STIL - It works!(www.tosmec-web.toshiba.co.jp)

2008.09
TM
STILDirector のご紹介資料
東芝マイクロエレクトロニクス
テスト環境技術開発部
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2008.09
目次
1.STILとは
標準化状況、STIL利用のメリット、
STILベースのテスト開発環境
2.STILDirectorTMの構成、機能
3.STILDirectorTMの利用環境
付録:東芝におけるSTILへの移行事例
STILDirectorTM(補足説明)
STILBuilderTMのご紹介
STILPlannerTM 及びテスタI/Fのご紹介
STIL習得システムのご紹介(STIL eラーニング)
故障解析インターフェースのご紹介
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2008.09
1. STILとは
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2008.09
STILとは?
Standard Test Interface Language
„ 1999年にIEEE でStd 1450.0 として標準化されたテストデータ
の記述言語で名称は「スタイル」(現在も機能拡張中)
„ STILは半導体テストのための、設計,シミュレーション,ATEテスト,
故障解析の全ての環境において共通なテストデータの記述言語とし
て利用可能
IEEE STIL標準化委員会の活動状況
1450.0 TestPattern Specification (99/3に標準化)
1450.1 Semiconductor Design Environment (05/6に標準化)
1450.2 DC Level Specification (02/12に標準化)
1450.3 Target Tester Specification (07/9に標準化)
P.4 Test Flow Specification 2008年投票予定
P.5 Test Method Specification P.4 標準化後活動予定
1450.6 Core Test Language Support (05/11に標準化)
P.7 Analog and Mixed signal Specification 活動開始
P.8 Design Information 活動準備中
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標準化状況
STILに含まれるテスト情報
STILに含まれるテスト情報
1450.0-1999 (テストパターン):Test Pattern Specification
信号記述、タイミング記述、パターン記述、スキャン情報記述など
テストプログラム
のパターン情報
1450.1-2005 (設計環境):Semiconductor Design Environment
より高度なDFT設計に対応した記述。BIST設計、組み込みコアのためのループ
およびