) 温度係数
静電容量の測定は A.4.4.6.2 項に規定された方法で行い、測定の順序及び供試体の
温度は表 A-11 による。
b) 静電容量のずれ
静電容量のずれは、25℃で記録される 3 つの値のうち、いずれか 2 つの最大の差
を基準温度の静電容量で割って計算する。
- A-19 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 A-11 静電容量測定温度及び順序
順
注(1)
2
()
備考 1.
序
温
度 (℃)
1
25
2
-55
3
-40
4
-10
5
25
6
45
7
65
8
85
9
105
10
125
11
25
0
-2
0
-2
0
-2
0
-2
0 1
-2 ( )
+2
0
+2
0
+2
0
+2 2
0 ( )
+2 2
0 ( )
0
-2
温度係数計算の際の基準温度として使用する。
最高使用温度が 125℃のコンデンサのみに適用する。
各温度における測定は、その温度で 5 分間隔で連続して測定した 2 つの値が
変化を示さないとき、これを記録するものとする。
備考 2.
静電容量が 20pF 以下で、温度係数許容差が図 A-3 に示された曲線より下の
領域にあるコンデンサは、実質上特性の測定が不可能であるため、曲線上又
はそれより上の領域で表されるコンデンサの試験で置き換えることができ
る。この場合、試験試料が曲線より下の領域にあるコンデンサと同一の材料
で製作されたものであることを立証しなければならない。
- A-20 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
図 A-3 特性の測定を行える静電容量の限度
- A-21 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
A.4.4.7 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験は、次の方法による。
A.4.4.7.1 端子強度
MIL-STD-202 の試験方法 211 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 端子引張り強さ
1) 試験条件：A
2) 荷重：10N
3) 荷重の加え方
本体を固定し、片方の端子に徐々に荷重を加える。
b) リード線曲げ強さ
1) 試験条件：C
2) 荷重：10N
A.4.4.7.2 はんだ付け性
MIL-STD-202 の試験方法 208 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験する端子の数：すべて
b) はんだの温度：230℃±5℃
c) 浸せき時間：5 秒±0.5 秒
d) 浸せき深さ：端子の根元から約 2mm
A.4.4.7.3 はんだ耐熱性
MIL-STD-202 の試験方法 210 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 浸せき深さ
コンデンサの外周又は外縁の最下線から 1.0mm 以内の深さまで、リード線端子を
溶融したはんだの中に浸す。
b) はんだの温度：270℃±5℃
c) 浸せき時間：10 秒±1 秒
d) 浸せき後から測定までの冷却時間：10 分±1 分
e) 試験後の測定
絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接をそれぞれ A.4.4.6.5 項、A.4.4.6.2 項及び
A.4.4.6.3 項に規定されたとおりに測定する。
A.4.4.8 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験は、次の方法による。
A.4.4.8.1 耐振性
A.4.4.8.1.1 高周波振動
MIL-STD-202 の試験方法 204 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
- A-22 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
a) 取付方法
個別仕様書に規定がない場合は、コンデンサ本体を取付台に固く取り付ける。
リードも支持端子に固くしっかりととめる。このとき、コンデンサの外周（又は
外縁）から支持端子の端までのリードの長さが、およそ 1cm となるように取り付
ける。リード線を取り付けるときに、リード表面を損傷させないこと。そのため、
はんだ付けによる方法が好ましい。取付台は、指定の試験周波数範囲内で共振を
起こさないように作られていなければならない。
b) 電圧負荷条件
個別仕様書に規定がない場合は、試験中、定格電圧の 125%をコンデンサの端
子間に印加する。
c) 試験条件：D［196m/s2 p-p 又は全振幅 1.5mm のいずれか小さい方］
d) 振動の方向と時間
個別仕様書に規定がない場合は、3 軸方向に各々等しい時間加振する。周波数
掃引は、各軸について 1 往復 20 分間で 8 往復繰り返す（合計 8 時間）
。
e) 試験中の測定
各方向において、断続的な接触や断線の有無を調べる。検出器は、0.5ms 以上
の不連続を検出する感度を有すること。
f) 試験後の検査及び測定
目視により機械的損傷の有無及び表示の判読可否を調べる。また、静電容量、
誘電正接、耐電圧及び絶縁抵抗をそれぞれ A.4.4.6.2 項、A.4.4.6.3 項、A.4.4.6.4
項 a)及び A.4.4.6.5 項に規定されたとおりに測定する。
A.4.4.8.1.2 ランダム振動
MIL-STD-202 の試験方法 214 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
コンデンサの本体が動かないように取り付けること。取付方法は、取付治具を
用いるか、直接振動台に取り付けてもよい。コンデンサ本体の固定には、樹脂な
どを用いてもよい。
b) 試験条件：Ⅱ-H［20～2,000Hz、334m/s2 rms］
c) 振動方向：互いに直角をなす 3 方向
d) 試験時間：各方向に 3 分間
e) 試験中の測定
各方向において、断続的な接触や断線の有無を調べる。検出器は、0.5ms 以上
の不連続を検出する感度を有すること。
f) 試験後の検査及び測定
目視により機械的損傷の有無及び表示の判読可否を調べる。また、静電容量、
誘電正接、耐電圧及び絶縁抵抗をそれぞれ A.4.4.6.2 項、A.4.4.6.3 項、A.4.4.6.4
項 a)及び A.4.4.6.5 項に規定されたとおりに測定する。
- A-23 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
A.4.4.8.2 衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 213 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
本体及びリード（本体より約 10mm）を固定する。
b) 試験条件：I［980m/s2、6ms、のこぎり波］
c) 衝撃方向：3 軸方向
d) 試験中の測定
各方向の最終サイクルの間に、0.5ms 以上の電気的な不連続の有無を調べる。検
出器は、0.5ms 以上の不連続を検出する感度を有すること。
e) 試験後の検査
目視により機械的損傷の有無を調べる。
A.4.4.8.3 熱衝撃（Ⅰ）
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B ただし、段階 1 は-30-30℃、段階 3 は 100+3
0 ℃とする。
b) サイクル数：1,000 サイクル
c) 測定及び検査
試験前、50±10、100±10、250±20、500±20 及び 1,000+10
0 サイクルにおいて、次
の電気的測定及び外観検査を行う。
1) 電気的測定
静電容量、誘電正接、耐電圧及び絶縁抵抗をそれぞれ A.4.4.6.2 項、A.4.4.6.3
項、A.4.4.6.4 項 a)及び A.4.4.6.5 項に規定されたとおりに測定する。
2) 外観検査
10 倍の拡大鏡で調べる。
A.4.4.8.4 熱衝撃及び浸せきサイクル
a) 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する
1) 試験条件：B（5 サイクル） ただし、段階 1 は-55-30℃、段階 3 は個別仕様書の
規定値+3
0 ℃とする。
2) 試験後の測定：適用しない。
b) 浸せきサイクル
熱衝撃に続いて、MIL-STD-202 の試験方法 104 によって試験する。ただし、次の
条件を適用する。
1) 試験前の測定：適用しない。
2) 試験条件：B（2 サイクル）
3) 最終サイクル後の検査及び測定
目視により機械的損傷の有無及び表示の判読可否を調べる。また、静電容量、
- A-24 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
誘電正接、耐電圧及び絶縁抵抗をそれぞれ A.4.4.6.2 項、A.4.4.6.3 項、A.4.4.6.4
項 a)及び A.4.4.6.5 項に規定されたとおりに測定する。
A.4.4.8.5 耐湿性
MIL-STD-202 の試験方法 106 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 初期測定：適用しない。
b) サイクル数：連続 20 サイクル
c) 負荷条件
最初の 10 サイクルの間だけ、直流 100Ｖ又は定格電圧のいずれか低い方の電圧を
コンデンサ端子の両端に印加する。また、1 日 1 回、コンデンサが短絡していない
かどうか確認する。
d) 試験後の検査及び測定
最終サイクルの段階 6 の直後に、目視により機械的損傷の有無及び表示の判読可
否を調べ、静電容量及び絶縁抵抗をそれぞれ A.4.4.6.2 項及び A.4.4.6.5 項に規定さ
れたとおりに測定する。
A.4.4.8.6 低電圧耐湿負荷
リード端子取付け前のチップ段階で、MIL-STD-202 の試験方法 103、条件 A によって
試験する。ただし、次の条件を適用する。
なお、試験中のいかなるときも、コンデンサに印加する電圧は 1.5V を超えてはならな
い。
a) 初期測定
A.4.4.6.2 項によって静電容量を測定する。
b) 試験
コンデンサを+85℃、85%RH の環境に最低 240 時間曝さなければならない。サイ
クルは行わない。試験中は、100kΩ の抵抗を通じて各コンデンサに連続的に 1.3+0.20
-0.25
V の直流電圧を印加しなければならない。
c) 最終測定
試験終了後、コンデンサを試験槽から取り出し、+25℃で 210 分±30 分間乾燥さ
せ安定させる。その後、絶縁抵抗を 100kΩ の抵抗器を通じて 1.3+0.20
-0.25 V の条件で
A.4.4.6.5 項に規定されたとおりに測定した後、静電容量を A.4.4.6.2 項に規定され
たとおりに測定する。
d) 外観検査
最終測定の後、目視により機械的損傷の形跡及び表示の判読可否を調べる。
A.4.4.8.7 減圧
MIL-STD-202 の試験方法 105 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
コンデンサを正常な取付方法で確実に固定する。
- A-25 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) 印加点：端子間
c) 減圧条件：2.8kPa±0.4kPa｛21.0mmHg±3mmHg｝
d) 印加電圧：個別仕様書に規定がない場合は、定格電圧の 150%
e) 印加時間：5 秒±1 秒
f) 充放電電流：50mA 以下
g) 試験中の測定
ショートが発生しないかモニタする。
h) 試験後の検査
目視により機械的損傷の有無を調べる。
A.4.4.8.8 耐溶剤性
MIL-STD-202 の試験方法 215 によって試験する。ただし、溶剤はイソプロピルアルコー
ルとする。
A.4.4.9 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験は、次の方法による。
A.4.4.9.1 寿命
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験温度：個別仕様書に規定された最高使用温度+4
0℃
b) 印加電圧
1) 定格条件：定格電圧
2) 加速条件：定格電圧の 200%
c) 充放電電流：50mA 以下
d) 電圧印加時間
1) 定格条件：4,000+72
0 時間
2) 加速条件：2,000+72
0 時間
e) 試験中及び試験後の検査及び測定
+72
試験中、ショートが発生しないかモニタする。また、250±8、1,000+48
0 、2,000 0
及び 4,000+72
0 時間後に、目視により機械的損傷の有無及び表示の判読可否を調べ、
静電容量、誘電正接及び絶縁抵抗をそれぞれ A.4.4.6.2 項、A.4.4.6.3 項及び A.4.4.6.5
項に規定されたとおりに測定する。
A.4.5 長期保管
4.7.1 項によって長期保管されたコンデンサは、次の試験を全数行わなければならない。
a) 静電容量（A.3.7.2 項）
b) 誘電正接（A.3.7.3 項）
c) 耐電圧（A.3.7.4 項）
d) 絶縁抵抗（A.3.7.5 項）
- A-26 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
e) 外観・表示（A.3.4 項）
A.4.6 試験及び検査の変更
試験及び検査の変更は 4.8 項による。
A.5. 引渡しの準備
引渡しの準備は 5 項による。
A.6. 注意事項
注意事項は 6 項による。
- A-27 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 B
固定磁器コンデンサ
B.1. 総則 ....................................................................................................................................... B-1
B.1.1 適用範囲 .......................................................................................................................... B-1
B.1.2 区分.................................................................................................................................. B-1
B.1.3 部品番号 .......................................................................................................................... B-1
B.1.3.1 形式 ........................................................................................................................... B-1
B.1.3.2 特性 ........................................................................................................................... B-1
B.1.3.3 公称静電容量 ............................................................................................................ B-2
B.1.3.4 静電容量許容差 ......................................................................................................... B-2
B.2. 適用文書など ......................................................................................................................... B-3
B.2.1 適用文書 .......................................................................................................................... B-3
B.2.2 参考文書 .......................................................................................................................... B-3
B.3. 要求事項 ................................................................................................................................ B-3
B.3.1 認定の範囲....................................................................................................................... B-3
B.3.2 材料.................................................................................................................................. B-3
B.3.2.1 構造 ........................................................................................................................... B-3
B.3.3 非破壊内部検査 ............................................................................................................... B-3
B.3.4 外観、寸法、表示など .................................................................................................... B-4
B.3.4.1 外観及び表示 ............................................................................................................ B-4
B.3.4.2 寸法及び質量 ............................................................................................................ B-4
B.3.5 ワークマンシップ ............................................................................................................ B-4
B.3.5.1 DPA ............................................................................................................................ B-5
B.3.6 定格.................................................................................................................................. B-5
B.3.7 電気的性能....................................................................................................................... B-5
B.3.7.1 静電容量.................................................................................................................... B-5
B.3.7.2 誘電正接.................................................................................................................... B-5
B.3.7.3 耐電圧 ....................................................................................................................... B-5
B.3.7.4 絶縁抵抗.................................................................................................................... B-6
B.3.7.5 電圧－温度特性 ......................................................................................................... B-6
B.3.8 機械的性能....................................................................................................................... B-6
B.3.8.1 端子強度.................................................................................................................... B-6
B.3.8.2 はんだ付け性 ............................................................................................................ B-6
B.3.8.3 はんだ耐熱性 ............................................................................................................ B-7
B.3.9 環境的性能....................................................................................................................... B-7
B.3.9.1 耐振性 ....................................................................................................................... B-7
- B-i -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.3.9.2 衝撃 ........................................................................................................................... B-7
B.3.9.3 熱衝撃（Ⅰ） ............................................................................................................ B-7
B.3.9.4 熱衝撃及び電圧エージング ...................................................................................... B-8
B.3.9.5 浸せきサイクル ......................................................................................................... B-8
B.3.9.6 耐湿性 ....................................................................................................................... B-8
B.3.9.7 低電圧耐湿負荷 ......................................................................................................... B-8
B.3.9.8 減圧 ........................................................................................................................... B-9
B.3.9.9 耐溶剤性.................................................................................................................... B-9
B.3.10 耐久的性能..................................................................................................................... B-9
B.3.10.1 寿命 ......................................................................................................................... B-9
B.4. 品質保証条項 ......................................................................................................................... B-9
B.4.1 工程内検査....................................................................................................................... B-9
B.4.2 認定試験 ........................................................................................................................ B-10
B.4.2.1 試料 ......................................................................................................................... B-10
B.4.2.2 試験項目及び試料数 ............................................................................................... B-10
B.4.3 品質確認試験 ................................................................................................................. B-12
B.4.3.1 試料 ......................................................................................................................... B-12
B.4.3.2 試験項目及び試料数 ............................................................................................... B-12
B.4.3.3 試験後の処置 .......................................................................................................... B-12
B.4.4 試験方法 ........................................................................................................................ B-13
B.4.4.1 試験条件.................................................................................................................. B-13
B.4.4.2 試験の処理 .............................................................................................................. B-14
B.4.4.3 非破壊内部検査 ....................................................................................................... B-14
B.4.4.4 外観、寸法、表示など ............................................................................................ B-14
B.4.4.5 ワークマンシップ ................................................................................................... B-14
B.4.4.6 電気的性能 .............................................................................................................. B-15
B.4.4.7 機械的性能 .............................................................................................................. B-16
B.4.4.8 環境的性能 .............................................................................................................. B-17
B.4.4.9 耐久的性能 .............................................................................................................. B-21
B.4.5 長期保管 ........................................................................................................................ B-22
B.4.6 試験及び検査の変更 ...................................................................................................... B-22
B.5. 引渡しの準備 ....................................................................................................................... B-22
B.6. 注意事項 .............................................................................................................................. B-22
- B-ii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 B
固定磁器コンデンサ
B.1. 総則
B.1.1 適用範囲
この付則は、コンデンサのうち、固定磁器コンデンサ（以下、
「コンデンサ」という）に適
用し、それらの要求事項、品質保証条項などを規定する。
B.1.2 区分
コンデンサの区分は表 B-1 による。
表 B-1 区
構
分
造
形
式
CKS05
非金属ケース、端子同一方向
CKS06
B.1.3 部品番号
コンデンサの部品番号は次の例のように表す。詳細は個別仕様書による。
例 NASDA(1)
CKS05
形
式
（B.1.3.1 項）
BX
特
性
（B.1.3.2 項）
100
K
公称静電
静電容量
容
許 容 差
量
（B.1.3.3 項）
（B.1.3.4 項）
1
注( ) “NASDA”は、宇宙開発用共通部品等であることを示す。
“N”と省略できる。
B.1.3.1 形式
形式は、
“CKS”と 2 数字で表す。
“CKS”は信頼性保証固定磁器コンデンサを示し、これ
に続く 2 数字はコンデンサの大きさを表す。
B.1.3.2 特性
特性は 2 英大文字で表す。最初の英大文字は表 B-2 に示すように使用温度範囲を表し、第
2 の英大文字は表 B-3 に示すように電圧－温度特性を表す。
- B-1 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 B-2 使用温度範囲
単位 ℃
記
号
温度範囲
A
-55 ～ +085
B
-55 ～ +125
表 B-3 電圧－温度特性
単位 %
温度 25℃に対する静電容量変化
記号
W
X
Y
R
表 B-11 の段階 A から D まで
表 B-11 の段階 E から G まで
電圧印加なし
定格電圧を印加
+22
+22
-56
-60
A
+15
±15
A、B
-25
+30
+30
-70
-80
A
+15
±15
使用温度範囲
B
-40
B.1.3.3 公称静電容量
公称静電容量は 3 桁の数字で表し、ピコファラド（pF）を単位とする。最初の 2 数字は有
効数字を表し、最後の数字はこれに続く零（0）の数を表す。
例
102：1,000pF
B.1.3.4 静電容量許容差
静電容量許容差は、表 B-4 のとおり 1 英大文字で表す。
表 B-4 静電容量許容差
単位 %
記
号
静電容量許容差
J
±05
K
±10
M
±20
+80
Z
-20
- B-2 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.2. 適用文書など
B.2.1 適用文書
この付則の適用文書は 2.1 項による。
B.2.2 参考文書
次の文書は、この付則の参考文書とする。
a) MIL-PRF-39014
Capacitor, Fixed Ceramic Dielectric (General Purpose),
Established Reliability and Non-Established Reliability,
General Specification For
B.3. 要求事項
B.3.1 認定の範囲
認定されるコンデンサの範囲は、この仕様書の B.3.2 項から B.3.10 項に規定された材料、設
計、構造、定格及び性能を満足するコンデンサの製造ラインを用いて製造される製品群で、認
定試験に合格した試料で代表される範囲のものとする。したがって、この認定の範囲内におい
て個別仕様書で規定する個々の製品を供給することができる。
なお、より詳細な認定の範囲の規定が必要な場合は、個別仕様書に規定する。
B.3.2 材料
コンデンサに使用する材料は 3.3 項によるほか、次による。
B.3.2.1 構造
コンデンサの構造は次によるほか、個別仕様書による。
a) コンデンサ素子
磁器誘電体を用いること。
b) リード端子
コンデンサの端子は、容易にはんだ付けできるように適切な処理が施されているも
のを用いなければならない。
c) ケース及び充てん材料
コンデンサのケース及び充てん材料は、最高使用温度に耐え、耐湿性及び電気的絶
縁性を維持できるものでなければならない。また、コンデンサの性能に影響するもの
であってはならない。
B.3.3 非破壊内部検査
端子の仕上げ前に、すべてのコンデンサを超音波探傷検査、又は品質保証プログラムで規定
した非破壊の内部検査に供さなければならない。B.4.4.3 項によって試験したとき、デラミネー
ション、ボイド、クラックなど、欠陥の応答を示すコンデンサがあってはならない。
- B-3 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.3.4 外観、寸法、表示など
B.4.4.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
B.3.4.1 外観及び表示
コンデンサの表面には割れ、欠けなどがあってはならない。また、表示は少なくとも次の
項目を含み、容易に消えない方法でなされていなければならない。
a) 部品番号
b) ロット識別記号
c) 認定取得業者名又はその略号（表示できる場合のみ）
B.3.4.2 寸法及び質量
コンデンサの寸法及び質量は、個別仕様書による。
B.3.5 ワークマンシップ
コンデンサは良好な設計に基づいて、この仕様書の 3.2.1 項で設定された品質保証プログラ
ムに従って製造されていなければならない。
コンデンサの本体にはひび割れ、ピンホール、傷など、電気的又は機械的性能に影響する欠
陥があってはならない。また、リード端子にも折損、つぶれ、その他の傷などがあってはなら
ない。
a) はんだ付け
はんだ付けは、機械的強度を得るための手段として使用してはならない。また、過剰
なフラックス及びはんだは取り除かれていなければならない。
電気的接続を目的とするはんだ付けの場合は、あらかじめ機械的に接続されているこ
とが望ましく、かつ、はんだ付けの後は電気的にも完全な接続でなければならない。
はんだ付けに際して、一切の酸又は酸性塩を使用してはならない。ただし、電気的接
続部分の予備すず引きには用いてもよい。
電気回路の形成を目的としない機械的結合部のすず引き又ははんだ引きには、酸又は
酸性塩を用いてもよい。
事後処理によって完全に除去されるものでない限り、絶縁材料に近接して酸又は酸性
塩を使用してはならない。
酸又は酸性塩の使用が許容される場合においても、はんだ付けの後、速やかに完全な
る中和、洗浄などの処理が施されなければならない。
b) 仕上げ
コンデンサの仕上げは、ケース表面にはげ落ち、割れ、腐食などの痕跡を生ずるもの
であってはならない。
c) 端子と封口
すべての端子部分及び封口部分に、グリース、その他の異物の付着などがあってはな
らない。
- B-4 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) はんだ仕上げ
不十分な加熱による突起、粗い面などがあってはならない。はんだ付けは、必要最少
量のフラックス及びはんだで行われなければならない。過剰なフラックスを取り除くと
きには、コンデンサを傷つけるおそれのある方法を用いてはならない。また、分散した
フラックス粒子、ブラシの毛又は他の異物をコンデンサ内部又は表面に残したりしては
ならない。
はんだ付けの熱によって絶縁物が損傷を受けたり、固定されている部品がゆるんだり
してはならない。
B.3.5.1 DPA
B.4.4.5.1 項によって試験したとき、コンデンサは個別仕様書の要求を満足しなければなら
ない。
B.3.6 定格
次の事項を個別仕様書で定めなければならない。
a) 公称静電容量
b) 特性
c) 定格電圧
d) 使用温度範囲
B.3.7 電気的性能
コンデンサは次の電気的性能を満足しなければならない。
B.3.7.1 静電容量
B.4.4.6.1 項によって試験したとき、静電容量は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
B.3.7.2 誘電正接
B.4.4.6.2 項によって試験したとき、誘電正接は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
B.3.7.3 耐電圧
B.4.4.6.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 端子間
損傷や絶縁破壊がないこと。
b) 端子と外装間
損傷や絶縁破壊がないこと。
- B-5 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.3.7.4 絶縁抵抗
B.4.4.6.4 項によって試験したとき、絶縁抵抗は図 B-1 に規定された値以上でなければなら
ない。
図 B-1 静電容量 対 絶縁抵抗
B.3.7.5 電圧－温度特性
B.4.4.6.5 項に規定された電圧－温度サイクル（表 B-11）の条件で試験したとき、静電容
量の変化は表 B-3 に規定された限界を超えてはならない。
B.3.8 機械的性能
コンデンサは次の機械的性能を満足しなければならない。
B.3.8.1 端子強度
B.4.4.7.1 項によって試験したとき、端子に切断、ゆるみ、抜けなどがあってはならない。
B.3.8.2 はんだ付け性
B.4.4.7.2 項によって試験したとき、端子の表面は、新しい滑らかなはんだの被膜で少なく
とも 95%は覆われていなければならない。はんだの表面には小さいピンホール、又は粗い点
に限ってはんだで覆われていない部分があってもよいが、これらは集中していてはならない。
また、その面積の合計は 5%未満でなければならない。
- B-6 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.3.8.3 はんだ耐熱性
B.4.4.7.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 絶縁抵抗
個別仕様書の規定を満足すること。
b) 静電容量
試験前の測定値より 5%以上の変化があってはならない。
c) 誘電正接
2.5%を超えてはならない。
B.3.9 環境的性能
コンデンサは次の環境的性能を満足しなければならない。
B.3.9.1 耐振性
B.3.9.1.1 高周波振動
B.4.4.8.1.1 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、断線などがあってはな
らない。また、機械的損傷や破壊があってはならない。
B.3.9.1.2 ランダム振動
B.4.4.8.1.2 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、断線などがあってはな
らない。また、機械的損傷や破壊があってはならない。
B.3.9.2 衝撃
B.4.4.8.2 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、断線などがあってはならな
い。また、機械的損傷や破壊があってはならない。
B.3.9.3 熱衝撃（Ⅰ）
B.4.4.8.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
著しい異常がないこと。また、表示を判読できること。
b) 耐電圧（端子間）
機械的損傷や絶縁破壊がないこと。
c) 絶縁抵抗
個別仕様書の規定を満足すること。
d) 静電容量
B.3.7.1 項による。
- B-7 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.3.9.4 熱衝撃及び電圧エージング
B.4.4.8.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 絶縁抵抗
1) 最高使用温度において、図 B-1 の値以上であること。
2) 標準状態において、図 B-1 の値以上であること。
b) 誘電正接
個別仕様書の規定を満足すること。
c) 静電容量
個別仕様書の規定を満足すること。
B.3.9.5 浸せきサイクル
B.4.4.8.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 耐電圧（端子間）
機械的損傷や絶縁破壊がないこと。
c) 絶縁抵抗
標準状態において測定したとき、図 B-1 の値以上であること。
B.3.9.6 耐湿性
B.4.4.8.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 耐電圧（端子間）
機械的損傷や絶縁破壊がないこと。
c) 絶縁抵抗
個別仕様書の規定を満足すること。
d) 静電容量
B.3.7.1 項による。
B.3.9.7 低電圧耐湿負荷
B.4.4.8.7 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 絶縁抵抗（+25℃）
B.3.7.4 項の要求を満足すること。
c) 静電容量変化
初期測定値の±10%以内
- B-8 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.3.9.8 減圧
B.4.4.8.8 項によって試験したとき、試験中及び試験後に短絡や機械的損傷があってはなら
ない。
B.3.9.9 耐溶剤性
B.4.4.8.9 項によって試験したとき、表示を判読できなければならない。
B.3.10 耐久的性能
コンデンサは次の耐久的性能を満足しなければならない。
B.3.10.1 寿命
B.4.4.9.1 項によって試験したとき、試験中及び試験後に短絡や機械的損傷があってはなら
ない。また、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 絶縁抵抗
1) 最高使用温度において、図 B-1 の値以上であること。
2) 標準状態において、図 B-1 の値以上であること。
c) 静電容量
個別仕様書の規定を満足すること。
d) 誘電正接
個別仕様書の規定を満足すること。
B.4. 品質保証条項
B.4.1 工程内検査
コンデンサの製造ロットごとに表 B-5 に規定された工程内検査を実施しなければならない。
なお、業者の選択により 4.3 項に従い、表 B-5 に規定する以外の工程内検査を実施してもよ
い。
表 B-5 工程内検査
項目
番号
試験項目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
非破壊内部検査
B.3.3
B.4.4.3
2
低電圧耐湿負荷(1)
B.3.9.7
B.4.4.8.7
試料数
全数
12
注(1) 磁器誘電体の厚さが 30μm（公称）を超える場合、又は各層が 2 枚以上の誘
電体素子で構成されている場合は、適用しない。詳細は個別仕様書による。
- B-9 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.4.2 認定試験
認定試験は 4.4 項によるほか、次による。
B.4.2.1 試料
認定試験の検査ロットは、工程内検査に合格した検査ロットから抜き取った試料で構成し
なければならない。試料は、形式、特性及び定格電圧が同じものを 1 つの組合せとして、そ
の中で公称静電容量が最大で静電容量許容差が最小のものを選定する。
B.4.2.2 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目及び試料数は表 B-6 による。Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ群の試験を行った後、Ⅳ群以
下の各群に試料を分けて試験を行う。ただし、Ⅳ群以下の試験は群番号の順に行わなくても
よい。各群内の試験項目は上から順に行う。
- B-10 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 B-6 認定試験
試
験
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数(1)
全数
0
全数(2)
1
順序
Ⅰ
1
熱衝撃及び電圧エージング
B.3.9.4
B.4.4.8.4
Ⅱ
1
外観、寸法、表示など
B.3.4
B.4.4.4
1
静電容量
B.3.7.1
B.4.4.6.1
2
誘電正接
B.3.7.2
B.4.4.6.2
3
耐電圧
B.3.7.3
B.4.4.6.3
4
減圧
B.3.9.8
B.4.4.8.8
5
絶縁抵抗
B.3.7.4
B.4.4.6.4
1
はんだ付け性
B.3.8.2
B.4.4.7.2
1
電圧－温度特性
B.3.7.5
B.4.4.6.5
2
高周波振動
B.3.9.1.1
B.4.4.8.1.1
3
浸せきサイクル
B.3.9.5
B.4.4.8.5
1
衝撃
B.3.9.2
B.4.4.8.2
2
端子強度
B.3.8.1
B.4.4.7.1
3
耐湿性
B.3.9.6
B.4.4.8.6
1
はんだ耐熱性
B.3.8.3
B.4.4.7.3
2
耐溶剤性
B.3.9.9
B.4.4.8.9
寿命
定格条件
1
B.3.10.1
B.4.4.9.1
159
0
加速条件
B.3.10.1
B.4.4.9.1
52
0
Ⅸ
1
DPA
B.3.5.1
B.4.4.5.1
2
0
Ⅹ
1
ランダム振動
B.3.9.1.2
B.4.4.8.1.2
6
0
ⅩⅠ
1
熱衝撃（Ⅰ）
B.3.9.3
B.4.4.8.3
12
Ⅲ
Ⅳ
Ⅴ
Ⅵ
Ⅶ
Ⅷ
－
注(1)
1
目
試験方法
群
(3)
項
要求事項
材料
B.3.2
－
(4)
1
280
6
1
18
1
1(5)
18
1
6
1
0
6
()
1 個の試料が同じ試験群に属する試験項目の二つ以上の項目で不合格であっても、不良数
は 1 個と数える。
2
()
寸法については、JIS Z 9015-1 付表 2-A なみ検査の 1 回抜取方式による合格品質水準
（AQL）1.0%で検査を行ってもよい。
3
()
非破壊試験である。
(4)
Ⅲ群で許容される不良のための交換として許される 1 個の試料は、280 個の試料の
中に含まれる。
(5)
6
()
Ⅳ群からⅦ群の試験を通じて、許容不良数の合計は 1 個とする。
設計仕様を満足していることを証明する資料を提出すること。
- B-11 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.4.3 品質確認試験
品質確認試験は 4.5 項によるほか、次による。
B.4.3.1 試料
グループ A 試験の検査ロットの構成は、4.5.1.1 項による。
グループ B 試験及びグループ C 試験は、形式、特性及び定格電圧の組合せごとに実施し、
検査ロットの構成は 4.5.2.1 項による。
同一時期にグループ A 試験に供した組合せの中にロッ
トが複数ある場合は、その中で公称静電容量が最大で静電容量許容差が最小のロットから試
料を抜き取って構成しなければならない。
B.4.3.2 試験項目及び試料数
品質確認試験の試験項目及び試料数は、グループ A 試験を表 B-7 に、グループ B 試験を
表 B-8 に、グループ C 試験を表 B-9 に示す。グループ A 試験は群番号の順に実施する。各
群内の試験項目は順序番号の順に行う。
B.4.3.3 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
ただし、A1 群の順序 2 及び／又は順序 3 が不合格となったときには、不合格となった項目
について全数試験を行い、良品のみを出荷することができる。
表 B-7 品質確認試験（グループ A）
試
群
順序
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
全数
0
熱衝撃及び電圧エージング
B.3.9.4
B.4.4.8.4
（絶縁抵抗）
(B.3.7.4)
(B.4.4.6.4)
（誘電正接）
(B.3.7.2)
(B.4.4.6.2)
（静電容量）
(B.3.7.1)
(B.4.4.6.1)
2
外観、寸法、表示など
B.3.4
B.4.4.4
AQL(1) 1.00%
3
耐電圧
B.3.7.3 a)
B.4.4.6.3 a)
AQL(1) 0.65%
2
DPA
B.3.5.1
B.4.4.5.1
2
1
A1
A2
験
0
注(1) AQL は、JIS Z 9015-1 の付表 2-A に規定された「なみ検査の 1 回抜取方式」の合格品質水
準を示す。
- B-12 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
表 B-8 品質確認試験（グループ B）
試
験
目
試験方法
項目番号
項目番号
群
順序
B1
1
はんだ付け性
B.3.8.2
B.4.4.7.2
1
はんだ耐熱性
B.3.8.3
B.4.4.7.3
2
耐溶剤性
B.3.9.9
B.4.4.8.9
B2
項
要求事項
合 否 判 定
試料数
許容不良数
6
0
8
0
表 B-9 品質確認試験（グループ C）
試
験
項目番号
項目番号
順序
C1
1
減圧
B.3.9.8
B.4.4.8.8
1
電圧－温度特性
B.3.7.5
B.4.4.6.5
2
高周波振動
B.3.9.1.1
B.4.4.8.1.1
3
浸せきサイクル
B.3.9.5
B.4.4.8.5
1
衝撃
B.3.9.2
B.4.4.8.2
2
端子強度
B.3.8.1
B.4.4.7.1
3
耐湿性
B.3.9.6
B.4.4.8.6
C4
1
寿命（加速条件）
B.3.10.1
C5
1
ランダム振動
C6
1
熱衝撃（Ⅰ）
C3
目
試験方法
群
C2
項
要求事項
合 否 判 定
試料数
許容不良数
6
0
18
0
18
0
B.4.4.9.1
12
0
B.3.9.1.2
B.4.4.8.1.2
6
0
B.3.9.3
B.4.4.8.3
6
0
B.4.4 試験方法
B.4.4.1 試験条件
MIL-STD-202 の 4 項による。ただし、次の条件を適用する。
a) 標準状態
標準状態とは、温度 25℃±3℃、相対湿度 25%～75%、気圧 86kPa～106kPa の環境
条件をいう。試験及び測定は、特に規定がない限り標準状態で行う。再現性のある結
果を得るためにこれらの条件を厳密に管理しなければならないときには、b)の判定状
態を適用する。換算を必要とする場合は、c)の基準状態を用いる。
なお、判定に疑義を生じなければ、標準状態以外で試験及び測定を行ってもよい。
b) 判定状態
判定状態は、温度 25 -20℃、相対湿度 50±2%、気圧 86kPa～106kPa とする。
c) 基準状態
基準状態は、温度 25℃、相対湿度 50%、気圧 101.3kPa とする。
d) 基準測定
エージング前後の測定値を比較する場合は、エージングに先立ち 25±3℃で測定され
- B-13 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
た値を基準値とする。この基準値が試験開始時点から 30 日以前に測定された場合には、
再測定を行い、これを基準値としなければならない。
e) 試験電圧の測定精度は、規定された電圧の±3.0%以内でなければならない。
f) 寿命試験に用いる電源電圧の変動は、規定された試験電圧の±3%以内でなければなら
ない。
B.4.4.2 試験の処理
必要がある場合は、次の処理を行う。
a) 前処理
試験及び測定に先立ち、供試コンデンサを 30 分以上測定温度に保ち、放電させてお
く。
b) 強制乾燥
試験及び測定に先立ち、特に規定がない限り、表 B-10 によって乾燥を行う。
c) 熱処理
静電容量の測定において判定に疑義を生じた場合は、その他の電気的特性を測定し
た後に、コンデンサを 150℃で 1 時間加熱し、標準状態で 24 時間以上 48 時間以内放
置してから再度測定を行ってもよい。
表 B-10 乾燥条件
温
度
55℃±2℃
相対湿度
20%以下
気
圧
大気圧
保持時間
6 時間±0.5 時間
B.4.4.3 非破壊内部検査
超音波探傷装置、又はコンデンサが B.3.3 項の要求を満足していることを確認できる非破
壊の内部検査方法によって検査する。検査方法は品質保証プログラム計画書に明記し、3.2.1
項に従って JAXA の審査を受けなければならない。
B.4.4.4 外観、寸法、表示など
B.3.4 項に規定された外観、構造、寸法、質量及び表示について試験する。ただし、質量
は、認定試験及びグループ C 試験に先立って実施するグループ A 試験においてのみ行う。
B.4.4.5 ワークマンシップ
B.4.4.5.1 DPA
コンデンサを分解して、内部構造及び溶接、はんだ付けなどの工程が確実に実施されて
いることを確認するもので、品質保証プログラム計画書の DPA マニュアルに従って実施
しなければならない。
- B-14 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.4.4.6 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験は、次の方法による。
B.4.4.6.1 静電容量
MIL-STD-202 の試験方法 305 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数
1) 公称静電容量が 100pF 未満のとき：1MHz±100kHz
2) 公称静電容量が 100pF 以上のとき：1kHz±100Hz
b) 測定電圧：1.0Vrms±0.2Vrms
B.4.4.6.2 誘電正接
ブリッジか他の適当な装置によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数：B.4.4.6.1 項 a)
b) 測定電圧：B.4.4.6.1 項 b)
B.4.4.6.3 耐電圧
MIL-STD-202 の試験方法 301 によって試験する。試験は、次の 2 項目について行う。
a) 端子間
次の条件を適用する。
1) 試験電圧：個別仕様書に規定がない場合は、定格電圧の 250%
2) 印加時間：5 秒±1 秒
3) 充放電電流：50mA 以下
b) 端子－外装間
次の条件を適用する。
1) 試験電圧：個別仕様書に規定がない場合は、定格電圧の 150%
2) 印加時間：5 秒±1 秒
3) 充放電電流：50mA 以下
B.4.4.6.4 絶縁抵抗
MIL-STD-202 の試験方法 302 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件
1) 試験電圧：定格電圧
2) 充放電電流：50mA 以下
3) 充電時間：120+100 秒
b) 測定点：端子間
c) 試験の温度
個別仕様書に規定がない場合は、標準状態で測定を行う。
- B-15 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 特別な条件
50%を超える相対湿度で判定に疑義が生ずる場合は、50%以下の相対湿度で再度
測定してもよい。
B.4.4.6.5 電圧－温度特性
電圧－温度特性は、次の条件を適用する。
a) 認定試験の場合
温度を表 B-11 に規定されているとおりに変える。静電容量は B.4.4.6.1 項に従っ
て測定する。表 B-11 に規定されているように、定格電圧を段階 E から G までコン
デンサに印加する。
静電容量の測定は、表 B-11 に規定された各段階で行う。特性曲線を設定するため
には、段階 B と G との間に指定された温度で行う。測定は、各段階で温度平衡に達
した後に行うこと。段階 C における静電容量値を基準値とする。
b) 品質確認試験の場合
表 B-11 の段階 C、D、E、F、G についてのみ行う。その他は a)に規定されたと
おりとする。
表 B-11 電圧－温度サイクル
段階記号
印加直流電圧
温度(℃)
A
なし
25 ±2
B
なし
-55 ±2
(1)C(1)
なし
25 ±2
D
なし
最高使用温度 ±2
E
定格電圧
最高使用温度 ±2
F
定格電圧
25 ±2
G
定格電圧
-55 ±2
注(1) 基準値とする。
B.4.4.7 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験は、次の方法による。
B.4.4.7.1 端子強度
MIL-STD-202 の試験方法 211 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 端子引張り強さ
1) 試験条件：A
2) 荷重：10N
3) 荷重の加え方
本体を固定し、片方の端子に徐々に荷重を加える。
- B-16 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) リード線曲げ強さ
1) 試験条件：C
2) 荷重：10N
B.4.4.7.2 はんだ付け性
MIL-STD-202 の試験方法 208 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験する端子の数：すべて
b) はんだの温度：230℃±5℃
c) 浸せき時間：5 秒±0.5 秒
d) 浸せき深さ：端子の根元から約 2mm
B.4.4.7.3 はんだ耐熱性
MIL-STD-202 の試験方法 210 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 浸せき深さ
コンデンサの外周又は外縁の最下線から 1.0mm 以内の深さまで、リード線端子を
溶融したはんだの中に浸す。
b) はんだの温度：270℃±5℃
c) 浸せき時間：10 秒±1 秒
d) 試験後から測定までの冷却時間：10 分±1 分
e) 試験後の測定
絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接をそれぞれ B.4.4.6.4 項、B.4.4.6.1 項及び
B.4.4.6.2 項に規定されたとおりに測定する。
B.4.4.8 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験は、次の方法による。
B.4.4.8.1 耐振性
B.4.4.8.1.1 高周波振動
MIL-STD-202 の試験方法 204 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
個別仕様書に規定がない場合は、コンデンサ本体を取付台に固く取り付ける。
リードも支持端子に固くしっかりととめる。このとき、コンデンサの外周（又は
外縁）から支持端子の端までのリードの長さが、およそ 1cm となるように取り付
ける。リード線を取り付けるときに、リード表面を損傷させないこと。そのため、
はんだ付けによる方法が好ましい。取付台は、指定の試験周波数範囲内で共振を
起こさないように作られていなければならない。
b) 電圧負荷条件
個別仕様書に規定がない場合、試験中、定格電圧の 125%をコンデンサの端子
間に印加する。
- B-17 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
c) 試験条件：D［196m/s2 p-p 又は全振幅 1.5mm のいずれか小さい方］
d) 振動の方向と時間
個別仕様書に規定がない場合は、3 軸方向に各々等しい時間加振する。周波数
掃引は、各軸について 1 往復 20 分間で 8 往復繰り返す（合計 8 時間）
。
e) 試験中の測定
各方向の最終サイクルにおいて、0.5ms 以上の電気的不連続の有無を調べる。
検出器は、0.5ms 以上の不連続を検出する感度を有すること。
f) 試験後の検査
目視により機械的損傷の有無を調べる。
B.4.4.8.1.2 ランダム振動
MIL-STD-202 の試験方法 214 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
コンデンサの本体が動かないように取り付けること。取付方法は、取付治具を
用いるか、直接振動台に取り付けてもよい。コンデンサ本体の固定には、樹脂な
どを用いてもよい。
b) 試験条件：Ⅱ-H［20～2,000Hz、334m/s2 rms］
c) 振動方向：互いに直角をなす 3 方向
d) 試験時間：各方向に 3 分間
e) 試験中の測定
各方向において、断続的な接触や断線の有無を調べる。検出器は、0.5ms 以上
の不連続を検出する感度を有すること。
f) 試験後の検査
目視により機械的損傷の有無を調べる。
B.4.4.8.2 衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 213 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
本体及びリード（本体より約 10mm）を固定する。
b) 試験条件：I［980m/s2、6ms、のこぎり波］
c) 衝撃方向：3 軸方向
d) 試験中の測定
各方向の最終サイクルにおいて、0.5ms 以上の電気的不連続の有無を調べる。検
出器は、0.5ms 以上の不連続を検出する感度を有すること。
e) 試験後の検査
目視により機械的損傷の有無を調べる。
- B-18 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.4.4.8.3 熱衝撃（Ⅰ）
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B ただし、段階 1 は-30 -30℃、段階 3 は 100+30℃とする。
b) サイクル数：1,000 サイクル
c) 測定及び検査
試験前、50±10、100±10、250±20、500±20 及び 1,000+100 サイクルにおいて、次
の電気的測定及び外観検査を行う。
1) 電気的測定
静電容量、耐電圧及び絶縁抵抗をそれぞれ B.4.4.6.1 項、B.4.4.6.3 項 a)及び
B.4.4.6.4 項に規定されたとおりに測定する。
2) 外観検査
10 倍の拡大鏡で調べる。
B.4.4.8.4 熱衝撃及び電圧エージング
次の a)、b)項の順序で試験しなければならない。
a) 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
1) 試験条件：B ただし、最低温度は-55℃とする。また、使用温度範囲が A の場
合、最高温度は 85℃とする。
2) 電気的測定：適用しない。
b) 電圧エージング
1) 温度：最高使用温度+40 ℃
2) 印加時間：100 時間±4 時間
3) 印加電圧：定格電圧の 200%
c) 電気的測定
1) 絶縁抵抗(1)
1.1) 最高使用温度において、B.4.4.6.4 項による。
1.2) 標準状態において、B.4.4.6.4 項による。
2) 誘電正接
B.4.4.6.2 項による。
3) 静電容量(2)
B.4.4.6.1 項による。
注(1)
最高使用温度における絶縁抵抗の測定は、電圧エージングに続けて実
施する。この際、同じ温度で維持されている他の槽に移し換えてもよ
い。ただし、移し換えの時間は 15 分を超えてはならない。
2
()
コンデンサのエージング特性を考慮し、静電容量の測定は 24 時間以
上放置した後に行ってもよい。
- B-19 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
B.4.4.8.5 浸せきサイクル
MIL-STD-202 の試験方法 104 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B（2 サイクル）
b) 試験前の測定：適用しない。
c) 最終サイクル後の検査及び測定
最終サイクルで浸せき槽から取り出したのち拭い、常温の空気を吹き付けた後、
30 分後に次の検査及び電気的測定を始める。
1) 外観検査
目視により機械的損傷の有無を調べる。
2) 電気的測定
耐電圧及び絶縁抵抗をそれぞれ B.4.4.6.3 項 a)及び B.4.4.6.4 項に規定された
とおりに測定する。
B.4.4.8.6 耐湿性
MIL-STD-202 の試験方法 106 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 初期測定：適用しない。
b) サイクル数：連続 20 サイクル
c) 負荷条件
最初の 10 サイクルの間だけ、直流 100V 又は定格電圧のいずれか低い方の電圧を
コンデンサ端子の両端に印加する。また、1 日 1 回、コンデンサが短絡していない
かどうか確認する。
d) 試験後の検査及び測定
最終サイクルの段階 6 の直後に、目視により機械的損傷の有無及び表示の判読可
否を調べ、耐電圧、絶縁抵抗及び静電容量をそれぞれ B.4.4.6.3 項 a)、B.4.4.6.4 項
及び B.4.4.6.1 項に規定されたとおりに測定する。
B.4.4.8.7 低電圧耐湿負荷
リード端子取付け前のチップ段階で、MIL-STD-202 の試験方法 103、条件 A によって
試験する。ただし、次の条件を適用する。
なお、試験中のいかなるときも、コンデンサに印加する電圧は 1.5V を超えてはならな
い。
a) 初期測定
B.4.4.6.1 項によって静電容量を測定する。
b) 試験
コンデンサを+85℃、85%RH の環境に最低 240 時間曝さなければならない。サイ
クルは行わない。試験中は、100kΩの抵抗を通じて各コンデンサに連続的に 1.3+0.20
-0.25
V の直流電圧を印加しなければならない。
c) 最終測定
試験終了後、コンデンサを試験槽から取り出し、+25℃で 210 分±30 分間乾燥さ
- B-20 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
せ安定させる。その後、絶縁抵抗を 100kΩの抵抗器を通じて 1.3+0.20
-0.25 V の条件で
B.4.4.6.4 項に規定されたとおりに測定した後、静電容量を B.4.4.6.1 項に規定され
たとおりに測定する。
d) 外観検査
最終測定の後、目視により機械的損傷の形跡及び表示の判読可否を調べる。
B.4.4.8.8 減圧
MIL-STD-202 の試験方法 105 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
コンデンサを正常な取付方法で確実に固定する。
b) 印加点：端子間
c) 減圧条件：2.8kPa±0.4kPa｛21.0mmHg±3mmHg｝
d) 印加電圧：個別仕様書に規定がない場合は、定格電圧の 150%
e) 印加時間：5 秒±1 秒
f) 充放電電流：50mA 以下
g) 試験中の測定
ショートが発生しないかモニタする。
h) 試験後の検査
目視により機械的損傷の有無を調べる。
B.4.4.8.9 耐溶剤性
MIL-STD-202 の試験方法 215 によって試験する。ただし、溶剤はイソプロピルアルコー
ルとする。
B.4.4.9 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験は、次の方法による。
B.4.4.9.1 寿命
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験温度：個別仕様書に規定された使用温度範囲の最高温度+40℃
b) 印加電圧
1) 定格条件：定格電圧
2) 加速条件：定格電圧の 200%
c) 充放電電流：50mA 以下
d) 電圧印加時間
1) 定格条件：4,000+720 時間
2) 加速条件：2,000+720 時間
e) 試験中及び試験後の測定
250±8、1,000+480 、2,000+720 及び 4,000+720 時間後、試験温度にコンデンサが保たれ
- B-21 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
ている間に絶縁抵抗を B.4.4.6.4 項に規定されたとおりに測定する。それから、コン
デンサを B.4.4.1 項に規定された標準状態に戻して、機械的損傷の形跡について検
査する。その後、絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接をそれぞれ B.4.4.6.4 項、B.4.4.6.1
項及び B.4.4.6.2 項に規定されたとおりに測定する。
B.4.5 長期保管
4.7.1 項によって長期保管されたコンデンサは、次の試験を全数行わなければならない。
a) 静電容量（B.3.7.1 項）
b) 誘電正接（B.3.7.2 項）
c) 耐電圧（B.3.7.3 項）
d) 絶縁抵抗（B.3.7.4 項）
e) 外観・表示（B.3.4 項）
B.4.6 試験及び検査の変更
試験及び検査の変更は 4.8 項による。
B.5. 引渡しの準備
引渡しの準備は 5 項による。
B.6. 注意事項
注意事項は 6 項による。
- B-22 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 C
チップ形固定磁器積層コンデンサ
C.1. 総則 .......................................................................................................................................C-1
C.1.1 適用範囲 ..........................................................................................................................C-1
C.1.2 区分 .................................................................................................................................C-1
C.1.3 部品番号 ..........................................................................................................................C-1
C.1.3.1 形式 ...........................................................................................................................C-1
C.1.3.2 特性 ...........................................................................................................................C-1
C.1.3.3 公称静電容量 ............................................................................................................C-2
C.1.3.4 定格電圧 ...................................................................................................................C-2
C.1.3.5 静電容量許容差.........................................................................................................C-2
C.1.3.6 端子仕上げ ................................................................................................................C-3
C.2. 適用文書など.........................................................................................................................C-3
C.2.1 適用文書 ..........................................................................................................................C-3
C.2.2 参考文書 ..........................................................................................................................C-3
C.3. 要求事項 ................................................................................................................................C-3
C.3.1 認定の範囲 ......................................................................................................................C-3
C.3.2 材料 .................................................................................................................................C-4
C.3.2.1 外部電極材料 ............................................................................................................C-4
C.3.2.2 構造 ...........................................................................................................................C-4
C.3.3 非破壊内部検査 ...............................................................................................................C-4
C.3.4 外観、寸法、表示など ....................................................................................................C-4
C.3.4.1 外観及び表示 ............................................................................................................C-4
C.3.4.2 寸法及び質量 ............................................................................................................C-4
C.3.5 ワークマンシップ............................................................................................................C-4
C.3.5.1 DPA............................................................................................................................C-5
C.3.6 定格 .................................................................................................................................C-5
C.3.7 電気的性能 ......................................................................................................................C-5
C.3.7.1 静電容量 ...................................................................................................................C-5
C.3.7.2 誘電正接 ...................................................................................................................C-5
C.3.7.3 絶縁抵抗 ...................................................................................................................C-5
C.3.7.4 耐電圧 .......................................................................................................................C-5
C.3.7.5 電圧－温度特性.........................................................................................................C-6
C.3.8 機械的性能 ......................................................................................................................C-6
C.3.8.1 端子電極固着力.........................................................................................................C-6
C.3.8.2 ボンディング性.........................................................................................................C-6
- C-i -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
C.3.8.3 はんだ付け性 ............................................................................................................C-6
C.3.8.4 はんだ耐熱性 ............................................................................................................C-6
C.3.9 環境的性能 ......................................................................................................................C-7
C.3.9.1 ランダム振動 ............................................................................................................C-7
C.3.9.2 衝撃 ...........................................................................................................................C-7
C.3.9.3 熱衝撃（Ⅰ） ............................................................................................................C-7
C.3.9.4 熱衝撃及び電圧エージング ......................................................................................C-8
C.3.9.5 熱衝撃及び浸せきサイクル ......................................................................................C-8
C.3.9.6 耐湿性 .......................................................................................................................C-8
C.3.9.7 低電圧耐湿負荷.........................................................................................................C-9
C.3.9.8 減圧 ...........................................................................................................................C-9
C.3.9.9 耐溶剤性 ...................................................................................................................C-9
C.3.10 耐久的性能 ....................................................................................................................C-9
C.3.10.1 寿命 .........................................................................................................................C-9
C.4. 品質保証条項.......................................................................................................................C-10
C.4.1 工程内検査 ....................................................................................................................C-10
C.4.2 認定試験 ........................................................................................................................C-10
C.4.2.1 試料 .........................................................................................................................C-10
C.4.2.2 試験項目及び試料数 ...............................................................................................C-10
C.4.3 品質確認試験 .................................................................................................................C-12
C.4.3.1 試料 .........................................................................................................................C-12
C.4.3.2 試験項目及び試料数 ...............................................................................................C-12
C.4.3.3 試験後の処置 ..........................................................................................................C-12
C.4.4 試験方法 ........................................................................................................................C-13
C.4.4.1 試験条件 .................................................................................................................C-13
C.4.4.2 試験の処理 ..............................................................................................................C-14
C.4.4.3 試料の取付け ..........................................................................................................C-14
C.4.4.4 非破壊内部検査.......................................................................................................C-15
C.4.4.5 外観、寸法、表示など............................................................................................C-15
C.4.4.6 ワークマンシップ ...................................................................................................C-15
C.4.4.7 電気的性能 ..............................................................................................................C-15
C.4.4.8 機械的性能 ..............................................................................................................C-17
C.4.4.9 環境的性能 ..............................................................................................................C-19
C.4.4.10 耐久的性能 ............................................................................................................C-22
C.4.5 長期保管 ........................................................................................................................C-23
C.4.6 試験及び検査の変更 ......................................................................................................C-23
C.5. 引渡しの準備.......................................................................................................................C-23
C.6. 注意事項 ..............................................................................................................................C-24
- C-ii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 C
チップ形固定磁器積層コンデンサ
C.1. 総則
C.1.1 適用範囲
この付則は、コンデンサのうち、チップ形固定磁器積層コンデンサ（以下、
「コンデンサ」
という）に適用し、それらの要求事項、品質保証条項などを規定する。
C.1.2 区分
コンデンサの区分は表 C-1 による。
表 C-1 区
構
分
造
形
式
CDS50、CDS51、CDS52、
角形、電極両方向
CDS53、CDS54、CDS56
C.1.3 部品番号
コンデンサの部品番号は次の例のように表す。詳細は個別仕様書による。
例 NASDA(1)
CDS51
形
式
BX
特
性
392
A
K
公称静電
定格電圧
静電容量
端
許 容 差
仕 上 げ
(C.1.3.5 項)
(C.1.3.6 項)
容
(C.1.3.1 項)
(C.1.3.2 項)
量
(C.1.3.3 項)
(C.1.3.4 項)
S
子
注(1) “NASDA”は、宇宙開発用共通部品等であることを示す。“N”と省略できる。
C.1.3.1 形式
形式は、
“CDS”と 2 数字で表す。
“CDS”は信頼性保証チップ形固定磁器積層コンデンサ
を示し、これに続く 2 数字はコンデンサの大きさを表す。
C.1.3.2 特性
特性は、表 C-2 のとおり 2 英大文字又は 1 英大文字で表す。2 英大文字の場合、最初の英
大文字“B”は使用温度範囲-55℃～+125℃を示し、第 2 の英大文字は表 C-2 に示すように
電圧－温度特性を表す。1 英大文字の場合、1 文字で電圧－温度特性を表す。
なお、R 及び U 特性コンデンサの使用温度範囲については、個別仕様書による。
- C-1 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 C-2 電圧－温度特性
温 度 25 ℃ に 対 す る 静 電 容 量 変 化
記
号
表 C-12 の段階 A から 表 C-12 の段階 G から 表 C-12 の段階 A から 表 C-12 の段階 H から
F まで電圧印加なし
BP
0±30ppm/℃
BX
±15%
R
±15%
U
K まで表 C-12 に
B まで及び D から
J まで表 C-12 に
規定の電圧を印加
E まで電圧印加なし
規定の電圧を印加
0±30ppm/℃
－
－
－
－
－
－
+15%
-25%
+15%
-40%
+15%
+15%
+15%
+15%
-85%
-90%
-60%
-70%
C.1.3.3 公称静電容量
公称静電容量は 3 桁の数字で表し、ピコファラド（pF）を単位とする。最初の 2 数字は有
効数字を表し、最後の数字はこれに続く零（0）の数を表す。ただし、公称静電容量が 10pF
未満の場合は、小数点を英大文字“R”で表し、すべて有効数字とする。
例 102：1,000pF、1R0：1.0pF、0R5：0.5pF、R75：0.75pF
C.1.3.4 定格電圧
定格電圧は、表 C-3 のとおり 1 英大文字で表す。
表 C-3 定格電圧
単位 VDC
記
号
定格電圧
Y
25
A
50
B
100
C.1.3.5 静電容量許容差
静電容量許容差は、表 C-4 のとおり 1 英大文字で表す。
- C-2 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
表 C-4 静電容量許容差
公称静電容量
記
10pF 以下の場合
10pF を超える場合
号
静電容量許容差
C
±0.25pF
D
±0.50pF
F
±1.00pF
J
±05%
K
±10%
M
±20%
+80%
Z
-20%
C.1.3.6 端子仕上げ
端子の仕上げは、表 C-5 のとおり 1 英大文字で表す。
表 C-5 端子の仕上げ
記 号
端
子 の 仕 上 げ
M
銀－パラジウム
Q
金
S
銀－パラジウムの上にはんだコート
Z
銀－パラジウムの上にインジウム、鉛、銀成分のはんだコート
C.2. 適用文書など
C.2.1 適用文書
この付則の適用文書は 2.1 項による。
C.2.2 参考文書
次の文書は、この付則の参考文書とする。
a) MIL-PRF-55681
Capacitor, Chip, Multiple Layer, Fixed, Ceramic Dielectric,
Established Reliability and Non-Established Reliability, General
Specification for
C.3. 要求事項
C.3.1 認定の範囲
認定されるコンデンサの範囲は、この仕様書の C.3.2 項から C.3.10 項に規定された材料、設
計、構造、定格及び性能を満足するコンデンサの製造ラインを用いて製造される製品群で、認
- C-3 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
定試験に合格した試料で代表される範囲のものとする。したがって、この認定の範囲内におい
て個別仕様書で規定する個々の製品を供給することができる。
なお、より詳細な認定の範囲の規定が必要な場合は、個別仕様書に規定する。
C.3.2 材料
コンデンサに使用する材料は 3.3 項によるほか、次による。
C.3.2.1 外部電極材料
外部電極材料は表 C-5 に示すとおりとする。
C.3.2.2 構造
コンデンサの構造は次によるほか、個別仕様書による。
a) コンデンサ素子
磁器誘電体を用いること。
b) 端子
金電極以外の端子は容易にはんだ付けできるように、また、金電極端子は容易にワ
イヤボンディングできるように、適切な処理が施されているものを用いること。
C.3.3 非破壊内部検査
端子の仕上げ前に、すべてのコンデンサを超音波探傷検査、又は品質保証プログラムで規定
した非破壊の内部検査に供さなければならない。C.4.4.4 項によって試験したとき、デラミネー
ション、ボイド、クラックなど、欠陥の応答を示すコンデンサがあってはならない。
C.3.4 外観、寸法、表示など
C.4.4.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
C.3.4.1 外観及び表示
コンデンサの表面には割れ、腐食などの痕跡があってはならない。また、表示を判読でき
なければならず、その他は個別仕様書の要求を満足しなければならない。
C.3.4.2 寸法及び質量
コンデンサの寸法及び質量は、個別仕様書による。
C.3.5 ワークマンシップ
コンデンサは良好な設計に基づいて、この仕様書の 3.2.1 項で設定された品質保証プログラ
ムに従って製造されていなければならない。
コンデンサの本体にはひび割れ、ピンホール、傷など、電気的又は機械的性能に影響する欠
陥があってはならない。
- C-4 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
C.3.5.1 DPA
C.4.4.6.1 項によって解析したとき、個別仕様書に規定した確認項目を満足しなければなら
ない。
C.3.6 定格
次の事項を個別仕様書で定めなければならない。
a) 公称静電容量
b) 特性
c) 定格電圧
d) 使用温度範囲
e) 静電容量許容差
C.3.7 電気的性能
コンデンサは次の電気的性能を満足しなければならない。
C.3.7.1 静電容量
C.4.4.7.1 項によって試験したとき、静電容量は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
C.3.7.2 誘電正接
C.4.4.7.2 項によって試験したとき、誘電正接は次の要求を満足しなければならない。
a) BP 特性：0.15%以下
b) BX 特性：2.5%以下
c) R 特性：2.5%以下
d) U 特性：5%以下
C.3.7.3 絶縁抵抗
C.4.4.7.3 項によって試験したとき、絶縁抵抗は次の要求を満足しなければならない。
a) 最高使用温度において
1) BP 特性：1,000MΩ 又は 10MΩ·μF のいずれか小さい値以上
2) BX 特性：10,000MΩ 又は 100MΩ·μF のいずれか小さい値以上
3) R 特性：10,000MΩ 又は 100MΩ·μF のいずれか小さい値以上
4) U 特性：10,000MΩ 又は 100MΩ·μF のいずれか小さい値以上
b) 標準状態において：100,000MΩ 又は 1,000MΩ·μF のいずれか小さい値以上
C.3.7.4 耐電圧
C.4.4.7.4 項によって試験したとき、外観上の損傷、瞬間的若しくは断続的アーク、又は開
放若しくは短絡があってはならない。
- C-5 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
C.3.7.5 電圧－温度特性
C.4.4.7.5 項によって試験したとき、静電容量の変化は表 C-2 に規定された限界を超えて
はならない。
C.3.8 機械的性能
コンデンサは次の機械的性能を満足しなければならない。
C.3.8.1 端子電極固着力
C.4.4.8.1 項によって試験したとき、端子電極の剥離又はその徴候があってはならない。た
だし、端子の仕上げ“Q”には適用しない。
C.3.8.2 ボンディング性
C.4.4.8.2 項によって試験したとき、コンデンサの端子は、ワイヤボンドされた金線（50μm
φ）が 0.1N 以上の荷重に 30 秒間耐え得るような強度があること。ただし、端子の仕上げ“Q”
のみに適用する。
C.3.8.3 はんだ付け性
C.4.4.8.3 項によって試験したとき、端子の表面は、新しい滑らかなはんだの被膜で少なく
とも 95%は覆われていなければならない。はんだの表面には小さいピンホール、又は粗い点
に限ってはんだで覆われていない部分があってもよいが、これらは集中していてはならない。
また、その面積の合計は 5%未満でなければならない。ただし、端子の仕上げ“Q”には適
用しない。
C.3.8.4 はんだ耐熱性
C.4.4.8.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。た
だし、端子の仕上げ“Q”には適用しない。
a) 外観
機械的損傷、クラック又は内部電極の露出の形跡がないこと。電極食われは取付部
分の各エッジ上で 25%以内であること。
（図 C-1）
b) 静電容量変化
1) BP 特性：初期測定値に対して-1.0%から+2.0%以内
2) BX 及び R 特性：初期測定値に対して-1.0%から+6.0%以内
3) U 特性：初期測定値に対して±20%以内
- C-6 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
図 C-1 取付部分
C.3.9 環境的性能
コンデンサは次の環境的性能を満足しなければならない。
C.3.9.1 ランダム振動
C.4.4.9.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 試験中
0.1ms 以上の断続的接触又は断線若しくは短絡がないこと。
b) 試験後の検査
機械的損傷や破壊がないこと。
C.3.9.2 衝撃
C.4.4.9.2 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 試験中
0.1ms 以上の断続的接触又は断線若しくは短絡がないこと。
b) 試験後の検査
機械的損傷や破壊がないこと。
C.3.9.3 熱衝撃（Ⅰ）
C.4.4.9.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がないこと。
b) 耐電圧
C.3.7.4 項を満足すること。
c) 絶縁抵抗
標準状態において測定したとき、規格値の 30%以上
d) 静電容量変化
1) BP 特性：初期測定値の±0.5%又は±0.5pF のうち、いずれか絶対値の大きい方の値
以内
2) BX 及び R 特性：初期測定値の±10%以内
3) U 特性：初期測定値の±30%以内
- C-7 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
e) 誘電正接
C.3.7.2 項を満足すること。
C.3.9.4 熱衝撃及び電圧エージング
C.4.4.9.4 項によって試験したとき、機械的損傷があってはならない。
C.3.9.5 熱衝撃及び浸せきサイクル
C.4.4.9.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷又は端子の腐食がないこと。
b) 耐電圧
C.3.7.4 項を満足すること。
c) 絶縁抵抗
標準状態において測定したとき、規格値の 30%以上
d) 静電容量変化
1) BP 特性：初期測定値の±0.5%又は±0.5pF のうち、いずれか絶対値の大きい方の値
以内
2) BX 及び R 特性：初期測定値の±10%以内
3) U 特性：初期測定値の±20%以内
e) 誘電正接
C.3.7.2 項を満足すること。
C.3.9.6 耐湿性
C.4.4.9.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷又は端子の腐食がないこと。
b) 耐電圧
C.3.7.4 項を満足すること。
c) 絶縁抵抗
標準状態において測定したとき、規格値の 30%以上
d) 静電容量変化
1) BP 特性：初期測定値の±0.5%又は±0.5pF のうち、いずれか絶対値の大きい方の値
以内
2) BX 及び R 特性：初期測定値の±10%以内
3) U 特性：初期測定値の±30%以内
- C-8 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
C.3.9.7 低電圧耐湿負荷
C.4.4.9.7 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 絶縁抵抗（+25℃）
C.3.7.3 項 b)の要求を満足すること。
c) 静電容量変化
1) BP 特性：初期測定値の±0.5%又は±0.5pF のうち、いずれか絶対値の大きい方の値
以内
2) BX 及び R 特性：初期測定値の±10%以内
3) U 特性：初期測定値の±30%以内
C.3.9.8 減圧
C.4.4.9.8 項によって試験したとき、機械的損傷、瞬間的若しくは断続的アーク、又は開放
若しくは短絡があってはならない。
C.3.9.9 耐溶剤性
C.4.4.9.9 項によって試験したとき、表示を判読できなければならない。
C.3.10 耐久的性能
コンデンサは次の耐久的性能を満足しなければならない。
C.3.10.1 寿命
C.4.4.10.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
b) 絶縁抵抗
1) 使用最高温度において：規格値の 30%以上
2) 標準状態において：規格値の 30%以上
c) 静電容量変化
1) BP 特性：初期測定値の±2%又は±0.5pF のうち、いずれか絶対値の大きい方の値以
内
2) BX 及び R 特性：初期測定値の±10%以内
3) Ｕ特性：初期測定値の±30%以内
d) 誘電正接
1) BP 特性：2.0%以下
2) BX 及び R 特性：3.0%以下
3) U 特性：7.5%以下
- C-9 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
C.4. 品質保証条項
C.4.1 工程内検査
コンデンサの製造ロットごとに表 C-6 に規定された工程内検査を実施しなければならない。
なお、業者の選択により 4.3 項に従い、表 C-6 に規定する以外の工程内検査を実施してもよ
い。
表 C-6 工程内検査
項目
試験項目
番号
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
非破壊内部検査
C.3.3
C.4.4.4
2
低電圧耐湿負荷(1)
C.3.9.7
C.4.4.9.7
試料数
全数
12
注(1) 磁器誘電体の厚さが 30μm（公称）を超える場合、又は各層が 2 枚以上の誘
電体素子で構成されている場合は、適用しない。詳細は個別仕様書による。
C.4.2 認定試験
認定試験は 4.4 項によるほか、次による。
C.4.2.1 試料
認定試験の検査ロットは、工程内検査に合格した検査ロットから抜き取った試料で構成し
なければならない。試料は、特性、定格電圧及び端子仕上げが同じものを 1 つの組合せとし
て、その中で公称静電容量の最大のものを選定する。
C.4.2.2 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目及び試料数は表 C-7 による。Ⅰ、Ⅱ群の試験を行った後、Ⅲ群以下の
各群に試料を分けて試験を行う。ただし、Ⅲ群以下の試験は群番号の順に行わなくてもよい。
各群内の試験項目は上から順に行う。
- C-10 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 C-7 認定試験
試
群
験
順序
Ⅰ
1
1
Ⅱ
Ⅲ
Ⅳ
Ⅵ
目
2
外観、寸法、表示など( )
熱衝撃及び
電圧エージング
試験方法
項目番号
項目番号
C.3.4
C.4.4.5
C.3.9.4
C.4.4.9.4
2
耐電圧(3)
C.3.7.4
C.4.4.7.4
3
絶縁抵抗（高温時）
C.3.7.3
C.4.4.7.3
4
静電容量
C.3.7.1
C.4.4.7.1
5
誘電正接
C.3.7.2
C.4.4.7.2
6
絶縁抵抗
C.3.7.3
C.4.4.7.3
4
合
否 判 定
端子仕上げ別試料数(1)
許
容
S
Q
M
Z
不良数
323
46
69
69
0
323
46
69
69
0
7
耐電圧( )
C.3.7.4
C.4.4.7.4
1
はんだ付け性
C.3.8.3
C.4.4.8.3
6
適 用
しない
6
6
0
2
減圧
C.3.9.8
C.4.4.9.8
6
－
－
－
0
3
耐溶剤性
C.3.9.9
C.4.4.9.9
6
－
－
－
0
1
電圧－温度特性
C.3.7.5
C.4.4.7.5
C.3.9.5
C.4.4.9.5
18
18
18
18
0
2
Ⅴ
項
要求事項
熱衝撃及び
浸せきサイクル
1
はんだ耐熱性
C.3.8.4
C.4.4.8.4
9
適 用
しない
9
9
2
耐湿性
C.3.9.6
C.4.4.9.6
9
－
－
－
１
寿命
定格条件
C.3.10.1
C.4.4.10.1
159
－
－
－
0
加速条件
C.3.10.1
C.4.4.10.1
52
－
－
－
0
18
18
0
0
1
端子電極固着力
C.3.8.1
C.4.4.8.1
18
適 用
しない
1
ランダム振動
C.3.9.1
C.4.4.9.1
10
－
－
－
2
衝撃
C.3.9.2
C.4.4.9.2
10
－
－
－
3
熱衝撃（Ⅰ）
C.3.9.3
C.4.4.9.3
18
18
18
18
0
Ⅸ
1
ボンディング性
C.3.8.2
C.4.4.8.2
適 用
しない
10
適 用
しない
適 用
しない
0
Ⅹ
1
DPA
C.3.5.1
C.4.4.6.1
2
－
－
－
Ⅶ
Ⅷ
－
1
注(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
材料
適 用
しない
C.3.2
(5)
0
0
適 用
しない
試料数が「－」の試験については、他の端子仕上げで試験が実施されていれば省略しても
よい。他の端子仕上げで試験が実施されていない場合は、端子 S の欄に規定された試料数
で試験を実施すること。ただし、Ⅰ、Ⅱ群の試験も実施すること。
寸法及び質量については、JIS Z 9015-1 付表 2-A なみ検査の 1 回抜取方式による合格品質
水準（AQL）1.0%で検査を行ってもよい。
BX、R、U 特性のみに適用する。
BP 特性のみに適用する。
設計仕様を満足していることを証明する資料を提出すること。
- C-11 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
C.4.3 品質確認試験
品質確認試験は 4.5 項によるほか、次による。
C.4.3.1 試料
グループ A 試験の検査ロットの構成は、4.5.1.1 項による。
グループ B 試験及びグループ C 試験は、特性、定格電圧及び端子仕上げの組合せごとに
実施し、検査ロットの構成は 4.5.2.1 項による。同一時期にグループ A 試験に供した組合せ
の中にロットが複数ある場合は、その中で公称静電容量の最も大きいロットから試料を抜き
取って構成しなければならない。
C.4.3.2 試験項目及び試料数
品質確認試験の試験項目及び試料数は、グループ A 試験を表 C-8 に、グループ B 試験を
表 C-9 に、グループ C 試験を表 C-10 に示す。グループ A 試験は群番号の順に実施する。各
群内の試験項目は順序番号の順に行う。
C.4.3.3 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
ただし、A1 群の寸法検査が不合格となったときには、寸法について全数検査を行い、良品
のみを出荷することができる。
なお、A4 群及び A5 群に供した試料は、出荷してはならない。
表 C-8 品質確認試験（グループ A）
試
群
順序
A1
1
A2
1
験
項
目
外観、寸法、表示など
熱衝撃及び
電圧エージング
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
C.3.4
C.4.4.5
全数
(1)0(1)
C.3.9.4
C.4.4.9.4
全数
0
全数
0
1
耐電圧
C.3.7.4
C.4.4.7.4
2
絶縁抵抗（高温時）
C.3.7.3
C.4.4.7.3
3
静電容量
C.3.7.1
C.4.4.7.1
4
誘電正接
C.3.7.2
C.4.4.7.2
5
絶縁抵抗（標準状態）
C.3.7.3
C.4.4.7.3
A4( )
1
DPA
C.3.5.1
C.4.4.6.1
2
0
A5(2)
1
ボンディング性
C.3.8.2
C.4.4.8.2
10
0
A3
2
1
注( )
寸法については、JIS Z 9015-1 付表 2-A なみ検査の 1 回抜取方式による合格品質水準
（AQL）1.0%の抜取検査で行う。
2
()
A1 群、A2 群及び A3 群の終了後、A4 群及び A5 群の試験を行う。
- C-12 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
表 C-9 品質確認試験（グループ B）
試
験
目
試験方法
項目番号
項目番号
群
順序
B1
1
はんだ付け性
C.3.8.3
C.4.4.8.3
1
はんだ耐熱性
C.3.8.4
C.4.4.8.4
2
耐溶剤性
C.3.9.9
C.4.4.9.9
B2
項
要求事項
合 否 判 定
試料数
許容不良数
6
0
18
0
表 C-10 品質確認試験（グループ C）
試
験
項目番号
項目番号
順序
C1
1
減圧
C.3.9.8
C.4.4.9.8
1
電圧－温度特性
C.3.7.5
C.4.4.7.5
C.3.9.5
C.4.4.9.5
2
目
試験方法
群
C2
項
要求事項
熱衝撃及び
浸せきサイクル
合 否 判 定
試料数
許容不良数
6
0
18
0
18
0
1
衝撃
C.3.9.2
C.4.4.9.2
2
端子電極固着力
C.3.8.1
C.4.4.8.1
3
耐湿性
C.3.9.6
C.4.4.9.6
C4
1
寿命（加速条件）
C.3.10.1
C.4.4.10.1
12
0
C5
1
ランダム振動
C.3.9.1
C.4.4.9.1
6
0
C6
1
熱衝撃（Ⅰ）
C.3.9.3
C.4.4.9.3
6
0
C3
C.4.4 試験方法
C.4.4.1 試験条件
MIL-STD-202 の 4 項による。ただし、次の条件を適用する。
a) 標準状態
標準状態とは、温度 25℃±3℃、相対湿度 25%～75%、気圧 86kPa～106kPa の環境
条件をいう。試験及び測定は、特に規定がない限り標準状態で行う。再現性のある結
果を得るためにこれらの条件を厳密に管理しなければならないときには、b)の判定状
態を適用する。換算を必要とする場合は、c)の基準状態を用いる。
なお、判定に疑義を生じなければ、標準状態以外で試験及び測定を行ってもよい。
b) 判定状態
判定状態は、温度 25-20℃、相対湿度 50±2%、気圧 86kPa～106kPa とする。
c) 基準状態
基準状態は、温度 25℃、相対湿度 50%、気圧 101.3kPa とする。
d) 基準測定
エージング前後の測定値を比較する場合は、エージングに先立ち 25±3℃で測定され
- C-13 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
た値を基準値とする。この基準値が試験開始時点から 30 日以前に測定された場合には、
再測定を行い、これを基準値としなければならない。
e) 試験電圧の測定精度は、規定された電圧の±3.0%以内でなければならない。
f) 寿命試験に用いる電源電圧の変動は、規定された試験電圧の±3%以内でなければなら
ない。
C.4.4.2 試験の処理
必要がある場合は、次の処理を行う。
a) 前処理
試験及び測定に先立ち、供試コンデンサを 1 時間以上測定温度に保ち、放電させて
おく。
b) 強制乾燥
試験及び測定に先立ち、特に規定がない限り、表 C-11 によって乾燥を行う。
c) 熱処理（BX、R 及び U 特性のコンデンサに適用）
静電容量の測定において判定に疑義を生じた場合は、その他の電気的特性を測定し
た後に、コンデンサを 150℃で 1 時間加熱し、標準状態で 24 時間以上 48 時間以内放
置してから再度測定を行ってもよい。
表 C-11 乾燥条件
温
度
55℃±2℃
相対湿度
20%以下
気
圧
大気圧
保持時間
6 時間±0.5 時間
C.4.4.3 試料の取付け
a) 端子の仕上げ記号 M、S 及び Z の場合
コンデンサを図 C-2 に示す試験治具（95%～99%アルミナ基板）にはんだ付けする。
銀 3wt%入りのはんだを用いて、コテ付け又はリフロー法によって一様にはんだ付け
を行う。この際、熱ショックなどを起こさせぬように取り付ける。
b) 端子の仕上げ記号 Q の場合
コンデンサを図 C-2 に示す試験治具（95%～99%アルミナ基板）に接着剤で固定し
たのち、50μmφの金線にてワイヤボンディングを行う。
- C-14 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
図 C-2 試験治具（例）
C.4.4.4 非破壊内部検査
超音波探傷装置、又はコンデンサが C.3.3 項の要求を満足していることを確認できる非破
壊の内部検査方法によって検査する。検査方法は品質保証プログラム計画書に明記し、3.2.1
項に従って JAXA の審査を受けなければならない。
C.4.4.5 外観、寸法、表示など
外観、構造、寸法、質量及び表示について試験する。ただし、質量は認定試験のみに適用
する。
C.4.4.6 ワークマンシップ
C.4.4.6.1 DPA
コンデンサを分解して、内部構造及び各工程が確実に実施されていることを確認するも
ので、品質保証プログラム計画書の DPA マニュアルに従って実施しなければならない。
C.4.4.7 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験は、次の方法による。
C.4.4.7.1 静電容量
MIL-STD-202 の試験方法 305 によって行う。ただし、次に示す条件を適用する。
a) 測定周波数
1) BX、R、U 特性及び 1,000pF 以上の BP 特性：1kHz±100Hz
2) 1,000pF 未満の BP 特性：1MHz±100kHz
b) 測定電圧：1.0Vrms±0.2Vrms
BX、R 及び U 特性については、耐電圧又は絶縁抵抗測定のあとの静電容量測定を 12 時
間を超えない時間放置後、実施してもよい。
- C-15 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
C.4.4.7.2 誘電正接
ブリッジか他の適当な装置によって試験する。ただし、次に示す条件を適用する。
a) 測定周波数：C.4.4.7.1 項 a)
b) 測定電圧：C.4.4.7.1 項 b)
C.4.4.7.3 絶縁抵抗
MIL-STD-202 の試験方法 302 によって行う。ただし、次に示す条件を適用する。
なお、この試験を実施する前に、コンデンサは指紋を含むいかなる汚染も取り除くため
に注意深く洗浄されること。
a) 試験条件
1) 試験電圧：定格電圧
2) 充放電電流：50mA 以下
3) 充電時間：120+10
0秒
b) 測定点：端子間
c) 特別な条件
50%を超える相対湿度で判定に疑義が生ずる場合は、50%以下の相対湿度で再度
測定してもよい。
C.4.4.7.4 耐電圧
MIL-STD-202 の試験方法 301 によって行う。ただし、次に示す条件を適用する。
a) 試験電圧：個別仕様書に規定がない場合は、定格電圧の 250%
b) 印加時間：5 秒±1 秒
c) 印加点：個別仕様書に規定がない場合は、コンデンサ素子の両端子間
d) 充放電電流：50mA 以下
e) 試験後の検査
損傷、アークの痕跡、開放及び短絡の有無について検査する。
C.4.4.7.5 電圧－温度特性
電圧－温度特性は、次に示す条件を適用する。ただし、これらの測定は 10pF 以上の静
電容量をもつコンデンサのみに行う。10pF 未満のコンデンサについては、同一ロットか
ら作られた 10pF 以上のコンデンサで測定する。
a) 認定試験の場合
温度を表 C-12 に規定されているとおりに変える。静電容量を C.4.4.7.1 項に従っ
て測定する。表 C-12 に規定されているように、定格電圧を段階 G から K までコン
デンサに印加する。
静電容量の測定は、表 C-12 に規定された各段階で行う。特性曲線を設定するた
めには、段階 B と K との間に指定された温度で行う。測定は、各段階で温度平衡に
達した後に行うこと。段階 D における静電容量値を基準値とする。
- C-16 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) 品質確認試験の場合
表 C-12 の段階 D、F、G、I 及び K についてのみ行う。その他は a)に規定された
とおりとする。
表 C-12 電圧－温度サイクル
段階記号
印加電圧
A
なし
+25 ±2
(1)B(3)
なし
-20 ±2
C
なし
-55 ±2
なし
+25 ±2
( )E( )
なし
+60 ±2
F
なし
G
定格電圧(2)
(1)D(1)
1
3
1
3
( )H( )
温度(℃)
最高使用温度 ±2
最高使用温度 ±2
2
+60 ±2
2
定格電圧( )
I
定格電圧( )
+25 ±2
(1)J(3)
定格電圧(2)
-20 ±2
K
2
定格電圧( )
-55 ±2
注(1) 基準値とする。
(2) 個別仕様書に規定された定格電圧（R、U 特性については定格電圧の 1/2）
とする。
3
( ) U 特性のみに適用する。
C.4.4.8 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験は、次の方法による。
C.4.4.8.1 端子電極固着力
図 C-3 に示す試験治具（アルミナ基板）にはんだ付けする。銀 3wt%入りのはんだを用
いて、コテ付け又はリフロー法によって一様にはんだ付けを行う。熱ショックなどを起こ
さぬように取り付ける。
荷重は、治具と水平に矢印の方向に 10N｛1kgf｝を加える。
〔CDS50 のみ 5N〕
- C-17 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
図 C-3 試験治具（例）
C.4.4.8.2 ボンディング性
MIL-STD-883 の試験方法 2011 によって行う。ただし、次に示す条件を適用する。
a) 取付方法：試料の取付けは行わない。
b) ボンディング工法：熱圧着法
1) ワイヤ ………………… 50μmφ金線
2) ステ－ジ温度 ………… 140℃
3) キャピラリー温度 …… 340℃
4) 荷重 …………………… 230g
5) 時間 …………………… 1 秒間
c) ボンディング数
試料の片方の電極上に 1 点のみボンディングを行う。
d) ボンディング位置：上面中央
e) ボンディング強度
図 C-4 の矢印方向に荷重を加える。
図 C-4 試験方法（例）
- C-18 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
C.4.4.8.3 はんだ付け性
MIL-STD-202 の試験方法 208 によって行う。ただし、次に示す条件を適用する。
a) 試験する端子の数：すべて
b) はんだの温度：230℃±5℃
c) 浸せき時間：5 秒±0.5 秒
d) 浸せき深さ
各端子を 0.50+0.25
0 mm の深さまで浸せきする。
e) 試験後の検査
目視により実施する。疑義が生じたときは、ピンホールや粗い点が何%被ってい
るかを全面積に対する相対比較により、これらの面積を実際測定し決定する。
C.4.4.8.4 はんだ耐熱性
MIL-STD-202 の試験方法 210 によって行う。ただし、次に示す条件を適用する。
a) 取付方法
C.4.4.3 項のとおり取り付ける。
b) 試験条件：B
c) 試験後から測定までの冷却時間：最低 10 分以上、最大 24 時間以内
d) 試験後の検査及び測定
外観を検査し、静電容量を C.4.4.7.1 項に規定されたとおりに測定する。
C.4.4.9 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験は、次の方法による。
C.4.4.9.1 ランダム振動
MIL-STD-202 の試験方法 214 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
C.4.4.3 項のとおり取り付ける。
b) 電気的負荷条件
定格電圧の 125%をコンデンサの端子間に印加する。
c) 試験条件：Ⅱ-K
周波数範囲
………… 50Hz～2,000Hz
全実効加速度 ………… 528m/s2 rms
d) 振動の方向と時間：3 つの互いに垂直な方向について、各方向約 3 分間（計 9 分間）
e) 試験中の測定
0.1ms 以上の断続的接触、断線及び短絡の有無を調べる。
f) 試験後の検査
外観を検査する。
- C-19 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
C.4.4.9.2 衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 213 によって行う。ただし、次に示す条件を適用する。
a) 取付方法
C.4.4.3 項のとおり取り付ける。
b) 試験条件：F
加速度の最大値 ……………… 14.71km/s2
標準持続時間 ………………… 0.5ms
波形 …………………………… 半波正弦波
速度変化 ……………………… 4.69m/s
c) 試験中の測定
0.1ms 以上の断続的接触、断線及び短絡の有無を調べる。
d) 試験後の検査
外観を検査する。
C.4.4.9.3 熱衝撃（Ⅰ）
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって行う。ただし、次に示す条件を適用する。
a) 取付方法
C.4.4.3 項のとおり取り付ける。ただし、端子の仕上げ M、S 及び Z については、
はんだ盛量はセラミック厚みの 1/2 未満とする。
b) 試験条件：A ただし、段階 1 は-30-30℃、段階 3 は+100+3
0 ℃とする。
c) サイクル数：1,000 サイクル
d) 測定及び検査
試験前、50±10、100±10、250±20、500±20 及び 1,000+10
0 サイクルにおいて、次
の電気的測定及び外観検査を行う。
1) 電気的測定
耐電圧、絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接をそれぞれ C.4.4.7.4 項、C.4.4.7.3
項、C.4.4.7.1 項及び C.4.4.7.2 項に規定されたとおりに測定する。
2) 外観検査
10 倍以上の拡大鏡で検査する。
C.4.4.9.4 熱衝撃及び電圧エージング
C.4.4.9.4.1 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A ただし、
段階 3 は+125+4
サイクル数は 20 サイクルとする。
0 ℃とし、
b) 試験後の測定：適用しない。
C.4.4.9.4.2 電圧エージング
次の条件で試験する。
a) 温度：最高使用温度+4
0℃
b) 印加時間：100 時間±4 時間
- C-20 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
c) 印加電圧：定格電圧の 200%
d) 試験後の検査
機械的損傷について調べる。
C.4.4.9.5 熱衝撃及び浸せきサイクル
C.4.4.9.5.1 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって行う。ただし、次に示す条件を適用する。
a) 取付方法
C.4.4.3 項のとおり取り付ける。ただし、端子の仕上げ M、S 及び Z について
は、はんだ盛量はセラミック厚みの 1/2 未満とする。
b) 試験条件
1) BP、BX 及び R 特性の場合：A ただし、段階 3 は+125+4
0 ℃とし、サイクル
数は 250 サイクルとする。
2) U 特性の場合：A-3
c) 試験後の測定：適用しない。
C.4.4.9.5.2 浸せきサイクル
MIL-STD-202 の試験方法 104 によって行う。ただし、次に示す条件を適用する。
a) 試験条件：B（2 サイクル）
b) 試験前の測定：適用しない。
c) 最終サイクル後の測定及び検査
最終サイクルで浸せき槽から取り出したのち拭い、常温の空気を吹きつけた後、
30 分後に次の電気的測定及び外観検査を始める。
1) 電気的測定
耐電圧、絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接をそれぞれ C.4.4.7.4 項、C.4.4.7.3
項、C.4.4.7.1 項及び C.4.4.7.2 項に規定されたとおりに測定する。
2) 外観検査
測定後、10 倍以上の拡大鏡で外観を検査する。
C.4.4.9.6 耐湿性
MIL-STD-202 の試験方法 106 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 初期測定
C.4.4.7.1 項によって静電容量を測定する。
b) サイクル数：段階 7a と 7b を省略することを除き、連続 20 サイクル
c) 印加電圧：50VDC 又は定格電圧のいずれか小さい方の電圧
d) 最終測定
最終サイクルの段階 6 の後、外観を検査し、耐電圧、絶縁抵抗及び静電容量をそ
れぞれ C.4.4.7.4 項、C.4.4.7.3 項及び C.4.4.7.1 項に規定されたとおりに測定する。
- C-21 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
C.4.4.9.7 低電圧耐湿負荷
MIL-STD-202 の試験方法 103、条件 A によって試験する。ただし、次の条件を適用す
る。
なお、試験中のいかなるときも、コンデンサに印加する電圧は 1.5V を超えてはならな
い。
a) 初期測定
C.4.4.7.1 項によって静電容量を測定する。
b) 試験
コンデンサを+85℃、85%RH の環境に最低 240 時間曝さなければならない。サイ
クルは行わない。試験中は、100kΩ の抵抗を通じて各コンデンサに連続的に 1.3+0.20
-0.25
V の直流電圧を印加しなければならない。
c) 最終測定
試験終了後、コンデンサを試験槽から取り出し、+25℃で 210 分±30 分間乾燥さ
せ安定させる。その後、絶縁抵抗を 100kΩ の抵抗器を通じて 1.3+0.20
-0.25 V の条件で
C.4.4.7.3 項に規定されたとおりに測定した後、静電容量を C.4.4.7.1 項に規定され
たとおりに測定する。
d) 外観検査
最終測定の後、目視により機械的損傷の形跡及び表示の判読可否を調べる。
C.4.4.9.8 減圧
MIL-STD-202 の方法 105 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
C.4.4.3 項のとおり取り付ける。
b) 試験条件：D（1.1kPa）
c) 試験電圧：定格電圧の 150%
d) 試験時間：5 秒±1 秒
e) 充放電電流：50mA 以下
f) 試験後の検査
損傷、アークの痕跡、開放及び短絡の有無について検査する。
C.4.4.9.9 耐溶剤性
MIL-STD-202 の方法 215 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 使用する溶剤：イソプロピルアルコール
b) 試験後の検査
表示の消失の有無を検査する。
C.4.4.10 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験は、次の方法による。
- C-22 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
C.4.4.10.1 寿命
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
C.4.4.3 項のとおり取り付ける。
b) 試験温度：個別仕様書に規定された使用温度範囲の最高温度+4
0℃
c) 印加電圧
1) 定格条件：定格電圧
2) 加速条件：定格電圧の 200%
d) 充放電電流：50mA 以下
e) 電圧印加時間
1) 定格条件：4,000+72
0 時間
2) 加速条件：2,000+48
0 時間
f) 試験中及び試験後の測定
1,000 時間後及びこの試験の終了時点で、試験温度にコンデンサが保たれている
間に絶縁抵抗を C.4.4.7.3 項に規定されたとおりに測定する。それから、コンデンサ
を C.4.4.1 項に規定された標準状態に戻して、機械的損傷の形跡について 10 倍以上
の拡大鏡で検査する。その後、静電容量、誘電正接及び絶縁抵抗を C.4.4.7.1 項、
C.4.4.7.2 項及び C.4.4.7.3 項に規定されたとおりに測定する。
C.4.5 長期保管
4.7.1 項によって長期保管されたコンデンサは、次の検査を全数行わなければならない。
a) 静電容量（C.3.7.1 項）
b) 誘電正接（C.3.7.2 項）
c) 絶縁抵抗（C.3.7.3 項）
d) 耐電圧（C.3.7.4 項）
また、金電極以外のコンデンサはそれぞれの端子仕上げごとに、表 C-9 に従ってはんだ付け
性及びはんだ耐熱性の試験を実施しなければならない。
再検査の日付を包装又は保管箱に表示しなければならない。
なお、はんだ付け性又ははんだ耐熱性の検査で不合格と判定したロットは、出荷してはなら
ない。
C.4.6 試験及び検査の変更
試験及び検査の変更は 4.8 項による。
C.5. 引渡しの準備
引渡しの準備は 5 項による。
- C-23 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
C.6. 注意事項
注意事項は 6 項による。
- C-24 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 F
固定マイカコンデンサ
F.1. 総則 ........................................................................................................................................ F-1
F.1.1 適用範囲 ........................................................................................................................... F-1
F.1.2 区分 .................................................................................................................................. F-1
F.1.3 部品番号 ........................................................................................................................... F-1
F.1.3.1 形式............................................................................................................................ F-1
F.1.3.2 特性............................................................................................................................ F-2
F.1.3.3 公称静電容量 ............................................................................................................. F-2
F.1.3.4 静電容量許容差 ......................................................................................................... F-2
F.1.3.5 使用温度範囲 ............................................................................................................. F-2
F.1.3.6 定格電圧 .................................................................................................................... F-3
F.2. 適用文書など ......................................................................................................................... F-3
F.2.1 適用文書 ........................................................................................................................... F-3
F.2.2 参考文書 ........................................................................................................................... F-3
F.3. 要求事項................................................................................................................................. F-3
F.3.1 認定の範囲 ....................................................................................................................... F-3
F.3.2 材料 .................................................................................................................................. F-3
F.3.2.1 外装材料 .................................................................................................................... F-3
F.3.2.2 はんだ付け用フラックス ........................................................................................... F-4
F.3.3 外観、寸法、表示など ..................................................................................................... F-4
F.3.3.1 外観及び表示 ............................................................................................................. F-4
F.3.3.2 構造、寸法及び質量 .................................................................................................. F-4
F.3.4 ワークマンシップ ............................................................................................................ F-4
F.3.4.1 DPA ............................................................................................................................ F-5
F.3.5 定格 .................................................................................................................................. F-5
F.3.6 電気的性能 ....................................................................................................................... F-5
F.3.6.1 絶縁抵抗 .................................................................................................................... F-6
F.3.6.2 静電容量 .................................................................................................................... F-6
F.3.6.3 誘電正接 .................................................................................................................... F-6
F.3.6.4 温度係数及び静電容量のずれ ................................................................................... F-8
F.3.6.5 耐電圧 ........................................................................................................................ F-8
F.3.6.6 電圧エージング ......................................................................................................... F-8
F.3.7 機械的性能 ....................................................................................................................... F-8
F.3.7.1 端子強度 .................................................................................................................... F-8
F.3.7.2 はんだ付け性 ............................................................................................................. F-8
- F-i -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
F.3.7.3 はんだ耐熱性 ............................................................................................................. F-8
F.3.8 環境的性能 ....................................................................................................................... F-9
F.3.8.1 高周波振動................................................................................................................. F-9
F.3.8.2 ランダム振動 ............................................................................................................. F-9
F.3.8.3 衝撃............................................................................................................................ F-9
F.3.8.4 熱衝撃（Ⅰ） ............................................................................................................. F-9
F.3.8.5 熱衝撃及び浸せきサイクル ..................................................................................... F-10
F.3.8.6 耐湿性 ...................................................................................................................... F-10
F.3.8.7 減圧.......................................................................................................................... F-10
F.3.8.8 耐溶剤性 .................................................................................................................. F-10
F.3.9 耐久的性能 ..................................................................................................................... F-10
F.3.9.1 寿命.......................................................................................................................... F-11
F.4. 品質保証条項 ....................................................................................................................... F-11
F.4.1 工程内検査 ..................................................................................................................... F-11
F.4.2 認定試験 ......................................................................................................................... F-11
F.4.2.1 試料.......................................................................................................................... F-11
F.4.2.2 試験項目及び試料数 ................................................................................................ F-12
F.4.3 品質確認試験.................................................................................................................. F-14
F.4.3.1 試験項目及び試料数 ................................................................................................ F-14
F.4.3.2 試験後の処置 ........................................................................................................... F-14
F.4.4 試験方法 ......................................................................................................................... F-15
F.4.4.1 試験条件 .................................................................................................................. F-15
F.4.4.2 外観、寸法、表示など ............................................................................................ F-16
F.4.4.3 ワークマンシップ .................................................................................................... F-16
F.4.4.4 電気的性能............................................................................................................... F-16
F.4.4.5 機械的性能............................................................................................................... F-18
F.4.4.6 環境的性能............................................................................................................... F-20
F.4.4.7 耐久的性能............................................................................................................... F-23
F.4.5 長期保管 ......................................................................................................................... F-24
F.4.6 試験及び検査の変更 ....................................................................................................... F-25
F.5. 引渡しの準備 ....................................................................................................................... F-25
F.6. 注意事項............................................................................................................................... F-25
- F-ii -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 F
固定マイカコンデンサ
F.1. 総則
F.1.1 適用範囲
この付則は、コンデンサのうち、固定マイカコンデンサ（以下、
「コンデンサ」という）に
適用し、それらの要求事項、品質保証条項などを規定する。
F.1.2 区分
コンデンサの区分は表 F-1 による。
表 F-1 区
構
分
造
形
式
CMS16
CMS17
非金属外装、角形、
CMS18
板状端子同一方向
CMS19
CMS21
CMS22
F.1.3 部品番号
コンデンサの部品番号は次の例のように表す。詳細は個別仕様書による。
例 NASDA(1)
CMS16
形
式
C
特
010
性
(F.1.3.1 項) (F.1.3.2 項)
公
D
O
A
称
静電容量
使
静電容量
許 容 差
温度範囲
(F.1.3.3 項) (F.1.3.4 項)
用
(F.1.3.5 項)
定格電圧
(F.1.3.6 項)
1
注( ) “NASDA”は宇宙開発用共通部品等であることを示す。
“N”と省略できる。
F.1.3.1 形式
形式は、
“CMS”と 2 数字で表す。
“CMS”は信頼性保証固定マイカコンデンサを示し、
これに続く 2 数字はコンデンサの大きさを示す。
- F-1 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
F.1.3.2 特性
特性は温度変化に伴うコンデンサの相対的安定性を示すものであり、表 F-2 のとおり 1 英
大文字で表す。
表 F-2 特
性
記 号
温度係数(ppm/℃)
静電容量のずれ
C
-200 ～ +200
±（0.50%+0.1pF）
E
-020 ～ +100
±（0.10%+0.1pF）
F
-000 ～ +070
±（0.05%+0.1pF）
F.1.3.3 公称静電容量
公称静電容量は 3 桁の数字で表し、ピコファラド（pF）を単位とする。最初の 2 数字は有
効数字を表し、最後の数字はこれに続く零の数を表す。
例
010：1pF、101：100pF、102：1,000pF
F.1.3.4 静電容量許容差
静電容量許容差は、表 F-3 のとおり 1 英大文字で表す。
表 F-3 静電容量許容差
記 号
D
静
電 容 量 許 容 差
±0.5pF （公称静電容量が 100pF 以下の場合）
±0.5% （公称静電容量が 100pF を超える場合）
F
±1%
G
±2%
J
±5%
F.1.3.5 使用温度範囲
使用温度範囲は、表 F-4 のとおり 1 英大文字で表す。
表 F-4 使用温度範囲
単位 ℃
記
号
使用温度範囲
O
-55 ～
+125
P
-55 ～
+150
- F-2 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
F.1.3.6 定格電圧
定格電圧は、表 F-5 のように 1 英大文字で表す。
表 F-5 定格電圧
単位 VDC
記
号
定格電圧
A
0,100
C
0,300
D
0,500
F
1,000
F.2. 適用文書など
F.2.1 適用文書
この付則の適用文書は、2.1 項による。
F.2.2 参考文書
次の文書は、この付則の参考文書とする。
a) MIL-PRF-39001
Capacitors, Fixed, Mica Dielectric, Established Reliability and
Non Established Reliability, General Specification for
F.3. 要求事項
F.3.1 認定の範囲
認定されるコンデンサの範囲は、
この仕様書の F.3.2 項から F.3.9 項に規定された材料、
設計、
構造、定格及び性能を満足するコンデンサの製造ラインを用いて製造される製品群で、認定試
験に合格した試料で代表される範囲のものとする。したがって、この認定の範囲内において個
別仕様書で規定する個々の製品を供給することができる。
なお、より詳細な認定の範囲の規定が必要な場合は、個別仕様書に規定する。
F.3.2 材料
コンデンサに使用する材料は 3.3 項によるほか、次による。
F.3.2.1 外装材料
コンデンサの外装に使用する有機材料は、最高使用温度に耐え、耐湿性及び電気的絶縁性
を維持できるものでなければならない。また、コンデンサの性能に影響するものであっては
ならない。
- F-3 -
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F.3.2.2 はんだ付け用フラックス
はんだ付けに際して、一切の酸又は酸性塩を使用してはならない。ただし、電気的接続部
分の予備すず引きには用いてもよい。
電気回路の形成を目的としない機械的結合部のすず引き又ははんだ引きには、酸又は酸性
塩を用いてもよい。
なお、これらの酸又は酸性塩は、事後処理によって完全に除去されるものでない限り、絶
縁材料の近接部にも使用してはならない。
F.3.3 外観、寸法、表示など
F.4.4.2 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
F.3.3.1 外観及び表示
コンデンサの表面には割れ、腐食などがあってはならない。また、表示は少なくとも次の
項目を含み、容易に消えない方法でなされていなければならない。
a) 部品番号
“NASDA”は表示しなくてもよい。また、形状寸法が小さいコンデンサについては、
形式記号を省略してもよい。
b) ロット識別記号
記号の付与方法は、認定取得業者の規定による。
c) 認定取得業者名又はその略号
形状寸法が小さいコンデンサについては、省略できる。
F.3.3.2 構造、寸法及び質量
コンデンサの構造、寸法及び質量は次によるほか、個別仕様書による。
a) 構造
湿気又は機械的損傷からコンデンサ素子を保護するために、外装材料によって完全
に覆われていること。
b) 端子
端子は、溶融はんだに浸せきするか、又は電気めっきによって、はんだ付けされな
ければならない。
F.3.4 ワークマンシップ
コンデンサは良好な設計に基づいて、この仕様書の 3.2.1 項で設定された品質保証プログラ
ムに従って製造されていなければならない。
a) 外装
コンデンサの外装にはひび割れ、ピンホール、傷など、電気的又は機械的な性能に影
響する欠陥があってはならない。
b) 端子
コンデンサの端子には折損、つぶれ、その他の傷などがあってはならない。端子を動
- F-4 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
かしたときに傷ついたり、素子及び外装に過度の力が加わったりしないように、内部的
にも外部的にも確実に接続されていること。また、端子と素子とは、はんだ付け又は溶
接によって確実に接続されていること。
c) はんだ付け
はんだ付けは、機械的強度を得るための手段として使用してはならない。電気的接続
を目的とするはんだ付けの場合には、あらかじめ機械的に接続されていることが望まし
く、かつ、はんだ付け後は電気的にも完全な接続でなければならない。また、はんだ付
け後、過剰なフラックス及びはんだは除去されていなければならない。酸又は酸性塩の
使用が許容される場合でも、完全な中和、洗浄などの処理が、はんだ付け後速やかに行
われなければならない。
d) 仕上げ
コンデンサの仕上げは、外装表面にはげ落ち、割れ、腐食などの痕跡を生ずるもので
あってはならない。
e) はんだ仕上げ
不十分な加熱による突起又は粗い面があってはならない。はんだ付けは、必要最少量
のフラックス及びはんだで行わなければならない。過剰なフラックスを除去するときに
は、コンデンサを傷つけるおそれのある方法を用いてはならない。また、分散したフラッ
クス粒子、ブラシの毛又は他の異物をコンデンサ内部又は表面に残したりしてはならな
い。
はんだ付けの熱によって絶縁物が損傷を受けたり、固定されている部品がゆるんだり
してはならない。
F.3.4.1 DPA
F.4.4.3.1 項によって試験したとき、コンデンサ素子と端子とのはんだ付け、その他の工程
が確実に行われていなければならない。また、マイカフィルムの寸法及び相互間隔、その他
の内部構造及び材料が、品質保証プログラムに規定されたとおりでなければならない。
F.3.5 定格
次の事項を個別仕様書で定めなければならない。
a) 公称静電容量
b) 静電容量許容差
c) 特性
d) 使用温度範囲
e) 定格電圧
F.3.6 電気的性能
コンデンサは次の電気的性能を満足しなければならない。
- F-5 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
F.3.6.1 絶縁抵抗
F.4.4.4.1 項によって試験したとき、絶縁抵抗は表 F-6 に規定された値以上でなければなら
ない。
表 F-6 絶縁抵抗
温度(℃)
025
125
150
静電容量(pF)
10,000 未満
10,000 以上
3,300 未満
3,300 以上
1,500 未満
1,500 以上
絶縁抵抗の最小値
100,000 MΩ
1,000 MΩ·μF (1)
10,000 MΩ
33 MΩ·μF (1)
5,000 MΩ
7.5 MΩ·μF (1)
注(1) 絶縁抵抗(MΩ) × 静電容量(μF) = 絶縁抵抗の最小値（規定値）
よって、絶縁抵抗(MΩ) ≥ 絶縁抵抗の最小値 / 静電容量(μF)
F.3.6.2 静電容量
F.4.4.4.2 項によって試験したとき、静電容量は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
F.3.6.3 誘電正接
F.4.4.4.3 項によって試験したとき、誘電正接（tanδ）は図 F-1 に規定された値を超えて
はならない。
- F-6 -
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図 F-1 誘電正接
- F-7 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
F.3.6.4 温度係数及び静電容量のずれ
F.4.4.4.4 項によって試験したとき、温度係数及び静電容量のずれは表 F-2 に規定された範
囲内になければならない。
F.3.6.5 耐電圧
F.4.4.4.5 項によって試験したとき、アークの痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷があってはな
らない。
F.3.6.6 電圧エージング
F.4.4.4.6 項によって試験したとき、アークの痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷があってはな
らない。
F.3.7 機械的性能
コンデンサは次の機械的性能を満足しなければならない。
F.3.7.1 端子強度
F.3.7.1.1 引張り強さ
F.4.4.5.1.1 項によって試験したとき、端子にゆるみ、亀裂、その他の機械的損傷があっ
てはならない。
F.3.7.1.2 平端子曲げ強さ
F.4.4.5.1.2 項によって試験したとき、端子にゆるみ、亀裂、その他の機械的損傷があっ
てはならない。
F.3.7.2 はんだ付け性
F.4.4.5.2 項によって試験したとき、端子の表面は、新しい滑らかなはんだの被膜で少なく
とも 95%は覆われていなければならない。はんだの表面には小さいピンホール、又は粗い点
に限ってはんだで覆われていない部分があってもよいが、これらは集中していてはならない。
また、その面積の合計は 5%未満でなければならない。
F.3.7.3 はんだ耐熱性
F.4.4.5.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 絶縁抵抗
F.3.6.1 項を満足すること。
b) 静電容量
試験前後の変化が±5pF 又は±5%のうち、いずれか大きい方の値以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
F.3.6.3 項を満足すること。
- F-8 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
F.3.8 環境的性能
コンデンサは次の環境的性能を満足しなければならない。
F.3.8.1 高周波振動
F.4.4.6.1 項によって試験したとき、
0.5ms 以上の断続的接触、
ショート又はオープンがあっ
てはならない。また、機械的損傷があってはならない。
F.3.8.2 ランダム振動
F.4.4.6.2 項によって試験したとき、
0.5ms 以上の断続的接触、
ショート又はオープンがあっ
てはならない。また、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 耐電圧
F.3.6.5 項を満足すること。
b) 絶縁抵抗
F.3.6.1 項を満足すること。
c) 静電容量
試験前後の変化が±1pF 又は±1%のうち、いずれか大きい方の値以内にあること。
d) 誘電正接（tanδ）
F.3.6.3 項を満足すること。
e) 外観
機械的損傷がなく、表示を判読できること。
F.3.8.3 衝撃
F.4.4.6.3 項によって試験したとき、
0.5ms 以上の断続的接触、
ショート又はオープンがあっ
てはならない。また、機械的損傷があってはならない。
F.3.8.4 熱衝撃（Ⅰ）
F.4.4.6.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 耐電圧
F.3.6.5 項を満足すること。
b) 絶縁抵抗
F.3.6.1 項に規定された値の 30%以上であること。
c) 静電容量
試験前後の変化が±1pF 又は±1%のうち、いずれか大きい方の値以内にあること。
d) 誘電正接（tanδ）
F.3.6.3 項に規定された値の 150%を超えないこと。
e) 外観
腐食(1)又は機械的損傷がなく、表示を判読できること。
注(1) コンデンサの機械的性能又は電気的性能に影響するような腐食。
- F-9 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
F.3.8.5 熱衝撃及び浸せきサイクル
F.4.4.6.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 耐電圧
F.3.6.5 項を満足すること。
b) 絶縁抵抗
F.3.6.1 項に規定された値の 30%以上であること。
c) 静電容量
試験前後の変化が±1pF 又は±1%のうち、いずれか大きい方の値以内にあること。
d) 誘電正接（tanδ）
F.3.6.3 項に規定された値の 150%を超えないこと。
e) 外観
腐食(1)又は機械的損傷がなく、表示を判読できること。
注(1) コンデンサの機械的性能又は電気的性能に影響するような腐食。
F.3.8.6 耐湿性
F.4.4.6.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 耐電圧
F.3.6.5 項を満足すること。
b) 絶縁抵抗
F.3.6.1 項に規定された値の 25%以上であること。
c) 静電容量
試験前後の変化が±1pF 又は±1%のうち、いずれか大きい方の値以内にあること。
d) 誘電正接（tanδ）
F.3.6.3 項に規定された値の 150%を超えないこと。
e) 外観
腐食(1)又は機械的損傷がなく、表示を判読できること。
注(1) コンデンサの機械的性能又は電気的性能に影響するような腐食。
F.3.8.7 減圧
F.4.4.6.7 項によって試験したとき、アークの痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷があってはな
らない。
F.3.8.8 耐溶剤性
F.4.4.6.8 項によって試験したとき、表示を判読できなければならない。
F.3.9 耐久的性能
コンデンサは次の耐久的性能を満足しなければならない。
- F-10 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
F.3.9.1 寿命
F.3.9.1.1 定格条件
F.4.4.7.1.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 耐電圧
F.3.6.5 項を満足すること。
b) 絶縁抵抗
F.3.6.1 項を満足すること。
c) 静電容量
試験前後の変化が±1pF 又は±1%のうち、いずれか大きい方の値以内にあること。
d) 誘電正接（tanδ）
F.3.6.3 項に規定された値の 150%を超えないこと。
e) 外観
腐食(1)又は機械的損傷がなく、表示を判読できること。
注(1) コンデンサの機械的性能又は電気的性能に影響するような腐食。
F.3.9.1.2 加速条件
F.4.4.7.1.2 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 耐電圧
F.3.6.5 項を満足すること。
b) 絶縁抵抗
F.3.6.1 項を満足すること。
c) 静電容量
試験前後の変化が±1pF 又は±1%のうち、いずれか大きい方の値以内にあること。
d) 誘電正接（tanδ）
F.3.6.3 項に規定された値の 150%超えないこと。
e) 外観
腐食(1)又は機械的損傷がなく、表示を判読できること。
注(1) コンデンサの機械的性能又は電気的性能に影響するような腐食。
F.4. 品質保証条項
F.4.1 工程内検査
工程内検査は 4.3 項による。
F.4.2 認定試験
認定試験は 4.4 項によるほか、次による。
F.4.2.1 試料
認定試験の試料は 4.4.1 項によるほか、次による。
- F-11 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
a) 個別認定
認定を希望する形式、特性、公称静電容量、静電容量許容差、使用温度範囲及び定
格電圧を有する試料を 229 個供試する。
b) 組合せ認定
次の条件に従って組合せた試料を 229 個供試する。異なる形式を組合せた場合には、
各形式の試料がほぼ同数となるように選択し、形式ごとに、公称静電容量の最大値及
び最小値の試料がほぼ半数ずつになるように選択する。ただし、最小値が 47pF 以下
の場合には、47pF を選んでもよい。
1) CMS16 及び CMS17 は互いに組合せることができるが、これら以外の形式の試料
とは組合せることができない。
2) CMS18、CMS19、CMS21 及び定格電圧が 500VDC の CMS22 は互いに組合せるこ
とができるが、これら以外の形式の試料及び定格電圧が 1,000VDC の CMS22 とは
組合せることができない。
3) 定格電圧が 1,000VDC の CMS22 は、他の形式の試料及び定格電圧が 500VDC の
CMS22 とは組合せることができない。
F.4.2.2 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目及び試料数は表 F-7 による。Ⅰ群の試験後にⅡ群の試験を行い、その
後、Ⅲ群以下の各群に試料を分けて試験を行う。ただし、Ⅲ群以下の試験は群番号の順に行
わなくてもよい。各群内の試験項目は順序番号の順に行う。
- F-12 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 F-7 認定試験
試
群
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
1
耐電圧
F.3.6.5
F.4.4.4.5
2
電圧エージング
F.3.6.6
F.4.4.4.6
3
外観、寸法、表示など(3)
F.3.3
F.4.4.2
1
減圧
F.3.8.7
F.4.4.6.7
(2)
2
絶縁抵抗
F.3.6.1
F.4.4.4.1
(4)
Ⅱ
3
静電容量
F.3.6.2
F.4.4.4.2
229
4
誘電正接
F.3.6.3
F.4.4.4.3
1
はんだ付け性
F.3.7.2
F.4.4.5.2
2
高周波振動
F.3.8.1
F.4.4.6.1
3
温度係数及び静電容量のずれ
F.3.6.4
F.4.4.4.4
4
熱衝撃及び浸せきサイクル
F.3.8.5
F.4.4.6.5
1
衝撃
F.3.8.3
F.4.4.6.3
引張り強さ
F.3.7.1.1
F.4.4.5.1.1
平端子曲げ強さ
F.3.7.1.2
F.4.4.5.1.2
F.3.8.6
F.4.4.6.6
定格条件
F.3.9.1.1
加速条件
(2)
Ⅰ
Ⅲ
Ⅳ
2
端子強度
3
4
Ⅴ
1
耐湿性
寿命
2
許
試料数
容
不良数(1)
(4)
0
229
0
18
1
18
1
F.4.4.7.1.1
150
0
F.3.9.1.2
F.4.4.7.1.2
17
0
6
0
1
耐溶剤性
F.3.8.8
F.4.4.6.8
2
はんだ耐熱性
F.3.7.3
F.4.4.5.3
Ⅶ
1
DPA
F.3.4.1
F.4.4.3.1
(4)2(4)
0
Ⅷ
1
ランダム振動
F.3.8.2
F.4.4.6.2
6
0
Ⅸ
1
熱衝撃（Ⅰ）
F.3.8.4
F.4.4.6.4
12
0
－
1
材料
F.3.2
Ⅵ
注(1)
－
(5)
1 個の試料が同じ試験群に属する試験項目の二つ以上の項目で不合格であっても、不良数
は 1 個と数える。
2
非破壊試験である。
3
寸法の合否判定は、JIS Z 9015-1 の付表 2-A に規定された「なみ検査の 1 回抜取方式」の
()
()
AQL=1.0%とする。
4
()
組合せ認定の場合には、DPA は各形式について、少なくとも 1 個は試験すること。その
ための試料は追加すること。
(5)
設計仕様を満足していることを証明する資料を提出すること。
- F-13 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
F.4.3 品質確認試験
品質確認試験は 4.5 項によるほか、次による。
F.4.3.1 試験項目及び試料数
品質確認試験の試験項目及び試料数は、グループ A 試験を表 F-8 に、グループ B 試験を表
F-9 に、グループ C 試験を表 F-10 に示す。各群内の試験項目は順序番号の順に行う。
F.4.3.2 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
表 F-8 品質確認試験（グループ A）
試
群
A1
A2
注(1)
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
耐電圧
F.3.6.5
F.4.4.4.5
2
電圧エージング
F.3.6.6
F.4.4.4.6
3
絶縁抵抗
F.3.6.1
F.4.4.4.1
4
静電容量
F.3.6.2
F.4.4.4.2
5
誘電正接
F.3.6.3
F.4.4.4.3
1
6
外観、寸法、表示など( )
F.3.3
F.4.4.2
1
DPA
F.3.4.1
F.4.4.3.1
合 否 判 定
試料数
許容不良数
全数
0
(2)2(2)
0
寸法の合否判定は、JIS Z 9015-1 の付表 2-A に規定された「なみ検査の 1 回抜取 方式」
の AQL=1.0%とする。
2
()
DPA は各形式について、少なくとも 1 個は試験すること。そのための試料は追加する
こと。
表 F-9 品質確認試験（グループ B）
試
群
B1
注(1)
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
耐溶剤性
F.3.8.8
F.4.4.6.8
2
はんだ耐熱性
F.3.7.3
F.4.4.5.3
形式ごとに、ほぼ数量に比例配分して抜き取ること。
- F-14 -
合 否 判 定
試料数(1)
許容不良数
6
0
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 F-10 品質確認試験（グループ C）
試
群
C1
C2
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
はんだ付け性
F.3.7.2
F.4.4.5.2
2
高周波振動
F.3.8.1
F.4.4.6.1
3
温度係数及び静電容量のずれ F.3.6.4
F.4.4.4.4
4
熱衝撃及び浸せきサイクル
F.3.8.5
F.4.4.6.5
1
減圧
F.3.8.7
F.4.4.6.7
2
衝撃
F.3.8.3
F.4.4.6.3
引張り強さ
F.3.7.1.1
F.4.4.5.1.1
平端子曲げ強さ
F.3.7.1.2
F.4.4.5.1.2
3
端子強度
4
合 否 判 定
試料数(1)
許容不良数
18
0
18
0
5
耐湿性
F.3.8.6
F.4.4.6.6
C3
1
寿命（加速条件）
F.3.9.1.2
F.4.4.7.1.2
12
0
C4
1
ランダム振動
F.3.8.2
F.4.4.6.2
6
0
C5
1
熱衝撃（Ⅰ）
F.3.8.4
F.4.4.6.4
6
0
1
注( )
形式ごとに、ほぼ数量に比例配分して抜き取ること。
F.4.4 試験方法
F.4.4.1 試験条件
MIL-STD-202 の 4 項による。ただし、次の条件を適用する。
a) 標準状態
標準状態とは、温度 25℃±3℃、相対湿度 25%～75%、気圧 86kPa～106kPa の環境
条件をいう。試験及び測定は、特に規定がない限り標準状態で行う。再現性のある結
果を得るためにこれらの条件を厳密に管理しなければならないときには、b)の判定状
態を適用する。換算を必要とする場合は、c)の基準状態を用いる。
なお、判定に疑義を生じなければ、標準状態以外で試験及び測定を行ってもよい。
b) 判定状態
判定状態は、温度 25-20℃、相対湿度 50±2%、気圧 86kPa～106kPa とする。
c) 基準状態
基準状態は、温度 25℃、相対湿度 50%、気圧 101.3kPa とする。
d) 基準測定
エージング前後の測定値を比較する場合は、エージングに先立ち 25℃±3℃で測定さ
れた値を基準値とする。この基準値が試験開始時点から 30 日以前に測定された場合、
又は測定用の治工具などの影響を受けると考えられる場合には、再測定を行い、これ
を基準値としなければならない。
e) 試験電圧の測定精度は、規定された電圧の±3.0%以内でなければならない。
- F-15 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
f) 寿命試験に用いる電源電圧の変動は、規定された試験電圧の±3%以内でなければなら
ない。また、漏れ電流の測定に用いる電源電圧の変動は、±100ppm 以内でなければな
らない。
F.4.4.2 外観、寸法、表示など
F.3.3 項に規定された外観、構造、寸法、質量及び表示について試験する。ただし、質量
は、認定試験及びグループ C 試験に先立って実施するグループ A 試験のみに適用する。
F.4.4.3 ワークマンシップ
F.4.4.3.1 DPA
コンデンサを分解して、コンデンサ素子と端子とのはんだ付け、その他の工程、内部構
造及び材料を観察し、マイカフィルムの寸法及び相互間隔を測定するもので、品質保証プ
ログラム計画書の DPA マニュアルに従って実施しなければならない。
F.4.4.4 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験は、次の方法による。
F.4.4.4.1 絶縁抵抗
MIL-STD-202 の試験方法 302 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件
1) 定格電圧 500VDC 未満のコンデンサ：A（100VDC）
2) 定格電圧 500VDC 以上のコンデンサ：B（500VDC）
b) 測定点：端子間
c) 印加時間：10 秒～120 秒
d) 試験温度
1) 認定試験及びグループ C 試験に先立って実施するグループ A 試験：25℃±5℃及
び最高使用温度+5
0℃
2) 上記以外のグループ A 試験：25℃±5℃
F.4.4.4.2 静電容量
MIL-STD-202 の試験方法 305 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数(1)
1) 公称静電容量が 1,000pF 以下のコンデンサ：1MHz±0.1%
2) 公称静電容量が 1,000pF を超えるコンデンサ：1kHz±10%
b) 測定精度：±0.2pF 又は公称静電容量値の±0.2%のうち、いずれか大きい方の値以下
c) 測定電圧：実効電圧 10V 以下
注(1) 認定取得業者の都合によって 1kHz～1MHz の周波数を適用した場合には、
上記 a)の 1)又は 2)を適用したものとみなす。
- F-16 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
F.4.4.4.3 誘電正接
ブリッジ又は他の適切な装置によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数(1)
1) 公称静電容量が 1,000pF 以下のコンデンサ：1MHz±0.1%
2) 公称静電容量が 1,000pF を超えるコンデンサ：1kHz±10%
b) 測定精度：±2%以内
c) 測定電圧：実効電圧 10V 以下
注(1)
認定取得業者の都合によって 1kHz～1MHz の周波数を適用した場合には、
上記 a)の 1)又は 2)を適用したものとみなす。
F.4.4.4.4 温度係数及び静電容量のずれ
表 F-11 の段階番号順に、F.4.4.4.2 項に従って各段階の温度における静電容量を測定し、
その測定値から温度係数と静電容量のずれを算出する。
なお、測定精度は±（公称静電容量値×0.025%+0.05pF）以内とする。また、測定は、試
料が熱平衡に達した後で行うこと。熱平衡とは、その温度において 5 分間隔で静電容量を
測定したとき、続く 2 回の測定値に差がない状態をいう。
a) 温度係数
温度係数は、次式により算出する。
温度係数 ppm / ℃  
ここで
C X  C5 
 10 6
C5 T X  T5 
Cx：試験温度における静電容量（pF）
C5：段階 5 における静電容量（pF）
Tx：段階 X における試験温度（℃）
T5：段階 5 における試験温度（25℃）
b) 静電容量のずれ
静電容量のずれは、段階 1、段階 5 及び段階 11 における測定値の最大値と最小値
の差を段階 5 における測定値で除して算出する。
- F-17 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
表 F-11 試験温度
単位 ℃
1
段階( )
温
度
1
段階( )
温
度
1
25 ±2
6
45 ±2
2
-55 ±2
7
65 ±2
3
-40 ±2
8
85
4
-10 ±2
9
125
5
25 ±2
(2)10(2)
150
－
－
11
+2
0
+2
0
+2
0
25 ±2
1
注( ) グループ C 試験の場合には、段階 3、段階 4、段階 6、段階 7
及び段階 8 における測定を省略することができる。
2
( ) 段階 10 は、使用温度範囲記号“P”のコンデンサのみに適用す
る。
F.4.4.4.5 耐電圧
MIL-STD-202 の試験方法 301 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 印加電圧：定格電圧×200%
b) 印加時間：1 秒～5 秒
c) 測定点：端子間
d) 充放電電流：50mA 以下
e) 試験後の検査
アークの痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を調べる。
F.4.4.4.6 電圧エージング
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験温度：個別仕様書に規定された最高使用温度
b) 印加電圧：定格電圧×200%
c) 印加時間：48+4
0 時間
d) 測定点：端子間
e) 試験後の検査
アークの痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を調べる。
F.4.4.5 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験は、次の方法による。
- F-18 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
F.4.4.5.1 端子強度
F.4.4.5.1.1 引張り強さ
MIL-STD-202 の試験方法 211 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A（引張り試験）
b) 試料の保持方法
試料の本体を固定する。
c) 荷重
表 F-12 による。
d) 試験時間：5 秒±1 秒
e) 試験後の検査
目視によって端子のゆるみ、亀裂、その他の機械的損傷を調べる。
表 F-12 引張り強さ及び平端子曲げ強さの試験荷重
単位 N
公称断面積(mm2)
荷
重
引張り強さ
平端子曲げ強さ
0.07 以上 0.2 以下
04.9
002.45
0.2 を超え 0.5 以下
09.8
04.9
0.5 を超え 1.0 以下
24.5
09.8
1.0 を越えるもの
44.1
14.7
F.4.4.5.1.2 平端子曲げ強さ
MIL-STD-202 の試験方法 211 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B（平端子曲げ試験）
b) 荷重
表 F-12 による。
c) 試験の方法
表 F-12 に規定された荷重で端子引き出し方向に対して互いに直角な二方向に
90 度曲げ、元の位置に戻す。これを 2 回繰り返す。曲げ方向の一例を図 F-2 に示
す。ただし、CMS22 形の曲げ方向は荷重 No.1 のみとする。
d) 試験後の検査
目視によって端子のゆるみ、亀裂、その他の機械的損傷を調べる。
- F-19 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
図 F-2 平端子の曲げ方向
F.4.4.5.2 はんだ付け性
MIL-STD-202 の試験方法 208 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験する端子の数：試料 1 個について 2 本
b) はんだの温度：230℃±5℃
c) 浸せき深さ：端子の根元から約 1.5mm 以内
d) 試験後の検査
目視によって、はんだの付着状態を調べる。
F.4.4.5.3 はんだ耐熱性
MIL-STD-202 の試験方法 210 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の測定
F.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試験条件：B（260℃、10 秒±1 秒） ただし、CMS16 形の浸せき時間は 3 秒±0.5
秒とする。
c) 浸せき深さ：端子の根元から 4mm±0.8mm
d) 試験後の測定までの放置時間：60 秒±10 秒
e) 試験後の測定
F.4.4.4.1 項、F.4.4.4.2 項及び F.4.4.4.3 項に従って絶縁抵抗、静電容量及び誘電正
接（tanδ）を測定する。
F.4.4.6 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験は、次の方法による。
F.4.4.6.1 高周波振動
MIL-STD-202 の試験方法 204 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
試料の本体が動かないように、治具を用いるか、又は直接振動台にしっかりと取
り付ける。また、樹脂などを用いて本体を固定してもよい。
b) 試験条件：D（196m/s2）
- F-20 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
c) 試験中の測定
各方向の最後のサイクルにおいて、0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオー
プンの有無を調べる。
d) 試験後の検査
目視によって機械的損傷の有無を調べる。
F.4.4.6.2 ランダム振動
MIL-STD-202 の試験方法 214 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の測定
F.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試料の取付け
試料の本体が動かないように、治具を用いるか、又は直接振動台にしっかりと取
り付ける。また、樹脂などを用いて本体を固定してもよい。
c) 試験条件：Ⅱ-H（333m/s2 rms）
d) 振動方向と時間：互いに直角をなす 3 方向に各 3 分間（計 9 分間）
e) 試験中の測定
0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオープンの有無を調べる。
f) 試験後の測定
F.4.4.4.5 項に従って耐電圧試験を行った後、
F.4.4.4.1 項、F.4.4.4.2 項及び F.4.4.4.3
項に従って絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接（tanδ）を測定する。
g) 試験後の検査
目視によって機械的損傷の有無及び表示の判読可否を調べる。
F.4.4.6.3 衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 213 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
試料の本体が動かないように、治具を用いるか、又は直接振動台にしっかりと取
り付ける。また、樹脂などを用いて本体を固定してもよい。
b) 試験条件：I（980m/s2、のこぎり波）
c) 試験中の測定
各方向の最後のサイクルにおいて、0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオー
プンの有無を調べる。
d) 試験後の検査
目視によって機械的損傷の有無を調べる。
F.4.4.6.4 熱衝撃（Ⅰ）
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B ただし、サイクル数は 1,000 サイクルとする。また、段階 1 は-30-30℃、
+5
段階 3 は 100+3
0 ℃とし、これらの温度における保持時間は 15 0 分間とする。
- F-21 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) 測定及び検査
試験前、50±10、100±10、250±20、500±20 及び 1,000+10
0 サイクルにおいて、次
の測定及び検査を行う。
1) 測定
F.4.4.4.5 項に従って耐電圧試験を行った後､F.4.4.4.1 項、F.4.4.4.2 項及び
F.4.4.4.3 項に従って絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接（tanδ）を測定する。
2) 検査
10 倍の拡大鏡によって腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否を
調べる。
F.4.4.6.5 熱衝撃及び浸せきサイクル
a) 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
1) 試験前の測定
F.4.4.4.5 項に従って耐電圧試験を行った後、F.4.4.4.1 項、F.4.4.4.2 項及び
F.4.4.4.3 項に従って絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接（tanδ）を測定する。
2) 試験条件：B（5 サイクル） ただし、段階 1 は-55-30℃、段階 3 は最高使用温度
+3
0 ℃とする。
3) 試験時間
段階 1 及び段階 3 のさらし時間は、30 分以上とする。
b) 浸せきサイクル
F.4.4.6.5 項 a)の熱衝撃に引き続き、すみやかに MIL-STD-202 の試験方法 104 に
よって試験する。ただし、次の条件を適用する。
1) 試験条件：B（2 サイクル、飽和食塩水）
2) 試験後の測定
F.4.4.4.5 項に従って耐電圧試験を行った後、F.4.4.4.1 項、F.4.4.4.2 項及び
F.4.4.4.3 項に従って絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接（tanδ）を測定する。
3) 試験後の検査
目視によって腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否を調べる。
F.4.4.6.6 耐湿性
MIL-STD-202 の試験方法 106 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
試験又は測定中に、試料の本体が試験用取付治具に接触しないような方法で、端
子によって取り付ける。
b) 試験前の測定
F.4.4.4.5 項に従って耐電圧試験を行った後、
F.4.4.4.1 項、F.4.4.4.2 項及び F.4.4.4.3
項に従って絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接（tanδ）を測定する。
- F-22 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
c) 試験前の熱衝撃
試験前に、次の条件で熱衝撃を行う。
1) 試験条件：B（5 サイクル） ただし、段階 1 は-55-30℃、段階 3 は最高使用温度
+3
0 ℃とする。
2) 試験時間
段階 1 及び段階 3 のさらし時間は、30 分以上とする。
d) サイクル数
連続 20 サイクルとする。ただし、段階 7b における振動は適用しない。
e) 試験中の負荷
試料の半数に 100VDC の直流電圧を印加する。残りの半数には電圧を印加しない。
f) 試験後の測定
最終サイクルの段階 6 の終了後、温度 25℃±5℃、相対湿度 50%±5%で試料を 4
時間～24 時間放置する。次いで、F.4.4.4.5 項に従って耐電圧試験を行った後、
F.4.4.4.1 項、F.4.4.4.2 項及び F.4.4.4.3 項に従って絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接
（tanδ）を測定する。
g) 試験後の検査
目視によって腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否を調べる。
F.4.4.6.7 減圧
MIL-STD-202 の試験方法 105 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：D（1.1kPa、30,480m）
b) 印加電圧
1) 定格電圧 1,000VDC のコンデンサ：定格電圧
2) 上記以外のコンデンサ：定格電圧×150%
c) 測定点：端子間
d) 減圧中の印加時間：60+15
0秒
e) 充放電電流：50mA 以下
f) 試験後の検査
アークの痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を調べる。
F.4.4.6.8 耐溶剤性
MIL-STD-202 の試験方法 215 によって試験する。ただし、溶剤はイソプロピルアルコー
ルとする。
F.4.4.7 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験は、次の方法による。
- F-23 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
F.4.4.7.1 寿命
F.4.4.7.1.1 定格条件
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の処理
試料を温度-55-20℃で 48+4
0 時間放置する。
b) 試験前の測定
F.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
c) 試験温度：最高使用温度±3℃
d) 印加電圧：定格電圧
e) 充放電電流：50mA 以下
f) 試験時間：4,000+72
0 時間
g) 試験後の測定
+72
2,000+72
0 時間及び 4,000 0 時間において、F.4.4.4.5 項に従って耐電圧試験を
行った後、F.4.4.4.1 項、F.4.4.4.2 項及び F.4.4.4.3 項に従って絶縁抵抗、静電容
量及び誘電正接（tanδ）を測定する。
h) 試験後の検査
目視によって腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否を調べる。
F.4.4.7.1.2 加速条件
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の処理
試料を温度-55-20℃で 48+4
0 時間放置する。
b) 試験前の測定
F.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
c) 試験温度：最高使用温度±3℃
d) 印加電圧：定格電圧×150%
e) 充放電電流：50mA 以下
f) 試験時間：2,000+72
0 時間
g) 試験後の測定
F.4.4.4.5 項に従って耐電圧試験を行った後、F.4.4.4.1 項、F.4.4.4.2 項及び
F.4.4.4.3 項に従って絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接（tanδ）を測定する。
h) 試験後の検査
目視によって腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否を調べる。
F.4.5 長期保管
4.7.1 項によって長期保管されたコンデンサは、次の項目について項目順に全数試験を行わ
なければならない。
a) 耐電圧（F.3.6.5 項）
b) 絶縁抵抗（F.3.6.1 項）
- F-24 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
c) 静電容量（F.3.6.2 項）
d) 誘電正接（F.3.6.3 項）
e) 外観・表示（F.3.3 項）
F.4.6 試験及び検査の変更
試験及び検査の変更は 4.8 項による。
F.5. 引渡しの準備
引渡しの準備は 5 項による。
F.6. 注意事項
注意事項は 6 項による。
- F-25 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 G
固定プラスチックフィルムコンデンサ
G.1. 総則 ...................................................................................................................................... G-1
G.1.1 適用範囲 ......................................................................................................................... G-1
G.1.2 区分................................................................................................................................. G-1
G.1.3 部品番号 ......................................................................................................................... G-1
G.1.3.1 形式 .......................................................................................................................... G-1
G.1.3.2 特性 .......................................................................................................................... G-2
G.1.3.3 定格電圧................................................................................................................... G-2
G.1.3.4 公称静電容量 ........................................................................................................... G-2
G.1.3.5 静電容量許容差 ........................................................................................................ G-2
G.2. 適用文書など ........................................................................................................................ G-3
G.2.1 適用文書 ......................................................................................................................... G-3
G.2.2 参考文書 ......................................................................................................................... G-3
G.3. 要求事項 ............................................................................................................................... G-3
G.3.1 認定の範囲...................................................................................................................... G-3
G.3.2 材料................................................................................................................................. G-3
G.3.2.1 誘電体フィルム ........................................................................................................ G-3
G.3.2.2 含浸剤及び充てん物 ................................................................................................ G-4
G.3.3 設計及び構造 .................................................................................................................. G-4
G.3.3.1 構造 .......................................................................................................................... G-4
G.3.4 外観、寸法、表示など ................................................................................................... G-4
G.3.4.1 外観及び表示 ........................................................................................................... G-4
G.3.4.2 寸法及び質量 ........................................................................................................... G-4
G.3.5 ワークマンシップ ........................................................................................................... G-4
G.3.5.1 放射線写真 ............................................................................................................... G-5
G.3.5.2 DPA ........................................................................................................................... G-5
G.3.6 定格................................................................................................................................. G-5
G.3.7 電気的性能...................................................................................................................... G-5
G.3.7.1 絶縁抵抗................................................................................................................... G-5
G.3.7.2 耐電圧 ...................................................................................................................... G-5
G.3.7.3 静電容量................................................................................................................... G-5
G.3.7.4 誘電正接................................................................................................................... G-5
G.3.7.5 等価直列抵抗 ........................................................................................................... G-5
G.3.7.6 周波数特性 ............................................................................................................... G-6
G.3.7.7 低温及び温度による静電容量変化........................................................................... G-6
- G-i -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
G.3.7.8 電流負荷................................................................................................................... G-6
G.3.7.9 充放電 ...................................................................................................................... G-6
G.3.8 機械的性能...................................................................................................................... G-6
G.3.8.1 端子強度................................................................................................................... G-7
G.3.8.2 はんだ付け性 ........................................................................................................... G-7
G.3.8.3 はんだ耐熱性 ........................................................................................................... G-7
G.3.9 環境的性能...................................................................................................................... G-7
G.3.9.1 ランダム振動 ........................................................................................................... G-7
G.3.9.2 衝撃 .......................................................................................................................... G-7
G.3.9.3 熱衝撃（Ⅰ） ........................................................................................................... G-7
G.3.9.4 熱衝撃及び電圧エージング ..................................................................................... G-8
G.3.9.5 熱衝撃及び浸せきサイクル ..................................................................................... G-8
G.3.9.6 耐湿性 ...................................................................................................................... G-8
G.3.9.7 減圧 .......................................................................................................................... G-8
G.3.9.8 耐溶剤性................................................................................................................... G-8
G.3.9.9 耐放射線性 ............................................................................................................... G-8
G.3.10 耐久的性能.................................................................................................................... G-9
G.3.10.1 寿命 ........................................................................................................................ G-9
G.4. 品質保証条項 ........................................................................................................................ G-9
G.4.1 工程内検査...................................................................................................................... G-9
G.4.2 認定試験 ......................................................................................................................... G-9
G.4.2.1 試料 .......................................................................................................................... G-9
G.4.2.2 試験項目及び試料数 ................................................................................................ G-9
G.4.3 品質確認試験 .................................................................................................................G-11
G.4.3.1 試験項目及び試料数 ...............................................................................................G-11
G.4.3.2 試験後の処置 ..........................................................................................................G-11
G.4.4 試験方法 ....................................................................................................................... G-12
G.4.4.1 試験条件................................................................................................................. G-12
G.4.4.2 外観、寸法、表示など ........................................................................................... G-13
G.4.4.3 ワークマンシップ .................................................................................................. G-13
G.4.4.4 電気的性能 ............................................................................................................. G-13
G.4.4.5 機械的性能 ............................................................................................................. G-17
G.4.4.6 環境的性能 ............................................................................................................. G-18
G.4.4.7 耐久的性能 ............................................................................................................. G-20
G.4.5 長期保管 ....................................................................................................................... G-21
G.4.6 試験及び検査の変更 ..................................................................................................... G-21
G.5. 引渡しの準備 ...................................................................................................................... G-21
G.6. 注意事項 ............................................................................................................................. G-21
- G-ii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 G
固定プラスチックフィルムコンデンサ
G.1. 総則
G.1.1 適用範囲
この付則は、コンデンサのうち、固定プラスチックフィルムコンデンサ（以下、
「コンデン
サ」という）に適用し、それらの要求事項、品質保証条項などを規定する。
G.1.2 区分
コンデンサの区分は表 G-1 による。
表 G-1 区
構
分
造
用
途
円筒形、非金属ケース、リード線端子同一方向
フィルタ用
メタライズドプラスチックフィルム
（10μF～68μF）
形
式
CFS061
フィルタ用
角形、非金属ケース、リード線端子同一方向
（0.01μF～6.8μF）
メタライズドプラスチックフィルム
共振用
（0.01μF～0.22μF）
CFS991
CFS992
G.1.3 部品番号
コンデンサの部品番号は次の例のように表す。詳細は個別仕様書による。
例 NASDA(1)
CFS991
形
式
(G.1.3.1 項)
N
特
K
性
(G.1.3.2 項)
定格電圧
(G.1.3.3 項)
105
公
K
称
静電容量
静電容量
許 容 差
(G.1.3.4 項)
(G.1.3.5 項)
1
注( ) “NASDA”は、宇宙開発用共通部品等であることを示す。“N”と省略できる。
G.1.3.1 形式
形式は、
“CFS”と 3 数字で表す。
“CFS”は信頼性保証固定プラスチックフィルムコンデ
ンサを示し、これに続く 3 数字は表 G-2 に示すように、最初の 2 数字で形状を、最後の数字
で用途を表す。
- G-1 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 G-2 形状及び用途
記号
形
状
記号
06
円筒形、非金属ケース、リード線端子同一方向
99
角形、非金属ケース、リード線端子同一方向
用
途
1
フィルタ用
1
フィルタ用
2
共振用
G.1.3.2 特性
特性は、表 G-3 のとおり 1 英大文字で表す。
表 G-3 特
記
号
性
使用温度範囲(℃)
誘
電
体
N
-55～+105
ポリエチレンテレフタレートフィルム
L
-55～+105
ポリプロピレンフィルム
R
-55～+125
ポリカーボネートフィルム
T
-55～+150
ポリスルホンフィルム
G.1.3.3 定格電圧
定格電圧は、表 G-4 のとおり 1 英大文字で表す。
表 G-4 定格電圧
単位 V
記
号
A
B
C
D
E
F
G
H
J
K
L
定格電圧
50
100
200
300
400
600
75
150
25
250
500
G.1.3.4 公称静電容量
公称静電容量は 3 桁の数字で表し、ピコファラド（pF）を単位とする。最初の 2 数字は有
効数字を表し、最後の数字はこれに続く零の数を表す。
例
103：0.010μF、105：1.0μF、686：68μF
G.1.3.5 静電容量許容差
静電容量許容差は、表 G-5 のとおり 1 英大文字で表す。
- G-2 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 G-5 静電容量許容差
単位 %
記
号
静電容量許容差
H
J
K
±3
±5
±10
G.2. 適用文書など
G.2.1 適用文書
この付則の適用文書は、2.1 項による。
G.2.2 参考文書
次の文書は、この付則の参考文書とする。
a) MIL-PRF-55514
Capacitors, Fixed ,Plastic (or Metallized Plastic) Dielectric,
DC or DC-AC, In Nonmetal Cases, Non-Established and
Established Reliability, General Specification for
G.3. 要求事項
G.3.1 認定の範囲
認定されるコンデンサの範囲は、この仕様書の G.3.2 項から G.3.10 項に規定された材料、設
計、構造、定格及び性能を満足するコンデンサの製造ラインを用いて製造される製品群で、認
定試験に合格した試料で代表される範囲のものとする。したがって、この認定の範囲内におい
て個別仕様書で規定する個々の製品を供給することができる。
なお、より詳細な認定の範囲の規定が必要な場合は、個別仕様書に規定する。
G.3.2 材料
コンデンサに使用する材料は 3.3 項によるほか、次による。
G.3.2.1 誘電体フィルム
コンデンサの誘電体フィルムは、次の材料の中から選んで個別仕様書に規定し、使用しな
ければならない。
a) ポリエチレンテレフタレートフィルム
b) ポリプロピレンフィルム
c) ポリカーボネートフィルム
d) ポリスルホンフィルム
- G-3 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
G.3.2.2 含浸剤及び充てん物
含浸剤及び充てん物は、コンデンサの素子やケースに化学的な影響を与えるものであって
はならない。また、コンデンサを使用又は放置した状態で、性能に悪影響を与えるものであっ
てはならない。
G.3.3 設計及び構造
G.3.3.1 構造
コンデンサの構造は次によるほか、個別仕様書による。
a) 外装
コンデンサは、含浸及び充てん物の漏れを防止し、湿気や機械的損傷などからコン
デンサ素子を保護するために、樹脂ケース、樹脂テープなどにより外装されていなけ
ればならない。
b) リード線端子
リード線の材料は銅又は銅合金であること。リード線を動かしたとき、素子、ケー
ス及び外装に過度の力が加わらないように、内部的にも外部的にも確実に接続されて
いなければならない。リード線は、溶融はんだに浸せきするか、又は電気めっきによっ
て、はんだ付けされなければならない。
c) コンデンサ素子
コンデンサ素子は、プラスチックフィルム又はメタライズドプラスチックフィルム
で構成されていなければならない。誘電体としてプラスチックフィルムとメタライズ
ドプラスチックフィルムを併用してもよい。コンデンサ素子は、インダクタンスを少
なくするため無誘導構造でなければならない。
G.3.4 外観、寸法、表示など
G.3.4.1 外観及び表示
コンデンサの表面には損傷などがあってはならない。また、表示は少なくとも次の項目を
含み、容易に消えない方法でなされていなければならない。
a) 部品番号
b) ロット識別記号
c) 認定取得業者名又はその略号
G.3.4.2 寸法及び質量
寸法及び質量は個別仕様書による。
G.3.5 ワークマンシップ
コンデンサは良好な設計に基づいて、この仕様書の 3.2.1 項で設定された品質保証プログラ
ムに従って製造されていなければならない。
- G-4 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
G.3.5.1 放射線写真
G.4.4.3.1 項によって試験したとき、不十分な接続、不十分なはんだ、はんだ粒の付着など
の構造的欠陥があってはならない。
G.3.5.2 DPA
G.4.4.3.2 項によって試験したとき、コンデンサ素子と端子とのはんだ付け、その他の工程
が確実に行われていなければならない。また、誘電体寸法、相互間隔などの内部構造が品質
保証プログラムに規定されたとおりでなければならない。
G.3.6 定格
次の事項を個別仕様書で定めなければならない。
a) 公称静電容量
b) 静電容量許容差
c) 使用温度範囲
d) 定格電圧
G.3.7 電気的性能
コンデンサは次の電気的性能を満足しなければならない。
G.3.7.1 絶縁抵抗
G.4.4.4.1 項によって試験したとき、絶縁抵抗は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
G.3.7.2 耐電圧
G.4.4.4.2 項によって試験したとき、瞬間的若しくは継続的アーク又は瞬時短絡を除く短絡
があってはならない。
G.3.7.3 静電容量
G.4.4.4.3 項によって試験したとき、静電容量は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
G.3.7.4 誘電正接
G.4.4.4.4 項によって試験したとき、誘電正接は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
G.3.7.5 等価直列抵抗
G.4.4.4.5 項によって試験したとき、等価直列抵抗は個別仕様書の要求を満足しなければな
らない。
- G-5 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
G.3.7.6 周波数特性
G.4.4.4.9 項によって試験したとき、共振周波数は下記の計算式によって算出される値以上
でなければならない。
fo 
1
(MHz )
1.5 C
fo
：共振周波数（MHz）
C
：定格静電容量（μF）
G.3.7.7 低温及び温度による静電容量変化
G.4.4.4.6 項によって試験したとき、絶縁破壊やアークの痕跡が認められず、断線、短絡又
は機械的損傷があってはならない。
なお、規定された温度における静電容量の変化、絶縁抵抗及び誘電正接は、個別仕様書の
規定を満足しなければならない。
G.3.7.8 電流負荷
G.4.4.4.7 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 端子間の絶縁抵抗（25℃）
：規格値の 50%以上
b) 静電容量変化率：±5%以内
c) 誘電正接（25℃）
：規格値の 120%以下
d) 等価直列抵抗：規格値の 120%以下
e) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような異常のないこと。
f) DPA
試験を実施していないものと比較して著しい異常のないこと。
G.3.7.9 充放電
G.4.4.4.8 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 端子間の絶縁抵抗（25℃）
：規格値の 50%以上
b) 静電容量変化率：±5%以内
c) 誘電正接（25℃）
：規格値の 120%以下
d) 等価直列抵抗：規格値の 120%以下
e) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような異常のないこと。
f) DPA
試験を実施していないものと比較して著しい異常のないこと。
G.3.8 機械的性能
コンデンサは次の機械的性能を満足しなければならない。
- G-6 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
G.3.8.1 端子強度
G.4.4.5.1 項によって試験したとき、リード線端子にゆるみ、亀裂、その他の損傷があって
はならない。
G.3.8.2 はんだ付け性
G.4.4.5.2 項によって試験したとき、端子の表面は、新しい滑らかなはんだの被膜で少なく
とも 95%は覆われていなければならない。はんだの表面には小さいピンホール、又は粗い点
に限ってはんだで覆われていない部分があってもよいが、これらは集中していてはならない。
また、その面積の合計は 5%未満でなければならない。
G.3.8.3 はんだ耐熱性
G.4.4.5.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 静電容量変化率：±3%以内
b) 誘電正接（25℃）
個別仕様書の規定を満足すること。
c) 等価直列抵抗：規格値以下
G.3.9 環境的性能
コンデンサは次の環境的性能を満足しなければならない。
G.3.9.1 ランダム振動
G.4.4.6.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 機械的損傷、0.5ms 以上の断続的接触又は断線若しくは短絡があってはならない。
b) 端子間の絶縁抵抗（25℃）
：規格値以上
c) 静電容量変化率：±3%以内
d) 誘電正接（25℃）
：規格値以下
e) 等価直列抵抗：規格値以下
f) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような異常のないこと。
G.3.9.2 衝撃
G.4.4.4.6.2 項によって試験したとき、コンデンサに機械的損傷、0.5ms 以上の断続的接触
又は断線若しくは短絡があってはならない。
G.3.9.3 熱衝撃（Ⅰ）
G.4.4.6.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 端子間の絶縁抵抗（25℃）
：規格値の 50%以上
b) 静電容量変化率：±5%以内
c) 誘電正接（25℃）
：規格値の 120%以下
- G-7 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 等価直列抵抗：規格値の 120%以下
e) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような異常のないこと。
G.3.9.4 熱衝撃及び電圧エージング
G.4.4.6.4 項によって試験したとき、コンデンサに機械的損傷があってはならない。
G.3.9.5 熱衝撃及び浸せきサイクル
G.4.4.6.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 耐電圧
G.3.7.2 項を満足すること。
b) 端子間の絶縁抵抗（25℃）
：規格値の 50%以上
c) 静電容量変化率：±5%以内
d) 誘電正接（25℃）
：規格値の 120%以下
e) 等価直列抵抗：規格値の 120%以下
f) 外観
ケース又は端子に損傷がなく、端子に腐食のないこと。
G.3.9.6 耐湿性
G.4.4.6.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 耐電圧
G.3.7.2 項を満足すること。
b) 端子間の絶縁抵抗（25℃）
：規格値の 50%以上
c) 静電容量変化率：±5%以内
d) 誘電正接（25℃）
：規格値以下
e) 等価直列抵抗：規格値以下
f) 外観
ケース又は端子に損傷がなく、端子に腐食のないこと。
G.3.9.7 減圧
G.4.4.6.7 項によって試験したとき、コンデンサに外観上の損傷、外部のアーク、断線又は
短絡などがあってはならない。
G.3.9.8 耐溶剤性
G.4.4.6.8 項によって試験したとき、表示は明瞭に残り不鮮明ではないこと。
G.3.9.9 耐放射線性
G.4.4.6.9 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 端子間の絶縁抵抗（25℃）
：規格値の 30%以上
- G-8 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) 静電容量変化率：±5%以内
c) 誘電正接（25℃）
：規格値の 120%以下
d) 等価直列抵抗：規格値の 120%以下
e) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷、又は表示消えがないこと。
G.3.10 耐久的性能
コンデンサは次の耐久的性能を満足しなければならない。
G.3.10.1 寿命
G.4.4.7.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 端子間の絶縁抵抗（25℃）
：規格値の 30%以上
b) 静電容量変化率：±5%以内
c) 誘電正接（25℃）
：規格値の 120%以下
d) 等価直列抵抗：規格値の 120%以下
e) 外観
変形、表示消え又は充てん物の漏れがないこと。
G.4. 品質保証条項
G.4.1 工程内検査
工程内検査は 4.3 項による。
G.4.2 認定試験
認定試験は 4.4 項によるほか、次による。
G.4.2.1 試料
認定試験の試料は 4.4.1 項によるほか、次による。
a) 個別認定
認定を希望する形式、特性、定格電圧、公称静電容量及び静電容量許容差のものを
300 個供試すること。
b) 電圧群認定
認定を希望する電圧群の最大定格電圧のコンデンサで、最小寸法のケースに最大の
静電容量を収容したもの及び最大寸法のケースに最大の静電容量を収容したものを各
151 個供試すること。試料の形式及び特性は同じでなければならない。
G.4.2.2 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目及び試料数は表 G-6 による。Ⅰ、Ⅱ群の試験を行った後、Ⅲ群以下の
各群に試料を分けて試験を行う。ただし、Ⅲ群以下の試験は群番号の順に行わなくてもよい。
各群内の試験項目は上から順に行う。
- G-9 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 G-6 認定試験
試
群
順序
験
項
目
1
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
全数
0
(2)302(2)
0
12
0
8
0
12
0
1
外観、寸法、表示など( )
G.3.4
G.4.4.2
2
熱衝撃及び電圧エージング
G.3.9.4
G.4.4.6.4
3
放射線写真
G.3.5.1
G.4.4.3.1
1
耐電圧
G.3.7.2
G.4.4.4.2
2
絶縁抵抗
G.3.7.1
G.4.4.4.1
3
静電容量
G.3.7.3
G.4.4.4.3
4
誘電正接
G.3.7.4
G.4.4.4.4
5
等価直列抵抗
G.3.7.5
G.4.4.4.5
6
周波数特性
G.3.7.6
G.4.4.4.9
1
はんだ耐熱性
G.3.8.3
G.4.4.5.3
2
ランダム振動
G.3.9.1
G.4.4.6.1
3
衝撃
G.3.9.2
G.4.4.6.2
4
端子強度
G.3.8.1
G.4.4.5.1
1
はんだ付け性
G.3.8.2
G.4.4.5.2
2
減圧
G.3.9.7
G.4.4.6.7
3
耐溶剤性
G.3.9.8
G.4.4.6.8
1
低温及び温度による静電容量変化 G.3.7.7
G.4.4.4.6
2
熱衝撃及び浸せきサイクル
G.3.9.5
G.4.4.6.5
Ⅵ
1
電流負荷
G.3.7.8
G.4.4.4.7
6
0
Ⅶ
1
充放電
G.3.7.9
G.4.4.4.8
6
0
1
耐湿性
G.3.9.6
G.4.4.6.6
236
2
寿命（定格条件）
3
寿命（加速条件）
G.3.10.1
G.4.4.7.1
Ⅰ
Ⅱ
Ⅲ
Ⅳ
Ⅴ
Ⅷ
150
0
86
Ⅸ
1
DPA
G.3.5.2
G.4.4.3.2
( )4(3)
0
Ⅹ
1
熱衝撃（Ⅰ）
G.3.9.3
G.4.4.6.3
12
0
ⅩⅠ
1
耐放射線性
G.3.9.9
G.4.4.6.9
6
0
－
1
材料
G.3.2
－
(4)
注(1)
－
寸法については、JIS Z 9015-1 付表 2-A なみ検査の 1 回抜取方式による合格品質水準
（AQL）1.0%で試験を行ってもよい。
2
個別認定の場合は 300 個とする。
3
()
個別認定の場合は 2 個とする。
(4)
設計仕様を満足していることを証明する資料を提出すること。
()
3
- G-10 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
G.4.3 品質確認試験
品質確認試験は 4.5 項によるほか、次による。
G.4.3.1 試験項目及び試料数
品質確認試験の試験項目及び試料数は、グループ A 試験を表 G-7 に、グループ B 試験を
表 G-8 に、グループ C 試験を表 G-9 に示す。グループ A 試験は群番号の順に実施する。各
群内の試験項目は順序番号の順に行う。
G.4.3.2 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
ただし、A1 群の寸法検査が不合格となったときには、寸法について全数検査を行い、良品
のみを出荷することができる。
表 G-7 品質確認試験（グループ A）
試
験
試験方法
項目番号
項目番号
群
順序
項
A1
1
外観、寸法、表示など(1)
G.3.4
G.4.4.2
1
熱衝撃及び電圧エージング
G.3.9.4
G.4.4.6.4
2
放射線写真
G.3.5.1
G.4.4.3.1
1
耐電圧
G.3.7.2
G.4.4.4.2
2
絶縁抵抗
G.3.7.1
G.4.4.4.1
3
静電容量
G.3.7.3
G.4.4.4.3
4
誘電正接
G.3.7.4
G.4.4.4.4
5
等価直列抵抗
G.3.7.5
G.4.4.4.5
1
DPA
G.3.5.2
G.4.4.3.2
A2
A3
A4
注(1)
目
要求事項
合 否 判 定
試料数
許容不良数
全数
0
全数
0
全数
0
(2)2(2)
0
寸法については、JIS Z 9015-1 付表 2-A なみ検査の 1 回抜取方式による合格品質水準
（AQL）1.0%で試験を行ってもよい。
2
()
公称静電容量の最大、最小のものを各 1 個試験する。ただし、容量が 1 種類の場合は、
2 個実施する。
表 G-8 品質確認試験（グループ B）
試
験
目
試験方法
項目番号
項目番号
群
順序
B1
1
電流負荷
G.3.7.8
B2
1
充放電
1
2
B3
項
要求事項
合 否 判 定
試料数
許容不良数
G.4.4.4.7
6
0
G.3.7.9
G.4.4.4.8
6
0
耐湿性
G.3.9.6
G.4.4.6.6
寿命（加速条件）
G.3.10.1
G.4.4.7.1
12
0
- G-11 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 G-9 品質確認試験（グループ C）
試
群
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
12
0
8
0
12
0
1
はんだ耐熱性
G.3.8.3
G.4.4.5.3
2
衝撃
G.3.9.2
G.4.4.6.2
3
端子強度
G.3.8.1
G.4.4.5.1
1
はんだ付け性
G.3.8.2
G.4.4.5.2
2
減圧
G.3.9.7
G.4.4.6.7
3
耐溶剤性
G.3.9.8
G.4.4.6.8
1
低温及び温度による静電容量変化 G.3.7.7
G.4.4.4.6
2
熱衝撃及び浸せきサイクル
G.3.9.5
G.4.4.6.5
C4
1
ランダム振動
G.3.9.1
G.4.4.6.1
12
0
C5
1
熱衝撃（Ⅰ）
G.3.9.3
G.4.4.6.3
6
0
C1
C2
C3
G.4.4 試験方法
G.4.4.1 試験条件
MIL-STD-202 の 4 項による。ただし、次の条件を適用する。
a) 標準状態
標準状態とは、温度 25℃±3℃、相対湿度 25%～75%、気圧 86kPa～106kPa の環境
条件をいう。試験及び測定は、特に規定がない限り標準状態で行う。再現性のある結
果を得るためにこれらの条件を厳密に管理しなければならないときには、b)の判定状
態を適用する。換算を必要とする場合は、c)の基準状態を用いる。
なお、判定に疑義を生じなければ、標準状態以外で試験及び測定を行ってもよい。
b) 判定状態
判定状態は、温度 25-20℃、相対湿度 50±2%、気圧 86kPa～106kPa とする。
c) 基準状態
基準状態は、温度 25℃、相対湿度 50%、気圧 101.3kPa とする。
d) 基準測定
エージング前後の測定値を比較する場合は、エージングに先立ち 25℃±3℃で測定さ
れた値を基準値とする。この基準値が試験開始時点から 30 日以前に測定された場合、
又は測定用の治工具などの影響を受けると考えられる場合には、再測定を行い、これ
を基準値としなければならない。
e) 試験電圧の測定精度は、規定された電圧の±3.0%以内でなければならない。
f) 寿命試験に用いる電源電圧の変動は、規定された試験電圧の±3%以内でなければなら
ない。
- G-12 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
G.4.4.2 外観、寸法、表示など
G.3.4 項に規定された外観、構造、寸法、質量及び表示について試験する。
G.4.4.3 ワークマンシップ
G.4.4.3.1 放射線写真
MIL-STD-202 の試験方法 209 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 判定方法
ネガフィルム又はポジフィルム及び相当の記録紙による。
b) 写真の像質
G.3.5.1 項に規定された要求を満足しているか判定でき、ペネトラメータの画像を
明瞭でシャープに写し出すことのできる十分な解像度をもっていなければならない。
c) ペネトラメータ
試料に適合する見本が定められていること。
d) 観察方法
目視又は像を 2 倍以上に拡大して観察する。
e) 試料の撮影方向
コンデンサの 2 本のリード線を含む面と直角をなす方向について撮影する。
f) 撮影条件
上記 b)に規定された品質の放射線写真が得られるような条件に設定されているこ
と。
G.4.4.3.2 DPA
コンデンサを分解して、内部構造及び溶接、はんだ付けなどの工程が確実に実施されて
いることを確認するもので、品質保証プログラム計画書の DPA マニュアルに従って実施
しなければならない。
G.4.4.4 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験は、次の方法による。
G.4.4.4.1 絶縁抵抗
MIL-STD-202 の試験方法 302 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定電圧
定格電圧が 100VDC 以上 500VDC 未満のものは 100VDC とし、定格電圧が 500VDC
以上のものは 500VDC とする。
b) 最大充放電電流：50mA
c) 測定点
1) 端子間
2) 端子外装間（要求のある場合）
（金属箔法又は金属製小球法）
- G-13 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 測定時間
最大 2 分間とする。規格を超え安定しているか、値がなお上昇しているときは、
途中で測定を終了してもよい。
G.4.4.4.2 耐電圧
MIL-STD-202 の試験方法 301 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験電圧及び印加時間
特に指定のない限り、条件 B による。
1) 条件 A：定格電圧の 200%、10 秒～60 秒
2) 条件 B：定格電圧の 250%、1 秒～5 秒
b) 印加電圧の種類：直流
c) 測定点：端子間
d) 最大充放電電流：50mA
e) 試験後の検査
アークの痕跡及び短絡について調べる。
G.4.4.4.3 静電容量
MIL-STD-202 の試験方法 305 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数：1kHz±0.1kHz
b) 測定精度：±0.5%
c) 測定電圧
定格電圧の 20%以下の交流電圧とする。ただし、10V を超えないこと。
G.4.4.4.4 誘電正接
適切な装置によって測定する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数：1kHz±0.1kHz
b) 測定精度：±2%
c) 測定電圧
定格電圧の 20%以下の交流電圧とする。ただし、10V を超えないこと。
G.4.4.4.5 等価直列抵抗
適切な装置によって測定する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数：100kHz±0.1kHz
b) 測定精度：±5%
c) 測定電圧
定格電圧の 20%以下の交流電圧とする。ただし、10V を超えないこと。
d) 測定法：シールド 4 端子法
e) 測定点
本体から約 5mm の位置とする。
- G-14 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
f) シールド
外来雑音の影響がある場合は、シールドボックス又はシールドルームを使用する
こと。
G.4.4.4.6 低温及び温度による静電容量変化
G.4.4.4.6.1 低温
コンデンサを-55℃±3℃の空気循環槽に 48 時間±4 時間放置し、この間定格電圧を印
加する。
G.4.4.4.6.2 温度による静電容量変化
G.4.4.4.6.1 項に引き続き、表 G-10 の温度に変化させ、それぞれの温度で安定したと
きの静電容量を測定する。それぞれの温度で安定とは、5 分間隔で静電容量を測定した
ときに変化のないことをいう。
認定試験のときのみ、段階 3 で絶縁抵抗及び誘電正接を測定する。試験後、絶縁破壊、
アークの痕跡、断線、短絡及び機械的損傷について調べる。
表 G-10 静電容量の測定温度
単位 ℃
段 階
温
度
1
-55 ±3
2
+25 ±5
3
最高使用温度 ±3
4
+25 ±5
［静電容量変化率の算出］
静電容量変化率（%）=
C2  C x
×100
C2
C2：段階 2 における静電容量
Cx：段階 1 又は段階 3 における静電容量
G.4.4.4.7 電流負荷
個別仕様書に規定された電流を通じて試験を行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 周波数：100kHz±10kHz
b) 試験時間：2,000+48
0 時間
c) 試験温度：常温
d) 試験前後の測定
絶縁抵抗、静電容量、誘電正接及び等価直列抵抗を測定する。また、目視により
外観を調べる。
- G-15 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
e) DPA
試験後、G.4.4.3.2 項によって 2 個の試料について実施し、試験前後の比較をする。
G.4.4.4.8 充放電
図 G-1 に示した回路で試験を行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 充放電回数：10,000 回
b) 充放電周期：1 秒間
c) 印加電圧：定格電圧の 150%
d) r0
個別仕様書に示す許容パルス電流値となるように設定する。
e) 試験前後の測定
絶縁抵抗、静電容量、誘電正接及び等価直列抵抗を測定する。また、目視により
外観を調べる。
f) DPA
試験後、G.4.4.3.2 項によって 2 個の試料について実施し、試験前後の比較をする。
C
：供試コンデンサ
E
：電源
r0
：パルス電流制限用抵抗器
r1
：電源保護抵抗器
L0
：サージ電圧を防止するためのインダクタンス
図 G-1 充放電回路
G.4.4.4.9 周波数特性
共振周波数を次の条件で測定する。
a) 測定電圧：1V±0.2VAC
b) 測定器：インピーダンスアナライザ（YHP4192A）又は同等以上のもの
c) 測定法：シールド 4 端子法
d) 測定点
本体から約 5mm の位置とする。
- G-16 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
e) シールド
外来雑音の影響がある場合は、シールドボックス又はシールドルームを使用する
こと。
G.4.4.5 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験は、次の方法による。
G.4.4.5.1 端子強度
MIL-STD-202 の試験方法 211 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件
1) 試験条件 A（引張り試験）
適用端子形状
リード線端子
端
子
条
件
荷
重
公称線径 mm
0.5＜d≦0.80
09.8N
（断面が円形のとき）
0.8＜d≦1.25
19.6N
2) 試験条件 C（リード線曲げ試験）
適用端子形状
リード線端子
端
子
条
件
荷
重
公称線径 mm
0.5＜d≦0.80
04.9N
（断面が円形のとき）
0.8＜d≦1.25
09.8N
b) 試験後の検査
目視によりリード線のゆるみ、亀裂、その他の損傷について調べる。
G.4.4.5.2 はんだ付け性
MIL-STD-202 の試験方法 208 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験する端子の数：試料 1 個について 2 本
b) 浸せき深さ
コンデンサ本体から約 3mm まで浸す。
c) 試験後の検査
目視により、はんだの濡れ性を調べる。
G.4.4.5.3 はんだ耐熱性
MIL-STD-202 の試験方法 210 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 浸せき深さ：ケース又は封口部から 3.0mm 以内
b) 試験条件：B（260℃±5℃、10 秒±1 秒）
c) 試験後測定までの放置時間：10 分±1 分
d) 試験後の測定
静電容量、誘電正接及び等価直接抵抗を測定する。
- G-17 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
G.4.4.6 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験は、次の方法による。
G.4.4.6.1 ランダム振動
MIL-STD-202 の試験方法 214 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
本体を固定し、リード線を本体から 12.7mm±3mm の点で支える。
b) 試験中の負荷
端子間に定格電圧を印加する。
c) 試験条件：Ⅱ-H（周波数範囲 20Hz～2,000Hz、全実効加速度 334m/s2 rms）
d) 振動方向及び振動時間
1) 円筒形：円筒軸方向とこれに垂直な方向に各 3 分間（計 6 分間）
2) 角形：互いに直角な 3 方向に各 3 分間（計 9 分間）
e) 試験中の測定
各方向の試験中に、0.5ms 以上の断続的接触又は断線若しくは短絡の有無につい
て調べる。
f) 試験前後の測定
絶縁抵抗、静電容量、誘電正接及び等価直列抵抗を測定する。また、目視により
外観を調べる。
G.4.4.6.2 衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 213 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
本体を堅く固定する。
b) 試験条件：I（980m/s2、6ms のこぎり波）
c) 衝撃の方向
1) 円筒形：円筒軸方向とこれに垂直な方向
2) 角形：互いに垂直な 3 方向
d) 試験中の負荷
端子間に定格電圧の 125%を印加する。
e) 試験中の測定
試験中、0.5ms 以上の断続的接触又は断線若しくは短絡の有無について調べる。
f) 試験後の検査
短絡、アークの痕跡及び機械的損傷について調べる。
G.4.4.6.3 熱衝撃（Ⅰ）
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A ただし、段階 1 は-30-30℃、段階 3 は 100+3
0 ℃とする。
- G-18 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) サイクル数：1,000+10
0 サイクル
c) 試験中の測定サイクル：0、50±10、100±10、250±20、500±20 サイクル
d) 試験前後の測定
絶縁抵抗、静電容量、誘電正接及び等価直列抵抗を測定する。また、試験後 10
倍の拡大鏡で外観を調べる。
G.4.4.6.4 熱衝撃及び電圧エージング
G.4.4.6.4.1 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A ただし、段階 3 は最高使用温度+3
0 ℃とする。
b) サイクル数：5 サイクル
G.4.4.6.4.2 電圧エージング
a) 試験温度：85+4
0℃
b) 印加電圧：定格電圧の 125%
c) 印加時間：48+5
0 時間
d) 直列抵抗
サージ電流が 1A 以下となるような適当な抵抗を挿入する。コンデンサに電流
制限抵抗を通じて電圧が印加されていることを確認する。
e) 試験後の検査
機械的損傷について調べる。
G.4.4.6.5 熱衝撃及び浸せきサイクル
G.4.4.6.5.1 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A ただし、段階 3 は最高使用温度+3
0 ℃とする。
b) サイクル数：20 サイクル
G.4.4.6.5.2 浸せきサイクル
G.4.4.6.5.1 項の試験後、常温で 4 時間～24 時間放置した後、MIL-STD-202 の試験方
法 104 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B（2 サイクル）
b) 試験後の測定
耐電圧、絶縁抵抗、静電容量、誘電正接及び等価直列抵抗を測定する。また、
目視により外観を調べる。
G.4.4.6.6 耐湿性
MIL-STD-202 の試験方法 106 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
- G-19 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
a) 試料の取付け
正規の取付方法により取り付ける。測定のときを除いて、リード線端子の 12.7mm
±3mm のところで治具に固定する。
b) サイクル数：20 サイクル（ただし、段階 7b を除く）
c) 成極電圧
段階 1～6 において 100V の直流電圧又は定格電圧のうち、いずれか小さい方を試
料の半数に印加する。残りの半数は無負荷とする。
d) 試験後の測定
コンデンサを槽から取り出し、25℃±5℃、相対湿度 50%±5%で 22 時間～24 時間
放置した後、耐電圧、絶縁抵抗、静電容量、誘電正接及び等価直列抵抗を測定する。
また、目視により外観を調べる。
G.4.4.6.7 減圧
MIL-STD-202 の試験方法 105 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：D（1.1kPa）
b) 減圧中の試験
端子間に定格電圧の 140%の電圧を 1 分間印加する。
c) 試験後の検査
短絡、アークの痕跡及び機械的損傷について調べる。
G.4.4.6.8 耐溶剤性
MIL-STD-202 の試験方法 215 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 使用する溶剤：イソプロピルアルコール
b) 試験後の検査
目視により表示消えの有無を調べる。
G.4.4.6.9 耐放射線性
耐放射線性は次の試験方法によって行う。
a) 線源：コバルト 60
b) 照射線量率：1×104Gy/h（シリコン基準）
c) 照射時間：1 時間
d) 試験前後の測定
絶縁抵抗、静電容量、誘電正接及び等価直列抵抗を測定する。また、目視により
外観を調べる。
G.4.4.7 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験は、次の方法による。
- G-20 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
G.4.4.7.1 寿命
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって行う。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
コンデンサの取付間隔は 25.4mm 以上とし、堅固に取り付ける。
b) 試験温度：85+4
0℃
c) 試験条件
1) 印加電圧：定格条件 定格電圧
加速条件 定格電圧の 125%
2) 印加方法
サージ電流が 1A 以下となるような適当な抵抗を挿入する。コンデンサに電流
制限抵抗を通じて電圧が印加されていることを確認する。
d) 試験時間
1) 定格条件：4,000+72
0 時間
2) 加速条件：2,000+48
0 時間
+48
+48
e) 試験中の測定時間：0、250+12
0 、1,000 0 、2,000 0 時間
f) 試験後の測定
コンデンサを G.4.4.1 項の標準状態に戻した後、目視により変形、表示消え及び
充填物の漏れを調べる。続いて、絶縁抵抗、静電容量、誘電正接及び等価直列抵抗
を測定する。
G.4.5 長期保管
4.7.1 項によって長期保管されたコンデンサは、次の試験を全数行わなければならない。
a) 外観（G.3.4 項）
b) 耐電圧（G.3.7.2 項）
c) 絶縁抵抗（G.3.7.1 項）
d) 静電容量（G.3.7.3 項）
e) 誘電正接（G.3.7.4 項）
G.4.6 試験及び検査の変更
試験及び検査の変更は 4.8 項による。
G.5. 引渡しの準備
引渡しの準備は 5 項による。
G.6. 注意事項
注意事項は 6 項による。
- G-21 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 H
固定タンタル固体電解コンデンサ
H.1. 総則 .......................................................................................................................................H-1
H.1.1 適用範囲 ..........................................................................................................................H-1
H.1.2 区分 .................................................................................................................................H-1
H.1.3 部品番号 ..........................................................................................................................H-1
H.1.3.1 形式 ...........................................................................................................................H-1
H.1.3.2 定格電圧 ...................................................................................................................H-1
H.1.3.3 公称静電容量 ............................................................................................................H-2
H.1.3.4 静電容量許容差.........................................................................................................H-2
H.2. 適用文書など.........................................................................................................................H-2
H.2.1 適用文書 ..........................................................................................................................H-2
H.2.2 参考文書 ..........................................................................................................................H-2
H.3. 要求事項 ................................................................................................................................H-3
H.3.1 認定の範囲 ......................................................................................................................H-3
H.3.2 材料 .................................................................................................................................H-3
H.3.2.1 ケース .......................................................................................................................H-3
H.3.2.2 絶縁スリーブ ............................................................................................................H-3
H.3.2.3 はんだ .......................................................................................................................H-3
H.3.2.4 はんだ付け用フラックス ..........................................................................................H-3
H.3.3 外観、寸法、表示など ....................................................................................................H-3
H.3.3.1 外観及び表示 ............................................................................................................H-3
H.3.3.2 構造、寸法及び質量 .................................................................................................H-4
H.3.4 ワークマンシップ............................................................................................................H-4
H.3.4.1 放射線写真 ................................................................................................................H-5
H.3.4.2 DPA............................................................................................................................H-5
H.3.5 定格 .................................................................................................................................H-5
H.3.5.1 公称静電容量及び静電容量許容差 ...........................................................................H-5
H.3.5.2 使用温度範囲 ............................................................................................................H-5
H.3.5.3 定格電圧 ...................................................................................................................H-5
H.3.6 電気的性能 ......................................................................................................................H-5
H.3.6.1 漏れ電流 ...................................................................................................................H-6
H.3.6.2 静電容量 ...................................................................................................................H-6
H.3.6.3 誘電正接（tanδ） .....................................................................................................H-6
H.3.6.4 絶縁スリーブ ............................................................................................................H-6
H.3.6.5 サージ電圧 ................................................................................................................H-6
- H-i -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
H.3.7 機械的性能 ......................................................................................................................H-6
H.3.7.1 端子強度 ...................................................................................................................H-6
H.3.7.2 はんだ付け性 ............................................................................................................H-7
H.3.7.3 はんだ耐熱性 ............................................................................................................H-7
H.3.8 環境的性能 ......................................................................................................................H-7
H.3.8.1 高周波振動 ................................................................................................................H-7
H.3.8.2 ランダム振動 ............................................................................................................H-7
H.3.8.3 衝撃 ...........................................................................................................................H-8
H.3.8.4 熱衝撃（Ⅰ） ............................................................................................................H-8
H.3.8.5 熱衝撃及び電圧エージング ......................................................................................H-8
H.3.8.6 熱衝撃及び浸せきサイクル ......................................................................................H-8
H.3.8.7 低温及び高温における安定性...................................................................................H-9
H.3.8.8 耐湿性 .....................................................................................................................H-10
H.3.8.9 塩水噴霧 .................................................................................................................H-10
H.3.8.10 耐溶剤性 ...............................................................................................................H-10
H.3.8.11 気密性 ...................................................................................................................H-10
H.3.9 耐久的性能 ....................................................................................................................H-10
H.3.9.1 寿命（85℃） .......................................................................................................... H-11
H.3.9.2 寿命（125℃） ........................................................................................................ H-11
H.4. 品質保証条項....................................................................................................................... H-11
H.4.1 工程内検査 .................................................................................................................... H-11
H.4.2 認定試験 ........................................................................................................................ H-11
H.4.2.1 試料 .........................................................................................................................H-12
H.4.2.2 試験項目及び試料数 ...............................................................................................H-12
H.4.3 品質確認試験 .................................................................................................................H-14
H.4.3.1 試験項目及び試料数 ...............................................................................................H-14
H.4.3.2 試験後の処置 ..........................................................................................................H-14
H.4.4 試験方法 ........................................................................................................................H-15
H.4.4.1 試験条件 .................................................................................................................H-15
H.4.4.2 外観、寸法、表示など............................................................................................H-16
H.4.4.3 ワークマンシップ ...................................................................................................H-16
H.4.4.4 電気的性能 ..............................................................................................................H-16
H.4.4.5 機械的性能 ..............................................................................................................H-18
H.4.4.6 環境的性能 ..............................................................................................................H-19
H.4.4.7 耐久的性能 ..............................................................................................................H-23
H.4.5 長期保管 ........................................................................................................................H-25
H.4.6 試験及び検査の変更 ......................................................................................................H-25
H.5. 引渡しの準備.......................................................................................................................H-25
H.6. 注意事項 ..............................................................................................................................H-25
- H-ii -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 H
固定タンタル固体電解コンデンサ
H.1. 総則
H.1.1 適用範囲
この付則は、コンデンサのうち、固定タンタル固体電解コンデンサ（以下、
「コンデンサ」
という）に適用し、それらの要求事項、品質保証条項などを規定する。
H.1.2 区分
コンデンサの区分は表 H-1 による。
表 H-1 区
構
分
造
形
式
金属ケース、スリーブ付き、
ハーメチックシール、
CSS13
円筒形、リード線端子反対方向
H.1.3 部品番号
コンデンサの部品番号は次の例のように表す。詳細は個別仕様書による。
例 NASDA(1)
CSS13
形
式
B
定格電圧
565
公
K
称
静電容量
静電容量
許 容 差
（H.1.3.1 項） （H.1.3.2 項） （H.1.3.3 項） （H.1.3.4 項）
1
注( ) “NASDA”は宇宙開発用共通部品等であることを示す。
“N”と省略できる。
H.1.3.1 形式
形式は、
“CSS”と 2 数字で表す。
“CSS”は信頼性保証固定タンタル固体電解コンデンサ
を示し、これに続く 2 数字はコンデンサの大きさを表す。
H.1.3.2 定格電圧
定格電圧は、表 H-2 のとおり 1 英大文字で表す。
- H-1 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 H-2 定格電圧
単位 VDC
記
定格電圧
号
（-55℃～+85℃）
B
006
C
010
D
015
E
020
F
035
G
050
H
075
J
100
H.1.3.3 公称静電容量
公称静電容量は 3 桁の数字で表し、ピコファラド（pF）を単位とする。最初の 2 数字は有
効数字を表し、最後の数字はこれに続く零の数を表す。
例
103：0.010μF、104：0.10μF、337：330μF
H.1.3.4 静電容量許容差
静電容量許容差は、表 H-3 のとおり 1 英大文字で表す。
表 H-3 静電容量許容差
単位 %
記
号
静電容量許容差
J
±05
K
±10
M
±20
H.2. 適用文書など
H.2.1 適用文書
この付則の適用文書は、2.1 項による。
H.2.2 参考文書
次の文書は、この付則の参考文書とする。
a) MIL-PRF-39003
Capacitors, Fixed, Electrolytic (Solid Electrolyte), Tantalum,
Established Reliability, General Specification for
- H-2 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
H.3. 要求事項
H.3.1 認定の範囲
認定されるコンデンサの範囲は、この仕様書の H.3.2 項から H.3.9 項に規定された材料、設
計、構造、定格及び性能を満足するコンデンサの製造ラインを用いて製造される製品群で、認
定試験に合格した試料で代表される範囲のものとする。したがって、この認定の範囲内におい
て個別仕様書で規定する個々の製品を供給することができる。
なお、より詳細な認定の範囲の規定が必要な場合は、個別仕様書に規定する。
H.3.2 材料
コンデンサに使用する材料は 3.3 項によるほか、次による。
H.3.2.1 ケース
ケースは、耐食性金属であるか、又はめっきなどによる耐食処理が施されていなければな
らない。
H.3.2.2 絶縁スリーブ
絶縁スリーブは、コンデンサの最高使用温度で変形したり、変色したりしてはならない。
また、絶縁の目的でカードボードスリーブ（厚紙スリーブ）を使用してはならない。
H.3.2.3 はんだ
どのような場合においても、はんだは 168℃又は個別仕様書に規定された温度以下で溶け
てはならない。
H.3.2.4 はんだ付け用フラックス
はんだ付け用フラックスは、ロジン又はアルコールにロジンを溶かしたものを使用しなけ
ればならない。これらと同等の他の非腐食性フラックスは、この仕様書の要求事項を満足で
きる場合に使用することができる。
はんだ付けに際して、一切の酸又は酸性塩を使用してはならない。ただし、電気的接続部
分の予備すず引きには用いてもよい。
電気回路の形成を目的としない機械的結合部のすず引き又ははんだ引きには、酸又は酸性
塩を用いてもよい。
事後処理によって完全に除去されるものでない限り、絶縁材料に近接して酸又は酸性塩を
使用してはならない。
H.3.3 外観、寸法、表示など
H.3.3.1 外観及び表示
コンデンサの表面には割れ、腐食、ひずみなどがあってはならない。また、表示は少なく
とも次の項目を含み、容易に消えない方法でなされていなければならない。
- H-3 -
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a) 部品番号
“NASDA”は表示しなくともよい。また、形状寸法が小さいコンデンサについては、
形式記号を省略してもよい。
b) ロット識別記号
記号の付与方法は、認定取得業者の規定による。
c) 極性
個別仕様書の規定による。
d) 認定取得業者名又はその略号
形状寸法が小さいコンデンサについては、省略できる。
H.3.3.2 構造、寸法及び質量
コンデンサの構造、寸法及び質量は次によるほか、個別仕様書による。
a) 構造
湿気又は機械的損傷からコンデンサ素子を保護するために、金属ケースに収納され、
ハーメチックシールされていること。
b) リード線端子
リード線は、溶融はんだに浸せきするか、又は電気めっきによって、はんだ付けさ
れなければならない。
H.3.4 ワークマンシップ
コンデンサは良好な設計に基づいて、この仕様書の 3.2.1 項で設定された品質保証プログラ
ムに従って製造されていなければならない。
コンデンサの本体にはひび割れ、ピンホール、傷など、電気的又は機械的な性能に影響する
欠陥があってはならない。
a) はんだ付け
はんだ付けは、機械的強度を得るための手段として使用してはならない。電気的接続
を目的とするはんだ付けの場合には、あらかじめ機械的に接続されていることが望まし
く、かつ、はんだ付け後は電気的にも完全な接続でなければならない。また、はんだ付
け後、過剰なフラックス及びはんだは除去されていなければならない。酸又は酸性塩の
使用が許容される場合でも、完全な中和、洗浄などの処理が、はんだ付け後速やかに行
われなければならない。
b) 仕上げ
コンデンサの仕上げは、ケース表面に はげ落ち、割れ、腐食などを生ずるものであっ
てはならない。
c) 端子と封止部
すべての端子部及び封止部にはグリース、その他の異物の付着などがあってはならな
い。また、リード線には折損、つぶれ、その他の傷がなく、リード線を動かしたときに
傷がついたり、素子、ケース及び外装に過度の力が加わったりしないように、内部的に
も外部的にも確実に接続されていなければならない。
- H-4 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
d) ケース
金属ケースに、ばり又はひげがあってはならない。
e) 絶縁スリーブ
絶縁スリーブはケースに密着していること。
f) はんだ仕上げ
不十分な加熱による突起又は粗い面などがあってはならない。はんだ付けは、必要最
少量のフラックス及びはんだで行わなければならない。過剰なフラックスを除去すると
きには、コンデンサを傷つけるおそれのある方法を用いてはならない。また、分散した
フラックス粒子、ブラシの毛又は他の異物をコンデンサ内部又は表面に残したりしては
ならない。
はんだ付けの熱によって絶縁物が損傷を受けたり、固定されている部品がゆるんだり
してはならない。
g) 溶接
溶接部分に焼損、ひずみ、破損、非金属残留物、未溶接などがあってはならない。
H.3.4.1 放射線写真
H.4.4.3.1 項によって試験したとき、不十分な接続、素子と封止部との位置ずれ、不十分な
はんだ、はんだ塊などの構造的欠陥があってはならない。
H.3.4.2 DPA
H.4.4.3.2 項によって試験したとき、溶接、はんだ付けなどの工程が確実に行われていなけ
ればならない。また、内部構造及び材料が品質保証プログラムに規定されたとおりでなけれ
ばならない。
H.3.5 定格
H.3.5.1 公称静電容量及び静電容量許容差
公称静電容量及び静電容量許容差は、個別仕様書に規定する。
H.3.5.2 使用温度範囲
使用温度範囲は、-55℃～+125℃とする。ただし、定格電圧での使用温度範囲は、特に規
定がない限り-55℃～+85℃とする。周囲温度がこの範囲を超える場合には、個別仕様書に規
定された軽減電圧を適用する。
H.3.5.3 定格電圧
定格電圧は表 H-2 に示す範囲とし、個別仕様書に規定する。
H.3.6 電気的性能
コンデンサは次の電気的性能を満足しなければならない。
- H-5 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
H.3.6.1 漏れ電流
H.4.4.4.1 項によって試験したとき、漏れ電流は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
H.3.6.2 静電容量
H.4.4.4.2 項によって試験したとき、静電容量は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
H.3.6.3 誘電正接（tanδ）
H.4.4.4.3 項によって試験したとき、誘電正接（tanδ）は個別仕様書の要求を満足しなけ
ればならない。
H.3.6.4 絶縁スリーブ
H.3.6.4.1 耐電圧
H.4.4.4.4.1 項によって試験したとき、絶縁破壊があってはならない。
H.3.6.4.2 絶縁抵抗
H.4.4.4.4.2 項によって試験したとき、絶縁抵抗は 1,000MΩ以上でなければならない。
H.3.6.5 サージ電圧
H.4.4.4.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±2%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
d) 外観
火花放電の痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷がないこと。
H.3.7 機械的性能
コンデンサは次の機械的性能を満足しなければならない。
H.3.7.1 端子強度
H.3.7.1.1 引張り強さ
H.4.4.5.1.1 項によって試験したとき、端子にゆるみがあってはならない。また、端子部、
端子溶接部、端子はんだ部又は封止部に、コンデンサの性能に影響を与えるような機械的
損傷があってはならない。
- H-6 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
H.3.7.1.2 ねじり強さ
H.4.4.5.1.2 項によって試験したとき、端子にゆるみがあってはならない。また、端子部、
端子溶接部、端子はんだ部又は封止部に、コンデンサの性能に影響を与えるような機械的
損傷があってはならない。
H.3.7.2 はんだ付け性
H.4.4.5.2 項によって試験したとき、端子の表面は、新しい滑らかなはんだの被膜で少なく
とも 95%は覆われていなければならない。はんだの表面には小さいピンホール、又は粗い点
に限ってはんだで覆われていない部分があってもよいが、これらは集中していてはならない。
また、その面積の合計は 5%未満でなければならない。
H.3.7.3 はんだ耐熱性
H.4.4.5.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±2%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
d) 外観
端子部、端子溶接部、端子はんだ部又は封止部に、コンデンサの性能に影響を与え
るような機械的損傷がないこと。
H.3.8 環境的性能
コンデンサは次の環境的性能を満足しなければならない。
H.3.8.1 高周波振動
H.4.4.6.1 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、ショート又はオープンが
あってはならない。また、火花放電の痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷があってはならない。
H.3.8.2 ランダム振動
H.4.4.6.2 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、ショート又はオープンが
あってはならない。また、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±2%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
- H-7 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 外観
火花放電の痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷がないこと。
H.3.8.3 衝撃
H.4.4.6.3 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、ショート又はオープンが
あってはならない。また、火花放電の痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷があってはならない。
H.3.8.4 熱衝撃（Ⅰ）
H.4.4.6.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）の 200%を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±2%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
d) 絶縁スリーブの耐電圧
絶縁破壊がないこと。
e) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷がないこと。
H.3.8.5 熱衝撃及び電圧エージング
H.3.8.5.1 熱衝撃
H.4.4.6.5.1 項によって試験したとき、コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損
傷があってはならない。
H.3.8.5.2 電圧エージング
H.4.4.6.5.2 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 静電容量
個別仕様書に規定された静電容量許容差内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
H.3.8.6 熱衝撃及び浸せきサイクル
H.4.4.6.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
- H-8 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) 静電容量
試験前からの変化率が±3%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
d) 外観
腐食(1)又は機械的損傷がなく、表示を判読できること。
注(1) コンデンサの機械的性能又は電気的性能に影響するような腐食。
H.3.8.7 低温及び高温における安定性
H.4.4.6.7 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 段階 1（25℃）
1) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
2) 静電容量
個別仕様書に規定された静電容量許容差内にあること。
3) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
b) 段階 2（-55℃）
1) 静電容量
段階 1 からの変化率は個別仕様書の規定によること。
2) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値（-55℃）を超えないこと。
c) 段階 3（25℃）
1) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
2) 静電容量
段階 1 からの変化率が±2%以内にあること。
3) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
d) 段階 4（85℃）
1) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（85℃）を超えないこと。
2) 静電容量
段階 1 からの変化率は個別仕様書の規定によること。
3) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値（85℃）を超えないこと。
e) 段階 5（125℃）
1) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（125℃）を超えないこと。
- H-9 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
2) 静電容量
段階 1 からの変化率は個別仕様書の規定によること。
3) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値（125℃）を超えないこと。
f) 段階 6（25℃）
1) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
2) 静電容量
段階 1 からの変化率が±2%以内にあること。
3) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
H.3.8.8 耐湿性
H.4.4.6.8 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±2%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
d) 外観
腐食(1)又は機械的損傷がなく、表示を判読できること。
注(1) コンデンサの機械的性能又は電気的性能に影響するような腐食。
H.3.8.9 塩水噴霧
H.4.4.6.9 項によって試験したとき、腐食(1)がなく、コンデンサの露出金属表面の 90%以
上が表面処理で保護されていなければならない。また、絶縁スリーブのはがれ又は機械的損
傷がなく、表示を判読できなければならない。
注(1) コンデンサの機械的性能又は電気的性能に影響するような腐食。
H.3.8.10 耐溶剤性
H.4.4.6.10 項によって試験したとき、絶縁スリーブのはがれ又は機械的損傷がなく、表示
を判読できなければならない。
H.3.8.11 気密性
H.4.4.6.11 項によって試験したとき、気密漏れがあってはならない。
H.3.9 耐久的性能
コンデンサは次の耐久的性能を満足しなければならない。
- H-10 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
H.3.9.1 寿命（85℃）
H.4.4.7.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流（25℃）
個別仕様書に規定された規格値（25℃）の 200%を超えないこと。
b) 漏れ電流（85℃）
個別仕様書に規定された規格値（85℃）を超えないこと。
c) 静電容量
試験前からの変化率が±2%以内にあること。
d) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
e) 絶縁スリーブの耐電圧
絶縁破壊がないこと。
f) 外観
火花放電の痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷がないこと。
H.3.9.2 寿命（125℃）
H.4.4.7.2 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流（25℃）
個別仕様書に規定された規格値（25℃）の 200%を超えないこと。
b) 漏れ電流（125℃）
個別仕様書に規定された規格値（125℃）を超えないこと。
c) 静電容量
試験前からの変化率が±2%以内にあること。
d) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
e) 絶縁スリーブの耐電圧
絶縁破壊がないこと。
f) 外観
火花放電の痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷がないこと。
H.4. 品質保証条項
H.4.1 工程内検査
工程内検査は 4.3 項による。
H.4.2 認定試験
認定試験は 4.4 項によるほか、次による。
- H-11 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
H.4.2.1 試料
認定試験の試料は 4.4.1 項によるほか、次による。
a) 単一電圧群認定
認定を希望する電圧群を表 H-4 から選び、その電圧群内の最高定格電圧で、かつ、
認定を希望するケースサイズにおける最大公称静電容量の試料を 293 個(1)供試するこ
と。
なお、認定を希望する範囲に上記の試料より小型のケースサイズのものを含める場
合には、各ケースサイズについて、その電圧群内の最高電圧で最大公称静電容量の試
料を 2 個ずつ選び、表 H-5 のⅨ群に供すること。この試料については、表 H-5 のⅠ群
及びⅡ群の試験を行った後、表 H-5 のⅨ群に供するものとする。
注(1) このうちの 1 個は、Ⅲ群～Ⅴ群の許容不良のための交換用試料である。
b) 複合電圧群認定
認定を希望する電圧群を表 H-4 により組み合わせ、低い方の電圧群内の最低定格電
圧で、かつ、認定を希望するケースサイズにおける最大公称静電容量の試料と、高い
方の電圧群内の最高定格電圧で、かつ、認定を希望するケースサイズにおける最大公
称静電容量の試料を、それぞれ 147 個ずつ（合計 294 個(1)）選び供試すること。ただ
し、電圧群 E5 は独立した電圧群として取り扱い、他の電圧群と組合せることはでき
ない。
なお、認定を希望する範囲に上記の試料より小型のケースサイズのものを含める場
合には、各ケースサイズについて、低い方の電圧群内の最低定格電圧で最大公称静電
容量の試料と、高い方の電圧群内の最高定格電圧で最大公称静電容量の試料を、それ
ぞれ 1 個ずつ選び、表 H-5 のⅨ群に供すること。この試料については、表 H-5 のⅠ群
及びⅡ群の試験を行った後、表 H-5 のⅨ群に供するものとする。
注(1) このうちの 1 個は、Ⅲ群～Ⅴ群の許容不良のための交換用試料である。
表 H-4 電圧群
単位 VDC
電圧群
定格電圧範囲
E1
6 ～ 010
E2
11 ～ 020
E3
21 ～ 035
E4
36 ～ 050
E5
51 ～ 100
H.4.2.2 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目及び試料数は表 H-5 による。Ⅰ群の試験後にⅡ群の試験を行い、その
後、Ⅲ群以下の各群に試料を分けて試験を行う。ただし、Ⅲ群以下の試験は群番号の順に行
わなくてもよい。各群内の試験項目は順序番号の順に行う。
- H-12 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 H-5 認定試験
試
群
(2)
Ⅰ
(3)
Ⅱ
Ⅲ
順
項
序
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
熱衝撃及び電圧エージング
H.3.8.5
H.4.4.6.5
2
気密性
H.3.8.11
H.4.4.6.11
3
放射線写真
H.3.4.1
H.4.4.3.1
1
外観、寸法、表示など(4)
H.3.3
H.4.4.2
1
衝撃
H.3.8.3
H.4.4.6.3
2
高周波振動
H.3.8.1
H.4.4.6.1
3
塩水噴霧
H.3.8.9
H.4.4.6.9
4
熱衝撃及び浸せきサイクル
H.3.8.6
H.4.4.6.6
1
はんだ付け性
H.3.7.2
H.4.4.5.2
引張り強さ
H.3.7.1.1
H.4.4.5.1.1
ねじり強さ
H.3.7.1.2
H.4.4.5.1.2
H.3.8.8
H.4.4.6.8
耐電圧
H.3.6.4.1
H.4.4.4.4.1
絶縁抵抗
H.3.6.4.2
H.4.4.4.4.2
2
Ⅳ
験
端子強度
3
4
5
耐湿性
絶縁スリーブ
6
合 否 判 定
試料数
許 容
不良数(1)
全数
0
全数
0
12
1
12
1
低温及び高温における安定性
H.3.8.7
H.4.4.6.7
2
サージ電圧
H.3.6.5
H.4.4.4.5
Ⅵ
1
寿命（85℃）
H.3.9.1
H.4.4.7.1
190
0
Ⅶ
1
寿命（125℃）
H.3.9.2
H.4.4.7.2
40
0
1
耐溶剤性
H.3.8.10
H.4.4.6.10
2
はんだ耐熱性
H.3.7.3
H.4.4.5.3
6
0
Ⅸ
1
DPA
H.3.4.2
H.4.4.3.2
(5)2(5)
0
Ⅹ
1
ランダム振動
H.3.8.2
H.4.4.6.2
6
0
ⅩⅠ
1
熱衝撃（Ⅰ）
H.3.8.4
H.4.4.6.4
12
0
－
1
材料
H.3.2
Ⅴ
Ⅷ
注(1)
－
12
(6)
1 個の試料が同じ試験群に属する試験項目の二つ以上の項目で不合格であっても、不良数
は 1 個と数える。
(2)
3
絶縁スリーブは、気密性の試験完了後に取り付ける。
()
非破壊試験である。
(4)
寸法の合否判定は、JIS Z 9015-1 の付表 2-A に規定された「なみ検査の 1 回抜取方式」の
AQL=1.0%とする。
(5)
6
()
必要により、ケースサイズの異なる追加試料について試験を行う。
設計仕様を満足していることを証明する資料を提出すること。
- H-13 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
H.4.3 品質確認試験
品質確認試験は 4.5 項によるほか、次による。
H.4.3.1 試験項目及び試料数
品質確認試験の試験項目及び試料数は、グループ A 試験を表 H-6 に、グループ B 試験を
表 H-7 に、グループ C 試験を表 H-8 に示す。表 H-7 及び表 H-8 に規定された試験は群番号
の順に行わなくともよいが、表 H-6 に規定された試験は、A1 群、A2 群の順で行った後、A3
群を行うこと。各群内の試験項目は順序番号の順に行う。
H.4.3.2 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
ただし、A2 群で不合格となったときには、その項目について全数試験を行い、良品のみを
出荷することができる。
表 H-6 品質確認試験（グループ A）
試
群
順
験
項
序
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
熱衝撃及び電圧エージング
H.3.8.5
H.4.4.6.5
2
気密性
H.3.8.11
H.4.4.6.11
3
放射線写真
H.3.4.1
H.4.4.3.1
A2
1
外観、寸法、表示など
H.3.3
H.4.4.2
A3
1
DPA
H.3.4.2
H.4.4.3.2
(1)
A1
合 否 判 定
試料数
全数
許
容
不良数
0
AQL=4.0%(2)
(3)1(3)
0
1
絶縁スリーブは、気密性の試験完了後に取り付ける。
2
AQL は、JIS Z 9015-1 の付表 2-A に規定された「なみ検査の 1 回抜取方式」の合格品質
注( )
()
水準を示す。
3
()
ケースサイズごとに最大静電容量のものを 1 個試験する。
表 H-7 品質確認試験（グループ B）
試
群
B1
B2
順
験
項
序
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
低温及び高温における安定性
H.3.8.7
H.4.4.6.7
2
サージ電圧
H.3.6.5
H.4.4.4.5
1
耐溶剤性
H.3.8.10
H.4.4.6.10
2
はんだ耐熱性
H.3.7.3
H.4.4.5.3
- H-14 -
合 否 判 定
試料数
許 容
不良数
12
0
8
0
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 H-8 品質確認試験（グループ C）
試
群
C1
順
項
序
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
衝撃
H.3.8.3
H.4.4.6.3
2
高周波振動
H.3.8.1
H.4.4.6.1
3
塩水噴霧
H.3.8.9
H.4.4.6.9
4
熱衝撃及び浸せきサイクル
H.3.8.6
H.4.4.6.6
1
はんだ付け性
H.3.7.2
H.4.4.5.2
引張り強さ
H.3.7.1.1
H.4.4.5.1.1
ねじり強さ
H.3.7.1.2
H.4.4.5.1.2
H.3.8.8
H.4.4.6.8
耐電圧
H.3.6.4.1
H.4.4.4.4.1
絶縁抵抗
H.3.6.4.2
H.4.4.4.4.2
2
C2
験
端子強度
3
4
5
耐湿性
絶縁スリーブ
6
合 否 判 定
試料数
許 容
不良数
12
0
12
0
C3
1
寿命（85℃）
H.3.9.1
H.4.4.7.1
12
0
C4
1
ランダム振動
H.3.8.2
H.4.4.6.2
6
0
C5
1
熱衝撃（Ⅰ）
H.3.8.4
H.4.4.6.4
12
0
H.4.4 試験方法
H.4.4.1 試験条件
MIL-STD-202 の 4 項による。ただし、次の条件を適用する。
a) 標準状態
標準状態とは、温度 25℃±3℃、相対湿度 25%～75%、気圧 86kPa～106kPa の環境
条件をいう。試験及び測定は、特に規定がない限り標準状態で行う。再現性のある結
果を得るためにこれらの条件を厳密に管理しなければならないときには、b)の判定状
態を適用する。換算を必要とする場合は、c)の基準状態を用いる。
なお、判定に疑義を生じなければ、標準状態以外で試験及び測定を行ってもよい。
b) 判定状態
判定状態は、温度 25 -20℃、相対湿度 50±2%、気圧 86kPa～106kPa とする。
c) 基準状態
基準状態は、温度 25℃、相対湿度 50%、気圧 101.3kPa とする。
d) 基準測定
エージング前後の測定値を比較する場合は、エージングに先立ち 25℃±3℃で測定さ
れた値を基準値とする。この基準値が試験開始時点から 30 日以前に測定された場合、
又は測定用の治工具などの影響を受けると考えられる場合には、再測定を行い、これ
を基準値としなければならない。
e) 試験電圧の測定精度は、規定された電圧の±3.0%以内でなければならない。
- H-15 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
f) 寿命試験に用いる電源電圧の変動は、規定された試験電圧の±3%以内でなければなら
ない。また、漏れ電流の測定に用いる電源電圧の変動は、±100ppm 以内でなければな
らない。
H.4.4.2 外観、寸法、表示など
H.3.3 項に規定された外観、構造、寸法、質量及び表示について試験する。
H.4.4.3 ワークマンシップ
H.4.4.3.1 放射線写真
MIL-STD-202 の試験方法 209 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 判定方法
ネガ又はポジフィルムによる。
b) 写真の像質
H.3.4.1 項に規定された要求を満足しているか判定でき、ペネトラメータの画像を
明瞭でシャープに写し出すことのできる十分な解像度をもっていなければならない。
c) ペネトラメータ
試料に適合した見本による。
d) 観察方法
目視又は像を 2 倍以上に拡大して観察する。
e) 試料の撮影方向
リード線端子の引き出し軸に垂直かつ互いに直角をなす 2 方向から撮影する。
f) 撮影条件
上記 b)に規定された品質の放射線写真が得られるような設定条件による。
H.4.4.3.2 DPA
コンデンサを分解して、内部構造及び溶接、はんだ付けなどの工程が確実に実施されて
いることを確認するもので、品質保証プログラム計画書の DPA マニュアルに従って実施
しなければならない。
H.4.4.4 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験は、次の方法による。
H.4.4.4.1 漏れ電流
次の条件によって試験する。
a) 直列保護抵抗：1,000Ω
b) 印加電圧
定格電圧とする。ただし、温度が指定されている場合には、個別仕様書に規定さ
れた軽減電圧とする。
c) 印加時間：5 分以内
- H-16 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
H.4.4.4.2 静電容量
MIL-STD-202 の試験方法 305 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数：120Hz±5Hz
b) 測定精度：±0.5%以内
c) 測定電圧
1VAC rms 以下の交流電圧に 2.2VDC 以下の直流電圧を重畳する。
H.4.4.4.3 誘電正接（tanδ）
次の条件によって試験する。
a) 測定周波数：120Hz±5Hz
b) 測定電圧
1VAC rms 以下の交流電圧に 2.2VDC 以下の直流電圧を重畳する。
H.4.4.4.4 絶縁スリーブ
H.4.4.4.4.1 耐電圧
MIL-STD-202 の試験方法 301 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定箇所
V ブロックを用いて、コンデンサのケースと V ブロックの間を測定する。
b) 印加電圧：2,000VDC
c) 印加時間：60 秒±5 秒
d) 試験後の検査
絶縁破壊の有無を調べる。
H.4.4.4.4.2 絶縁抵抗
MIL-STD-202 の試験方法 302 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定箇所
V ブロックを用いて、コンデンサのケースと V ブロックの間を測定する。
b) 試験条件：B（500VDC）
c) 印加時間：60 -150秒
d) 試験後の測定
V ブロック上でコンデンサを回転させて、絶縁抵抗を 5 箇所測定する。
H.4.4.4.5 サージ電圧
次の条件によって試験する。
a) 試験前の測定
H.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試験温度：85℃±5℃
- H-17 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
c) 印加電圧
表 H-9 に規定されたサージ電圧を印加する。
d) 直列保護抵抗：33Ω±5%
e) 充放電条件
直列保護抵抗（33Ω）を通して充放電させる。
f) 印加時間及び周期：30 秒間印加、30 秒間放電（1 分間周期）
g) サイクル数：1,000 サイクル
h) 試験後の測定
最終サイクル終了後、常温、常湿で 12 時間～24 時間安定させ、H.4.4.4.1 項、
H.4.4.4.2 項及び H.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正接（tanδ）を
測定する。
i)
試験後の検査
火花放電の痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を調べる。
表 H-9 サージ電圧
単位 VDC
定格電圧(VDC)
サージ電圧
006
008
010
013
015
020
020
026
035
046
050
065
075
098
100
130
H.4.4.5 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験は、次の方法による。
H.4.4.5.1 端子強度
H.4.4.5.1.1 引張り強さ
MIL-STD-202 の試験方法 211 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A（引張り試験）
b) 試験する端子：陽極リード線及び陰極リード線
c) 試料の保持方法
コンデンサの本体を固定する。
d) 荷重：13.24N
- H-18 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
e) 試験後の検査
目視によって端子のゆるみ、並びに端子部、端子溶接部、端子はんだ部及び封
止部の機械的損傷の有無を調べる。
H.4.4.5.1.2 ねじり強さ
MIL-STD-202 の試験方法 211 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：D（ねじり試験）
b) 試験する端子：陽極リード線及び陰極リード線
c) ねじり回数：3 回
d) 試験後の検査
目視によって端子のゆるみ、並びに端子部、端子溶接部、端子はんだ部及び封
止部の機械的損傷の有無を調べる。
H.4.4.5.2 はんだ付け性
MIL-STD-202 の試験方法 208 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験する端子の数：試料 1 個について 2 本
b) 浸せき深さ：本体から 1.2mm～3.2mm の箇所
c) 試験後の検査
目視によって、はんだの付着状態を調べる。
H.4.4.5.3 はんだ耐熱性
MIL-STD-202 の試験方法 210 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の測定
H.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試験条件：B（260℃） ただし、浸せき時間は 20 秒±2 秒とする。
c) 浸せき深さ
1) 陰極リード線：ケース端から 3.2mm±0.6mm の箇所
2) 陽極リード線：封じはんだ端から 3.2mm±0.6mm の箇所
d) 試験後測定までの放置時間：30 分以上
e) 試験後の測定
H.4.4.4.1 項、H.4.4.4.2 項及び H.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電
正接（tanδ）を測定する。
f) 試験後の検査
目視によって端子部、端子溶接部、端子はんだ部及び封止部の機械的損傷の有無
を調べる。
H.4.4.6 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験は、次の方法による。
- H-19 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
H.4.4.6.1 高周波振動
MIL-STD-202 の試験方法 204 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
コンデンサの本体及びリード線端子（本体から約 10mm の箇所）を固定する。
b) 試験条件：D［196m/s2 p-p 又は全振幅 1.5mm のいずれか小さい方］
c) 印加電圧：定格電圧
d) 振動方向と時間：円筒軸に平行な方向及び直角な方向に各 4 時間（計 8 時間）
e) 試験中の測定
各方向の最終サイクルにおいて、0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオープ
ンの有無を調べる。
f) 試験後の検査
火花放電の痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を調べる。
H.4.4.6.2 ランダム振動
MIL-STD-202 の試験方法 214 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
コンデンサの本体及びリード線端子（本体より約 10mm の箇所）を固定する。
b) 試験条件：Ⅱ-H［20Hz～2,000Hz、334m/s2 rms］
c) 印加電圧：定格電圧
d) 振動方向と時間：円筒軸に平行な方向及び直角な方向に各 3 分間（計 6 分間）
e) 試験中の測定
各方向の試験中に、0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオープンの有無を調
べる。
f) 試験後の測定
H.4.4.4.1 項、H.4.4.4.2 項及び H.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電
正接（tanδ）を測定する。
g) 試験後の検査
火花放電の痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を調べる。
H.4.4.6.3 衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 213 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
コンデンサの本体及びリード線端子（本体から約 10mm の箇所）を固定する。
b) 試験条件：I［980m/s2、6ms、のこぎり波］
c) 印加電圧：定格電圧
d) 試験中の測定
0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオープンの有無を調べる。
e) 試験後の検査
火花放電の痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を調べる。
- H-20 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
H.4.4.6.4 熱衝撃（Ⅰ）
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B ただし、サイクル数は 1,000 サイクルとする。また、段階 1 は-30 -30℃、
段階 3 は 100+30 ℃とする。
b) 測定及び検査
試験前、50±10、100±10、250±20、500±20 及び 1,000+100 サイクルにおいて、次
の測定及び検査を行う。ただし、グループ C 試験では、試験前及び 1,000+100 サイク
ルにおいて行う。
1) 測定
H.4.4.4.1 項、H.4.4.4.2 項及び H.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び
誘電正接（tanδ）を測定する。
2) 検査
10 倍の拡大鏡で機械的損傷の有無を調べる。
H.4.4.6.5 熱衝撃及び電圧エージング
H.4.4.6.5.1 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B（-65℃～+125℃、5 サイクル）
b) 試験後の検査
目視によって機械的損傷の有無を調べる。
H.4.4.6.5.2 電圧エージング
次の条件によって試験する。
a) 試験温度：85℃±5℃
b) 印加電圧：定格電圧
c) 試験時間：168 時間以上
d) 直列抵抗：電源の内部インピーダンスを含めて 3Ω以下
e) 試験後の測定
試料を試験槽から取り出し、常温、常湿で 12 時間～24 時間放置した後、
H.4.4.4.1 項、H.4.4.4.2 項及び H.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電
正接（tanδ）を測定する。
H.4.4.6.6 熱衝撃及び浸せきサイクル
a) 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
1) 試験前の測定
H.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
2) 試験条件：B（-65℃～+125℃、5 サイクル）
- H-21 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) 浸せきサイクル
H.4.4.6.6 項 a)の熱衝撃に引き続き、すみやかに MIL-STD-202 の試験方法 104 に
よって試験する。ただし、次の条件を適用する。
1) 試験条件：B（2 サイクル、飽和食塩水）
2) 試験後の測定
最終サイクル終了後 30 分以内に、H.4.4.4.1 項、H.4.4.4.2 項及び H.4.4.4.3 項
に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正接（tanδ）を測定する。
3) 試験後の検査
目視によって腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否を調べる。
H.4.4.6.7 低温及び高温における安定性
表 H-10 の各段階の温度において、規定された項目の測定を行う。測定は、試料が熱平
衡に達した後で行う。熱平衡とは、15 分間隔で静電容量を測定したとき、続く 2 回の測
定値に差がない状態をいう。
表 H-10 低温及び高温における安定性
段階
1
2
3
4
温度(℃)
25 ±2
-55
0
-3
25 ±2
85
+3
0
測定項目
H.4.4.4.1
静電容量
H.4.4.4.2
誘電正接（tanδ）
H.4.4.4.3
静電容量
H.4.4.4.2
誘電正接（tanδ）
H.4.4.4.3
漏れ電流
H.4.4.4.1
静電容量
H.4.4.4.2
誘電正接（tanδ）
H.4.4.4.3
漏れ電流
H.4.4.4.1
静電容量
H.4.4.4.2
1
6
125
+3
0
25 ±2
項目番号
漏れ電流
誘電正接（tanδ）
5
試験方法
H.4.4.4.3
漏れ電流( )
H.4.4.4.1
静電容量
H.4.4.4.2
誘電正接（tanδ）
H.4.4.4.3
漏れ電流
H.4.4.4.1
静電容量
H.4.4.4.2
誘電正接（tanδ）
H.4.4.4.3
注(1) 表 H-11 に規定された軽減電圧を印加して測定する。
- H-22 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
H.4.4.6.8 耐湿性
MIL-STD-202 の試験方法 106 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の測定
H.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試験後の測定
最終サイクル終了後 2 時間～6 時間以内に、
H.4.4.4.1 項、H.4.4.4.2 項及び H.4.4.4.3
項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正接（tanδ）を測定する。
c) 試験後の検査
目視によって腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否を調べる。
H.4.4.6.9 塩水噴霧
MIL-STD-202 の試験方法 101 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B（48 時間）
b) 塩水濃度：5%
c) 試験後の検査
目視によって腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否を調べる。
H.4.4.6.10 耐溶剤性
MIL-STD-202 の試験方法 215 によって試験する。ただし、溶剤はイソプロピルアルコー
ルとする。
H.4.4.6.11 気密性
MIL-STD-202 の試験方法 112 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A 又は D（気泡試験）
b) 試験後の処理
適合する脱脂剤で洗浄し、常温、常湿で十分に乾燥すること。
H.4.4.7 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験は、次の方法による。
H.4.4.7.1 寿命（85℃）
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の測定
H.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試料の取付け
リード線端子によって取り付ける。
c) 試験温度：85+30 ℃
d) 印加電圧：定格電圧
- H-23 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
e) 電圧印加方法
5 分以内に規定電圧に到達するように徐々に電圧を上昇させるか、抵抗を通して
印加した後、5 分以内に抵抗を短絡させる。電圧は、測定時以外は連続して印加す
る。
f) 直流電源
試料が短絡した場合でも、少なくとも 1A の電流を供給できる蓄電池又は電子式
直流電源を用いること。また、試料の端子側からみた電源インピーダンスは 3Ωを
超えないこと。
g) 試験時間
1) 認定試験：4,000+720 時間
2) グループ C 試験：2,000+720 時間
h) 試験中の測定
試験温度にさらした最初、240+480 時間、1,000+480 時間、2,000+720 時間及び 4,000+720
時間において、H.4.4.4.1 項に従って試験温度における漏れ電流を測定する。
i)
試験後の測定
H.4.4.4.1 項、H.4.4.4.2 項及び H.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電
正接（tanδ）を測定する。また、H.4.4.4.4.1 項に従って絶縁スリーブの耐電圧試験
を行う。
j)
試験後の検査
火花放電の痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を調べる。
H.4.4.7.2 寿命（125℃）
H.4.4.7.1 項の規定によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験温度：125+30℃
b) 印加電圧：表 H-11 に規定された軽減電圧
c) 試験時間：4,000+720 時間
表 H-11 軽減電圧
単位 VDC
定格電圧(VDC)
軽減電圧
（125℃）
006
04
010
07
015
10
020
13
035
23
050
33
075
50
100
67
- H-24 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
H.4.5 長期保管
4.7.1 項によって長期保管されたコンデンサは、次の項目について項目順に全数試験を行わ
なければならない。
a) 漏れ電流（H.3.6.1 項）
b) 静電容量（H.3.6.2 項）
c) 誘電正接（H.3.6.3 項）
d) 外観・表示（H.3.3 項）
H.4.6 試験及び検査の変更
試験及び検査の変更は 4.8 項による。
H.5. 引渡しの準備
引渡しの準備は 5 項による。
H.6. 注意事項
注意事項は 6 項による。
- H-25 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 J
固定タンタル湿式電解コンデンサ
J.1. 総則 ........................................................................................................................................ J-1
J.1.1 適用範囲 ........................................................................................................................... J-1
J.1.2 区分 .................................................................................................................................. J-1
J.1.3 部品番号 ........................................................................................................................... J-1
J.1.3.1 形式............................................................................................................................ J-1
J.1.3.2 特性............................................................................................................................ J-1
J.1.3.3 定格電圧 .................................................................................................................... J-2
J.1.3.4 公称静電容量 ............................................................................................................. J-2
J.1.3.5 静電容量許容差 ......................................................................................................... J-2
J.1.3.6 極性............................................................................................................................ J-3
J.2. 適用文書など ......................................................................................................................... J-3
J.2.1 適用文書 ........................................................................................................................... J-3
J.2.2 参考文書 ........................................................................................................................... J-3
J.3. 要求事項................................................................................................................................. J-3
J.3.1 認定の範囲 ....................................................................................................................... J-3
J.3.2 材料 .................................................................................................................................. J-4
J.3.2.1 ケース ........................................................................................................................ J-4
J.3.2.2 絶縁スリーブ ............................................................................................................. J-4
J.3.2.3 はんだ ........................................................................................................................ J-4
J.3.2.4 はんだ付け用フラックス ........................................................................................... J-4
J.3.3 外観、寸法、表示など ..................................................................................................... J-4
J.3.3.1 外観及び表示 ............................................................................................................. J-4
J.3.3.2 構造、寸法及び質量 .................................................................................................. J-5
J.3.4 ワークマンシップ ............................................................................................................ J-5
J.3.4.1 DPA ............................................................................................................................ J-6
J.3.5 定格 .................................................................................................................................. J-6
J.3.5.1 公称静電容量及び静電容量許容差 ............................................................................ J-6
J.3.5.2 使用温度範囲 ............................................................................................................. J-6
J.3.5.3 定格電圧 .................................................................................................................... J-6
J.3.6 電気的性能 ....................................................................................................................... J-6
J.3.6.1 漏れ電流 .................................................................................................................... J-6
J.3.6.2 静電容量 .................................................................................................................... J-6
J.3.6.3 誘電正接（tanδ） ...................................................................................................... J-7
J.3.6.4 絶縁スリーブ ............................................................................................................. J-7
- J-i -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.3.6.5 逆電圧 ........................................................................................................................ J-7
J.3.6.6 サージ電圧................................................................................................................. J-7
J.3.7 機械的性能 ....................................................................................................................... J-7
J.3.7.1 端子強度 .................................................................................................................... J-7
J.3.7.2 はんだ付け性 ............................................................................................................. J-8
J.3.7.3 はんだ耐熱性 ............................................................................................................. J-8
J.3.8 環境的性能 ....................................................................................................................... J-8
J.3.8.1 高周波振動................................................................................................................. J-8
J.3.8.2 ランダム振動 ............................................................................................................. J-9
J.3.8.3 衝撃............................................................................................................................ J-9
J.3.8.4 熱衝撃（Ⅰ） ............................................................................................................. J-9
J.3.8.5 熱衝撃（Ⅱ） ............................................................................................................. J-9
J.3.8.6 熱衝撃及び電圧エージング ..................................................................................... J-10
J.3.8.7 低温及び高温における安定性 ................................................................................. J-10
J.3.8.8 低温貯蔵 ...................................................................................................................J-11
J.3.8.9 耐湿性 .......................................................................................................................J-11
J.3.8.10 塩水噴霧 ................................................................................................................ J-12
J.3.8.11 減圧 ........................................................................................................................ J-12
J.3.8.12 耐溶剤性 ................................................................................................................ J-12
J.3.8.13 気密性 .................................................................................................................... J-12
J.3.9 耐久的性能 ..................................................................................................................... J-12
J.3.9.1 寿命（85℃）........................................................................................................... J-12
J.3.9.2 寿命（125℃）......................................................................................................... J-13
J.3.9.3 AC リップル寿命 ...................................................................................................... J-13
J.4. 品質保証条項 ....................................................................................................................... J-14
J.4.1 工程内検査 ..................................................................................................................... J-14
J.4.2 認定試験 ......................................................................................................................... J-14
J.4.2.1 試料.......................................................................................................................... J-14
J.4.2.2 試験項目及び試料数 ................................................................................................ J-14
J.4.3 品質確認試験.................................................................................................................. J-16
J.4.3.1 試験項目及び試料数 ................................................................................................ J-16
J.4.3.2 試験後の処置 ........................................................................................................... J-16
J.4.4 試験方法 ......................................................................................................................... J-17
J.4.4.1 試験条件 .................................................................................................................. J-17
J.4.4.2 外観、寸法、表示など ............................................................................................ J-18
J.4.4.3 ワークマンシップ .................................................................................................... J-18
J.4.4.4 電気的性能............................................................................................................... J-18
J.4.4.5 機械的性能............................................................................................................... J-20
J.4.4.6 環境的性能............................................................................................................... J-23
- J-ii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.4.4.7 耐久的性能............................................................................................................... J-28
J.4.5 長期保管 ......................................................................................................................... J-30
J.4.6 試験及び検査の変更 ....................................................................................................... J-30
J.5. 引渡しの準備 ....................................................................................................................... J-30
J.6. 注意事項............................................................................................................................... J-30
- J-iii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 J
固定タンタル湿式電解コンデンサ
J.1. 総則
J.1.1 適用範囲
この付則は、コンデンサのうち、固定タンタル湿式電解コンデンサ（以下、
「コンデンサ」
という）に適用し、それらの要求事項、品質保証条項などを規定する。
J.1.2 区分
コンデンサの区分は表 J-1 による。
表 J-1 区
構
分
造
形
式
金属ケース、スリーブ付き、
ハーメチックシール、
CLS79
円筒形、リード線端子反対方向
J.1.3 部品番号
コンデンサの部品番号は次の例のように表す。詳細は個別仕様書による。
例 NASDA(1)
CLS79
形
式
B
特
H
性
(J.1.3.1 項) (J.1.3.2 項)
定格電圧
117
公
U
称
静電容量
静電容量
許 容 差
(J.1.3.3 項) (J.1.3.4 項)
(J.1.3.5 項)
P
極
性
(J.1.3.6 項)
1
注( ) “NASDA”は宇宙開発用共通部品等であることを示す。
“N”と省略できる。
J.1.3.1 形式
形式は、
“CLS”と 2 数字で表す。
“CLS”は信頼性保証固定タンタル湿式電解コンデンサ
を示し、これに続く 2 数字はコンデンサの大きさを表す。
J.1.3.2 特性
特性は定格電圧を負荷したときの使用温度範囲を示し、
表 J-2 のとおり 1 英大文字で表す。
- J-1 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 J-2 特
性
単位 ℃
記
号
定格電圧使用温度範囲
B
-55～+85
J.1.3.3 定格電圧
定格電圧は、表 J-3 のとおり 1 英大文字で表す。
表 J-3 定格電圧及びサージ電圧
単位 VDC
記号
定格電圧
軽減電圧
（85℃） （125℃）
サージ電圧
（85℃）
記号
定格電圧
軽減電圧
（85℃） （125℃）
サージ電圧
（85℃）
A
003
02
003.4
N
100
065
115.0
B
006
04
006.9
O
250
165
287.0
C
008
05
009.2
P
125
085
144.0
D
010
07
011.5
Q
150
100
172.0
E
015
10
017.2
R
180
120
207.0
F
020
13
023.0
S
270
180
310.0
G
025
15
028.8
T
360
240
414.0
H
030
20
034.5
U
450
300
518.0
I
112
75
129.0
V
540
360
621.0
J
050
30
057.5
W
630
420
724.0
K
060
40
069.0
X
300
200
345.0
L
075
50
086.2
Y
375
250
431.0
M
090
60
103.0
Z
225
150
259.0
J.1.3.4 公称静電容量
公称静電容量は 3 桁の数字で表し、ピコファラド（pF）を単位とする。最初の 2 数字は有
効数字を表し、最後の数字はこれに続く零の数を表す。
例
175：1.7μF、106：10μF、128：1,200μF
J.1.3.5 静電容量許容差
静電容量許容差は、表 J-4 のとおり 1 英大文字で表す。
- J-2 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 J-4 静電容量許容差
単位 %
記 号
静電容量許容差
記 号
J
±05
S
K
±10
T
L
±15
U
M
±20
－
静電容量許容差
+30
-15
+50
-15
+75
-15
－
J.1.3.6 極性
極性は、表 J-5 のとおり 1 英大文字で表す。
表 J-5 極
性
号
極 性
記
P
有
N
無
J.2. 適用文書など
J.2.1 適用文書
この付則の適用文書は、2.1 項による。
J.2.2 参考文書
次の文書は、この付則の参考文書とする。
a) MIL-PRF-39006
Capacitor, Fixed, Electrolytic (Nonsolid Electrolyte), Tantalum,
Established Reliability, General Specification for
J.3. 要求事項
J.3.1 認定の範囲
認定されるコンデンサの範囲は、
この仕様書の J.3.2 項から J.3.9 項に規定された材料、
設計、
構造、定格及び性能を満足するコンデンサの製造ラインを用いて製造される製品群で、認定試
験に合格した試料で代表される範囲のものとする。したがって、この認定の範囲内において個
別仕様書で規定する個々の製品を供給することができる。
なお、より詳細な認定の範囲の規定が必要な場合は、個別仕様書に規定する。
- J-3 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.3.2 材料
コンデンサに使用する材料は 3.3 項によるほか、次による。
J.3.2.1 ケース
ケースは、耐食性金属であるか、又はめっきなどによる耐食処理が施されていなければな
らない。
J.3.2.2 絶縁スリーブ
絶縁スリーブは、コンデンサの最高使用温度で変形したり、変色したりしてはならない。
また、絶縁の目的でカードボードスリーブ（厚紙スリーブ）を使用してはならない。
J.3.2.3 はんだ
どのような場合においても、はんだは 168℃又は個別仕様書に規定された温度以下で溶け
てはならない。
J.3.2.4 はんだ付け用フラックス
はんだ付け用フラックスは、ロジン又はアルコールにロジンを溶かしたものを使用しなけ
ればならない。これらと同等の他の非腐食性フラックスは、この仕様書の要求事項を満足で
きる場合に使用することができる。
はんだ付けに際して、一切の酸又は酸性塩を使用してはならない。ただし、電気的接続部
分の予備すず引きには用いてもよい。
電気回路の形成を目的としない機械的結合部のすず引き又ははんだ引きには、酸又は酸性
塩を用いてもよい。
事後処理によって完全に除去されるものでない限り、絶縁材料に近接して酸又は酸性塩を
使用してはならない。
J.3.3 外観、寸法、表示など
J.3.3.1 外観及び表示
コンデンサの表面には割れ、腐食、ひずみなどがあってはならない。また、表示は少なく
とも次の項目を含み、容易に消えない方法でなされていなければならない。
a) 部品番号
個別仕様書の規定による。
b) ロット識別記号
記号の付与方法は、認定取得業者の規定による。
c) 極性
個別仕様書の規定による。
d) 認定取得業者名又はその略号
- J-4 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.3.3.2 構造、寸法及び質量
コンデンサの構造、寸法及び質量は次によるほか、個別仕様書による。
a) 構造
湿気及び機械的損傷からコンデンサ素子を保護するために、金属ケースに収納され、
ハーメチックシールされていること。
b) リード線端子
リード線は、溶融はんだに浸せきするか、又は電気めっきによって、はんだ付けさ
れなければならない。
J.3.4 ワークマンシップ
コンデンサは良好な設計に基づいて、この仕様書の 3.2.1 項で設定された品質保証プログラ
ムに従って製造されていなければならない。
コンデンサの本体にはひび割れ、ピンホール、傷など、電気的又は機械的な性能に影響する
欠陥があってはならない。
a) はんだ付け
はんだ付けは、機械的強度を得るための手段として使用してはならない。電気的接続
を目的とするはんだ付けの場合には、あらかじめ機械的に接続されていることが望まし
く、かつ、はんだ付け後は電気的にも完全な接続でなければならない。また、はんだ付
け後、過剰なフラックス及びはんだは除去されていなければならない。酸又は酸性塩の
使用が許容される場合でも、完全な中和、洗浄などの処理が、はんだ付け後速やかに行
われなければならない。
b) 仕上げ
コンデンサの仕上げは、ケース表面にはげ落ち、割れ、腐食などを生ずるものであっ
てはならない。
c) 端子と封止部
すべての端子部及び封止部には、グリース、その他の異物の付着などがあってはなら
ない。また、リード線には折損、つぶれ、その他の傷がなく、リード線を動かしたとき
に傷がついたり、素子、ケース及び外装に過度の力が加わったりしないように、内部的
にも外部的にも確実に接続されていなければならない。
d) ケ－ス
金属ケースのばり及びひげは 0.02mm 以下とし、絶縁物を用いている場合には、ばり
及びひげはその絶縁物の厚さの 1/10 以下でなければならない。
e) 絶縁スリーブ
絶縁スリーブはケースに密着していること。粗雑な継ぎ目、不揃いな端末などがあっ
てはならない。収縮形の絶縁物を使用した場合には、コンデンサ端からのはみ出しは
1.5mm 以内でなければならない。また、コンデンサのリード線及び封止部に、スリーブ
を装着するときに使用したレジン、セメントなどの残留があってはならない。
f) はんだ仕上げ
不十分な加熱による突起又は粗い面などがあってはならない。はんだ付けは、必要最
- J-5 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
少量のフラックス及びはんだで行わなければならない。過剰なフラックスを除去すると
きには、コンデンサを傷つけるおそれのある方法を用いてはならない。また、分散した
フラックス粒子、ブラシの毛又は他の異物をコンデンサ内部又は表面に残したりしては
ならない。
はんだ付けの熱によって絶縁物が損傷を受けたり、固定されている部品がゆるんだり
してはならない。
g) 溶接
溶接部分に焼損、ひずみ、破損、非金属残留物、未溶接などがあってはならない。
J.3.4.1 DPA
J.4.4.3.1 項によって試験したとき、溶接、ハーメチックシールのガラスと金属との接合な
どの工程が確実に行われていなければならない。また、材料、内部構造、陽極素子表面など
が品質保証プログラムに規定されたとおりでなければならない。
J.3.5 定格
J.3.5.1 公称静電容量及び静電容量許容差
公称静電容量及び静電容量許容差は、個別仕様書に規定する。
J.3.5.2 使用温度範囲
使用温度範囲は、-55℃～+125℃とする。ただし、定格電圧での使用温度範囲は、特に規
定がない限り-55℃～+85℃とする。周囲温度がこの範囲を超える場合には、個別仕様書に規
定された軽減電圧を適用する。
J.3.5.3 定格電圧
定格電圧は表 J-3 に示す範囲とし、個別仕様書に規定する。
J.3.6 電気的性能
コンデンサは次の電気的性能を満足しなければならない。
J.3.6.1 漏れ電流
J.4.4.4.1 項によって試験したとき、漏れ電流は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
J.3.6.2 静電容量
J.4.4.4.2 項によって試験したとき、静電容量は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
- J-6 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.3.6.3 誘電正接（tanδ）
J.4.4.4.3 項によって試験したとき、誘電正接（tanδ）は個別仕様書の要求を満足しなけ
ればならない。
J.3.6.4 絶縁スリーブ
J.3.6.4.1 耐電圧
J.4.4.4.5.1 項によって試験したとき、絶縁破壊があってはならない。
J.3.6.4.2 絶縁抵抗
J.4.4.4.5.2 項によって試験したとき、絶縁抵抗は 100MΩ以上でなければならない。
J.3.6.5 逆電圧
J.4.4.4.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率は個別仕様書の規定によること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
J.3.6.6 サージ電圧
J.4.4.4.4 項によって試験したとき、不安定な接続、ショート又はオープンがあってはなら
ない。また、コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕跡が
あってはならない。
J.3.7 機械的性能
コンデンサは次の機械的性能を満足しなければならない。
J.3.7.1 端子強度
J.3.7.1.1 引張り強さ
J.4.4.5.1.1 項によって試験したとき、端子にゆるみがあってはならない。また、端子部、
端子溶接部、端子はんだ部又は封止部に、コンデンサの性能に影響を与えるような機械的
損傷があってはならない。
J.3.7.1.2 リード線曲げ強さ
J.4.4.5.1.2 項によって試験したとき、端子にゆるみがあってはならない。また、端子部、
端子溶接部、端子はんだ部又は封止部に、コンデンサの性能に影響を与えるような機械的
損傷があってはならない。
- J-7 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.3.7.1.3 リード線溶接部曲げ強さ
J.4.4.5.1.3 項によって試験したとき、端子にゆるみがあってはならない。また、端子部、
端子溶接部、端子はんだ部又は封止部に、コンデンサの性能に影響を与えるような機械的
損傷があってはならない。
J.3.7.2 はんだ付け性
J.4.4.5.2 項によって試験したとき、端子の表面は、新しい滑らかなはんだの被膜で少なく
とも 95%は覆われていなければならない。はんだの表面には小さいピンホール、又は粗い点
に限ってはんだで覆われていない部分があってもよいが、これらは集中していてはならない。
また、その面積の合計は 5%未満でなければならない。
J.3.7.3 はんだ耐熱性
J.4.4.5.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±5%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
d) 外観
端子部、端子溶接部、端子はんだ部又は封止部に、コンデンサの性能に影響を与え
るような機械的損傷がないこと。
J.3.8 環境的性能
コンデンサは次の環境的性能を満足しなければならない。
J.3.8.1 高周波振動
J.4.4.6.1 項によって試験したとき、
0.5ms 以上の断続的接触、
ショート又はオープンがあっ
てはならない。また、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）の 125%を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±5%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値の 115%を超えないこと。
d) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕跡がない
こと。
- J-8 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.3.8.2 ランダム振動
J.4.4.6.2 項によって試験したとき、
0.5ms 以上の断続的接触、
ショート又はオープンがあっ
てはならない。また、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）の 125%を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±5%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値の 115%を超えないこと。
d) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕跡がない
こと。
J.3.8.3 衝撃
J.4.4.6.3 項によって試験したとき、
0.5ms 以上の断続的接触、
ショート又はオープンがあっ
てはならない。また、コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出
の痕跡があってはならない。
J.3.8.4 熱衝撃（Ⅰ）
J.4.4.6.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）の 200%を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±10%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値の 115%を超えないこと。
d) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕跡がない
こと。
J.3.8.5 熱衝撃（Ⅱ）
J.4.4.6.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±5%以内にあること。
c) 誘電容量（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値の 115%を超えないこと。
- J-9 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕跡がない
こと。
J.3.8.6 熱衝撃及び電圧エージング
J.3.8.6.1 熱衝撃
J.4.4.6.6.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）の 125%を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±5%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値の 115%を超えないこと。
d) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕跡がな
いこと。
J.3.8.6.2 電圧エージング
J.4.4.6.6.2 項によって試験したとき、コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損
傷又は電解質の漏出の痕跡があってはならない。
J.3.8.7 低温及び高温における安定性
J.4.4.6.7 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 段階 1（25℃）
1) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
2) 静電容量
個別仕様書に規定された静電容量許容差内にあること。
3) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 段階 2（-55℃）
1) 静電容量
段階 1 からの変化率は個別仕様書の規定によること。
2) インピーダンス
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
c) 段階 3（25℃）
1) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
- J-10 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
2) 静電容量
段階 1 からの変化率が±5%以内にあること。
3) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
d) 段階 4（85℃）
1) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（85℃）を超えないこと。
2) 静電容量
段階 1 からの変化率は個別仕様書の規定によること。
3) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
e) 段階 5（125℃）
1) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（125℃）を超えないこと。
2) 静電容量
段階 1 からの変化率は個別仕様書の規定によること。
3) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
f) 段階 6（25℃）
1) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
2) 静電容量
個別仕様書に規定された静電容量許容差内にあること。
3) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
J.3.8.8 低温貯蔵
J.4.4.6.8 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±5%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
d) 外観
電解質の漏出の痕跡がないこと。
J.3.8.9 耐湿性
J.4.4.6.9 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
- J-11 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値（25℃）の 125%を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率は個別仕様書の規定によること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値の 115%を超えないこと。
d) 外観
腐食(1)、コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕
跡がなく、表示を判読できること。
注(1) コンデンサの機械的性能又は電気的性能に影響するような腐食。
J.3.8.10 塩水噴霧
J.4.4.6.10 項によって試験したとき、腐食(1)がなく、コンデンサの露出金属表面の 90%以
上が表面処理で保護されていなければならない。端子表面の腐食は 10%を超えてはならない。
また、絶縁スリーブのはがれ、機械的損傷又は電解質の漏出がなく、表示を判読できなけれ
ばならない。
注(1) コンデンサの機械的性能又は電気的性能に影響するような腐食。
J.3.8.11 減圧
J.4.4.6.11 項によって試験したとき、フラッシュオーバ、ケースの変形、コンデンサの性
能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕跡がなく、表示を判読できなけれ
ばならない。
J.3.8.12 耐溶剤性
J.4.4.6.12 項によって試験したとき、絶縁スリーブのはがれ又は機械的損傷がなく、表示
を判読できなければならない。
J.3.8.13 気密性
J.4.4.6.13 項によって試験したとき、コンデンサに気密漏れがあってはならない。
J.3.9 耐久的性能
コンデンサは次の耐久的性能を満足しなければならない。
J.3.9.1 寿命（85℃）
J.4.4.7.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流（25℃）
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
b) 漏れ電流（85℃）
個別仕様書に規定された規格値（85℃）を超えないこと。
- J-12 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
c) 静電容量
試験前からの変化率が±10%以内にあること。
d) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
e) 絶縁スリーブ
J.3.6.4 項の要求を満足すること。
f) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕跡がなく、
表示を判読できること。
J.3.9.2 寿命（125℃）
J.4.4.7.2 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流（25℃）
個別仕様書に規定された規格値（25℃）を超えないこと。
b) 漏れ電流（125℃）
個別仕様書に規定された規格値（125℃）を超えないこと。
c) 静電容量
試験前からの変化率は個別仕様書の規定によること。
d) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
e) 絶縁スリーブ
J.3.6.4 項の要求を満足すること。
f) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕跡がなく、
表示を判読できること。
J.3.9.3 AC リップル寿命
J.4.4.7.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
b) 静電容量
試験前からの変化率が±10%以内にあること。
c) 誘電正接（tanδ）
個別仕様書に規定された規格値を超えないこと。
d) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷又は電解質の漏出の痕跡がなく、
表示を判読できること。
- J-13 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.4. 品質保証条項
J.4.1 工程内検査
工程内検査は 4.3 項による。
J.4.2 認定試験
認定試験は 4.4 項によるほか、次による。
J.4.2.1 試料
認定試験の試料は 4.4.1 項によるほか、次による。
a) 個別認定
認定を希望するケースサイズ、定格電圧、公称静電容量及び静電容量許容差を有す
る試料を 295 個供試すること。
b) 組合せ認定
個別仕様書に規定された認定を希望する定格電圧において、最高定格電圧で最大公
称静電容量の試料と、最低定格電圧で最大公称静電容量の試料を、それぞれ 139 個（合
計 278 個）供試すること。この試料とは別に、ケースサイズごとに最大許容リップル
電流を有する試料を、表 J-6 のⅢ群用として各 6 個、Ⅵ群用として各 8 個、Ⅹ群用と
して各 3 個供試すること。これらの試料については、表 J-6 のⅠ群及びⅡ群の試験を
行った後、それぞれ表 J-6 のⅢ群、Ⅵ群及びⅩ群に供するものとする。
J.4.2.2 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目及び試料数は表 J-6 による。Ⅰ群の試験後にⅡ群の試験を行い、その
後、Ⅲ群以下の各群に試料を分けて試験を行う。ただし、Ⅲ群以下の試験は群番号の順に行
わなくてもよい。各群内の試験項目は順序番号の順に行う。
- J-14 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 J-6 認定試験
試
群
(2)
Ⅰ
(3)
Ⅱ
(5)
Ⅲ
Ⅴ
Ⅵ
Ⅶ
Ⅷ
Ⅸ
Ⅹ
ⅩⅠ
ⅩⅡ
－
注(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
(7)
要求事項
項目番号
試験方法
項目番号
合 否 判 定
許 容
試料数
不良数(1)
順
序
1
2
3
4
5
電圧エージング
漏れ電流
静電容量
誘電正接（tanδ）
気密性
J.3.8.6.2
J.3.6.1
J.3.6.2
J.3.6.3
J.3.8.13
J.4.4.6.6.2
J.4.4.4.1
J.4.4.4.2
J.4.4.4.3
J.4.4.6.13
全数
0
1
外観、寸法、表示など(4)
J.3.3
J.4.4.2
全数
0
1
2
3
4
1
2
3
衝撃
高周波振動
熱衝撃（Ⅱ）
塩水噴霧
はんだ付け性
J.3.8.3
J.3.8.1
J.3.8.5
J.3.8.10
J.3.7.2
J.3.7.1.1
J.3.7.1.2
J.4.4.6.3
J.4.4.6.1
J.4.4.6.5
J.4.4.6.10
J.4.4.5.2
J.4.4.5.1.1
J.4.4.5.1.2
J.3.7.1.3
J.4.4.5.1.3
4
Ⅳ
験
項
端子強度
目
引張り強さ
リード線曲げ強さ
リード線溶接部
曲げ強さ
(6)6(6)
1
5 サージ電圧
J.3.6.6
J.4.4.4.4
12
6 耐湿性
J.3.8.9
J.4.4.6.9
7
耐電圧
J.3.6.4.1
J.4.4.4.5.1
絶縁スリーブ
8
絶縁抵抗
J.3.6.4.2
J.4.4.4.5.2
9 低温貯蔵
J.3.8.8
J.4.4.6.8
10 気密性
J.3.8.13
J.4.4.6.13
1 低温及び高温における安定性
J.3.8.7
J.4.4.6.7
12
2 逆電圧
J.3.6.5
J.4.4.4.6
1 AC リップル寿命
J.3.9.3
J.4.4.7.3
(6)8(6)
0
1 寿命（85℃）
J.3.9.1
J.4.4.7.1
190
0
1 寿命（125℃）
J.3.9.2
J.4.4.7.2
40
0
2 減圧
J.3.8.11
J.4.4.6.11
1 耐溶剤性
J.3.8.12
J.4.4.6.12
6
0
2 はんだ耐熱性
J.3.7.3
J.4.4.5.3
1 DPA
J.3.4.1
J.4.4.3.1
(6)3(6)
0
1 ランダム振動
J.3.8.2
J.4.4.6.2
6
0
1 熱衝撃（Ⅰ）
J.3.8.4
J.4.4.6.4
12
0
7
1 材料
J.3.2
－
()
1 個の試料が同じ試験群に属する試験項目の二つ以上の項目で不合格であっても、不良数
は 1 個と数える。
絶縁スリーブは、気密性の試験完了後に取り付ける。
非破壊試験である。
寸法の合否判定は、JIS Z 9015-1 の付表 2-A に規定された「なみ検査の 1 回抜取方式」の
AQL=1.0%とする。
絶縁スリーブを取除いて試験を行う。
組合せ認定の場合、ケースサイズごとに J.4.2.1 項に従って試料を供試する。
設計仕様を満足していることを証明する資料を提出すること。
- J-15 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.4.3 品質確認試験
品質確認試験は 4.5 項によるほか、次による。
J.4.3.1 試験項目及び試料数
品質確認試験の試験項目及び試料数は、グループ A 試験を表 J-7 に、グループ B 試験を表
J-8 に、グループ C 試験を表 J-9 に示す。表 J-8 及び表 J-9 に規定された試験は群番号の順
に行わなくともよいが、表 J-7 に規定された試験は、A1 群、A2 群の順で行った後、A3 群を
行うこと。各群内の試験項目は順序番号の順に行う。
J.4.3.2 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
ただし、A2 群で不合格となったときには、その項目について全数試験を行い、良品のみを
出荷することができる。
表 J-7 品質確認試験（グループ A）
試
群
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
熱衝撃
J.3.8.6.1
J.4.4.6.6.1
合 否 判 定
試料数
許容不良数
全数
0
2
電圧エージング
J.3.8.6.2
J.4.4.6.6.2
1
()
3
漏れ電流
J.3.6.1
J.4.4.4.1
A1
4
静電容量
J.3.6.2
J.4.4.4.2
5
誘電正接（tanδ）
J.3.6.3
J.4.4.4.3
6
気密性
J.3.8.13
J.4.4.6.13
A2
1
外観、寸法、表示など
J.3.3
J.4.4.2
AQL=1.0%(2)
A3
1
DPA(3)
J.3.4.1
J.4.4.3.1
3
0
1
絶縁スリーブは、気密性の試験完了後に取り付ける。
2
AQL は、JIS Z 9015-1 の付表 2-A に規定された「なみ検査の 1 回抜取方式」の合格品質
注( )
()
水準を示す。
3
()
各ケースサイズの許容リップル電流が最大のコンデンサを選ぶこと。
表 J-8 品質確認試験（グループ B）
試
群
B1
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
低温及び高温における安定性 J.3.8.7
J.4.4.6.7
2
サージ電圧
J.3.6.6
J.4.4.4.4
1
耐溶剤性
J.3.8.12
J.4.4.6.12
2
はんだ耐熱性
J.3.7.3
J.4.4.5.3
B2
- J-16 -
合 否 判 定
試料数
許容不良数
12
0
4
0
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 J-9 品質確認試験（グループ C）
試
群
C1
順序
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
衝撃
J.3.8.3
J.4.4.6.3
2
高周波振動
J.3.8.1
J.4.4.6.1
3
塩水噴霧
J.3.8.10
J.4.4.6.10
1
はんだ付け性
J.3.7.2
J.4.4.5.2
J.3.7.1.1
J.4.4.5.1.1
リード線曲げ強さ J.3.7.1.2
J.4.4.5.1.2
引張り強さ
2
3
C2
験
端子強度
4
リード線溶接部
曲げ強さ
J.3.7.1.3
J.4.4.5.1.3
J.3.8.9
J.4.4.6.9
合 否 判 定
試料数
許容不良数
12
0
12
0
12
0
5
耐湿性
6
絶縁
耐電圧
J.3.6.4.1
J.4.4.4.5.1
7
スリーブ
絶縁抵抗
J.3.6.4.2
J.4.4.4.5.2
1
低温貯蔵
J.3.8.8
J.4.4.6.8
2
気密性
J.3.8.13
J.4.4.6.13
C4
1
逆電圧
J.3.6.5
J.4.4.4.6
12
0
C5
1
AC リップル寿命
J.3.9.3
J.4.4.7.3
12
0
C6
1
寿命（85℃）
J.3.9.1
J.4.4.7.1
12
0
C7
1
減圧
J.3.8.11
J.4.4.6.11
12
0
C8
1
ランダム振動
J.3.8.2
J.4.4.6.2
6
0
C9
1
熱衝撃（Ⅰ）
J.3.8.4
J.4.4.6.4
6
0
C3
J.4.4 試験方法
J.4.4.1 試験条件
MIL-STD-202 の 4 項による。ただし、次の条件を適用する。
a) 標準状態
標準状態とは、温度 25℃±3℃、相対湿度 25%～75%、気圧 86kPa～106kPa の環境
条件をいう。試験及び測定は、特に規定がない限り標準状態で行う。再現性のある結
果を得るためにこれらの条件を厳密に管理しなければならないときには、b)の判定状
態を適用する。換算を必要とする場合は、c)の基準状態を用いる。
なお、判定に疑義を生じなければ、標準状態以外で試験及び測定を行ってもよい。
b) 判定状態
判定状態は、温度 25-20℃、相対湿度 50±2%、気圧 86kPa～106kPa とする。
c) 基準状態
基準状態は、温度 25℃、相対湿度 50%、気圧 101.3kPa とする。
- J-17 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 基準測定
エージング前後の測定値を比較する場合は、エージングに先立ち 25℃±3℃で測定さ
れた値を基準値とする。この基準値が試験開始時点から 30 日以前に測定された場合、
又は測定用の治工具などの影響を受けると考えられる場合には、再測定を行い、これ
を基準値としなければならない。
e) 試験電圧の測定精度は、規定された電圧の±3.0%以内でなければならない。
f) 寿命試験に用いる電源電圧の変動は、規定された試験電圧の±3%以内でなければなら
ない。また、漏れ電流の測定に用いる電源電圧の変動は、±100ppm 以内でなければな
らない。
J.4.4.2 外観、寸法、表示など
J.3.3 項に規定された外観、構造、寸法、質量及び表示について試験する。ただし、質量
は、認定試験及びグループ C 試験に先立って実施するグループ A 試験のみに適用する。
J.4.4.3 ワークマンシップ
J.4.4.3.1 DPA
コンデンサを分解して、溶接、ハーメチックシールのガラスと金属の接合、材料、内部
構造、陽極素子表面などを調べる。
なお、陽極素子表面は、走査型電子顕微鏡（SEM）によっても観察する。
J.4.4.4 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験は、次の方法による。
J.4.4.4.1 漏れ電流
次の条件によって試験する。
a) 印加電圧
定格電圧とする。ただし、温度が指定されている場合には、個別仕様書に規定さ
れた軽減電圧とする。
b) 印加時間
1) 認定試験、グループ B 試験及びグループ C 試験：5 分±0.5 分
2) グループ A 試験：5 分以内
J.4.4.4.2 静電容量
MIL-STD-202 の試験方法 305 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数：120Hz±5Hz
b) 測定精度：±2%以内
c) 測定電圧：1VAC rms 以下。ただし、表 J-10 の直流電圧を重畳する。
- J-18 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 J-10 重畳直流電圧
単位 VDC
形式記号
CLS79
定格電圧(VDC)
重畳直流電圧
6
～
075
02-10
100
～
125
10-10
J.4.4.4.3 誘電正接（tanδ）
極性を有するブリッジによって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数：120Hz±5Hz
b) 測定精度：±2%以内
c) 測定電圧：1VAC rms 以下。ただし、表 J-10 の直流電圧を重畳する。
J.4.4.4.4 サージ電圧
次の条件によって試験する。
a) 試験温度：85+3
0℃
b) 印加電圧
表 J-3 に規定されたサージ電圧を印加する。
c) 直列保護抵抗：1,000Ω±100Ω
d) 充放電条件
直列保護抵抗（1,000Ω）を通して充放電させる。
e) 印加時間及び周期：0.5 分間印加、5.5 分間放電（6 分間周期）
f) サイクル数：1,000 サイクル
g) 試験中の測定
不安定な接続、ショート及びオープンの有無を調べる。
h) 試験後の検査
目視によって機械的損傷及び電解質の漏出の有無を調べる。
J.4.4.4.5 絶縁スリーブ
J.4.4.4.5.1 耐電圧
MIL-STD-202 の試験方法 301 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定箇所
V ブロックを用いて、コンデンサのケースと V ブロックの間を測定する。
b) 印加電圧：2,000VDC
c) 印加時間：60 秒±5 秒
d) 試験後の検査
絶縁破壊の有無を調べる。
- J-19 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.4.4.4.5.2 絶縁抵抗
MIL-STD-202 の試験方法 302 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定箇所
V ブロックを用いて、コンデンサのケースと V ブロックの間を測定する。
b) 試験条件：B（500VDC）
0
c) 印加時間：60-15
秒
d) 試験後の測定
V ブロック上でコンデンサを回転させて、絶縁抵抗を 5 箇所測定する。
J.4.4.4.6 逆電圧
次の条件によって試験する。
a) 試験前の測定
J.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試験温度：85+3
0℃
c) 印加電圧及び試験時間
コンデンサの極性と逆方向に直流電圧 3VDC を印加し、
125 時間±10 時間保持する。
次に、極性を反転して定格電圧を印加し、125 時間±10 時間保持した後、槽から取
り出す。
d) 試験後の測定
J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正
接（tanδ）を測定する。
J.4.4.5 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験は、次の方法による。
J.4.4.5.1 端子強度
J.4.4.5.1.1 引張り強さ
MIL-STD-202 の試験方法 211 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A（引張り試験）
b) 試験する端子：陽極リード線及び陰極リード線
c) 試料の保持方法
コンデンサの本体を固定する。
d) 荷重：14.71N
e) 荷重時間：30+5
0秒
f) 試験後の検査
目視によって端子のゆるみ、並びに端子部、端子溶接部、端子はんだ部及び封
止部の機械的損傷の有無を調べる。
- J-20 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.4.4.5.1.2 リード線曲げ強さ
MIL-STD-202 の試験方法 211 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：C（リード線曲げ試験）
b) 試料の保持方法
リード線端子の引出軸が垂直になるように、コンデンサの本体を保持する。
c) 試験する端子
個別仕様書による。
d) 荷重
個別仕様書に規定された荷重をリード線端子の先端にかける。
e) 曲げの方法
コンデンサ本体をリード線に対して 90 度曲げ、元の位置に戻す。この操作を 1
回と定義する。次に、反対方向に同じ操作を行う。
f) 曲げの速度：1 回につき、2 秒～3 秒
g) 曲げの回数：4 回
h) 試験後の検査
目視によって端子のゆるみ、並びに端子部、端子溶接部、端子はんだ部及び封
止部の機械的損傷の有無を調べる。
J.4.4.5.1.3 リード線溶接部曲げ強さ
端子の溶接点が本体外にあるものに適用し、次の条件によって試験する。
a) 試料の保持方法
図 J-1 に示すように、溶接点の下端と治具表面とが同一面になるところまで端
子を挿入し、ちょうねじで固定する。
b) 試験する端子：リード端子の溶接点が本体外にあるもの
c) 曲げの方法
治具の上方のリード線を軸方向に保持しながら、ケースの端が治具表面に接触
するまでリードを曲げ、元の位置に戻す。この操作を 1 回と定義する。次に、反
対方向に同じ操作を行う。
d) 曲げの速度：1 回につき、ほぼ 5 秒
e) 曲げ回数：4 回
f) 試験後の検査
目視によって端子のゆるみ、並びに端子部、端子溶接部、端子はんだ部及び封
止部の機械的損傷の有無を調べる。
- J-21 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
図 J-1 リード線溶接部曲げ強さの試験
J.4.4.5.2 はんだ付け性
MIL-STD-202 の試験方法 208 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験する端子の数：試料 1 個について 2 本
b) 浸せき深さ：溶接点から 1.6mm の箇所
c) 試験後の検査
目視によって、はんだの付着状態を調べる。
J.4.4.5.3 はんだ耐熱性
MIL-STD-202 の試験方法 210 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の測定
J.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試験条件：B（260℃±5℃、10 秒±1 秒）
c) 浸せき深さ：溶接点から 1.6mm の箇所
d) 試験後測定までの放置時間：10 分±1 分
e) 試験後の測定
J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正
接（tanδ）を測定する。
- J-22 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
f) 試験後の検査
目視によって端子部、端子溶接部、端子はんだ部及び封止部の機械的損傷の有無
を調べる。
J.4.4.6 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験は、次の方法による。
J.4.4.6.1 高周波振動
MIL-STD-202 の試験方法 204 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
コンデンサの本体及びリード線端子（本体から約 10mm の箇所）を固定する。
b) 試験条件：D［196m/s2 p-p 又は全振幅 1.5mm のいずれか小さい方］
c) 印加電圧：定格電圧
d) 振動方向と時間：円筒軸に平行な方向及び直角な方向に各 4 時間（計 8 時間）
e) 周波数範囲の分割
全振幅 1.5mm の範囲と 196m/s2 p-p で決まる周波数範囲に分割してもよい。
また、
後者を更に 2 帯域以上に分割してもよい。
f) 試験中の測定
各方向の試験終了前の 30 分間において、0.5ms 以上の断続的接触、ショート及
びオープンの有無を調べる。
g) 試験後の測定
J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正
接（tanδ）を測定する。
h) 試験後の検査
目視によって機械的損傷及び電解質の漏出の有無を調べる。
J.4.4.6.2 ランダム振動
MIL-STD-202 の試験方法 214 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の測定
J.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試料の取付け
コンデンサの本体及びリード線端子（本体から約 10mm の箇所）を固定する。
c) 試験条件：Ⅱ-H［20Hz～2,000Hz、334m/s2 rms］
d) 印加電圧：定格電圧
e) 振動方向と時間：円筒軸に平行な方向及び直角な方向に各 3 分間（計 6 分間）
f) 試験中の測定
各方向の試験中に、0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオープンの有無を調
べる。
- J-23 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
g) 試験後の測定
J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正
接（tanδ）を測定する。
h) 試験後の検査
目視によって機械的損傷及び電解質の漏出の有無を調べる。
J.4.4.6.3 衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 213 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
コンデンサの本体及びリード線端子（本体から約 10mm の箇所）を固定する。
b) 試験条件：I［980m/s2、6ms、のこぎり波］
c) 印加電圧：定格電圧
d) 試験中の測定
0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオープンの有無を調べる。
e) 試験後の検査
目視によって機械的損傷及び電解質の漏出の有無を調べる。
J.4.4.6.4 熱衝撃（Ⅰ）
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の処理
常温、常湿で 15 分間放置する。
b) 試験条件：B ただし、サイクル数は 1,000 サイクルとする。また、段階 1 は-30-30℃、
段階 3 は 100+3
0 ℃とする。
c) 測定及び検査
試験前、50±10、100±10、250±20、500±20 及び 1,000+10
0 サイクルにおいて、次
の測定及び検査を行う。ただし、グループ C 試験では、試験前及び 1,000+10
0 サイク
ルにおいて行う。
1) 測定
J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘
電正接（tanδ）を測定する。
2) 検査
目視によって機械的損傷の有無を調べる。また、チモールブルー又は他の化
学的指示薬によって電解質の漏出の有無を調べる。
なお、適切な化学的指示薬がない場合は、10 倍の拡大鏡により外観を調べた
後、J.4.4.6.13 項に規定する気密性試験の試験条件 A により電解質の漏出を確認
する。
J.4.4.6.5 熱衝撃（Ⅱ）
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
- J-24 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
a) 試験前の処理
室温に 15 分間放置する。
b) 試験前の測定
J.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
c) 試験条件：A ただし、サイクル数は 300 サイクルとする。また、段階 3 は 125+4
0℃
とする。
d) 試験後の測定
J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正
接（tanδ）を測定する。
e) 試験後の検査
目視によって機械的損傷の有無を調べる。また、チモールブルー又は他の化学的
指示薬によって電解質の漏出の有無を調べる。
なお、適切な化学的指示薬がない場合は、10 倍の拡大鏡により外観を調べた後、
J.4.4.6.13 項に規定する気密性試験の試験条件 A により電解質の漏出を確認する。
J.4.4.6.6 熱衝撃及び電圧エージング
J.4.4.6.6.1 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
なお、この条項は、認定試験には適用しない。
a) 試験前の処理
室温に 15 分間放置する。
b) 試験前の測定
J.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
c) 試験条件：A ただし、サイクル数は 30 サイクルとする。また、段階 3 は 125+4
0℃
とする。
d) 試験後の測定
J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘
電正接（tanδ）を測定する。
e) 試験後の検査
目視によって機械的損傷の有無を調べる。また、チモールブルー又は他の化学
的指示薬によって電解質の漏出の有無を調べる。
なお、適切な化学的指示薬がない場合は、10 倍の拡大鏡により外観を調べた後、
J.4.4.6.13 項に規定する気密性試験の試験条件 A により電解質の漏出を確認する。
J.4.4.6.6.2 電圧エージング
次の条件によって試験する。
a) 試験温度：85+3
0℃
b) 印加電圧：定格電圧
c) 試験時間：168+5
0 時間
- J-25 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 直列保護抵抗：1,000Ω±100Ω
e) 試験後の検査
目視によって機械的損傷又は電解質の漏れの有無を調べる。
J.4.4.6.7 低温及び高温における安定性
表 J-11 の各段階の温度において、規定された項目の測定を行う。測定は、試料が熱平
衡に達した後で行う。熱平衡とは、15 分間隔で静電容量を測定したとき、続く 2 回の測
定値に差がない状態をいう。また、段階 2 のインピーダンスを次の条件によって測定する。
a) 測定前の処理
-55-30℃で 30 分間以上放置する。
b) 測定回路：ブリッジ法など
c) 測定周波数：120Hz±5Hz
d) 測定精度：±5%以内
表 J-11 低温及び高温における安定性
段階
1
2
3
4
5
6
温度(℃)
25 ±2
-55
0
-3
25 ±2
85
125
+3
0
+3
0
25 ±2
測定項目
試験方法
項目番号
漏れ電流
J.4.4.4.1
静電容量
J.4.4.4.2
誘電正接（tanδ）
J.4.4.4.3
インピーダンス
J.4.4.6.7
静電容量
J.4.4.4.2
漏れ電流
J.4.4.4.1
静電容量
J.4.4.4.2
誘電正接（tanδ）
J.4.4.4.3
漏れ電流
J.4.4.4.1
静電容量
J.4.4.4.2
誘電正接（tanδ）
J.4.4.4.3
漏れ電流(1)
J.4.4.4.1
静電容量
J.4.4.4.2
誘電正接（tanδ）
J.4.4.4.3
漏れ電流
J.4.4.4.1
静電容量
J.4.4.4.2
誘電正接（tanδ）
J.4.4.4.3
1
注( ) 表 J-3 に規定された軽減電圧を印加して測定する。
- J-26 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.4.4.6.8 低温貯蔵
MIL-STD-810 の試験方法 502 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の測定
J.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 貯蔵温度：-62-30℃
c) 貯蔵時間：72 時間±4 時間
d) 貯蔵後の処理
24 時間以内に、125+40℃で 1 時間放置する。
e) 試験後の測定
J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正
接（tanδ）を測定する。
f) 試験後の検査
チモールブルー又は他の化学的指示薬によって電解質の漏出の有無を調べる。
なお、適切な化学的指示薬がない場合は、10 倍の拡大鏡により外観を調べた後、
J.4.4.6.13 項に規定する気密性試験の試験条件 A により電解質の漏出を確認する。
J.4.4.6.9 耐湿性
MIL-STD-202 の試験方法 106 によって試験する。ただし､次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
測定時を除き、コンデンサ本体を固定してもよい。
b) 試験前の測定
J.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
c) 試験中の負荷：6VDC
d) 試験後の測定
最終サイクル終了後(1) 2 時間～6 時間以内に、J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び
J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正接（tanδ）を測定する。
注(1) 最終サイクルの段階 6 が終了した後 8 時間以内に、試料を試験槽から取り
出すことができる。
e) 試験後の検査
目視によって腐食、機械的損傷及び電解質の漏出の有無、並びに表示の判読可否
を調べる。
J.4.4.6.10 塩水噴霧
MIL-STD-202 の試験方法 101 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B（48 時間）
b) 試験後の検査
コンデンサを槽から取り出して洗浄し、24 時間常温で乾燥した後、目視によって
腐食、機械的損傷及び電解質の漏出の有無、並びに表示の判読可否を調べる。
- J-27 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
J.4.4.6.11 減圧
MIL-STD-202 の試験方法 105 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：E（0.15kPa、45,720m）
b) 印加電圧：定格電圧
c) 印加時間：60 秒±5 秒
d) 試験後のさらし時間：5 分以上
e) 試験後の検査
目視によってフラッシュオーバ、ケースの変形、機械的損傷及び電解質の漏出の
有無、並びに表示の判読可否を調べる。
J.4.4.6.12 耐溶剤性
MIL-STD-202 の試験方法 215 によって試験する。ただし、溶剤はイソプロピルアルコー
ルとする。
J.4.4.6.13 気密性
絶縁スリーブを取り除き、MIL-STD-202 の試験方法 112 によって試験する。ただし、
次の条件を適用する。
a) 試験条件
1) 認定試験のⅠ群：A（気泡試験）
2) 認定試験のⅣ群：C-Ⅲ（トレーサガス試験、10-9Pa·m3/s）及び A（気泡試験）
3) グループ A 試験：C-Ⅲ（トレーサガス試験、10-9Pa·m3/s）及び A（気泡試験）
J.4.4.7 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験は、次の方法による。
J.4.4.7.1 寿命（85℃）
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の測定
J.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試験温度：85+3
0℃
c) 印加電圧：定格電圧
d) 電圧印加方法
5 分以内に規定電圧に到達するように徐々に電圧を上昇させるか、抵抗を通して
印加した後、5 分以内に抵抗を短絡させる。電圧は、測定時以外は連続して印加す
る。
e) 直流電源
試料が短絡した場合でも、少なくとも 100mA の電流を供給できる蓄電池又は電
子式直流電源を用いること。また、試料の端子側からみた電源インピーダンスは 10
Ωを超えないこと。
- J-28 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
f) 試験時間
1) 認定試験：4,000+72
0 時間
2) グループ C 試験：2,000+72
0 時間
g) 試験中の測定
+48
+72
+72
試験温度にさらした最初、240+48
0 時間、1,000 0 時間、2,000 0 時間及び 4,000 0
時間において、J.4.4.4.1 項に従って試験温度における漏れ電流を測定する。
h) 試験後の測定
J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正
接（tanδ）を測定する。また、J.4.4.4.5 項に従って絶縁スリーブの試験を行う。
i)
試験後の検査
目視によって機械的損傷及び電解質の漏出の有無、並びに表示の判読可否を調べ
る。
J.4.4.7.2 寿命（125℃）
J.4.4.7.1 項によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験温度：125+3
0℃
b) 印加電圧：表 J-3 に規定された軽減電圧
c) 試験時間：4,000+72
0 時間
J.4.4.7.3 AC リップル寿命
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験前の測定
J.4.4.4.2 項に従って静電容量を測定する。
b) 試験温度：85+3
0℃
c) 印加電圧：定格電圧×66.67%
d) 電圧印加方法
5 分以内に規定電圧に到達するように徐々に電圧を上昇させるか、抵抗を通して
印加した後、5 分以内に抵抗を短絡させる。
e) 直流電源
試料が短絡した場合でも、少なくとも 100mA の電流を供給できる蓄電池又は電
子式直流電源を用いること。また、試料の端子側からみた電源インピーダンスは 10
Ωを超えないこと。
f) リップル電流
上記の電圧を印加した後、個別仕様書に規定された最大リップル電流を印加する。
g) 試験時間：2,000+72
0 時間
h) 試験後の測定
J.4.4.4.1 項、J.4.4.4.2 項及び J.4.4.4.3 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正
接（tanδ）を測定する。
- J-29 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
i)
試験後の検査
目視によって機械的損傷及び電解質の漏出の有無、並びに表示の判読可否を調べ
る。
J.4.5 長期保管
4.7.1 項によって長期保管されたコンデンサは、次の項目について項目順に全数試験を行わ
なければならない。
a) 漏れ電流（J.3.6.1 項）
b) 静電容量（J.3.6.2 項）
c) 誘電正接（J.3.6.3 項）
d) 外観・表示（J.3.3 項）
J.4.6 試験及び検査の変更
試験及び検査の変更は 4.8 項による。
J.5. 引渡しの準備
引渡しの準備は 5 項による。
J.6. 注意事項
注意事項は 6 項による。
- J-30 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 K
チップ形タンタル固体電解コンデンサ
K.1. 総則 ....................................................................................................................................... K-1
K.1.1 適用範囲 .......................................................................................................................... K-1
K.1.2 区分.................................................................................................................................. K-1
K.1.3 部品番号 .......................................................................................................................... K-1
K.1.3.1 形式 ........................................................................................................................... K-1
K.1.3.2 電圧 ........................................................................................................................... K-1
K.1.3.3 端子仕上げ ................................................................................................................ K-2
K.1.3.4 公称静電容量 ............................................................................................................ K-2
K.1.3.5 静電容量許容差 ......................................................................................................... K-2
K.2. 適用文書など ......................................................................................................................... K-3
K.2.1 適用文書 .......................................................................................................................... K-3
K.2.2 参考文書 .......................................................................................................................... K-3
K.3. 要求事項 ................................................................................................................................ K-3
K.3.1 認定の範囲....................................................................................................................... K-3
K.3.1.1 認定に対する制約 ..................................................................................................... K-3
K.3.2 材料.................................................................................................................................. K-4
K.3.2.1 はんだ ....................................................................................................................... K-4
K.3.2.2 はんだ付け用フラックス .......................................................................................... K-4
K.3.3 外観、寸法、表示など .................................................................................................... K-4
K.3.3.1 外観及び表示 ............................................................................................................ K-4
K.3.3.2 構造、寸法及び質量 ................................................................................................. K-4
K.3.4 ワークマンシップ ............................................................................................................ K-5
K.3.4.1 放射線写真 ................................................................................................................ K-5
K.3.4.2 DPA ............................................................................................................................ K-5
K.3.5 定格.................................................................................................................................. K-5
K.3.5.1 公称静電容量及び静電容量許容差............................................................................ K-5
K.3.5.2 使用温度範囲 ............................................................................................................ K-6
K.3.5.3 定格電圧.................................................................................................................... K-6
K.3.6 電気的性能....................................................................................................................... K-6
K.3.6.1 電圧エージング ......................................................................................................... K-6
K.3.6.2 漏れ電流.................................................................................................................... K-6
K.3.6.3 静電容量.................................................................................................................... K-6
K.3.6.4 誘電正接（tanδ） ..................................................................................................... K-6
K.3.6.5 等価直列抵抗 ............................................................................................................ K-6
-K-i-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.3.6.6 サージ電圧 ................................................................................................................ K-6
K.3.6.7 サージ電流 ................................................................................................................ K-7
K.3.7 機械的性能....................................................................................................................... K-7
K.3.7.1 本体強度.................................................................................................................... K-7
K.3.7.2 引きはがし強度 ......................................................................................................... K-7
K.3.7.3 耐プリント板曲げ性 ................................................................................................. K-7
K.3.7.4 固着性 ....................................................................................................................... K-7
K.3.7.5 はんだ付け性 ............................................................................................................ K-7
K.3.7.6 はんだ耐熱性 ............................................................................................................ K-8
K.3.8 環境的性能....................................................................................................................... K-8
K.3.8.1 高周波振動 ................................................................................................................ K-8
K.3.8.2 ランダム振動 ............................................................................................................ K-8
K.3.8.3 衝撃 ........................................................................................................................... K-8
K.3.8.4 リフローコンディショニング ................................................................................... K-8
K.3.8.5 熱衝撃 ....................................................................................................................... K-8
K.3.8.6 熱衝撃（Ⅰ） ............................................................................................................ K-9
K.3.8.7 熱衝撃（Ⅱ） ............................................................................................................ K-9
K.3.8.8 低温及び高温における安定性 ................................................................................... K-9
K.3.8.9 耐湿性 ..................................................................................................................... K-10
K.3.8.10 耐溶剤性................................................................................................................ K-10
K.3.9 耐久的性能..................................................................................................................... K-10
K.3.9.1 寿命（+85℃） ........................................................................................................ K-10
K.3.9.2 寿命（+125℃） ...................................................................................................... K-11
K.4. 品質保証条項 ....................................................................................................................... K-11
K.4.1 工程内検査..................................................................................................................... K-11
K.4.2 認定試験 ........................................................................................................................ K-11
K.4.2.1 試料 ......................................................................................................................... K-11
K.4.2.2 試験項目及び試料数 ............................................................................................... K-11
K.4.3 品質確認試験 ................................................................................................................. K-13
K.4.3.1 試験項目及び試料数 ............................................................................................... K-13
K.4.3.2 試験後の処置 .......................................................................................................... K-13
K.4.4 試験方法 ........................................................................................................................ K-14
K.4.4.1 試験条件.................................................................................................................. K-14
K.4.4.2 試料の取付け .......................................................................................................... K-15
K.4.4.3 外観、寸法、表示など ............................................................................................ K-15
K.4.4.4 ワークマンシップ ................................................................................................... K-16
K.4.4.5 電気的性能 .............................................................................................................. K-17
K.4.4.6 機械的性能 .............................................................................................................. K-20
K.4.4.7 環境的性能 .............................................................................................................. K-26
-K-ii-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.4.4.8 耐久的性能 .............................................................................................................. K-31
K.4.5 長期保管 ........................................................................................................................ K-32
K.4.6 試験及び検査の変更 ...................................................................................................... K-32
K.5. 引渡しの準備 ....................................................................................................................... K-32
K.6. 注意事項 .............................................................................................................................. K-32
-K-iii-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 K
チップ形タンタル固体電解コンデンサ
K.1. 総則
K.1.1 適用範囲
この付則は、コンデンサのうち、チップ形タンタル固体電解コンデンサ（以下、
「コンデン
サ」という）に適用し、それらの要求事項、品質保証条項などを規定する。
K.1.2 区分
コンデンサの区分は表 K-1 による。
表 K-1 区
構
造
分
形
状
形
角形樹脂モールド、金属端子
式
CWS11
K.1.3 部品番号
コンデンサの部品番号は次の例のように表す。詳細は個別仕様書による。
例 JAXA(1)
CWS11
形
式
(K.1.3.1 項)
C
電
H
圧
(K.1.3.2 項)
端
335
子
公
K
称
静電容量
仕 上 げ
静電容量
許 容 差
(K.1.3.3 項)
(K.1.3.4 項)
(K.1.3.5 項)
注(1) “JAXA”は宇宙開発用共通部品等であることを示す。“J”と省略できる。
K.1.3.1 形式
形式は、
“CWS”と 2 数字で表す。
“CWS”は信頼性保証チップ形タンタル固体電解コン
デンサを示し、これに続く 2 数字はコンデンサの構造及び形状を表す。
K.1.3.2 電圧
定格電圧、軽減電圧及びサージ電圧は、表 K-2 のとおり 1 英大文字で表す。
-K-1-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 K-2 定格電圧、軽減電圧及びサージ電圧
単位 VDC
定格電圧
軽減電圧
サージ電圧
（+85℃）
（+125℃）
（+85℃）
A
02
01.3
02.7
B
03
02.0
04.0
C
04
02.7
05.2
D
06
04.0
08.0
E
08
05.3
10.7
F
10
06.7
13.0
G
12
08.0
16.0
H
15
10.0
20.0
J
20
13.3
26.0
K
25
16.7
32.5
L
30
20.0
40.0
M
35
23.3
46.0
N
50
33.3
65.0
記
号
K.1.3.3 端子仕上げ
端子仕上げは、表 K-3 のとおり 1 英大文字で表す。
表 K-3 端子仕上げ
記
号
H
端子仕上げ
4wt%以上の Pb を含有したはんだめっき
K.1.3.4 公称静電容量
公称静電容量は 3 桁の数字で表し、ピコファラド（pF）を単位とする。最初の 2 数字は有
効数字を表し、最後の数字はこれに続く零の数を表す。
例 104：0.10μF、105：1.0μF、107：100μF
K.1.3.5 静電容量許容差
静電容量許容差は、表 K-4 のとおり 1 英大文字で表す。
-K-2-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 K-4 静電容量許容差
単位 %
記
号
静電容量許容差
J
±05
K
±10
M
±20
K.2. 適用文書など
K.2.1 適用文書
この付則の適用文書は 2.1 項によるほか、次による。
a) ANSI/J-STD-005
Requirements for Soldering Pastes
b) JIS Z 3284
ソルダペースト
K.2.2 参考文書
次の文書は、この付則の参考文書とする。
a) MIL-PRF-55365H
Capacitor, Fixed, Electrolytic (Tantalum), Chip, Established
Reliability, Nonestablished Reliability, and High Reliability,
General Specification for
b) ESCC Generic Specification No.3012, ISSUE 1
Capacitors, Leadless Surface
Mounted, Tantalum, Solid Electrolyte, Enclosed Anode
Connection
c) JIS C 5101-3
電子機器用固定コンデンサ－第 3 部：品種別通則：表面実装
用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ
K.3. 要求事項
K.3.1 認定の範囲
認定されるコンデンサの範囲は、この仕様書の K.3.2 項から K.3.9 項に規定された材料、設
計、構造、定格及び性能を満足するコンデンサの製造ラインを用いて製造される製品群で、認
定試験に合格した試料で代表される範囲のものとする。したがって、この認定の範囲内におい
て個別仕様書で規定する個々の製品を供給することができる。
なお、より詳細な認定の範囲の規定が必要な場合は、個別仕様書に規定する。
K.3.1.1 認定に対する制約
公称静電容量の認定は、認定試験に供したコンデンサの公称静電容量以下とする。認定さ
れる静電容量許容差の範囲は、表 K-5 による。定格電圧の認定は、認定試験に供したコンデ
ンサの定格電圧の範囲に限る。
-K-3-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 K-5 認定される静電容量許容差
試料の静電容量許容差
認定される静電容量許容差
J
J, K, M
K
K, M
M
M
K.3.2 材料
コンデンサに使用する材料は 3.3 項によるほか、次による。
K.3.2.1 はんだ
どのような場合においても、はんだは 168℃又は個別仕様書に規定された温度以下で溶け
てはならない。
K.3.2.2 はんだ付け用フラックス
はんだ付け用フラックスは、ロジン又はアルコールにロジンを溶かしたものを使用しなけ
ればならない。これらと同等の他の非腐食性フラックスは、この仕様書の要求事項を満足で
きる場合に使用することができる。
はんだ付けに際して、一切の酸又は酸性塩を使用してはならない。ただし、電気的接続部
分の予備すず引きには用いてもよい。
電気回路の形成を目的としない機械的結合部のすず引き又ははんだ引きには、酸又は酸性
塩を用いてもよい。
事後処理によって完全に除去されるものでない限り、絶縁材料に近接して酸又は酸性塩を
使用してはならない。
K.3.3 外観、寸法、表示など
K.3.3.1 外観及び表示
コンデンサの表面には割れ、腐食、ひずみなどがあってはならない。また、表示は少なく
とも次の事項を含み、容易に消えない方法でなされていなければならない。表示の詳細は、
個別仕様書による。
a) 定格電圧
b) 公称静電容量
c) 極性
K.3.3.2 構造、寸法及び質量
コンデンサの構造、寸法及び質量は次によるほか、個別仕様書による。
-K-4-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
a) 構造
湿気及び機械的損傷からコンデンサ素子を保護するために、樹脂モールドされてい
ること。
b) 端子
すべての端子に、はんだ付けを疎外するような異物の付着などがあってはならない。
K.3.4 ワークマンシップ
コンデンサは良好な設計に基づいて、この仕様書の 3.2.1 項で設定された品質保証プログラ
ムに従って製造されていなければならない。
コンデンサの本体にはひび割れ、ピンホール、傷など、電気的又は機械的な性能に影響する
欠陥があってはならない。
a) 仕上げ
コンデンサの仕上げは、コンデンサ表面にはげ落ち、割れ、腐食などを生ずるもので
あってはならない。
b) 溶接
溶接部分に焼損、ひずみ、破損、非金属残留物、未溶接などがあってはならない。
K.3.4.1 放射線写真
K.4.4.4.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) カソードの 25%以上が、銀エポキシ樹脂で外部リードに接続されていなければならな
い。その銀エポキシ樹脂に、はがれやクラックがあってはならない。
b) タンタルワイヤとリード端子の溶接による位置ずれは、15 度以内でなければならない。
c) タンタルワイヤは、モールド樹脂に完全に埋め込まれていなければならない。
d) ケースにクラック又は欠けがあってはならない。
e) 外部リードに応力クラックがあってはならない。
K.3.4.2 DPA
K.4.4.4.2 項によって試験したとき、溶接、接着などの工程が確実に行われていなければな
らない。また、内部構造及び材料が品質保証プログラムに規定されたとおりでなければなら
ない。
K.3.5 定格
K.3.5.1 公称静電容量及び静電容量許容差
公称静電容量値は静電容量許容差と関連して、E6 標準数列を使用することを原則とし、
これらの規格値は個別仕様書に規定する。
-K-5-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.3.5.2 使用温度範囲
使用温度範囲は、-55℃～+125℃とする。ただし、定格電圧での使用温度範囲は、特に規
定がない限り-55℃～+85℃とする。周囲温度がこの範囲を超える場合には、個別仕様書に規
定された軽減電圧を適用する。
K.3.5.3 定格電圧
定格電圧は表 K-2 に示す範囲とし、個別仕様書に規定する。
K.3.6 電気的性能
コンデンサは、次の電気的性能を満足しなければならない。
K.3.6.1 電圧エージング
K.4.4.5.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなくてはならない。
a) 漏れ電流：K.3.6.2 項の要求を満足すること。
b) 静電容量：K.3.6.3 項の要求を満足すること。
c) 誘電正接（tanδ）
：K.3.6.4 項の要求を満足すること。
d) 等価直列抵抗（規定された場合）
：K.3.6.5 項の要求を満足すること。
e) 外観：機械的損傷がないこと。
K.3.6.2 漏れ電流
K.4.4.5.2 項によって試験したとき、漏れ電流は個別仕様書の要求を満足しなければならな
い。
K.3.6.3 静電容量
K.4.4.5.3 項によって試験したとき、静電容量は規定の許容差内になければならない。
K.3.6.4 誘電正接（tanδ）
K.4.4.5.4 項によって試験したとき、誘電正接（tanδ）は個別仕様書の要求を満足しなけ
ればならない。
K.3.6.5 等価直列抵抗（規定された場合）
K.4.4.5.5 項によって試験したとき、等価直列抵抗は個別仕様書の要求を満足しなければな
らない。
K.3.6.6 サージ電圧
K.4.4.5.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流：個別仕様書の規格値以下
b) 静電容量：試験前からの変化率が±5%以内
c) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
-K-6-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 等価直列抵抗（規定された場合）
：個別仕様書の規格値以下
K.3.6.7 サージ電流
K.4.4.5.7 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流：K.3.6.2 項の要求を満足すること。
b) 静電容量：K.3.6.3 項の要求を満足すること。
c) 静電正接（tanδ）
：K.3.6.4 項の要求を満足すること。
d) 等価直列抵抗（規定された場合）
：K.3.6.5 項の要求を満足すること。
e) 外観：機械的損傷がないこと。
K.3.7 機械的性能
コンデンサは、次の機械的性能を満足しなければならない。
K.3.7.1 本体強度
K.4.4.6.1 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、ショート又はオープンが
あってはならない。また、コンデンサに割れ、欠け、ひび、はがれなどの異常があってはな
らない。
K.3.7.2 引きはがし強度
K.4.4.6.2 項によって試験したとき、コンデンサのはんだ付け部に割れ、欠け、ひび、はが
れなどの異常があってはならない。
K.3.7.3 耐プリント板曲げ性
K.4.4.6.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 静電容量：試験前からの変化率が±2%以内
b) 外観：割れ、欠け、ひび、はがれなどの異常がないこと。
K.3.7.4 固着性
K.4.4.6.4 項によって試験したとき、コンデンサのはんだ付け部に割れ、欠け、ひび、はが
れなどの異常があってはならない。
K.3.7.5 はんだ付け性
K.4.4.6.5 項によって試験したとき、端子の表面は、新しい滑らかなはんだの被膜で少なく
とも 95%は覆われていなければならない。はんだの表面には小さいピンホール、又は粗い点
に限ってはんだで覆われていない部分があってもよいが、これらは集中していてはならない。
また、その面積の合計は 5%未満でなければならない。
-K-7-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.3.7.6 はんだ耐熱性
K.4.4.6.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流：個別仕様書の規格値以下
b) 静電容量：試験前からの変化率が±5%以内
c) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
d) 外観：機械的損傷がないこと。
K.3.8 環境的性能
コンデンサは、次の環境的性能を満足しなければならない。
K.3.8.1 高周波振動
K.4.4.7.1 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、ショート又はオープンが
あってはならない。また、火花放電の痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷があってはならない。
K.3.8.2 ランダム振動
K.4.4.7.2 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、ショート又はオープンが
あってはならない。また、火花放電の痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷があってはならない。
試験後、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流：個別仕様書の規格値以下
b) 静電容量：試験前からの変化率が±2%以内
c) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
d) 等価直列抵抗（規定された場合）
：個別仕様書の規格値以下
K.3.8.3 衝撃
K.4.4.7.3 項によって試験したとき、0.5ms 以上の断続的接触、ショート又はオープンが
あってはならない。また、火花放電の痕跡、絶縁破壊又は機械的損傷があってはならない。
試験後、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流：個別仕様書の規格値以下
b) 静電容量：試験前からの変化率が±2%以内
c) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
d) 等価直列抵抗（規定された場合）
：個別仕様書の規格値以下
K.3.8.4 リフローコンディショニング
K.4.4.7.4 項によって試験したとき、コンデンサに機械的損傷があってはならない。
K.3.8.5 熱衝撃
K.4.4.7.5 項によって試験したとき、コンデンサに機械的損傷があってはならない。
-K-8-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.3.8.6 熱衝撃（Ⅰ）
K.4.4.7.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流：個別仕様書の規格値以下
b) 静電容量：試験前からの変化率が±5%以内
c) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
d) 等価直列抵抗（規定された場合）
：個別仕様書の規格値以下
e) 外観
コンデンサの機械的若しくは電気的性能に影響するような腐食又は機械的損傷がな
く、表示を判読できること。
K.3.8.7 熱衝撃（Ⅱ）
K.4.4.7.7 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流：個別仕様書の規格値の 125%以下
b) 静電容量：試験前からの変化率が±5%以内
c) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
d) 等価直列抵抗（規定された場合）
：個別仕様書の規格値の 125%以下
e) 外観
コンデンサの性能に影響を与えるような機械的損傷がなく、表示を判読できること。
K.3.8.8 低温及び高温における安定性
K.4.4.7.8 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 段階 1（+25℃）
1) 漏れ電流：個別仕様書の規格値以下
2) 静電容量：規定の静電容量許容差内にあること。
3) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
4) 等価直列抵抗（規定された場合）
：個別仕様書の規格値以下
b) 段階 2（-55℃）
1) 静電容量：段階 1 からの変化率が-10%以上+0%以下
2) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
c) 段階 3（+25℃）
1) 漏れ電流：個別仕様書の規格値以下
2) 静電容量：段階 1 からの変化率が±2%以内
3) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
d) 段階 4（+85℃）
1) 漏れ電流：個別仕様書の規格値以下
2) 静電容量：段階 1 からの変化率が-0%以上+10%以下
3) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
-K-9-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
e) 段階 5（+125℃）
1) 漏れ電流：個別仕様書の規格値以下
2) 静電容量：段階 1 からの変化率が-0%以上+15%以下
3) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
f) 段階 6（+25℃）
1) 漏れ電流：個別仕様書の規格値以下
2) 静電容量：段階 1 からの変化率が±2%以内
3) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
4) 等価直列抵抗（規定された場合）
：個別仕様書の規格値以下
K.3.8.9 耐湿性
K.4.4.7.9 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流：個別仕様書の規格値の 200%以下
b) 静電容量：試験前からの変化率が±15%以内
c) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値の 150%以下
d) 等価直列抵抗（規定された場合）
：個別仕様書の規格値以下
e) 外観
コンデンサの機械的若しくは電気的性能に影響するような腐食又は機械的損傷がな
く、表示を判読できること。
K.3.8.10 耐溶剤性
K.4.4.7.10 項によって試験したとき、表示は判読できなければならない。
K.3.9 耐久的性能
コンデンサは、次の耐久的性能を満足しなければならない。
K.3.9.1 寿命（+85℃）
K.4.4.8.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流（+25℃）
：個別仕様書の規格値以下
b) 漏れ電流（+85℃）
：個別仕様書の規格値以下
c) 静電容量：試験前からの変化率が±10%以内
d) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
e) 等価直列抵抗（規定された場合）
：個別仕様書の規格値以下
f) 外観
コンデンサの機械的若しくは電気的性能に影響するような腐食又は機械的損傷がな
く、表示を判読できること。また、断続的にも、永久的にも、ショート又はオープン
があってはならない。
-K-10-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.3.9.2 寿命（+125℃）
K.4.4.8.2 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 漏れ電流（+25℃）
：個別仕様書の規格値以下
b) 漏れ電流（+125℃）
：個別仕様書の規格値以下
c) 静電容量：試験前からの変化率が±10%以内
d) 誘電正接（tanδ）
：個別仕様書の規格値以下
e) 等価直列抵抗（規定された場合）
：個別仕様書の規格値以下
f) 外観
コンデンサの機械的若しくは電気的性能に影響するような腐食又は機械的損傷がな
く、表示を判読できること。また、断続的にも永久的にも、ショート又はオープンが
あってはならない。
K.4. 品質保証条項
K.4.1 工程内検査
工程内検査は 4.3 項による。
K.4.2 認定試験
認定試験は 4.4 項によるほか、次による。
K.4.2.1 試料
認定試験の試料は 4.4.1 項によるほか、次による。
a) 個別認定
認定を希望する形式の定格電圧ごとに、最大公称静電容量の試料を 335 個供試する
こと。
なお、試料の静電容量許容差については、表 K-5 を考慮して選定しなければならな
い。
b) 組合せ認定
認定を希望する形式の最低定格電圧及び最高定格電圧の中で、最小ケースサイズと
最大ケースサイズにおける最大公称静電容量の試料を供試すること。
なお、試料の静電容量許容差については、表 K-5 を考慮して選定しなければならな
い。
K.4.2.2 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目及び試料数は、表 K-6 による。組合せ認定の場合は、各群の試料数が
規定の数量以上になるように、各試料を均等に配分する。Ⅰ群、Ⅱ群の順で試験した後に、
Ⅲ群以下の各群に試料を分けて試験を行う。ただし、Ⅲ群以下の試験は群番号の順に行わな
くてもよい。各群内の試験項目は順序番号の順に行う。
-K-11-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 K-6 認定試験
試
群
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
全数(2)
0
1
リフローコンディショニング
K.3.8.4
K.4.4.7.4
2
熱衝撃
K.3.8.5
K.4.4.7.5
3
サージ電流(1)
K.3.6.7
K.4.4.5.7
4
電圧エージング
K.3.6.1
K.4.4.5.1
5
漏れ電流
K.3.6.2
K.4.4.5.2
6
静電容量
K.3.6.3
K.4.4.5.3
7
誘電正接（tanδ）
K.3.6.4
K.4.4.5.4
8
等価直列抵抗（規定された場合） K.3.6.5
K.4.4.5.5
9
外観、寸法、表示など
K.3.3
K.4.4.3
1
放射線写真
K.3.4.1
K.4.4.4.1
全数
0
2
DPA
K.3.4.2
K.4.4.4.2
3(3)
0
1
高周波振動
K.3.8.1
K.4.4.7.1
2
熱衝撃（Ⅰ）
K.3.8.6
K.4.4.7.6
12
0
1
はんだ耐熱性
K.3.7.6
K.4.4.6.6
2
引きはがし強度
K.3.7.2
K.4.4.6.2
18
0
3
耐湿性
K.3.8.9
K.4.4.7.9
1
低温及び高温における安定性
K.3.8.8
K.4.4.7.8
2
サージ電圧
K.3.6.6
K.4.4.5.6
12
0
Ⅵ
1
寿命（+125℃）
K.3.9.2
K.4.4.8.2
24
0
Ⅶ
1
寿命（+85℃）
K.3.9.1
K.4.4.8.1
206
0
1
はんだ付け性
K.3.7.5
K.4.4.6.5
2
耐溶剤性
K.3.8.10
K.4.4.7.10
18
0
1
ランダム振動
K.3.8.2
K.4.4.7.2
2
衝撃
K.3.8.3
K.4.4.7.3
12
0
Ⅹ
1
熱衝撃（Ⅱ）
K.3.8.7
K.4.4.7.7
12
0
ⅩⅠ
1
耐プリント板曲げ性
K.3.7.3
K.4.4.6.3
6
0
ⅩⅡ
1
固着性
K.3.7.4
K.4.4.6.4
6
0
ⅩⅢ
1
本体強度
K.3.7.1
K.4.4.6.1
6
0
－
1
材料
K.3.2
Ⅰ
Ⅱ
Ⅲ
Ⅳ
Ⅴ
Ⅷ
Ⅸ
注(1)
2
()
－
電圧エージングの後に実施してもよい。
寸法及び質量については、JIS Z 9015-1 の付表 2-A に規定された「なみ検査の 1 回抜取方
式」の合格品質水準（AQL）1.0%を適用する。
3
()
組合せ認定の場合、試料数はケースサイズごとに 3 個とする。
4
設計仕様を満足していることを証明する資料を提出すること。
()
(4)
-K-12-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.4.3 品質確認試験
品質確認試験は 4.5 項によるほか、次による。
K.4.3.1 試験項目及び試料数
品質確認試験の試験項目及び試料数は、グループ A 試験を表 K-7 に、グループ B 試験を
表 K-8 に、グループ C 試験を表 K-9 に示す。表 K-8 及び表 K-9 に規定された試験は群番号
の順に行わなくともよいが、表 K-7 に規定された試験は、A1 群、A2 群、A3 群の順で行っ
た後、A4 群～A6 群の試験を行うこと。各群内の試験項目は順序番号の順に行う。
K.4.3.2 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
ただし、A3 群の寸法検査で不合格となったときには、JAXA-QTS-2000 の H.3.3 項に従って
その項目について全数試験を行い、良品のみを出荷することができる。
なお、A4 群、A5 群及び A6 群に供した試料は出荷してはならない。
表 K-7 品質確認試験（グループ A）
試
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
群
順序
A1
1
放射線写真
K.3.4.1
K.4.4.4.1
1
リフローコンディショニング
K.3.8.4
K.4.4.7.4
2
熱衝撃
K.3.8.5
K.4.4.7.5
1
3
サージ電流( )
K.3.6.7
K.4.4.5.7
4
電圧エージング
K.3.6.1
K.4.4.5.1
5
漏れ電流
K.3.6.2
K.4.4.5.2
6
静電容量
K.3.6.3
K.4.4.5.3
7
誘電正接（tanδ）
K.3.6.4
K.4.4.5.4
8
等価直列抵抗（規定された場合） K.3.6.5
K.4.4.5.5
A3
1
外観、寸法、表示など
K.3.3
K.4.4.3
A4
1
DPA
K.3.4.2
K.4.4.4.2
1
低温及び高温における安定性
K.3.8.8
K.4.4.7.8
2
サージ電圧
K.3.6.6
K.4.4.5.6
1
はんだ付け性
K.3.7.5
K.4.4.6.5
A2
A5
A6
合 否 判 定
試料数
許容不良数
全数
N/A
全数
0
全数(2)
0
3
0
6
0
4
0
注(1) 電圧エージングの後に実施してもよい。
(2) 寸法については、JIS Z 9015-1 の付表 2-A に規定された「なみ検査の 1 回抜取方式」の合
格品質水準（AQL）1.0%を適用する。
-K-13-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 K-8 品質確認試験（グループ B）
試
群
B1
B2
B3
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
1
はんだ耐熱性
K.3.7.6
K.4.4.6.6
2
引きはがし強度
K.3.7.2
K.4.4.6.2
3
耐溶剤性
K.3.8.10
K.4.4.7.10
4
耐湿性
K.3.8.9
K.4.4.7.9
1
寿命（+85℃）
K.3.9.1
K.4.4.8.1
1
ランダム振動
K.3.8.2
K.4.4.7.2
2
衝撃
K.3.8.3
K.4.4.7.3
合 否 判 定
試料数
許容不良数
18
0
24
0
6
0
表 K-9 品質確認試験（グループ C）
試
群
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
12
0
1
高周波振動
K.3.8.1
K.4.4.7.1
2
熱衝撃（Ⅰ）
K.3.8.6
K.4.4.7.6
C2
1
熱衝撃（Ⅱ）
K.3.8.7
K.4.4.7.7
12
0
C3
1
耐プリント板曲げ性
K.3.7.3
K.4.4.6.3
6
0
C4
1
固着性
K.3.7.4
K.4.4.6.4
6
0
C5
1
本体強度
K.3.7.1
K.4.4.6.1
6
0
C1
K.4.4 試験方法
K.4.4.1 試験条件
MIL-STD-202 の 4 項による。ただし、次の条件を適用する。
a) 標準状態
標準状態とは、温度 15℃～35℃、相対湿度 25%～75%、気圧 86kPa～106kPa の環
境条件をいう。試験及び測定は、特に規定がない限り標準状態で行う。再現性のある
結果を得るためにこれらの条件を厳密に管理しなければならないときには、b)の判定
状態を適用する。換算を必要とする場合は、c)の基準状態を用いる。
なお、判定に疑義を生じなければ、標準状態以外で試験及び測定を行ってもよい。
b) 判定状態
判定状態は、温度 25-20℃、相対湿度 50±2%、気圧 86kPa～106kPa とする。
c) 基準状態
基準状態は、温度 25℃、相対湿度 50%、気圧 101.3kPa とする。
-K-14-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 基準測定
エージング前後の測定値を比較する場合は、エージングに先立ち 25℃±3℃で測定さ
れた値を基準値とする。この基準値が試験開始時点から 30 日以前に測定された場合、
又は測定用の治工具などの影響を受けると考えられる場合には、再測定を行い、これ
を基準値としなければならない。
e) 試験電圧の測定精度は、規定された電圧の±3.0%以内でなければならない。
f) 寿命試験に用いる電源電圧の変動は、規定された試験電圧の±2%以内でなければなら
ない。また、漏れ電流の測定に用いる電源電圧の変動は、±100ppm 以内でなければな
らない。測定中は、測定器の漏れ電流の表示値が大きく振れるような、電圧の変動が
あってはならない。
K.4.4.2 試料の取付け
この仕様書で規定された場合は、試料を試験用プリント配線板（純度 96%以上のアルミナ）
に次の条件で取り付ける。取付け要求が規定されていない場合には、他の適切な方法でコン
デンサをプリント配線板に取り付けずに試験してもよい。
a) プリント配線板の厚さ：0.635mm±0.05mm 又はそれ以上
b) 試験ランド
コンデンサの端子をはんだ付けできる適当なランドを最大 10 組有すること。
c) はんだペースト
原則として、
ANSI/J-STD-005 又は JIS Z 3284 に適合した Sn63Pb37 又は Sn60Pb40
のはんだペーストを使用すること。フラックスタイプは、非腐食性のロジン系フラッ
クス（R 又は RMA）とすること。
d) 予備加熱：+135℃±15℃、60 秒±10 秒
e) 組立温度、時間：+245℃±5℃、60+30
0秒
f) 組立方法：リフロー法（はんだ槽又は熱板）
g) 後処理
過度のフラックスやはんだは、取り除くこと。
K.4.4.3 外観、寸法、表示など
K.3.3 項に規定された外観、構造、寸法、質量及び表示について試験する。ただし、質量
は、認定試験及びグループ C 試験に先立って実施するグループ A 試験のみに適用する。ま
た、次の条件を適用する。
a) 外観検査は、10 倍以上の拡大鏡により行う。
b) 表示検査は、目視により行う。
c) 寸法は、JIS B 7507 のノギス又は JIS B 7502 のマイクロメータで測定する。ただし、
判定に疑義を生じなければ、他の測定器を用いてもよい。
d) 質量測定は、十分な精度を有する測定器を用いて行う。
-K-15-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.4.4.4 ワークマンシップ
K.4.4.4.1 放射線写真
MIL-STD-202 の方法 209 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 写真の像質
K.3.4.1 項に規定された要求を満足していることを判定でき、ペネトラメータの画
像を明瞭でシャープに映し出すことのできる十分な解像度を持っていなければなら
ない。
b) ペネトラメータ
試料に適合する見本が定められていること。
c) 撮影条件
上記 a)に規定された品質の放射線写真が得られるような条件に設定されているこ
と。ペネトラメータの画像を各フィルムに包含すること。
d) 試料の撮影方向
カソードの接続状態を観察できる方向から撮影する。
e) フィルムを用いない技法を使用する場合は、次の条件を満足しなければならない。
1) 記録は、放射線写真用フィルムと同等以上の解像度を持ち、再現性のある電子
媒体に保存する。
2) 装置がフィルムを用いる技法と比較して、品質上同等の結果が得られる性能を
有すること。デジタル画像は、フィルムの検査に使用する倍率以上で拡大でき
る画像表示モニタで検査する。ただし、上記 a)で規定する放射線写真の品質基
準を満足し、欠陥の特徴が不明瞭になるまで拡大してはならない。
f) 観察方法
像を 10 倍以上に拡大して観察する。
K.4.4.4.2 DPA
コンデンサを次の a)～c)の方法によって分解し、内部構造及び溶接、接着などの工程が
確実に実施されていることを確認するもので、品質保証プログラム計画書の DPA マニュ
アルに従って実施しなければならない。
a) 試料を透明なエポキシ樹脂に埋め込み、コンデンサの長手方向に対して平行な線に
沿った垂直な面で切断し、タンタルワイヤの溶接部とタンタル素子への取付部が現
れるまで切断面を研磨する。
b) 試料を透明なエポキシ樹脂に埋め込み、コンデンサの長手方向に対して直角な線に
沿った垂直な面で切断し、カソードと外部リードの接合部が現れるまで切断面を研
磨する。
c) モールド樹脂を薬品で溶解する。
なお、上記 a)、b)及び c)は、別々の試料で写真及び記録を取らなければならない。
-K-16-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.4.4.5 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験は、次の方法による。
K.4.4.5.1 電圧エージング
次の条件によって試験する。
a) 試験温度：+85℃±5℃
b) 印加電圧：定格電圧
c) 試験時間：168+5
0 時間
d) 試験回路の直列抵抗は、3.0Ω以下とする。
e) 試験後の測定及び検査
試料を試験槽から取り出し、K.4.4.1 項 a)に規定する状態で 12 時間～24 時間放置
した後、次の測定及び検査を行う。
1) 測定
K.4.4.5.2 項、K.4.4.5.3 項、K.4.4.5.4 項及び K.4.4.5.5 項に従って漏れ電流、
静電容量、誘電正接（tanδ）及び等価直列抵抗を測定する。
2) 検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、機械的損傷の有無を調べる。
K.4.4.5.2 漏れ電流
次の条件によって試験する。
a) 直列保護抵抗：1,000Ω
b) 測定条件
定格電圧（温度が指定されている場合には、個別仕様書に規定された軽減電圧）
±2%を印加し、その電圧に達してから最大 5 分後に測定する。
c) 電源
安定化電源のような安定した電源を用いる。
d) 測定器の確度：規定値の±2%以内又は 0.02μA 以下のいずれか大きい方
K.4.4.5.3 静電容量
MIL-STD-202 の試験方法 305 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 測定周波数：120Hz±5Hz
b) 測定器の確度：静電容量許容差の±2%以内
c) 測定電圧
1.0VAC rms 以下の交流電圧に 2.2VDC 以下の直流電圧を重畳する。
K.4.4.5.4 誘電正接（tanδ）
ブリッジ法により、次の条件によって試験する。
a) 測定周波数：120Hz±5Hz
b) 測定器の確度：±（測定する誘電正接の 2%＋0.1%）以内
-K-17-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
c) 測定電圧
1.0VAC rms 以下の交流電圧に 2.2VDC 以下の直流電圧を重畳する。
K.4.4.5.5 等価直列抵抗
規定の試験温度にて直接測定するか、ブリッジで得られた測定値から算出する。ただし、
次の条件によって試験する。
a) 試験温度：+25℃±5℃
b) 測定周波数：100kHz±5kHz
c) 測定器の確度：規定値の±5.0%以内
d) 測定電圧
0.5VAC rms 以下の交流電圧に 2.2VDC 以下の直流電圧を重畳する。
K.4.4.5.6 サージ電圧
次の条件によって試験する。
a) 試験前の測定
K.4.4.5.3 項に従って静電容量を測定する。
b) 試験温度：+85℃±5℃
c) 印加電圧
表 K-2 に規定されたサージ電圧を印加する。
d) 直列保護抵抗：33Ω±5%
e) 充放電条件
直列保護抵抗を通して充放電させる。
+2
f) 印加時間及び周期：30+2
0 秒間印加、30 0 秒間放電（1 分間周期）
g) サイクル数：1,000 サイクル
h) 試験後の測定
最終サイクル終了後、K.4.4.1 項 a)に規定する状態で 12 時間～24 時間安定させ、
K.4.4.5.2 項、K.4.4.5.3 項、K.4.4.5.4 項及び K.4.4.5.5 項に従って漏れ電流、静電容
量、誘電正接（tanδ）及び等価直列抵抗を測定する。
K.4.4.5.7 サージ電流
次の条件によって試験する。
a) 試験温度：-55-50℃及び+85℃±5℃
b) コンデンサごとに試験回路（図 K-1 参照）を用意し、個々に試験する。
c) 充電サイクル
供試コンデンサの 20 倍以上の静電容量をもつバンクコンデンサを安定化電源の
出力端子間に接続し、絶えず充電しながら、バンクコンデンサで供試コンデンサを
0.5 秒間以上充電するとともに、安定化電源から供試コンデンサに定格電圧±2%を
印加する。
-K-18-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 放電サイクル
抵抗値が 0.2Ω以下の回路を通して、定格電圧の 1%以下の電圧になるまで 0.5 秒
間以上放電する。
e) サイクル数：試験温度ごとに各 10 回
f) 電源の内部抵抗と外部直列抵抗の和は、0.5Ω以下とする。
g) 充放電電流のピーク値が次式により算出した値以上になっていることを、試験回路
ごとに検証しなければならない。
Vr
0.5  ESRCAP
ここで、Vr
：試験電圧
ESRCAP ：+85℃では、個別仕様書に規定の等価直列抵抗
-55℃では、個別仕様書に規定の等価直列抵抗の 200%
h) 定格電圧 35V で静電容量 47μF±10%のコンデンサを試験位置に置き、印加電圧を測
定したとき、充電中コンデンサに印加されるピーク電圧が定格電圧±5%になること、
そして、スイッチを閉じてから 100μs 以内に定格電圧の 90%に達していることを、
試験回路ごとに検証しなければならない。
i)
試験中、ヒューズが溶断するか、1ms 充電した後で供試コンデンサに 1A 以上の引
き込みがあった場合には、そのコンデンサを故障とみなす。
j)
試験後の測定
最終サイクル終了後、K.4.4.5.2 項、K.4.4.5.3 項、K.4.4.5.4 項及び K.4.4.5.5 項に
従って漏れ電流、静電容量、誘電正接（tanδ）及び等価直列抵抗を測定する。
k) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、機械的損傷の有無を調べる。
1
スイッチ( )
直流安定化
供試コンデンサ
電源
2
ヒューズ( )
バンクコンデンサ
1
接点バウンスのない大電流用スイッチを用いること。
2
0.5A～2.0A で溶断するように設計したヒューズを用いること。
注( )
注( )
図 K-1 サージ電流の試験回路
-K-19-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.4.4.6 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験は、次の方法による。
K.4.4.6.1 本体強度
コンデンサの本体強度を試験する。試験方法は次による。
a) 装置
装置は、図 K-2 の支持台と図 K-3 の加圧治具により、規定の加圧ができるものと
する。
b) 準備
供試コンデンサを図 K-2 に示す支持台に、両端が均等になるように置く。支持台
は、平らで丈夫な試験台の上に置く。
c) 試験
図 K-3 の加圧治具を用いて、供試コンデンサの中央部を 10 秒±1 秒間加圧する。
荷重は 10N±1N とする。加圧中の電気的性能として、0.5ms 以上の断続的接触、
ショート及びオープンの有無を調べる。
d) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、割れ、欠け、ひび、はがれなどの異常の有無を調べ
る。
加圧治具
W 寸法は供試コンデンサの幅寸法より大
きくする。
A 部のテーパーの角度は 70 度以上
材質は焼入れ鋼又は超硬合金とする。
90 度未満とする。
図 K-2 本体強度加圧方法
図 K-3 加圧治具
-K-20-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.4.4.6.2 引きはがし強度
コンデンサをプリント配線板に取り付けた場合の引きはがしに対する固着の強さを試
験する。試験方法は次による。
a) 装置
図 K-4 に示すように、先端形状が R0.5 の突起をもつ加圧治具を用いて、加圧で
きるものとする。
b) 試料の取付け
K.4.4.2 項による。ただし、試験用プリント配線板には、図 K-5 のような長方形
（Wmm×20mm）の穴をあける。コンデンサの取付状態は、図 K-6 による。
c) 試験
図 K-4 のように、コンデンサの取付け面の裏中央部を加圧治具で押す。押す力は
5N±0.5N、加圧時間は 10 秒±1 秒間とする。
d) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、はんだ付け部の割れ、欠け、ひび、はがれなどの異
常の有無を調べる。
加圧治具
図 K-4 押し方法
図 K-5 試験用プリント配線板
図 K-6 供試コンデンサの取付け例
-K-21-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.4.4.6.3 耐プリント板曲げ性
コンデンサをプリント配線板に取り付けた場合の耐プリント板曲げ性を試験する。試験
方法は次による。
a) 装置
装置は、図 K-7 の支持棒と試験台及び図 K-8 の加圧治具とする。
b) 試料の取付け
K.4.4.2 項による。ただし、プリント配線板の材質は、厚さ 1.6mm±0.2mm のガ
ラス布基材エポキシ樹脂とし、試験及び測定に対して影響を与えないものとする。
c) 試験前の測定
K.4.4.5.3 項に従って静電容量を測定する。
d) 配置
供試コンデンサを取り付けた試験用プリント配線板を、図 K-7 の支持棒の上に置
く。支持棒は、丈夫で平らな試験台の上に置く。
e) 試験
図 K-8 に示す加圧治具を用いて図 K-9 のように加圧し、試験用プリント配線板に
たわみを与える。たわみ量は 3+0.2
0 mm とする。加圧は 1mm/s の速さで行い、規定
のたわみ量に達した後 5 秒±1 秒間保つ。回数は 1 回とする。
f) 試験中の測定
試験用プリント配線板を曲げた状態で、K.4.4.5.3 項に従って静電容量を測定する。
g) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、割れ、欠け、ひび、はがれなどの異常の有無を調べ
る。
単位：mm
図 K-7 配
置
図 K-8 加圧治具
-K-22-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
加圧治具
図 K-9 加
圧
K.4.4.6.4 固着性
コンデンサを試験用プリント配線板に取り付けた場合の側面のストレスに対する固着
力の強さを試験する。試験方法は次による。
a) 装置
装置は、図 K-10 の加圧治具で規定の加圧ができるものとする。
b) 試料の取付け
K.4.4.2 項による。
c) 試験
図 K-10 に示すように、供試コンデンサの長手方向の中央部に加圧治具の先端が
接するようにし、試験用プリント配線板と水平方向に徐々に力を加える。荷重は
5N±0.5N とし、保持時間は 10 秒±1 秒間とする。
d) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、はんだ付け部の割れ、欠け、ひび、はがれなどの異
常の有無を調べる。
単位：mm
治具の厚さ：
先端の曲面：
。治具の幅：
加圧治具
図 K-10 加圧治具の形状
-K-23-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
K.4.4.6.5 はんだ付け性
はんだ付け性の試験方法は次による。
a) 装置
はんだ槽は、深さ 40mm 以上で十分な容量（300ml 又は 0.9kg 以上）のはんだを
入れることができる大きさのものであって、規定の温度に調整保持できるものとす
る。
なお、温度の測定は、液面から約 25mm の深さのところで行う。
b) 材料
1) はんだ
JIS Z 3282（はんだ）の H60A、H60S 又は H63A を用いる。
2) フラックス
ロジン（JIS K 5902）のイソプロピルアルコール（JIS K 1522）溶液とし、そ
の濃度は質量比でロジン約 25%とする。
c) 試験
1) 端子の準備
試験をする面は、指やその他汚れたもので触れてはならない。また、試験前
に供試コンデンサを清浄化してはならない。
2) フラックスへの浸せき
常温で供試コンデンサ全体をフラックスの中に浸せきする。保持と浸せきの
方法は図 K-11 及び図 K-12 による。浸せき時間は 2 秒±0.5 秒間とする。
なお、保持するピンセットのどの部分も供試コンデンサの端子（電極）と接
触してはならない。
3) 予備加熱
供試コンデンサを+80℃～+120℃で 10 秒～30 秒間加熱する。
4) はんだ槽の清浄化
毎回試験の直前に、液面の酸化したはんだやフラックスの燃えかすを取り除
く。
5) はんだ槽への浸せき
予備加熱後直ちに、供試コンデンサを+235℃±5℃の溶融はんだ槽に 25mm/s±
2.5mm/s の速さで浸せきし、図 K-13 の規定の深さまで達したら、2 秒±0.5 秒間
その状態で保持する。その後、25mm/s±2.5mm/s の速さで引き出す。
d) 試験後の検査
試験終了後 60 分以内に適切な溶剤でフラックス残渣を取り除いた後、10 倍以上
の拡大鏡を用いて、はんだの濡れ性を調べる。
-K-24-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
図 K-11 供試コンデンサの保持方法
図 K-12 フラックスへの浸せき方法
単位：mm
図 K-13 はんだ槽への浸せき方法
K.4.4.6.6 はんだ耐熱性
はんだ耐熱性の試験方法は次による。試験はリフロー槽を使用して行う。
a) 試験前の測定
K.4.4.5.3 項に従って静電容量を測定する。
b) 装置
リフロー槽は、赤外線リフロー槽、気相はんだリフロー槽など、試験条件を満足
できるものでなければならない。
c) 試験用プリント配線板
K.4.4.2 項に規定するプリント配線板とし、図 K-5 のような長方形（Wmm×20mm）
の穴をあける。
d) はんだペースト
K.4.4.2 項 c)に規定するはんだペーストを使用する。
e) 試験
1) 試料の取付け
あらかじめランドを設けてあるプリント配線板にはんだペーストを塗布し、
その上に供試コンデンサを置く。はんだペーストの塗布厚さは 150μm～250μm
とする。
2) 予備加熱
リフロー槽中で+150℃±10℃で 60 秒～120 秒間加熱する。
-K-25-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
3) 加熱
予備加熱後直ちにリフロー槽の温度を上げ、供試コンデンサの温度が 240℃±
5℃に達してから 30 秒±1 秒間その温度に保つ（図 K-14 参照）
。
なお、供試コンデンサの温度とは、端子（電極）部分の温度とする。
f) 試験後の測定
試験終了後 60 分以内に適切な溶剤でフラックス残渣を取り除いた後、K.4.4.5.2
項、K.4.4.5.3 項及び K.4.4.5.4 項に従って漏れ電流、静電容量及び誘電正接（tanδ）
を測定する。
g) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、機械的損傷の有無を調べる。
図 K-14 リフロー槽の温度プロファイル
K.4.4.7 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験は、次の方法による。
K.4.4.7.1 高周波振動
MIL-STD-202 の試験方法 204 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
K.4.4.2 項による。試験用プリント配線板は、試験機試料台に接着剤などにより確
実に固定する。
b) 試験条件：D
c) 印加電圧
試験中、規定の定格電圧を試料に印加する。
d) 振動方向と時間：互いに直角な 3 方向に各 4 時間（計 12 時間）
e) 試験中の測定
各方向の最終サイクルにおいて、0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオープ
ンの有無を調べる。
-K-26-
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平成 24 年 5 月 7 日制定
f) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、火花放電の痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を
調べる。
K.4.4.7.2 ランダム振動
MIL-STD-202 の試験方法 214 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
K.4.4.2 項による。試験用プリント配線板は、試験機試料台に接着剤などにより確
実に固定する。
b) 試験前の測定
K.4.4.5.3 項に従って静電容量を測定する。
c) 試験条件：Ⅱ-H
d) 印加電圧
試験中、規定の定格電圧をコンデンサに印加する。
e) 振動方向と時間：互いに直角な 3 方向に各 3 分間（計 9 分間）
f) 試験中の測定
各方向の試験中に、0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオープンの有無を調
べる。
g) 試験後の測定
K.4.4.5.2 項、K.4.4.5.3 項、K.4.4.5.4 項及び K.4.4.5.5 項に従って漏れ電流、静電
容量、誘電正接（tanδ）及び等価直列抵抗を測定する。
h) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、火花放電の痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を
調べる。
K.4.4.7.3 衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 213 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
K.4.4.2 項による。試験用プリント配線板は、試験機試料台に接着剤などにより確
実に固定する。
b) 試験前の測定
K.4.4.5.3 項に従って静電容量を測定する。
c) 試験条件：I
d) 印加電圧
試験中、規定の定格電圧をコンデンサに印加する。
e) 試験中の測定
0.5ms 以上の断続的接触、ショート及びオープンの有無を調べる。
-K-27-
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平成 24 年 5 月 7 日制定
f) 試験後の測定
K.4.4.5.2 項、K.4.4.5.3 項、K.4.4.5.4 項及び K.4.4.5.5 項に従って漏れ電流、静電
容量、誘電正接（tanδ）及び等価直列抵抗を測定する。
g) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、火花放電の痕跡、絶縁破壊及び機械的損傷の有無を
調べる。
K.4.4.7.4 リフローコンディショニング
内部接続の健全性を確認するために、次の条件によって試験する。
a) 試料の取付け：実施しない。
b) 試験前後の測定：実施しない。
c) サイクル数：1 回
d) リフロー槽の温度プロファイル：図 K-15 による。
e) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、機械的損傷の有無を調べる。
図 K-15 リフローコンディショニングの温度プロファイル
K.4.4.7.5 熱衝撃
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B（5 サイクル） ただし、段階 1 は-55-30℃とする。
b) 試験前後の測定：適用しない。
c) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、機械的損傷の有無を調べる。
-K-28-
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平成 24 年 5 月 7 日制定
K.4.4.7.6 熱衝撃（Ⅰ）
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
K.4.4.2 項による。
b) 試験前の測定
K.4.4.5.3 項に従って静電容量を測定する。
c) 試験条件：B-1（25 サイクル） ただし、段階 1 は-55-30℃とする。
d) 試験後の測定
K.4.4.5.2 項、K.4.4.5.3 項、K.4.4.5.4 項及び K.4.4.5.5 項に従って漏れ電流、静電
容量、誘電正接（tanδ）及び等価直列抵抗を測定する。
e) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否
を調べる。
K.4.4.7.7 熱衝撃（Ⅱ）
MIL-STD-202 の試験方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
K.4.4.2 項による。
b) 試験前の測定
K.4.4.5.3 項に従って静電容量を測定する。
c) 試験条件：B ただし、サイクル数は 1,000 サイクルとする。また、段階 1 は-30-30℃、
段階 3 は 100+3
0 ℃とする。
d) 測定及び検査
試験前、50±10、100±10、250±20、500±20 及び 1,000+10
0 サイクルにおいて、次
の測定及び検査を行う。
1) 測定
K.4.4.5.2 項、K.4.4.5.3 項、K.4.4.5.4 項及び K.4.4.5.5 項に従って漏れ電流、
静電容量、誘電正接（tanδ）及び等価直列抵抗を測定する。
2) 検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、機械的損傷の有無及び表示の判読可否を調べる。
K.4.4.7.8 低温及び高温における安定性
+4
試験前に+125+3
0 ℃で 30 0 分間放置し、続いて表 K-10 の各段階において、規定された項
目の測定を行う。測定は、試料が熱平衡に達した後で行う。熱平衡とは、15 分間隔で静
電容量を測定したとき、続く 2 回の測定値に差がない状態をいう。
-55℃（段階 2）において静電容量と誘電正接（tanδ）を測定した後、33Ωの抵抗器を
通して定格電圧を 5 分間以上印加する。
-K-29-
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平成 24 年 5 月 7 日制定
表 K-10 低温及び高温における安定性
段
階
温度(℃)
1
+25 ±2
2
-55
3
+25 ±2
4
5
0
-3
+85
+125
6
+3
0
+3
0
+25 ±2
測定項目
試験方法項目番号
漏れ電流
K.4.4.5.2
静電容量
K.4.4.5.3
誘電正接（tanδ）
K.4.4.5.4
等価直列抵抗
K.4.4.5.5
静電容量
K.4.4.5.3
誘電正接（tanδ）
K.4.4.5.4
漏れ電流
K.4.4.5.2
静電容量
K.4.4.5.3
誘電正接（tanδ）
K.4.4.5.4
漏れ電流
K.4.4.5.2
静電容量
K.4.4.5.3
誘電正接（tanδ）
K.4.4.5.4
漏れ電流(1)
K.4.4.5.2
静電容量
K.4.4.5.3
誘電正接（tanδ）
K.4.4.5.4
漏れ電流
K.4.4.5.2
静電容量
K.4.4.5.3
誘電正接（tanδ）
K.4.4.5.4
等価直列抵抗
K.4.4.5.5
1
注( ) 表 K-2 に規定された軽減電圧を印加して測定する。
K.4.4.7.9 耐湿性
MIL-STD-202 の試験方法 106 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試料の取付け
K.4.4.2 項による。
b) 試験前の測定
K.4.4.5.3 項に従って静電容量を測定する。
c) サイクル数：連続 20 サイクル（ただし、段階 7a、7b を除く）
d) 試験後の測定
最終サイクル終了後、K.4.4.1 項 a)に規定する状態で約 1 時間放置し、K.4.4.5.2
項、K.4.4.5.3 項、K.4.4.5.4 項及び K.4.4.5.5 項に従って漏れ電流、静電容量、誘電
正接（tanδ）及び等価直列抵抗を測定する。
-K-30-
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平成 24 年 5 月 7 日制定
e) 試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否
を調べる。
K.4.4.7.10 耐溶剤性
MIL-STD-202 の試験方法 215 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) ブラシがけの箇所：表示箇所
b) 溶液：イソプロピルアルコール
c) 試験後の検査
目視によって、表示の判読可否を調べる。
K.4.4.8 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験は、次の方法による。
K.4.4.8.1 寿命（+85℃）
MIL-STD-202 の試験方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用すること。
a) 試料の取付け
K.4.4.2 項による。
b) 試験前の測定
K.4.4.5.3 項に従って静電容量を測定する。
c) 試験温度：+85+3
0℃
d) 試験電圧：定格電圧
e) 電圧印加方法
5 分以内に試験電圧に到達するように徐々に電圧を上昇させるか、抵抗器を通し
て試験電圧を印加した後、5 分以内に抵抗器を短絡させる。電圧は、測定時以外は
連続して印加する。
f) 直流電源
試料が短絡した場合でも、少なくとも 1A の電流を供給できる蓄電池又は電子式
直流電源を用いること。また、試料の端子側からみた電源インピーダンスは 3Ωを
超えないこと。
g) 試験時間
1) 認定試験：4,000+72
0 時間
2) グループ B 試験：2,000+72
0 時間
h) 試験中の測定
+48
+72
+72
試験温度にさらした最初、240+48
0 時間、1,000 0 時間、2,000 0 時間及び 4,000 0
時間において、K.4.4.5.2 項に従って試験温度における漏れ電流を測定する。
i)
試験後の測定
試料を K.4.4.1 項 a)に規定する状態に戻し、K.4.4.5.2 項、K.4.4.5.3 項、K.4.4.5.4
-K-31-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
項及び K.4.4.5.5 項に従って漏れ電流、静電容量、誘電正接（tanδ）及び等価直列
抵抗を測定する。
j)
試験後の検査
10 倍以上の拡大鏡を用いて、腐食及び機械的損傷の有無、並びに表示の判読可否
を調べる。
K.4.4.8.2 寿命（+125℃）
K.4.4.8.1 項によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験温度：+125+3
0℃
b) 試験電圧：表 K-2 に規定された軽減電圧
c) 試験時間：4,000+72
0 時間
K.4.5 長期保管
4.7.1 項によって長期保管されたコンデンサは、次の項目について項目順に全数試験を行わ
なければならない。
a) 漏れ電流（K.3.6.2 項）
b) 静電容量（K.3.6.3 項）
c) 誘電正接（K.3.6.4 項）
d) 等価直列抵抗（K.3.6.5 項）
e) 外観・表示（K.3.3 項）
また、はんだ付け性について、表 K-7 に従って抜取検査を実施しなければならない。
再検査の日付を包装又は保管箱に表示しなければならない。
なお、はんだ付け性の試験で不合格と判定したロットは、出荷してはならない。
K.4.6 試験及び検査の変更
試験及び検査の変更は 4.8 項による。
K.5. 引渡しの準備
引渡しの準備は 5 項による。
K.6. 注意事項
注意事項は 6 項による。
-K-32-
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 L
チップ形固定積層セラミックコンデンサ
L.1. 総則 ........................................................................................................................................ L-1
L.1.1 適用範囲 ........................................................................................................................... L-1
L.1.2 区分 .................................................................................................................................. L-1
L.1.3 部品番号 ........................................................................................................................... L-1
L.1.3.1 形式 ........................................................................................................................... L-1
L.1.3.2 特性 ........................................................................................................................... L-2
L.1.3.3 定格電圧 .................................................................................................................... L-2
L.1.3.4 公称静電容量 ............................................................................................................. L-3
L.1.3.5 静電容量許容差 ......................................................................................................... L-3
L.1.3.6 端子仕上げ ................................................................................................................ L-3
L.2. 適用文書など ......................................................................................................................... L-4
L.2.1 適用文書 ........................................................................................................................... L-4
L.2.2 参考文書 ........................................................................................................................... L-4
L.3. 要求事項 ................................................................................................................................ L-4
L.3.1 認定の範囲 ....................................................................................................................... L-4
L.3.1.1 認定に対する制約 ..................................................................................................... L-4
L.3.2 材料 .................................................................................................................................. L-4
L.3.3 設計及び構造 ................................................................................................................... L-5
L.3.4 非破壊内部検査 ................................................................................................................ L-5
L.3.5 外観、寸法、表示など ..................................................................................................... L-5
L.3.5.1 外観 ........................................................................................................................... L-5
L.3.5.2 寸法 ........................................................................................................................... L-6
L.3.5.3 表示 ........................................................................................................................... L-6
L.3.6 ワークマンシップ ............................................................................................................ L-6
L.3.6.1 DPA ............................................................................................................................ L-6
L.3.7 定格 .................................................................................................................................. L-6
L.3.8 電気的性能 ....................................................................................................................... L-7
L.3.8.1 静電容量 .................................................................................................................... L-7
L.3.8.2 誘電正接 .................................................................................................................... L-7
L.3.8.3 耐電圧 ........................................................................................................................ L-7
L.3.8.4 絶縁抵抗 .................................................................................................................... L-7
L.3.8.5 電圧－温度特性 ......................................................................................................... L-7
L.3.9 機械的性能 ....................................................................................................................... L-7
L.3.9.1 端子強度 .................................................................................................................... L-7
- L-i -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
L.3.9.2 固着性 ........................................................................................................................ L-7
L.3.9.3 耐プリント板曲げ性 .................................................................................................. L-8
L.3.9.4 はんだ付け性 ............................................................................................................. L-8
L.3.9.5 はんだ耐熱性 ............................................................................................................. L-8
L.3.10 環境的性能 ..................................................................................................................... L-8
L.3.10.1 ランダム振動 ........................................................................................................... L-9
L.3.10.2 衝撃 ......................................................................................................................... L-9
L.3.10.3 熱衝撃（Ⅰ） ........................................................................................................... L-9
L.3.10.4 熱衝撃及び電圧エージング ..................................................................................... L-9
L.3.10.5 熱衝撃及び浸せきサイクル ................................................................................... L-10
L.3.10.6 耐湿性.................................................................................................................... L-10
L.3.10.7 低電圧耐湿負荷 ..................................................................................................... L-10
L.3.10.8 減圧 ....................................................................................................................... L-11
L.3.11 耐久的性能 ................................................................................................................... L-11
L.3.11.1 寿命........................................................................................................................ L-11
L.4. 品質保証条項 ....................................................................................................................... L-12
L.4.1 工程内検査 ..................................................................................................................... L-12
L.4.1.1 再加工 ...................................................................................................................... L-12
L.4.2 認定試験 ......................................................................................................................... L-12
L.4.2.1 試料 ......................................................................................................................... L-12
L.4.2.2 試験項目及び試料数 ................................................................................................ L-12
L.4.3 品質確認試験 ................................................................................................................. L-13
L.4.3.1 試料 ......................................................................................................................... L-13
L.4.3.2 試験項目及び試料数 ................................................................................................ L-14
L.4.3.3 試験後の処置 ........................................................................................................... L-14
L.4.4 試験方法 ......................................................................................................................... L-15
L.4.4.1 試験条件 .................................................................................................................. L-15
L.4.4.2 試験の処理 .............................................................................................................. L-15
L.4.4.3 試料の取付け ........................................................................................................... L-16
L.4.4.4 非破壊内部検査 ....................................................................................................... L-16
L.4.4.5 外観、寸法、表示など ............................................................................................ L-16
L.4.4.6 ワークマンシップ ................................................................................................... L-17
L.4.4.7 電気的性能 .............................................................................................................. L-17
L.4.4.8 機械的性能 .............................................................................................................. L-19
L.4.4.9 環境的性能 .............................................................................................................. L-21
L.4.4.10 耐久的性能 ............................................................................................................ L-25
L.4.5 長期保管 ......................................................................................................................... L-26
L.4.6 試験及び検査の変更 ...................................................................................................... L-26
L.5. 引渡しの準備 ....................................................................................................................... L-26
- L-ii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
L.6. 注意事項 .............................................................................................................................. L-26
- L-iii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 L
チップ形固定積層セラミックコンデンサ
L.1. 総則
L.1.1 適用範囲
この付則は、コンデンサのうち、チップ形固定積層セラミックコンデンサ（以下、
「コンデ
ンサ」という）に適用し、それらの要求事項、品質保証条項などを規定する。
L.1.2 区分
コンデンサの区分は表 L-1 による。
表 L-1 区
構
分
造
形
式
1005、1608、2012、3216、
角形、電極両方向
3225、4532、5750
L.1.3 部品番号
コンデンサの部品番号は次の例のように表す。詳細は個別仕様書による。
例 NASDA(1)
2040/L
104
個別
-
1608
形
式
X7R
特
性
1H
103
K
定格電圧
公称静電
静電容量
端
容
量
許 容 差
仕 上 げ
(L.1.3.4 項)
(L.1.3.5 項)
L.1.3.6 項)
番号
(L.1.3.1 項)
(L.1.3.2 項)
(L.1.3.3 項)
Y
子
1
注( ) “NASDA”は、宇宙開発用共通部品等であることを示す。“N”と省略できる。
L.1.3.1 形式
形式はコンデンサの大きさを示し、表 L-2 のとおり 4 桁の数字で表す。寸法の詳細は個別
仕様書による。個別仕様書には、コンデンサの長さ、幅、厚さ、端子電極間距離、端子電極
幅などを規定しなければならない。
- L-1 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 L-2 形
式
L
S
W
T
G
単位 mm
外
形 式
長さ（L）
幅（W）
1005
1.0±0.05
0.50±0.05
1608
1.6±0.12
0.800+0.20
-0.12
2012
2.0±0.15
1.25±0.15
3216
3.2±0.20
1.60±0.15
3225
3.2±0.20
2.50±0.20
4532
4.5±0.35
3.20±0.25
5750
5.7±0.40
5.00±0.40
形 寸 法
端子電極間
端子電極幅
距離（G）
（S）
個別仕様書
個別仕様書
個別仕様書
による
による
による
厚さ（T）
L.1.3.2 特性
特性は EIA-198-1 の 1.3.2 項によって表し、表 L-3 による。
表 L-3 電圧－温度特性
記 号
使用温度範囲
(℃)
+25℃に対する静電容量変化
表 L-14 の段階 A から D まで
表 L-14 の段階 E から G まで
（電圧印加なし）
（定格電圧印加）
C0G
-55～+125
0±30ppm/℃
0±30ppm/℃
X7R
-55～+125
±15%
－(1)
注(1) 詳細は、適用データ・シートに記載する。
L.1.3.3 定格電圧
定格電圧は JIS C 5101-1 附属書 1 の 2.3.4 項によって表し、表 L-4 による。
- L-2 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
表 L-4 定格電圧
単位 V
第 2 文字
第1
文字
A
B
C
D
E
F
G
H
J
K
0
－
－
1.60
2.00
2.50
3.15
4.00
5.00
6.30
8.00
63.00
80.00
1
10.00
12.50
16.00
20.00
25.00
31.50
40.00
50.00
2
100.00
125.00
160.00
200.00
250.00
315.00
400.00
500.00
－
－
L.1.3.4 公称静電容量
公称静電容量は 3 桁の数字で表し、ピコファラド（pF）を単位とする。最初の 2 数字は有
効数字を表し、最後の数字はこれに続く零（0）の数を表す。ただし、公称静電容量が 10pF
未満の場合は、小数点を英大文字“R”で表し、すべて有効数字とする。
例 1R0：1.0pF、R75：0.75pF、0R5：0.5pF、102：1,000pF
L.1.3.5 静電容量許容差
静電容量許容差は、表 L-5 のとおり 1 英大文字で表す。
表 L-5 静電容量許容差
公称静電容量
10pF 以下の場合
10pF を超える場合
記
号
静電容量許容差
B
±0.10pF
C
±0.25pF
D
±0.50pF
F
±1.00pF
F
±01%
G
±02%
J
±05%
K
±10%
M
±20%
L.1.3.6 端子仕上げ
端子の仕上げは、表 L-6 のとおり 1 英大文字で表す。
なお、端子仕上げ“Y”は 100%すずであるため、すずウィスカが成長する可能性がある
（6.2.2 項参照）
。
- L-3 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 L-6 端子の仕上げ
記 号
端
子 の 仕 上 げ
G
Ag-Ni-Au
M
Pd/Ag 合金
S
はんだ食われ防止層の上にはんだコート
Y
下地 Ni バリアの上に 100%Sn めっき
下地金属バリアの上にはんだめっき
Z
（4wt%以上の Pb を含有した Sn/Pb 合金）
L.2. 適用文書など
L.2.1 適用文書
この付則の適用文書は 2.1 項によるほか、次による。
a) EIA-198-1
Ceramic Dielectric Capacitors Classes I, II, III and IV,
Part I: Characteristics and Requirements
b) EIA 469
Standard Test Method for Destructive Physical Analysis (DPA) of
Ceramic Monolithic Capacitors
c) JIS C 5101-1
電子機器用固定コンデンサ－第 1 部：品目別通則
L.2.2 参考文書
次の文書は、この付則の参考文書とする。
a) MIL-PRF-123
Capacitors, Fixed, Ceramic Dielectric, (Temperature Stable and
General Purpose), High Reliability, General Specification for
L.3. 要求事項
L.3.1 認定の範囲
認定されるコンデンサの範囲は、この仕様書の L.3.2 項から L.3.11 項に規定された材料、設
計、構造、定格及び性能を満足するコンデンサの製造ラインを用いて製造される製品群で、認
定試験に合格した試料で代表される範囲のものとする。したがって、この認定の範囲内におい
て個別仕様書で規定する個々の製品を供給することができる。
なお、より詳細な認定の範囲の規定が必要な場合は、個別仕様書に規定する。
L.3.1.1 認定に対する制約
公称静電容量の認定は、認定試験に供した各コンデンサの公称静電容量以下とする。特性、
定格電圧及び端子仕上げの認定は、認定試験に供したコンデンサの特性、定格電圧及び端子
仕上げに限る。
L.3.2 材料
コンデンサに使用する材料は 3.3 項によるほか、次による。
- L-4 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
a) コンデンサ素子
磁器誘電体を用いること。
b) 端子仕上げ
表 L-6 のうち、個別仕様書に規定した端子の仕上げを用いなければならない。また、
容易にはんだ付けできるように適切な処理が施されているものを用いること。
L.3.3 設計及び構造
コンデンサの設計及び構造は個別仕様書による。
L.3.4 非破壊内部検査
すべてのコンデンサを超音波探傷検査、又は品質保証プログラムで規定した非破壊の内部検
査に供さなければならない。L.4.4.4 項によって試験したとき、デラミネーション、ボイド、ク
ラックなど、欠陥の応答を示すコンデンサがあってはならない。
L.3.5 外観、寸法、表示など
L.4.4.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
L.3.5.1 外観
a) 端子
1) 端面は端子の仕上げで完全に覆われていなければならない。Φ0.13mm より大きい
ピンホール又は各面に 4 個以上のピンホールがあってはならない。
2) エッジの欠けが 10%以上あってはならない。
3) はんだに目に見える異物の付着、又は下地金属が 10%以上露出するボイドがあっ
てはならない。
b) セラミック表面
1) クラックがあってはならない。
2) 層間剥離があってはならない。
3) 線条があってはならない。
4) 各面について 0.08mm より深いエッジの欠けがあってはならない。
5) エッジは不規則な形状をしていてはならない。
6) 溶解して付着した塵、又はチップを水平に置く妨げになる、若しくは表面から
0.08mm 以上突き出る過剰なセラミック材料が表面にあってはならない。
7) 表面に 0.05mm 以上のふくれ又は気泡があってはならない。
8) チップ中心部でのたわみは、水平面と比較して長さ（L）
（表 L-2 参照）の 5%未満
でなければならない。
9) Φ0.05mm 以上のピンホール又はくぼみがあってはならない。
10) 内部電極を露出する穴又はボイドがあってはならない。
- L-5 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
L.3.5.2 寸法
コンデンサは、個別仕様書に規定した寸法を満足しなければならない。
L.3.5.2.1 誘電体
焼成された磁器誘電体の層の厚さを実測したとき、コンデンサの誘電体厚み（対抗電極
間距離）は次のとおりでなければならない。
a) 定格電圧が 50V 以下の場合：12μm 以上
b) 定格電圧が 50V を超える場合：20μm 以上
また、ボイドにより、磁器誘電体の厚さが対抗電極間距離の 50%以下になってはならな
い（図 L-1 参照）
。
12μm
合
12μm
格
不合格
図 L-1 誘電体の厚さの判定基準（例）
L.3.5.3 表示
コンデンサ本体には表示しない。ただし、個装又は包装には、5.2 項に規定された事項を
表示しなければならない。
L.3.6 ワークマンシップ
コンデンサは良好な設計に基づいて、3.2.1 項で設定された品質保証プログラムに従って製
造されていなければならない。
L.3.6.1 DPA
L.4.4.6.1 項によって試験したとき、コンデンサは EIA-469 の要求を満足しなければならな
い。また、個別仕様書で規定した材料、設計及び構造、並びに L.3.5.2.1 項の要求を満足し
ていなければならない。
L.3.7 定格
次の事項を個別仕様書で定めなければならない。
a) 電圧－温度特性
b) 定格電圧
- L-6 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
c) 公称静電容量
d) 静電容量許容差
L.3.8 電気的性能
コンデンサは次の電気的性能を満足しなければならない。
L.3.8.1 静電容量
L.4.4.7.1 項によって試験したとき、静電容量は個別仕様書に規定した許容差内になければ
ならない。
L.3.8.2 誘電正接
L.4.4.7.2 項によって試験したとき、誘電正接は次の要求を満足しなければならない。
a) C0G 特性の場合
1) 公称静電容量が 30pF 以上のとき：Q ≥ 1,000
2) 公称静電容量が 30pF 未満のとき：Q ≥ 400+20C［C：公称静電容量(pF)］
b) X7R 特性の場合：tanδ ≤ 2.5%
L.3.8.3 耐電圧
L.4.4.7.3 項によって試験したとき、損傷又は絶縁破壊があってはならない。
L.3.8.4 絶縁抵抗
L.4.4.7.4 項によって試験したとき、絶縁抵抗は次の要求を満足しなければならない。
a) +25℃において：100,000MΩ 又は 1,000MΩ·μF のうち、いずれか小さい方の値以上
b) +125℃において：10,000MΩ 又は 100MΩ·μF のうち、いずれか小さい方の値以上
L.3.8.5 電圧－温度特性
L.4.4.7.5 項によって試験したとき、静電容量の変化は表 L-3 に規定された限界を超えては
ならない。表 L-14 の段階 C で得られた静電容量値を基準値とする。
L.3.9 機械的性能
コンデンサは次の機械的性能を満足しなければならない。
L.3.9.1 端子強度
L.4.4.8.1 項によって試験したとき、端子のゆるみ又は破断があってはならない。
L.3.9.2 固着性
L.4.4.8.2 項によって試験したとき、端子電極に剥離、その他の損傷があってはならない。
- L-7 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
L.3.9.3 耐プリント板曲げ性
L.4.4.8.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
クラック、その他の損傷がないこと。
b) 静電容量変化
1) C0G 特性：初期測定値の±0.5%又は±0.5pF のうち、いずれか絶対値の大きい方の
値以内
2) X7R 特性：初期測定値の±10%以内
L.3.9.4 はんだ付け性
L.4.4.8.4 項によって試験したとき、端子の表面は、新しい滑らかなはんだの被膜で少なく
とも 95%は覆われていなければならない。はんだの表面には小さいピンホール、又は粗い点
に限ってはんだで覆われていない部分があってもよいが、これらは集中していてはならない。
また、その面積の合計は 5%未満でなければならない。
L.3.9.5 はんだ耐熱性
L.4.4.8.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷若しくは剥離の形跡、又は内部電極の露出がないこと。端子電極食われ
は取付部分の各エッジ上で 25%以内であること（図 L-2 参照）
。
b) 絶縁抵抗（+25℃）
L.3.8.4 項 a)の要求を満足すること。
c) 静電容量変化
1) C0G 特性：初期測定値に対して-1.0%から+2.0%又は±0.5pF のうち、いずれか絶
対値の大きい方の値以内
2) X7R 特性：初期測定値に対して-1.0%から+6.0%以内
d) 誘電正接
L.3.8.2 項の要求を満足すること。
図 L-2 取付部分
L.3.10 環境的性能
コンデンサは次の環境的性能を満足しなければならない。
- L-8 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
L.3.10.1 ランダム振動
L.4.4.9.1 項によって試験したとき、0.1ms 以上の断続的接触又は開放若しくは短絡があっ
てはならない。また、絶縁破壊、アーク又は機械的損傷の形跡があってはならない。
L.3.10.2 衝撃
L.4.4.9.2 項によって試験したとき、0.1ms 以上の断続的接触又は開放若しくは短絡があっ
てはならない。また、機械的損傷の形跡があってはならない。
L.3.10.3 熱衝撃（Ⅰ）
L.4.4.9.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がないこと。
b) 耐電圧
L.3.8.3 項の要求を満足すること。
c) 絶縁抵抗（+25℃）
L.3.8.4 項 a)の要求値の 30%以上であること。
d) 静電容量変化
1) C0G 特性：初期測定値の±0.5%又は±0.5pF のうち、いずれか絶対値の大きい方の
値以内
2) X7R 特性：初期測定値の±10%以内
e) 誘電正接
L.3.8.2 項の要求を満足すること。
L.3.10.4 熱衝撃及び電圧エージング
L.4.4.9.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 絶縁抵抗（+125℃）
L.3.8.4 項 b)の要求を満足すること。
b) 外観
機械的損傷がないこと。
c) 耐電圧
L.3.8.3 項の要求を満足すること。
d) 絶縁抵抗（+25℃）
L.3.8.4 項 a)の要求を満足すること。
e) 静電容量
L.3.8.1 項の要求を満足すること。
f) 誘電正接
L.3.8.2 項の要求を満足すること。
- L-9 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
L.3.10.5 熱衝撃及び浸せきサイクル
L.4.4.9.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がないこと。
b) 耐電圧
L.3.8.3 項の要求を満足すること。
c) 絶縁抵抗（+25℃）
L.3.8.4 項 a)の要求値の 50%以上であること。
d) 静電容量変化
1) C0G 特性：初期測定値の±0.5%又は±0.5pF のうち、いずれか絶対値の大きい方の
値以内
2) X7R 特性：初期測定値の±10%以内
e) 誘電正接
L.3.8.2 項の要求を満足すること。
L.3.10.6 耐湿性
L.4.4.9.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がないこと。
b) 耐電圧
L.3.8.3 項の要求を満足すること。
c) 絶縁抵抗（+25℃）
L.3.8.4 項 a)の要求値の 50%以上であること。
d) 静電容量変化
1) C0G 特性：初期測定値の±0.3%又は±0.3pF のうち、いずれか絶対値の大きい方の
値以内
2) X7R 特性：初期測定値の±10%以内
L.3.10.7 低電圧耐湿負荷
L.4.4.9.7 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷がないこと。
b) 絶縁抵抗（+25℃）
L.3.8.4 項 a)の要求を満足すること。
c) 静電容量変化
1) C0G 特性：初期測定値の±0.3%又は±0.3pF のうち、いずれか絶対値の大きい方の
値以内
2) X7R 特性：初期測定値の±10%以内
- L-10 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
L.3.10.8 減圧
L.4.4.9.8 項によって試験したとき、損傷、瞬間的若しくは断続的アーク、又は開放若しく
は短絡があってはならない。
L.3.11 耐久的性能
コンデンサは次の耐久的性能を満足しなければならない。
L.3.11.1 寿命
L.4.4.10.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 250 時間まで
1) 絶縁抵抗（+125℃）
L.3.8.4 項 b)の要求値の 50%以上であること。
2) 外観
機械的損傷がないこと。
3) 絶縁抵抗（+25℃）
L.3.8.4 項 a)の要求値の 50%以上であること。
4) 静電容量変化
4.1) C0G 特性：初期測定値の±0.3%又は±0.3pF のうち、いずれか絶対値の大き
い方の値以内
4.2) X7R 特性：初期測定値の±15%以内
5) 誘電正接
L.3.8.2 項の要求を満足すること。
b) 1,000 時間、2,000 時間及び 4,000 時間まで
1) 絶縁抵抗（+125℃）
L.3.8.4 項 b)の要求値の 30%以上であること。
2) 外観
機械的損傷がないこと。
3) 絶縁抵抗（+25℃）
L.3.8.4 項 a)の要求値の 30%以上であること。
4) 静電容量変化
4.1) C0G 特性：初期測定値の±0.5%又は±0.5pF のうち、いずれか絶対値の大き
い方の値以内
4.2) X7R 特性：初期測定値の±20%以内
5) 誘電正接
5.1) C0G 特性
L.3.8.2 項の要求を満足すること。
5.2) X7R 特性：3.0%以下
- L-11 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
L.4. 品質保証条項
L.4.1 工程内検査
コンデンサの製造ロットごとに表 L-7 に規定された工程内検査を実施しなければならない。
なお、業者の選択により 4.3 項に従い、表 L-7 に規定する以外の工程内検査を実施してもよ
い。
表 L-7 工程内検査
項目
試験項目
番号
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
試料数
1
非破壊内部検査
L.3.4
L.4.4.4
全数
2
外観検査
L.3.5.1
L.4.4.5
全数
L.4.1.1 再加工
スラリー形成以降のすべての作業で再加工をしてはならない。再加工とは、セラミック又
は端子電極の再焼成、再めっき、製品完成後のバレル研磨など、加工工程をやり直すことで
ある。
L.4.2 認定試験
認定試験は 4.4 項によるほか、次による。
L.4.2.1 試料
認定試験の検査ロットは、工程内検査に合格した検査ロットから抜き取った試料で構成し
なければならない。認定試験の試料は、特性、定格電圧及び端子仕上げが同じものを 1 つの
組合せとして、その中で公称静電容量の最大のものを選定する。
L.4.2.2 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目及び試料数は表 L-8 による。Ⅰ群の試験を行った後、Ⅱ群以下の各群
に試料を分けて試験を行う。ただし、Ⅱ群以下の試験は群番号の順に行わなくてもよい。各
群内の試験項目は順序番号の順に行う。
- L-12 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 L-8 認定試験
試
群
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
245
0
15
0
1
熱衝撃及び電圧エージング
L.3.10.4
L.4.4.9.4
2
絶縁抵抗（+125℃）
L.3.8.4
L.4.4.7.4
3
耐電圧
L.3.8.3
L.4.4.7.3
4
絶縁抵抗（+25℃）
L.3.8.4
L.4.4.7.4
5
静電容量
L.3.8.1
L.4.4.7.1
6
誘電正接
L.3.8.2
L.4.4.7.2
1
外観、寸法、表示など
L.3.5
L.4.4.5
2
DPA
L.3.6.1
L.4.4.6.1
1
端子強度
L.3.9.1
L.4.4.8.1
4
2
はんだ付け性
L.3.9.4
L.4.4.8.4
4
3
はんだ耐熱性
L.3.9.5
L.4.4.8.5
4
1
電圧－温度特性
L.3.8.5
L.4.4.7.5
2
耐湿性
L.3.10.6
L.4.4.9.6
Ⅴ
1
低電圧耐湿負荷
L.3.10.7
Ⅵ
1
寿命
Ⅶ
1
Ⅷ
Ⅰ
Ⅱ
Ⅲ
Ⅳ
Ⅸ
Ⅹ
ⅩⅠ
－
注(1)
0
12
0
L.4.4.9.7
12
0
L.3.11.1
L.4.4.10.1
123
0
減圧
L.3.10.8
L.4.4.9.8
6
0
1
熱衝撃及び浸せきサイクル
L.3.10.5
L.4.4.9.5
18
0
1
ランダム振動
L.3.10.1
L.4.4.9.1
10
2
衝撃
L.3.10.2
L.4.4.9.2
10
1
熱衝撃（Ⅰ）
L.3.10.3
L.4.4.9.3
18
1
固着性
L.3.9.2
L.4.4.8.2
6
2
耐プリント板曲げ性
L.3.9.3
L.4.4.8.3
3
1
材料
L.3.2
－
0
0
0
(1)
設計仕様を満足していることを証明する資料を提出すること。
L.4.3 品質確認試験
品質確認試験は 4.5 項によるほか、次による。
L.4.3.1 試料
グループ A 試験の検査ロットの構成は、4.5.1.1 項による。
グループ B 試験及びグループ C 試験は、特性、定格電圧及び端子仕上げの組合せごとに
実施し、検査ロットの構成は 4.5.2.1 項による。同一時期にグループ A 試験に供した組合せ
- L-13 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
の中にロットが複数ある場合は、その中で公称静電容量の最も大きいロットから試料を抜き
取って構成しなければならない。
L.4.3.2 試験項目及び試料数
品質確認試験の試験項目及び試料数は、グループ A 試験を表 L-9 に、グループ B 試験を表
L-10 に、グループ C 試験を表 L-11 に示す。グループ A 試験は群番号の順に実施する。各群
内の試験項目は順序番号の順に行う。
L.4.3.3 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
ただし、A2 群で不合格となったときには、JAXA-QTS-2000 の H.3.3 項に従ってその項目に
ついて全数試験を行い、良品のみを出荷することができる。
なお、A3 群及び A4 群に供した試料は出荷してはならない。
表 L-9 品質確認試験（グループ A）
試
群
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
全数
0
1
熱衝撃及び電圧エージング
L.3.10.4
L.4.4.9.4
2
絶縁抵抗（+125℃）
L.3.8.4
L.4.4.7.4
3
耐電圧
L.3.8.3
L.4.4.7.3
4
絶縁抵抗（+25℃）
L.3.8.4
L.4.4.7.4
5
静電容量
L.3.8.1
L.4.4.7.1
6
誘電正接
L.3.8.2
L.4.4.7.2
A2
1
外観、寸法、表示など
L.3.5
L.4.4.5
20
0
A3
1
低電圧耐湿負荷
L.3.10.7
L.4.4.9.7
12
0
A4
1
DPA
L.3.6.1
L.4.4.6.1
A1
表 L-13
表 L-10 品質確認試験（グループ B）
試
群
B1
B2
B3
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
25
0
12
0
1
熱衝撃
2
寿命
1
電圧－温度特性
L.3.8.5
L.4.4.7.5
2
耐湿性
L.3.10.6
L.4.4.9.6
1
端子強度
L.3.9.1
L.4.4.8.1
6
2
はんだ付け性
L.3.9.4
L.4.4.8.4
6
3
はんだ耐熱性
L.3.9.5
L.4.4.8.5
6
L.3.11.1
- L-14 -
L.4.4.9.4.1
L.4.4.10.1
0
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 L-11 品質確認試験（グループ C）
試
験
項目番号
項目番号
順序
C1
1
減圧
L.3.10.8
C2
1
熱衝撃及び浸せきサイクル
1
C4
C5
目
試験方法
群
C3
項
要求事項
合 否 判 定
試料数
許容不良数
L.4.4.9.8
6
0
L.3.10.5
L.4.4.9.5
18
0
ランダム振動
L.3.10.1
L.4.4.9.1
6
2
衝撃
L.3.10.2
L.4.4.9.2
6
1
熱衝撃（Ⅰ）
L.3.10.3
L.4.4.9.3
6
1
固着性
L.3.9.2
L.4.4.8.2
6
2
耐プリント板曲げ性
L.3.9.3
L.4.4.8.3
3
0
0
0
L.4.4 試験方法
L.4.4.1 試験条件
MIL-STD-202 の 4 項による。ただし、次の条件を適用する。
a) 標準状態
標準状態とは、温度 25℃±3℃、相対湿度 25%～75%、気圧 86kPa～106kPa の環境
条件をいう。試験及び測定は、特に規定がない限り標準状態で行う。再現性のある結
果を得るためにこれらの条件を厳密に管理しなければならないときには、b)の判定状
態を適用する。換算を必要とする場合は、c)の基準状態を用いる。
なお、判定に疑義を生じなければ、標準状態以外で試験及び測定を行ってもよい。
b) 判定状態
判定状態は、温度 25-20℃、相対湿度 50±2%、気圧 86kPa～106kPa とする。
c) 基準状態
基準状態は、温度 25℃、相対湿度 50%、気圧 101.3kPa とする。
d) 基準測定
エージング前後の測定値を比較する場合は、エージングに先立ち 25±3℃で測定され
た値を基準値とする。この基準値が試験開始時点から 30 日以前に測定された場合には、
再測定を行い、これを基準値としなければならない。
e) 試験電圧の測定精度は、規定された電圧の±3.0%以内でなければならない。
f) 寿命試験に用いる電源電圧の変動は、規定された試験電圧の±3%以内でなければなら
ない。
L.4.4.2 試験の処理
必要がある場合は、次の処理を行う。
a) 前処理
試験及び測定に先立ち、供試コンデンサを 1 時間以上測定温度に保ち、放電させて
おく。
- L-15 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) 強制乾燥
試験及び測定に先立ち、特に規定がない限り、表 L-12 によって乾燥を行う。
c) 熱処理（X7R 特性のコンデンサに適用）
静電容量の測定において判定に疑義を生じた場合は、その他の電気的特性を測定し
た後に、コンデンサを 150℃で 1 時間加熱し、標準状態で 24 時間以上 48 時間以内放
置してから再度測定を行ってもよい。
表 L-12 乾燥条件
温
度
55℃±2℃
相対湿度
20%以下
気
圧
大気圧
保持時間
6 時間±0.5 時間
L.4.4.3 試料の取付け
コンデンサを図 L-3 に示す試験治具
（95%～99%アルミナ基板）にはんだ付けする。
銀 3wt%
入りのすず／鉛の共晶はんだを用いて、コテ付け又はリフロー法によって一様にはんだ付け
を行う。この際、熱ショックなどを起こさせぬように取り付ける。端子の仕上げ記号“S”、
“Y”及び“Z”のコンデンサの場合には、代替として 60/40 又は 63/37 のすず／鉛はんだを
用いてもよい。
図 L-3 試験治具（例）
L.4.4.4 非破壊内部検査
超音波探傷装置、又はコンデンサが L.3.4 項の要求を満足していることを確認できる非破
壊の内部検査方法によって検査する。検査方法は品質保証プログラム計画書に明記し、3.2.1
項に従って JAXA の審査を受けなければならない。
L.4.4.5 外観、寸法、表示など
外観及び寸法について検査する。外観検査には、10 倍の拡大鏡を用いる。
- L-16 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
L.4.4.6 ワークマンシップ
L.4.4.6.1 DPA
最終端子仕上げの適用後に、品質保証プログラム計画書の DPA マニュアルに従って実
施する。DPA マニュアルには、EIA-469 に規定された方法、又はコンデンサが EIA-469
の要求を満足していることを確認できる方法が含まれていなければならない。試料数は表
L-13 による。
表 L-13 DPA の試料数
ロットの大きさ
最小試料数
許容不良数
1 -
500
05
0
501 -
10,000
10
0
10,001 -
35,000
25
0
L.4.4.7 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験は、次の方法による。
L.4.4.7.1 静電容量
MIL-STD-202 の方法 305 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験周波数
1) 公称静電容量が 100pF 以下の X7R 特性及び 1,000pF 以下の C0G 特性の場合：
1MHz±100kHz
2) 公称静電容量が上記 1)より大きい場合：1kHz±100Hz
b) 測定電圧：1.0Vrms±0.2Vrms
L.4.4.7.2 誘電正接
L.4.4.7.1 項に規定された周波数及び電圧で、ブリッジか他の適切な装置を用いて試験す
る。測定精度は、誘電正接の要求値に対して十分なものでなければならない。また、測定
装置とコンデンサの接続による誤差を最小にするために、適切な測定方法を用いなければ
ならない。
L.4.4.7.3 耐電圧
MIL-STD-202 の方法 301 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験電圧
直流定格電圧の 250%～400%とし、個別仕様書による。
b) 印加時間
5 秒±1 秒とする。0V から規定電圧までの到達時間は 1 秒以内でなければならな
い。
c) 印加点：コンデンサ素子の両端子間
- L-17 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) 充放電電流：50mA 以下
e) 試験後の検査
損傷及び絶縁破壊の形跡を調べる。
L.4.4.7.4 絶縁抵抗
MIL-STD-202 の方法 302 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件
1) 試験電圧：定格電圧
2) 充放電電流：50mA 以下
3) 充電時間：120+10
0秒
b) 測定点：端子間
c) 特別な条件
50%を超える相対湿度で判定に疑義が生じた場合は、50%以下の相対湿度で再度
測定してもよい。
L.4.4.7.5 電圧－温度特性
次の方法による。ただし、10pF 未満の C0G 特性のコンデンサの場合は、実質上測定が
不可能であるため、同一の材料で製作された 10pF 以上のコンデンサで測定する。
a) 認定試験の場合
温度を表 L-14 に規定されているとおりに変える。静電容量を L.4.4.7.1 項に規定
された周波数及び電圧で測定する。電圧が安定し、静電容量の測定が終わるまで、
直流定格電圧を段階 E から段階 G までコンデンサに印加する。
静電容量の測定は、表 L-14 に規定された各段階で行う。特性曲線を設定するため
には、段階 B と段階 G の間を補完できる十分な測定点をもたなければならない。各
温度での静電容量の測定は、コンデンサが熱平衡に達した後に行う。
b) 品質確認試験の場合
静電容量を L.4.4.7.1 項に規定されたとおりに測定する。ただし、表 L-14 の段階
C、D、E 及び G についてのみ行う。その他は、a)に規定されたとおりとする。
表 L-14 電圧－温度サイクル
段階記号
印加電圧
温度(℃)
A
なし
+25 ±2
なし
-55 ±2
C ()
なし
+25 ±2
D
なし
+125 ±2
E
定格電圧
+125 ±2
F
定格電圧
+25 ±2
G
定格電圧
-55 ±2
B
1
1
注( ) 基準値とする。
- L-18 -
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平成 24 年 5 月 7 日制定
L.4.4.8 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験は、次の方法による。
L.4.4.8.1 端子強度
MIL-STD-202 の方法 211 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A
1) 引張り試験に先立って、図 L-4 に示すように、コンデンサに 0.30mm（AWG28）
～0.64mm（AWG22）のネイルヘッドのリード線を取り付ける。取付けには、
液相点が最小+260℃の高温はんだを使用する。はんだ接合部の間隙又はボイド
により、リード線とコンデンサとの接続面が 90%以下になってはならない。ま
た、ネイルヘッドの中心線がコンデンサの中心線より 30°以上傾いてはならない。
2) 保持方法
一方の端子を保持し、他方の端子に徐々に荷重を加える。
3) 荷重
図 L-4 による。
b) 試験後の検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、端子にゆるみ又は破断の形跡がないか調べ
る。リード線又ははんだ接合部の破損は、セラミックの露出がない限り、不合格と
はみなさない。
φd
単位 N
形
式
φd (mm)
荷
重
形
式
φd (mm)
荷
重
1005
0.51±0.06
10±1
3225
1.02±0.13
10±1
1608
0.51±0.06
10±1
4532
1.02±0.13
20±2
2012
0.51±0.06
10±1
5750
1.02±0.13
20±2
3216
1.02±0.13
10±1
図 L-4 引張り試験のリード線取付け
- L-19 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
L.4.4.8.2 固着性
JIS C 5101-1 の 4.34 項によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
L.4.4.3 項による。
b) 荷重
10N とする。ただし、1005 及び 1608 のコンデンサについては、5N とする。
c) 保持時間：10 秒±1 秒
d) 試験後の検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、端子電極に剥離、その他の損傷の形跡がな
いか調べる。
L.4.4.8.3 耐プリント板曲げ性
JIS C 5101-1 の 4.35 項によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
L.4.4.3 項による。ただし、プリント配線板の材質は、1.6mm の厚さのガラス布
基材エポキシ樹脂のプリント配線板用銅張積層板とし、試験及び測定に対して影響
を与えないものとする。
b) 試験前の測定
静電容量を L.4.4.7.1 項に規定されたとおりに測定し記録する。
c) たわみ量：1mm
d) 保持時間：5 秒±1 秒
e) 試験中の測定
試験用プリント配線板を曲げた状態で、静電容量を L.4.4.7.1 項に規定されたとお
りに測定し記録する。
f) 試験後の検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、クラック、その他の損傷の形跡がないか調
べる。
L.4.4.8.4 はんだ付け性
MIL-STD-202 の方法 208 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験する端子の数：すべて
b) はんだの温度：230℃±5℃
c) 浸せき時間：5 秒±0.5 秒
d) 浸せき深さ
各端子を 0.50+0.25
0 mm の深さまで溶融したはんだに浸せきする。
e) 試験後の検査
10 倍の拡大鏡を用いて L.3.9.4 項の要求を満足しているか調べる。疑義が生じた
- L-20 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
ときは、ピンホールや粗い点が何%覆っているかを全面積に対する相対比較により、
これらの面積を実際測定し決定する。
L.4.4.8.5 はんだ耐熱性
MIL-STD-202 の方法 210 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
L.4.4.3 項による。
b) 試験条件：B
c) 試験後から測定までの冷却時間：最低 10 分以上、最大 24 時間以内
d) 試験前の測定
静電容量、誘電正接及び+25℃における絶縁抵抗をそれぞれ L.4.4.7.1 項、L.4.4.7.2
項及び L.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定し記録する。
e) 試験後の検査及び測定
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、L.3.9.5 項 a)の要求を満足しているか調べ
る。また、静電容量、誘電正接及び+25℃における絶縁抵抗をそれぞれ L.4.4.7.1 項、
L.4.4.7.2 項及び L.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定し記録する。
L.4.4.9 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験は、次の方法による。
L.4.4.9.1 ランダム振動
MIL-STD-202 の方法 214 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
L.4.4.3 項による。
b) 電気的負荷条件
定格電圧の 125%をコンデンサの端子間に印加する。
c) 試験条件：Ⅱ-K
周波数範囲
………… 50Hz～2,000Hz
全実効加速度 ………… 528m/s2 rms
d) 振動の方向と時間：3 つの互いに直角な方向について、各方向約 3 分間（計 9 分間）
e) 試験中の測定
0.1ms 以上の断続的接触、開放及び短絡の有無を電気的にモニタする。
f) 試験後の検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、絶縁破壊、アーク及び機械的損傷の形跡が
ないか調べる。
L.4.4.9.2 衝撃
MIL-STD-202 の方法 213 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
L.4.4.3 項による。
- L-21 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) 試験条件：F
加速度の最大値 ……………… 14.71km/s2
標準持続時間 ………………… 0.5ms
波形 …………………………… 半波正弦波
速度変化 ……………………… 4.69m/s
c) 試験中の測定
0.1ms 以上の断続的接触、開放及び短絡の有無を電気的にモニタする。
d) 試験後の検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、機械的損傷の形跡がないか調べる。
L.4.4.9.3 熱衝撃（Ⅰ）
MIL-STD-202 の方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
L.4.4.3 項による。ただし、はんだ盛量（フィレットの高さ）はコンデンサの厚さ
（T）
（表 L-2 参照）の 1/2 未満とする。
b) 試験条件：A ただし、段階 1 は-30-30℃、段階 3 は+100+3
0 ℃とする。
c) サイクル数：1,000 サイクル
d) 測定及び検査
試験前、50±10、100±10、250±20、500±20 及び 1,000+10
0 サイクルにおいて、次
の電気的測定及び外観検査を行う。
1) 電気的測定
耐電圧、+25℃における絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接をそれぞれ L.4.4.7.3
項、L.4.4.7.4 項、L.4.4.7.1 項及び L.4.4.7.2 項に規定されたとおりに測定する。
2) 外観検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、機械的損傷の形跡がないか調べる。
L.4.4.9.4 熱衝撃及び電圧エージング
L.4.4.9.4.1 熱衝撃
MIL-STD-202 の方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A ただし、段階 3 は+125+4
0 ℃とする。
b) サイクル数
1) 認定試験：100 サイクル
2) グループ A 試験：20 サイクル
3) グループ B 試験：100 サイクル
L.4.4.9.4.2 電圧エージング
L.4.4.9.4.1 項に規定された熱衝撃試験の終了後に、次の条件で試験する。試験期間中、
試験電圧の少なくとも 95%が保持されていることを保証するために、図 L-5 に示す回
路を用いなければならない。ヒューズが切れた場合、又は規定電圧が 95%を下回った
場合は、不合格とする。
- L-22 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
a) 温度：+125+4
0℃
b) 印加電圧：定格電圧の 200%±5%
c) 印加時間
168 時間以上とする。0V から規定電圧までの到達時間は 2 分以内でなければな
らない。
d) 試験後の検査及び測定
試験の終了時点で、試験温度にコンデンサが保たれている間に絶縁抵抗を
L.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定する。この際、絶縁抵抗を測定する目的で、
試料を同じ温度で維持されている他の槽に移し換えてもよい。ただし、移し換え
の時間は 15 分を超えてはならない。試料が試験温度で安定した後でない限り、
絶縁抵抗の測定を行ってはならない。それから、コンデンサを L.4.4.1 項に規定
された標準状態に戻して 10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、機械的損傷の形
跡がないか調べる。また、耐電圧、絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接をそれぞれ
L.4.4.7.3 項、L.4.4.7.4 項、L.4.4.7.1 項及び L.4.4.7.2 項に規定されたとおりに測
定する。
2
電流制限素子( )
4
()
1
電源( )
V
3
電圧計( )
5
()
注(1)
電源は、最小 30mA の漏れ電流においてコンデンサの定格電圧の最低 2 倍の
電圧を供給できる能力を持っていること。
2
()
電流制限素子は抵抗器及び／又はヒューズとし、電流を 30mA 以上 10A 以下
に制限すること。
3
()
電圧計は、印加電圧が規定電圧の 95%未満になった場合に、警報を発し試験
を中止することができるものとする。
4
()
業者の選択により、ヒューズ又は抵抗器を使用してもよい。ヒューズ又は抵抗
器を使用した場合であっても、コンデンサには規定された試験電圧が印加され
なければならない。
5
()
一つの回路で試験するコンデンサの数は 10 個以上とする。
図 L-5 電圧エージングの試験回路
- L-23 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
L.4.4.9.5 熱衝撃及び浸せきサイクル
L.4.4.9.5.1 熱衝撃
MIL-STD-202 の方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
L.4.4.3 項による。ただし、はんだ盛量（フィレットの高さ）はコンデンサの厚
さ（T）
（表 L-2 参照）の 1/2 未満とする。
b) 試験条件：A ただし、段階 3 は+125+4
0 ℃とする。
c) サイクル数：250 サイクル
L.4.4.9.5.2 浸せきサイクル
MIL-STD-202 の方法 104 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B（2 サイクル）
b) 最終サイクル後の測定及び検査
最終サイクルで浸せき槽から取り出したのち、表面に付着した水滴を拭い、常
温の空気を吹きつけた後、30 分後に次の電気的測定及び外観検査を始める。
1) 電気的測定
耐電圧、+25℃における絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接をそれぞれ
L.4.4.7.3 項、L.4.4.7.4 項、L.4.4.7.1 項及び L.4.4.7.2 項に規定されたとおりに
測定する。
2) 外観検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、機械的損傷の形跡がないか調べる。
L.4.4.9.6 耐湿性
MIL-STD-202 の方法 106 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 初期測定
L.4.4.7.1 項によって静電容量を測定する。
b) サイクル数：連続 20 サイクル
c) 試験
最初の 10 サイクルの間だけ、直流 50V 又は定格電圧のうち、いずれか小さい方
の電圧をコンデンサ端子の両端に印加する。1 日に 1 回、コンデンサが短絡してい
ないか確認しなければならない。段階 7b の振動サイクルは行わない。
d) 最終測定及び検査
最終サイクルの段階 6 の終了後、コンデンサを 25℃±5℃、30%RH～60%RH の
環境に最小 18 時間、最大 24 時間放置した後、10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査
し、機械的損傷の形跡を調べる。それから、静電容量、耐電圧及び+25℃における
絶縁抵抗をそれぞれ L.4.4.7.1 項、L.4.4.7.3 項及び L.4.4.7.4 項に規定されたとおり
に測定する。
- L-24 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
L.4.4.9.7 低電圧耐湿負荷
MIL-STD-202 の方法 103、条件 A によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
なお、試験中のいかなるときも、コンデンサに印加する電圧は 1.5V を超えてはならな
い。
a) 取付方法
L.4.4.3 項による。
b) 初期測定
L.4.4.7.1 項によって静電容量を測定する。
c) 試験
コンデンサを+85℃、85%RH の環境に最低 240 時間曝さなければならない。サイ
クルは行わない。試験中は、100kΩ の抵抗を通じて各コンデンサに連続的に 1.3+0.20
-0.25
V の直流電圧を印加しなければならない。
d) 最終測定
試験終了後、コンデンサを試験槽から取り出し、+25℃で 210 分±30 分間乾燥さ
せ安定させる。その後、絶縁抵抗を 100kΩ の抵抗器を通じて 1.3+0.20
-0.25 V の条件で
L.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定した後、静電容量を L.4.4.7.1 項に規定された
とおりに測定する。
e) 外観検査
最終測定の後、10 倍の拡大鏡を用いて機械的損傷の形跡を調べる。
L.4.4.9.8 減圧
MIL-STD-202 の方法 105 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
L.4.4.3 項による。
なお、判定に疑義を生じなければ、他の適切な方法で取り付けてもよい。
b) 試験条件：D（1.1kPa）
c) 試験電圧
1) 定格電圧が 200V 以下の場合：定格電圧の 150%
2) 定格電圧が 200V を超える場合：300V
d) 試験時間：5 秒±1 秒
e) 充放電電流：50mA 以下
f) 試験後の検査
損傷、アーク、開放及び短絡の形跡がないか調べる。
L.4.4.10 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験は、次の方法による。
L.4.4.10.1 寿命
MIL-STD-202 の方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
- L-25 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
a) 供試体から温度測定位置までの距離：適用しない。
b) 試験温度：+125+4
0℃
c) L.4.4.9.4.2 項に規定された電圧及び回路を用いる。ヒューズの故障が発生したとき
は、L.4.4.9.4.2 項に規定された判定を適用する。
d) 充放電電流：50mA 以下
e) 電圧印加時間
1) 認定試験：4,000+72
0 時間
2) グループ B 試験：1,000+48
0 時間
f) 試験中及び試験後の測定
250 時間、1,000 時間、2,000 時間及び 4,000 時間の終了時点で、試験温度にコン
デンサが保たれている間に絶縁抵抗を L.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定する。
この際、絶縁抵抗を測定する目的で、試料を同じ温度で維持されている他の槽に移
し換えてもよい。ただし、移し換えの時間は 15 分を超えてはならない。試料が試
験温度で安定した後でない限り、絶縁抵抗の測定を行ってはならない。それから、
コンデンサを L.4.4.1 項に規定された標準状態に戻して 10 倍の拡大鏡を用いて外観
を検査し、機械的損傷の形跡を調べる。また、静電容量、誘電正接及び絶縁抵抗を
それぞれ L.4.4.7.1 項、L.4.4.7.2 項及び L.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定する。
L.4.5 長期保管
4.7.1 項によって長期保管されたコンデンサは、次の検査を全数行わなければならない。
a) 静電容量（L.3.8.1 項）
b) 誘電正接（L.3.8.2 項）
c) 絶縁抵抗（L.3.8.4 項）
d) 耐電圧（L.3.8.3 項）
また、はんだ付け性及びはんだ耐熱性について、端子の仕上げごとに表 L-10 に従って抜取
検査を実施しなければならない。
再検査の日付を包装又は保管箱に表示しなければならない。
なお、はんだ付け性又ははんだ耐熱性の検査で不合格と判定したロットは、出荷してはなら
ない。
L.4.6 試験及び検査の変更
試験及び検査の変更は 4.8 項による。
L.5. 引渡しの準備
引渡しの準備は 5 項による。
L.6. 注意事項
注意事項は 6 項による。
- L-26 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 M
表面実装用小形大容量積層セラミックコンデンサ
M.1. 総則 ...................................................................................................................................... M-1
M.1.1 適用範囲 ......................................................................................................................... M-1
M.1.2 区分 ................................................................................................................................ M-1
M.1.3 部品番号 ......................................................................................................................... M-1
M.1.3.1 形式 ......................................................................................................................... M-1
M.1.3.2 特性 ......................................................................................................................... M-2
M.1.3.3 定格電圧 .................................................................................................................. M-2
M.1.3.4 公称静電容量 ........................................................................................................... M-3
M.1.3.5 静電容量許容差 ....................................................................................................... M-3
M.1.3.6 端子仕上げ .............................................................................................................. M-3
M.2. 適用文書など ....................................................................................................................... M-3
M.2.1 適用文書 ......................................................................................................................... M-3
M.3. 要求事項 .............................................................................................................................. M-4
M.3.1 認定の範囲 ..................................................................................................................... M-4
M.3.1.1 認定に対する制約 ................................................................................................... M-4
M.3.2 材料 ................................................................................................................................ M-4
M.3.3 設計及び構造 ................................................................................................................. M-4
M.3.4 非破壊内部検査 .............................................................................................................. M-4
M.3.5 外観、寸法、表示など ................................................................................................... M-4
M.3.5.1 外観 ......................................................................................................................... M-4
M.3.5.2 寸法 ......................................................................................................................... M-5
M.3.5.3 表示 ......................................................................................................................... M-5
M.3.6 ワークマンシップ .......................................................................................................... M-6
M.3.6.1 DPA .......................................................................................................................... M-6
M.3.7 定格 ................................................................................................................................ M-6
M.3.8 電気的性能 ..................................................................................................................... M-6
M.3.8.1 静電容量 .................................................................................................................. M-6
M.3.8.2 誘電正接（tanδ） .................................................................................................. M-6
M.3.8.3 耐電圧 ...................................................................................................................... M-6
M.3.8.4 絶縁抵抗 .................................................................................................................. M-6
M.3.8.5 電圧－温度特性 ....................................................................................................... M-6
M.3.9 機械的性能 ..................................................................................................................... M-7
M.3.9.1 固着性（せん断強度） ............................................................................................ M-7
M.3.9.2 耐プリント板曲げ性 ................................................................................................ M-7
- M-i -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
M.3.9.3 はんだ付け性 ........................................................................................................... M-7
M.3.9.4 はんだ耐熱性 ........................................................................................................... M-7
M.3.10 環境的性能 ................................................................................................................... M-8
M.3.10.1 ランダム振動 ......................................................................................................... M-8
M.3.10.2 衝撃 ....................................................................................................................... M-8
M.3.10.3 熱衝撃（Ⅰ） ......................................................................................................... M-8
M.3.10.4 熱衝撃及び電圧エージング ................................................................................... M-8
M.3.10.5 熱衝撃及び浸せきサイクル ................................................................................... M-8
M.3.10.6 耐湿性.................................................................................................................... M-9
M.3.10.7 低電圧耐湿負荷 ..................................................................................................... M-9
M.3.10.8 減圧 ....................................................................................................................... M-9
M.3.11 耐久的性能 ................................................................................................................... M-9
M.3.11.1 寿命........................................................................................................................ M-9
M.4. 品質保証条項 ..................................................................................................................... M-10
M.4.1 工程内検査 ................................................................................................................... M-10
M.4.1.1 再加工 .................................................................................................................... M-10
M.4.2 認定試験 ....................................................................................................................... M-10
M.4.2.1 試料 ....................................................................................................................... M-10
M.4.2.2 試験項目及び試料数 .............................................................................................. M-10
M.4.3 品質確認試験 ............................................................................................................... M-11
M.4.3.1 試料 ....................................................................................................................... M-11
M.4.3.2 試験項目及び試料数 .............................................................................................. M-12
M.4.3.3 試験後の処置 ......................................................................................................... M-12
M.4.4 試験方法 ....................................................................................................................... M-13
M.4.4.1 試験条件 ................................................................................................................ M-13
M.4.4.2 試験の処理 ............................................................................................................ M-13
M.4.4.3 試料の取付け ......................................................................................................... M-14
M.4.4.4 非破壊内部検査 ..................................................................................................... M-14
M.4.4.5 外観、寸法、表示など .......................................................................................... M-14
M.4.4.6 ワークマンシップ ................................................................................................. M-14
M.4.4.7 電気的性能 ............................................................................................................ M-15
M.4.4.8 機械的性能 ............................................................................................................ M-17
M.4.4.9 環境的性能 ............................................................................................................ M-18
M.4.4.10 耐久的性能 .......................................................................................................... M-23
M.4.5 長期保管 ....................................................................................................................... M-24
M.4.6 試験及び検査の変更 .................................................................................................... M-24
M.5. 引渡しの準備 ..................................................................................................................... M-24
M.6. 注意事項 ............................................................................................................................ M-24
- M-ii -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
付則 M
表面実装用小形大容量積層セラミックコンデンサ
M.1. 総則
M.1.1 適用範囲
この付則は、コンデンサのうち、誘電体の厚さが 12μm 未満の表面実装用小形大容量積層
セラミックコンデンサ（以下、
「コンデンサ」という）に適用し、それらの要求事項、品質保
証条項などを規定する。
M.1.2 区分
コンデンサの区分は、表 M-1 による。
表 M-1 区
構
分
造
形
角形、電極両方向
式
1608、3216、3225
M.1.3 部品番号
コンデンサの部品番号は、次の例のように表す。詳細は、個別仕様書による。
例 JAXA(1)
2040/M
105
個別
-
3216
形
X7R
式
特
性
A
226
K
定格電圧
公称静電
静電容量
端
容
量
許 容 差
仕 上 げ
(M.1.3.4項)
(M.1.3.5項)
M.1.3.6 項)
番号
(M.1.3.1項)
(M.1.3.2項)
(M.1.3.3項)
S
子
1
注( ) “JAXA”は、宇宙開発用共通部品等であることを示す。
“J”と省略できる。
M.1.3.1 形式
形式はコンデンサの大きさを示し、表 M-2 のとおり 4 桁の数字で表す。寸法の詳細は個別
仕様書による。個別仕様書には、コンデンサの長さ、幅、厚さ、端子電極間距離、端子電極
幅などを規定しなければならない。
- M-1 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 M-2 形
式
L
S
W
T
G
単位 mm
外
形 式
形 寸 法
長さ
幅
厚さ
端子電極間
端子電極幅
（L）
（W）
（T）
距離（G）
（S）
1608
1.6+0.15
-0.10
0.8+0.20
-0.12
3216
3.2+0.40
-0.10
1.6+0.30
-0.10
個別仕様書
個別仕様書
個別仕様書
による
による
による
3225
3.2±0.3
2.5±0.2
M.1.3.2 特性
特性は EIA-198-1 の 1.3.2 項によって表し、表 M-3 による。
表 M-3 電圧－温度特性
記 号
X7R
使用温度範囲
(℃)
+25℃に対する静電容量変化
表 M-15 の段階 A から D まで
表 M-15 の段階 E から G まで
（電圧印加なし）
（定格電圧印加）
±15%
－(1)
-55～+125
注(1) 詳細は、適用データ・シートに記載する。
M.1.3.3 定格電圧
定格電圧は、表 M-4 のとおり 1 英大文字で表す。
表 M-4 定格電圧
単位 VDC
記
号
定格電圧
A
03.5
B
08.0
C
25.0
- M-2 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
M.1.3.4 公称静電容量
公称静電容量は 3 桁の数字で表し、ピコファラド（pF）を単位とする。最初の 2 数字は有
効数字を表し、最後の数字はこれに続く零（0）の数を表す。
例 104：0.1μF、105：1.0μF、226：22μF
M.1.3.5 静電容量許容差
静電容量許容差は、表 M-5 のとおり 1 英大文字で表す。
表 M-5 静電容量許容差
単位 %
記 号
静電容量許容差
J
±05
K
±10
M
±20
M.1.3.6 端子仕上げ
端子の仕上げは、表 M-6 のとおり 1 英大文字で表す。
なお、端子仕上げ“Y”は 100%すずであるため、すずウィスカが成長する可能性がある
（6.2.2 項参照）
。
表 M-6 端子の仕上げ
記 号
端
子 の 仕 上 げ
S
はんだ食われ防止層の上にはんだコート
Y
下地 Ni バリアの上に 100%Sn めっき
Z
下地金属バリアの上にはんだめっき
（4wt%以上の Pb を含有した Sn/Pb 合金）
M.2. 適用文書など
M.2.1 適用文書
この付則の適用文書は 2.1 項によるほか、次による。
a) EIA-198-1
Ceramic Dielectric Capacitors Classes I, II, III and IV,
Part I: Characteristics and Requirements
b) EIA 469
Standard Test Method for Destructive Physical Analysis (DPA) of
Ceramic Monolithic Capacitors
c) JIS C 5101-1
電子機器用固定コンデンサ－第 1 部：品目別通則
- M-3 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
d) JIS Z 3198-7
鉛フリーはんだ試験方法－第 7 部：チップ部品のはんだ継手せん断
試験方法
M.3. 要求事項
M.3.1 認定の範囲
認定されるコンデンサの範囲は、この仕様書の M.3.2 項から M.3.11 項に規定された材料、
設計、構造、定格及び性能を満足するコンデンサの製造ラインを用いて製造される製品群で、
認定試験に合格した試料で代表される範囲のものとする。したがって、この認定の範囲内にお
いて個別仕様書で規定する個々の製品を供給することができる。
なお、より詳細な認定の範囲の規定が必要な場合は、個別仕様書に規定する。
M.3.1.1 認定に対する制約
公称静電容量の認定は、認定試験に供した各コンデンサの公称静電容量以下とする。特性、
定格電圧及び端子仕上げの認定は、認定試験に供したコンデンサの特性、定格電圧及び端子
仕上げに限る。
M.3.2 材料
コンデンサに使用する材料は 3.3 項によるほか、次による。
a) コンデンサ素子
磁器誘電体を用いること。
b) 端子仕上げ
表 M-6 のうち、個別仕様書に規定した端子の仕上げを用いなければならない。また、
容易にはんだ付けできるように、適切な処理が施されているものを用いること。
M.3.3 設計及び構造
コンデンサの設計及び構造は、個別仕様書による。
M.3.4 非破壊内部検査
すべてのコンデンサを超音波探傷検査、又は品質保証プログラムで規定した非破壊の内部検
査に供さなければならない。M.4.4.4 項によって試験したとき、デラミネーション、ボイド、
クラックなど、欠陥の応答を示すコンデンサがあってはならない。
M.3.5 外観、寸法、表示など
M.4.4.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
M.3.5.1 外観
a) 端子
1) 端面は端子の仕上げで完全に覆われていなければならない。φ0.13mm より大きい
ピンホール又は各面に 4 個以上のピンホールがあってはならない。
- M-4 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
2) エッジの欠けが 10%以上あってはならない。
3) 目に見える異物の付着、又は下地金属が 5%以上露出してはならない。
b) セラミック表面
1) クラックがあってはならない。
2) 層間剥離があってはならない。
3) 各面について 0.08mm より深いエッジの欠けがあってはならない。
4) エッジは不規則な形状をしていてはならない。
5) 溶解して付着した塵、又はチップを水平に置く妨げになる、若しくは表面から
0.08mm 以上突き出る過剰なセラミック材料が表面にあってはならない。
6) 表面に 0.05mm 以上のふくれ又は気泡があってはならない。
7) チップ中心部でのたわみは、水平面と比較して長さ（L）
（表 M-2 参照）の 5%未満
でなければならない。
8) φ0.05mm 以上のピンホール又はくぼみがあってはならない。
9) 内部電極を露出する穴又はボイドがあってはならない。
M.3.5.2 寸法
コンデンサは、個別仕様書に規定した寸法を満足しなければならない。
M.3.5.2.1 誘電体
焼成された磁器誘電体の層の厚さを実測したとき、コンデンサの誘電体厚み（対抗電極
間距離）は、個別仕様書に規定した値を満足しなければならない。また、ボイドにより、
磁器誘電体の厚さが対抗電極間距離の 50%以下になってはならない（図 M-1 参照）。
9μm
合
9μm
格
不合格
図 M-1 誘電体の厚さの判定基準（例）
M.3.5.3 表示
コンデンサ本体には表示しない。ただし、個装又は包装には、5.2 項に規定された事項を
表示しなければならない。
- M-5 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
M.3.6 ワークマンシップ
コンデンサは良好な設計に基づいて、3.2.1 項で設定された品質保証プログラムに従って製
造されていなければならない。
M.3.6.1 DPA
M.4.4.6.1 項によって試験したとき、コンデンサは EIA-469 の要求を満足しなければなら
ない。また、個別仕様書で規定した材料、設計及び構造、並びに M.3.5.2.1 項の要求を満足
していなければならない。
M.3.7 定格
次の事項を個別仕様書で定めなければならない。
a) 電圧－温度特性
b) 定格電圧
c) 公称静電容量
d) 静電容量許容差
M.3.8 電気的性能
コンデンサは、次の電気的性能を満足しなければならない。
M.3.8.1 静電容量
M.4.4.7.1 項によって試験したとき、静電容量は個別仕様書に規定した許容差内になけれ
ばならない。
M.3.8.2 誘電正接（tanδ）
M.4.4.7.2 項によって試験したとき、誘電正接（tanδ）は 15%以下でなければならない。
M.3.8.3 耐電圧
M.4.4.7.3 項によって試験したとき、損傷又は絶縁破壊があってはならない。
M.3.8.4 絶縁抵抗
M.4.4.7.4 項によって試験したとき、絶縁抵抗は次の要求を満足しなければならない。
a) +25℃において：100MΩ·μF 以上
b) +125℃において：10MΩ·μF 以上
M.3.8.5 電圧－温度特性
M.4.4.7.5 項によって試験したとき、静電容量の変化は表 M-3 に規定された限界を超えて
はならない。表 M-15 の段階 C で得られた静電容量値を基準値とする。
- M-6 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
M.3.9 機械的性能
コンデンサは、次の機械的性能を満足しなければならない。
M.3.9.1 固着性（せん断強度）
M.4.4.8.1 項によって試験したとき、破断強度は表 M-7 に規定された値以上で、かつ、セ
ラミックと端子電極の分離（表 M-16 の記号“B”
）又ははんだ接合界面の剥離（表 M-16 の
記号“D”
）があってはならない。
表 M-7 最小せん断強度
単位 N
形
式
最小せん断強度
1608
15
3216
30
3225
60
M.3.9.2 耐プリント板曲げ性
M.4.4.8.2 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観：クラック、その他の損傷がないこと。
b) 静電容量変化：初期測定値の±10%以内
M.3.9.3 はんだ付け性
M.4.4.8.3 項によって試験したとき、端子の表面は、新しい滑らかなはんだの被膜で少な
くとも 95%は覆われていなければならない。はんだの表面には小さいピンホール、又は粗い
点に限ってはんだで覆われていない部分があってもよいが、これらは集中していてはならな
い。また、その面積の合計は 5%未満でなければならない。
M.3.9.4 はんだ耐熱性
M.4.4.8.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観
機械的損傷若しくは剥離の形跡、又は内部電極の露出がないこと。端子電極食われ
は、取付部分の各エッジ上で 25%以内であること（図 M-2 参照）。
b) 絶縁抵抗（+25℃）
：M.3.8.4 項 a)の要求を満足すること。
c) 静電容量変化：初期測定値に対して±7.5%以内
d) 誘電正接（tanδ）
：M.3.8.2 項の要求を満足すること。
- M-7 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
図 M-2 取付部分
M.3.10 環境的性能
コンデンサは、次の環境的性能を満足しなければならない。
M.3.10.1 ランダム振動
M.4.4.9.1 項によって試験したとき、
0.1ms 以上の断続的接触又は開放若しくは短絡があっ
てはならない。また、絶縁破壊、アーク又は機械的損傷の形跡があってはならない。
M.3.10.2 衝撃
M.4.4.9.2 項によって試験したとき、
0.1ms 以上の断続的接触又は開放若しくは短絡があっ
てはならない。また、機械的損傷の形跡があってはならない。
M.3.10.3 熱衝撃（Ⅰ）
M.4.4.9.3 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観：機械的損傷がないこと。
b) 耐電圧：M.3.8.3 項の要求を満足すること。
c) 絶縁抵抗（+25℃）
：M.3.8.4 項 a)の要求値の 30%以上であること。
d) 静電容量変化：初期測定値の±10%以内
e) 誘電正接（tanδ）
：M.3.8.2 項の要求を満足すること。
M.3.10.4 熱衝撃及び電圧エージング
M.4.4.9.4 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 絶縁抵抗（+125℃）
：M.3.8.4 項 b)の要求を満足すること。
b) 外観：機械的損傷がないこと。
c) 耐電圧：M.3.8.3 項の要求を満足すること。
d) 絶縁抵抗（+25℃）
：M.3.8.4 項 a)の要求を満足すること。
e) 静電容量：；M.3.8.1 項の要求を満足すること。
f) 誘電正接（tanδ）
：M.3.8.2 項の要求を満足すること。
M.3.10.5 熱衝撃及び浸せきサイクル
M.4.4.9.5 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観：機械的損傷がないこと。
- M-8 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) 耐電圧：M.3.8.3 項の要求を満足すること。
c) 絶縁抵抗（+25℃）
：M.3.8.4 項 a)の要求値の 50%以上であること。
d) 静電容量変化：初期測定値の±10%以内
e) 誘電正接（tanδ）
：M.3.8.2 項の要求を満足すること。
M.3.10.6 耐湿性
M.4.4.9.6 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観：機械的損傷がないこと。
b) 耐電圧：M.3.8.3 項の要求を満足すること。
c) 絶縁抵抗（+25℃）
：M.3.8.4 項 a)の要求値の 50%以上であること。
d) 静電容量変化：初期測定値の±10%以内
M.3.10.7 低電圧耐湿負荷
M.4.4.9.7 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 外観：機械的損傷がないこと。
b) 絶縁抵抗（+25℃）
：M.3.8.4 項 a)の要求を満足すること。
c) 静電容量変化：初期測定値の±10%以内
M.3.10.8 減圧
M.4.4.9.8 項によって試験したとき、損傷、瞬間的若しくは断続的アーク、又は開放若し
くは短絡があってはならない。
M.3.11 耐久的性能
コンデンサは、次の耐久的性能を満足しなければならない。
M.3.11.1 寿命
M.4.4.10.1 項によって試験したとき、コンデンサは次の要求を満足しなければならない。
a) 250 時間まで
1) 絶縁抵抗（+125℃）
：M.3.8.4 項 b)の要求値の 50%以上であること。
2) 外観：機械的損傷がないこと。
3) 絶縁抵抗（+25℃）
：M.3.8.4 項 a)の要求値の 50%以上であること。
4) 静電容量変化：初期測定値の±15%以内
5) 誘電正接（tanδ）
：M.3.8.2 項の要求を満足すること。
b) 1,000 時間、2,000 時間及び 4,000 時間まで
1) 絶縁抵抗（+125℃）
：M.3.8.4 項 b)の要求値の 30%以上であること。
2) 外観：機械的損傷がないこと。
3) 絶縁抵抗（+25℃）
：M.3.8.4 項 a)の要求値の 30%以上であること。
4) 静電容量変化：初期測定値の±20%以内
5) 誘電正接（tanδ）
：M.3.8.2 項の要求を満足すること。
- M-9 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
M.4. 品質保証条項
M.4.1 工程内検査
コンデンサの製造ロットごとに表 M-8 に規定された工程内検査を実施しなければならない。
なお、業者の選択により 4.3 項に従い、表 M-8 に規定する以外の工程内検査を実施してもよ
い。
表 M-8 工程内検査
項目
試験項目
番号
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
試料数
1
非破壊内部検査
M.3.4
M.4.4.4
全数
2
外観検査
M.3.5.1
M.4.4.5
全数
M.4.1.1 再加工
スラリー形成以降のすべての作業で再加工をしてはならない。再加工とは、セラミック又
は端子電極の再焼成、再めっき、製品完成後のバレル研磨など、加工工程をやり直すことで
ある。
M.4.2 認定試験
認定試験は 4.4 項によるほか、次による。
M.4.2.1 試料
認定試験の検査ロットは、工程内検査に合格した検査ロットから抜き取った試料で構成し
なければならない。認定試験の試料は、特性、定格電圧及び端子仕上げが同じものを 1 つの
組合せとして、その中で公称静電容量の最大のものを選定する。
M.4.2.2 試験項目及び試料数
認定試験の試験項目及び試料数は、表 M-9 による。Ⅰ群の試験を行った後、Ⅱ群以下の各
群に試料を分けて試験を行う。ただし、Ⅱ群以下の試験は群番号の順に行わなくてもよい。
各群内の試験項目は順序番号の順に行う。
- M-10 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 M-9 認定試験
試
群
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
241
0
15
0
1
熱衝撃及び電圧エージング
M.3.10.4
M.4.4.9.4
2
絶縁抵抗（+125℃）
M.3.8.4
M.4.4.7.4
3
耐電圧
M.3.8.3
M.4.4.7.3
4
絶縁抵抗（+25℃）
M.3.8.4
M.4.4.7.4
5
静電容量
M.3.8.1
M.4.4.7.1
6
誘電正接（tanδ）
M.3.8.2
M.4.4.7.2
1
外観、寸法、表示など
M.3.5
M.4.4.5
2
DPA
M.3.6.1
M.4.4.6.1
1
はんだ付け性
M.3.9.3
M.4.4.8.3
4
2
はんだ耐熱性
M.3.9.4
M.4.4.8.4
4
1
電圧－温度特性
M.3.8.5
M.4.4.7.5
2
耐湿性
M.3.10.6
M.4.4.9.6
Ⅴ
1
低電圧耐湿負荷
M.3.10.7
Ⅵ
1
寿命
Ⅶ
1
Ⅷ
Ⅰ
Ⅱ
Ⅲ
Ⅳ
Ⅸ
Ⅹ
ⅩⅠ
－
注(1)
0
12
0
M.4.4.9.7
12
0
M.3.11.1
M.4.4.10.1
123
0
減圧
M.3.10.8
M.4.4.9.8
6
0
1
熱衝撃及び浸せきサイクル
M.3.10.5
M.4.4.9.5
18
0
1
ランダム振動
M.3.10.1
M.4.4.9.1
10
2
衝撃
M.3.10.2
M.4.4.9.2
10
1
熱衝撃（Ⅰ）
M.3.10.3
M.4.4.9.3
18
1
固着性（せん断強度）
M.3.9.1
M.4.4.8.1
6
2
耐プリント板曲げ性
M.3.9.2
M.4.4.8.2
3
1
材料
M.3.2
－
0
0
0
(1)
設計仕様を満足していることを証明する資料を提出すること。
M.4.3 品質確認試験
品質確認試験は 4.5 項によるほか、次による。
M.4.3.1 試料
グループ A 試験の検査ロットの構成は、4.5.1.1 項による。
グループ B 試験及びグループ C 試験は、特性、定格電圧及び端子仕上げの組合せごとに
実施し、検査ロットの構成は 4.5.2.1 項による。同一時期にグループ A 試験に供した組合せ
の中にロットが複数ある場合は、その中で公称静電容量の最も大きいロットから試料を抜き
取って構成しなければならない。
- M-11 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
M.4.3.2 試験項目及び試料数
品質確認試験の試験項目及び試料数は、グループ A 試験を表 M-10 に、グループ B 試験を
表 M-11 に、グループ C 試験を表 M-12 に示す。グループ A 試験は群番号の順に実施する。
各群内の試験項目は順序番号の順に行う。
M.4.3.3 試験後の処置
グループ A 試験で不合格と判定された場合は、当該ロットの製品を出荷してはならない。
ただし、A2 群で不合格となったときには、JAXA-QTS-2000 の H.3.3 項に従ってその項目に
ついて全数試験を行い、良品のみを出荷することができる。
なお、A3 群及び A4 群に供した試料は出荷してはならない。
表 M-10 品質確認試験（グループ A）
試
群
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
全数
0
1
熱衝撃及び電圧エージング
M.3.10.4
M.4.4.9.4
2
絶縁抵抗（+125℃）
M.3.8.4
M.4.4.7.4
3
耐電圧
M.3.8.3
M.4.4.7.3
4
絶縁抵抗（+25℃）
M.3.8.4
M.4.4.7.4
5
静電容量
M.3.8.1
M.4.4.7.1
6
誘電正接（tanδ）
M.3.8.2
M.4.4.7.2
A2
1
外観、寸法、表示など
M.3.5
M.4.4.5
20
0
A3
1
低電圧耐湿負荷
M.3.10.7
M.4.4.9.7
12
0
A4
1
DPA
M.3.6.1
M.4.4.6.1
A1
表 M-14
表 M-11 品質確認試験（グループ B）
試
群
B1
B2
B3
順序
験
項
目
要求事項
試験方法
項目番号
項目番号
合 否 判 定
試料数
許容不良数
25
0
12
0
1
熱衝撃
2
寿命
1
電圧－温度特性
M.3.8.5
M.4.4.7.5
2
耐湿性
M.3.10.6
M.4.4.9.6
1
固着性（せん断強度）
M.3.9.1
M.4.4.8.1
6
2
はんだ付け性
M.3.9.3
M.4.4.8.3
6
3
はんだ耐熱性
M.3.9.4
M.4.4.8.4
6
M.3.11.1
- M-12 -
M.4.4.9.4.1
M.4.4.10.1
0
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
表 M-12 品質確認試験（グループ C）
試
験
項目番号
項目番号
順序
C1
1
熱衝撃及び浸せきサイクル
M.3.10.5
M.4.4.9.5
1
ランダム振動
M.3.10.1
M.4.4.9.1
2
衝撃
M.3.10.2
M.4.4.9.2
1
耐プリント板曲げ性
M.3.9.2
M.4.4.8.2
C3
目
試験方法
群
C2
項
要求事項
合 否 判 定
試料数
許容不良数
18
0
6
0
3
0
M.4.4 試験方法
M.4.4.1 試験条件
MIL-STD-202 の 4 項による。ただし、次の条件を適用する。
a) 標準状態
標準状態とは、温度 15℃～35℃、相対湿度 25%～75%、気圧 86kPa～106kPa の環
境条件をいう。試験及び測定は、特に規定がない限り標準状態で行う。再現性のある
結果を得るためにこれらの条件を厳密に管理しなければならないときには、b)の判定
状態を適用する。換算を必要とする場合は、c)の基準状態を用いる。
なお、判定に疑義を生じなければ、標準状態以外で試験及び測定を行ってもよい。
b) 判定状態
判定状態は、温度 25-20℃、相対湿度 50±2%、気圧 86kPa～106kPa とする。
c) 基準状態
基準状態は、温度 25℃、相対湿度 50%、気圧 101.3kPa とする。
d) 基準測定
エージング前後の測定値を比較する場合は、エージングに先立ち 25±3℃で測定され
た値を基準値とする。この基準値が試験開始時点から 30 日以前に測定された場合には、
再測定を行い、これを基準値としなければならない。
e) 試験電圧の測定精度は、規定された電圧の±3.0%以内でなければならない。
f) 寿命試験に用いる電源電圧の変動は、規定された試験電圧の±3%以内でなければなら
ない。
M.4.4.2 試験の処理
必要がある場合は、次の処理を行う。
a) 前処理
試験及び測定に先立ち、供試コンデンサを 1 時間以上測定温度に保ち、放電させて
おく。
b) 強制乾燥
試験及び測定に先立ち、特に規定がない限り、表 M-13 によって乾燥を行う。
- M-13 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
c) 熱処理
静電容量の測定は、その他の電気的特性を測定した後に、コンデンサを 150℃で 1
時間加熱し、標準状態で 24 時間以上 48 時間以内放置してから測定を行う。
表 M-13 乾燥条件
温
度
55℃±2℃
相対湿度
20%以下
気
圧
大気圧
保持時間
6 時間±0.5 時間
M.4.4.3 試料の取付け
コンデンサを図 M-3 に示す試験治具（厚さ 0.635mm±0.05mm 又はそれ以上、純度 95%
以上のアルミナ基板）にはんだ付けする。銀 3wt%入りのすず／鉛の共晶はんだを用いて、
コテ付け又はリフロー法によって一様にはんだ付けを行う。この際、熱ショックなどを起こ
させぬように取り付ける。代替として、60/40 又は 63/37 のすず／鉛はんだを用いてもよい。
図 M-3 試験治具（例）
M.4.4.4 非破壊内部検査
超音波探傷装置、又はコンデンサが M.3.4 項の要求を満足していることを確認できる非破
壊の内部検査方法によって検査する。検査方法は品質保証プログラム計画書に明記し、3.2.1
項に従って JAXA の審査を受けなければならない。
M.4.4.5 外観、寸法、表示など
外観及び寸法について検査する。外観検査には、10 倍の拡大鏡を用いる。
M.4.4.6 ワークマンシップ
M.4.4.6.1 DPA
最終端子仕上げの適用後に、品質保証プログラム計画書の DPA マニュアルに従って実
施する。DPA マニュアルには、EIA-469 に規定された方法、又はコンデンサが EIA-469
- M-14 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
の要求を満足していることを確認できる方法が含まれていなければならない。試料数は表
M-14 による。
表 M-14 DPA の試料数
ロットの大きさ
最小試料数
許容不良数
1 -
500
05
0
501 -
10,000
10
0
10,001 -
35,000
25
0
M.4.4.7 電気的性能
コンデンサの電気的性能に関する試験は、次の方法による。
M.4.4.7.1 静電容量
MIL-STD-202 の方法 305 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 公称静電容量が 10μF 以下のコンデンサ
1) 試験周波数：1.0kHz±100Hz
2) 測定電圧
定格電圧が 3.15V 以下の場合：0.5Vrms±0.1Vrms
定格電圧が 3.15V を超える場合：1.0Vrms±0.2Vrms
b) 公称静電容量が 10μF を超えるコンデンサ
1) 試験周波数：120Hz±24Hz
2) 測定電圧：0.5Vrms±0.1Vrms
M.4.4.7.2 誘電正接（tanδ）
M.4.4.7.1 項に規定された周波数及び電圧で、ブリッジか他の適切な装置を用いて試験
する。測定精度は、誘電正接（tanδ）の要求値に対して十分なものでなければならない。
また、測定装置とコンデンサの接続による誤差を最小にするために、適切な測定方法を用
いなければならない。
M.4.4.7.3 耐電圧
MIL-STD-202 の方法 301 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験電圧：直流定格電圧の 250%
b) 印加時間
5 秒±1 秒とする。0V から規定電圧までの到達時間は 1 秒以内でなければならな
い。
c) 印加点：コンデンサ素子の両端子間
d) 充放電電流：50mA 以下
- M-15 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
e) 試験後の検査
損傷及び絶縁破壊の形跡を調べる。
M.4.4.7.4 絶縁抵抗
MIL-STD-202 の方法 302 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件
1) 試験電圧：定格電圧
2) 充放電電流：50mA 以下
3) 充電時間：120+10
0秒
b) 測定点：端子間
c) 特別な条件
50%を超える相対湿度で判定に疑義が生じた場合は、50%以下の相対湿度で再度
測定してもよい。
M.4.4.7.5 電圧－温度特性
a) 認定試験の場合
温度を表 M-15 に規定されているとおりに変える。静電容量を M.4.4.7.1 項に規定
された周波数及び電圧で測定する。電圧が安定し、静電容量の測定が終わるまで、
直流定格電圧を段階 E から段階 G までコンデンサに印加する。
静電容量の測定は、表 M-15 に規定された各段階で行う。特性曲線を設定するた
めには、段階 B と段階 G の間を補完できる十分な測定点をもたなければならない。
各温度での静電容量の測定は、コンデンサが熱平衡に達した後に行う。
b) 品質確認試験の場合
静電容量を M.4.4.7.1 項に規定されたとおりに測定する。ただし、表 M-15 の段階
C、D、E 及び G についてのみ行う。その他は、a)に規定されたとおりとする。
表 M-15 電圧－温度サイクル
段階記号
印加電圧
温度(℃)
A
なし
+25 ±2
なし
-55 ±2
C ()
なし
+25 ±2
D
なし
+125 ±2
E
定格電圧
+125 ±2
F
定格電圧
+25 ±2
G
定格電圧
-55 ±2
B
1
注(1) 基準値とする。
- M-16 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
M.4.4.8 機械的性能
コンデンサの機械的性能に関する試験は、次の方法による。
M.4.4.8.1 固着性（せん断強度）
JIS Z 3198-7 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
M.4.4.3 項による。
b) せん断ジグ移動速度：30mm/min±6mm/min
c) 測定及び記録
破断したときの最大せん断荷重を測定する。また、10 倍以上の拡大鏡を用いて破
断面の状態を観察し、表 M-16 の中から該当する破壊モードを記録する。
表 M-16 破壊モード
記
号
破壊モード
A
セラミックの破断
B
セラミックと端子電極の分離
C
はんだの破壊
D
はんだ接合界面（部品側及び基板側）の剥離
E
試験用基板のランドのめくれ
F
その他
M.4.4.8.2 耐プリント板曲げ性
JIS C 5101-1 の 4.35 項によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
M.4.4.3 項による。ただし、プリント配線板の材質は、1.6mm±0.2mm の厚さのガ
ラス布基材エポキシ樹脂のプリント配線板用銅張積層板とし、試験及び測定に対し
て影響を与えないものとする。
b) 試験前の測定
静電容量を M.4.4.7.1 項に規定されたとおりに測定し記録する。
c) たわみ量：1mm
d) 保持時間：5 秒±1 秒
e) 試験中の測定
試験用プリント配線板を曲げた状態で、静電容量を M.4.4.7.1 項に規定されたと
おりに測定し記録する。
f) 試験後の検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、クラック、その他の損傷の形跡がないか調
べる。
- M-17 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
M.4.4.8.3 はんだ付け性
MIL-STD-202 の方法 208 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験する端子の数：すべて
b) はんだの温度：230℃±5℃
c) 浸せき時間：5 秒±0.5 秒
d) 浸せき深さ
各端子を 0.50+0.25
0 mm の深さまで溶融したはんだに浸せきする。
e) 試験後の検査
10 倍の拡大鏡を用いて M.3.9.3 項の要求を満足しているか調べる。疑義が生じた
ときは、ピンホールや粗い点が何%覆っているかを全面積に対する相対比較により、
これらの面積を実際測定し決定する。
M.4.4.8.4 はんだ耐熱性
MIL-STD-202 の方法 210 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
M.4.4.3 項による。
b) 試験条件：B
c) 試験後から測定までの冷却時間：最低 10 分以上、最大 24 時間以内
d) 試験前の測定
静電容量、誘電正接（tanδ）及び+25℃における絶縁抵抗をそれぞれ M.4.4.7.1
項、M.4.4.7.2 項及び M.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定し記録する。
e) 試験後の検査及び測定
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、M.3.9.4 項 a)の要求を満足しているか調べ
る。また、静電容量、誘電正接（tanδ）及び+25℃における絶縁抵抗をそれぞれ
M.4.4.7.1 項、M.4.4.7.2 項及び M.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定し記録する。
M.4.4.9 環境的性能
コンデンサの環境的性能に関する試験は、次の方法による。
M.4.4.9.1 ランダム振動
MIL-STD-202 の方法 214 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
M.4.4.3 項による。
b) 電気的負荷条件
定格電圧の 125%をコンデンサの端子間に印加する。
c) 試験条件：Ⅱ-K
周波数範囲
………… 50Hz～2,000Hz
全実効加速度 ………… 528m/s2 rms
d) 振動の方向と時間：3 つの互いに直角な方向について、各方向約 3 分間（計 9 分間）
- M-18 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
e) 試験中の測定
0.1ms 以上の断続的接触、開放及び短絡の有無を電気的にモニタする。
f) 試験後の検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、絶縁破壊、アーク及び機械的損傷の形跡が
ないか調べる。
M.4.4.9.2 衝撃
MIL-STD-202 の方法 213 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
M.4.4.3 項による。
b) 試験条件：F
加速度の最大値 ……………… 14.71km/s2
標準持続時間 ………………… 0.5ms
波形 …………………………… 半波正弦波
速度変化 ……………………… 4.69m/s
c) 試験中の測定
0.1ms 以上の断続的接触、開放及び短絡の有無を電気的にモニタする。
d) 試験後の検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、機械的損傷の形跡がないか調べる。
M.4.4.9.3 熱衝撃（Ⅰ）
MIL-STD-202 の方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
M.4.4.3 項による。
b) 試験条件：A ただし、段階 1 は-30-30℃、段階 3 は+100+3
0 ℃とする。
c) サイクル数：1,000 サイクル
d) 測定及び検査
試験前、50±10、100±10、250±20、500±20 及び 1,000+10
0 サイクルにおいて、次
の電気的測定及び外観検査を行う。
1) 電気的測定
耐電圧、+25℃における絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接（tanδ）をそれぞ
れ M.4.4.7.3 項、M.4.4.7.4 項、M.4.4.7.1 項及び M.4.4.7.2 項に規定されたとお
りに測定する。
2) 外観検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、機械的損傷の形跡がないか調べる。
M.4.4.9.4 熱衝撃及び電圧エージング
M.4.4.9.4.1 熱衝撃
MIL-STD-202 の方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：A ただし、段階 3 は+125+4
0 ℃とする。
- M-19 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
b) サイクル数
1) 認定試験：100 サイクル
2) グループ A 試験：20 サイクル
3) グループ B 試験：100 サイクル
M.4.4.9.4.2 電圧エージング
M.4.4.9.4.1 項に規定された熱衝撃試験の終了後に、次の条件で試験する。試験期間
中、試験電圧の少なくとも 95%が保持されていることを保証するために、図 M-4 に示
す回路を用いなければならない。ヒューズが切れた場合、又は規定電圧が 95%を下回っ
た場合は、不合格とする。
a) 温度：+125+4
0℃
b) 印加電圧：定格電圧の 150%±5%
c) 印加時間
168 時間以上とする。0V から規定電圧までの到達時間は、2 分以内でなければ
ならない。
d) 試験後の検査及び測定
試験の終了時点で、試験温度にコンデンサが保たれている間に絶縁抵抗を
M.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定する。この際、絶縁抵抗を測定する目的で、
試料を同じ温度で維持されている他の槽に移し換えてもよい。ただし、移し換え
の時間は 15 分を超えてはならない。試料が試験温度で安定した後でない限り、
絶縁抵抗の測定を行ってはならない。それから、コンデンサを M.4.4.1 項に規定
された標準状態に戻して 10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、機械的損傷の形
跡がないか調べる。また、耐電圧、絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接（tanδ）を
それぞれ M.4.4.7.3 項、M.4.4.7.4 項、M.4.4.7.1 項及び M.4.4.7.2 項に規定された
とおりに測定する。
- M-20 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
2
電流制限素子( )
4
()
1
電源( )
V
3
電圧計( )
5
()
注(1)
電源は、最小 30mA の漏れ電流においてコンデンサの定格電圧の最低 2 倍の
電圧を供給できる能力を持っていること。
2
()
電流制限素子は抵抗器及び／又はヒューズとし、電流を 30mA 以上 10A 以下
に制限すること。
3
()
電圧計は、印加電圧が規定電圧の 95%未満になった場合に、警報を発し試験
を中止することができるものとする。
4
()
業者の選択により、ヒューズ又は抵抗器を使用してもよい。ヒューズ又は抵抗
器を使用した場合であっても、コンデンサには規定された試験電圧が印加され
なければならない。
5
()
一つの回路で試験するコンデンサの数は 10 個以上とする。
図 M-4 電圧エージングの試験回路
M.4.4.9.5 熱衝撃及び浸せきサイクル
M.4.4.9.5.1 熱衝撃
MIL-STD-202 の方法 107 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
M.4.4.3 項による。ただし、はんだフィレットの高さは、コンデンサの厚さ（T）
（表 M-2 参照）の 1/7～1/4 とする。
b) 試験条件：A ただし、段階 3 は+125+4
0 ℃とする。
c) サイクル数：250 サイクル
M.4.4.9.5.2 浸せきサイクル
MIL-STD-202 の方法 104 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 試験条件：B（2 サイクル）
b) 最終サイクル後の測定及び検査
最終サイクルで浸せき槽から取り出したのち、表面に付着した水滴を拭い、常
温の空気を吹きつけた後、30 分後に次の電気的測定及び外観検査を始める。
- M-21 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
1) 電気的測定
耐電圧、+25℃における絶縁抵抗、静電容量及び誘電正接（tanδ）をそれ
ぞれ M.4.4.7.3 項、M.4.4.7.4 項、M.4.4.7.1 項及び M.4.4.7.2 項に規定された
とおりに測定する。
2) 外観検査
10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査し、機械的損傷の形跡がないか調べる。
M.4.4.9.6 耐湿性
MIL-STD-202 の方法 106 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 初期測定
M.4.4.7.1 項によって静電容量を測定する。
b) サイクル数：連続 20 サイクル
c) 試験
最初の 10 サイクルの間だけ、直流 50V 又は定格電圧のうち、いずれか小さい方
の電圧をコンデンサ端子の両端に印加する。1 日に 1 回、コンデンサが短絡してい
ないか確認しなければならない。段階 7b の振動サイクルは行わない。
d) 最終測定及び検査
最終サイクルの段階 6 の終了後、コンデンサを 25℃±5℃、30%RH～60%RH の
環境に最小 18 時間、最大 24 時間放置した後、10 倍の拡大鏡を用いて外観を検査
し、機械的損傷の形跡を調べる。それから、静電容量、耐電圧及び+25℃における
絶縁抵抗をそれぞれ M.4.4.7.1 項、M.4.4.7.3 項及び M.4.4.7.4 項に規定されたとお
りに測定する。
M.4.4.9.7 低電圧耐湿負荷
MIL-STD-202 の方法 103、条件 A によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
なお、試験中のいかなるときも、コンデンサに印加する電圧は 1.5V を超えてはならな
い。
a) 取付方法
M.4.4.3 項による。
b) 初期測定
M.4.4.7.1 項によって静電容量を測定する。
c) 試験
コンデンサを+85℃、85%RH の環境に最低 240 時間曝さなければならない。サイ
クルは行わない。試験中は、100kΩ の抵抗を通じて各コンデンサに連続的に 1.3+0.20
-0.25
V の直流電圧を印加しなければならない。
d) 最終測定
試験終了後、コンデンサを試験槽から取り出し、+25℃で 210 分±30 分間乾燥さ
せ安定させる。その後、絶縁抵抗を 100kΩ の抵抗器を通じて 1.3+0.20
-0.25 V の条件で
- M-22 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
M.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定した後、静電容量を M.4.4.7.1 項に規定され
たとおりに測定する。
e) 外観検査
最終測定の後、10 倍の拡大鏡を用いて機械的損傷の形跡を調べる。
M.4.4.9.8 減圧
MIL-STD-202 の方法 105 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 取付方法
M.4.4.3 項による。
なお、判定に疑義を生じなければ、他の適切な方法で取り付けてもよい。
b) 試験条件：D（1.1kPa）
c) 試験電圧：定格電圧の 150%
d) 試験時間：5 秒±1 秒
e) 充放電電流：50mA 以下
f) 試験後の検査
損傷、アーク、開放及び短絡の形跡がないか調べる。
M.4.4.10 耐久的性能
コンデンサの耐久的性能に関する試験は、次の方法による。
M.4.4.10.1 寿命
MIL-STD-202 の方法 108 によって試験する。ただし、次の条件を適用する。
a) 供試体から温度測定位置までの距離：適用しない。
b) 試験温度：+125+4
0℃
c) M.4.4.9.4.2 項に規定された電圧及び回路を用いる。ヒューズの故障が発生したとき
は、M.4.4.9.4.2 項に規定された判定を適用する。
d) 充放電電流：50mA 以下
e) 電圧印加時間
1) 認定試験：4,000+72
0 時間
2) グループ B 試験：1,000+48
0 時間
f) 試験中及び試験後の測定
250 時間、1,000 時間、2,000 時間及び 4,000 時間の終了時点で、試験温度にコン
デンサが保たれている間に絶縁抵抗を M.4.4.7.4 項に規定されたとおりに測定する。
この際、絶縁抵抗を測定する目的で、試料を同じ温度で維持されている他の槽に移
し換えてもよい。ただし、移し換えの時間は 15 分を超えてはならない。試料が試
験温度で安定した後でない限り、絶縁抵抗の測定を行ってはならない。それから、
コンデンサを M.4.4.1 項に規定された標準状態に戻して 10 倍の拡大鏡を用いて外観
を検査し、機械的損傷の形跡を調べる。また、静電容量、誘電正接（tanδ）及び絶
- M-23 -
JAXA-QTS-2040D
平成 24 年 5 月 7 日制定
縁抵抗をそれぞれ M.4.4.7.1 項、M.4.4.7.2 項及び M.4.4.7.4 項に規定されたとおり
に測定する。
M.4.5 長期保管
4.7.1 項によって長期保管されたコンデンサは、次の検査を全数行わなければならない。
a) 静電容量（M.3.8.1 項）
b) 誘電正接（tanδ）（M.3.8.2 項）
c) 絶縁抵抗（M.3.8.4 項）
d) 耐電圧（M.3.8.3 項）
また、はんだ付け性及びはんだ耐熱性について、端子の仕上げごとに表 M-11 に従って抜取
検査を実施しなければならない。
再検査の日付を包装又は保管箱に表示しなければならない。
なお、はんだ付け性又ははんだ耐熱性の検査で不合格と判定したロットは、出荷してはなら
ない。
M.4.6 試験及び検査の変更
試験及び検査の変更は、4.8 項による。
M.5. 引渡しの準備
引渡しの準備は、5 項による。
M.6. 注意事項
注意事項は、6 項による。
- M-24 -

はじめに及び第1章（PDF：812.1KB）

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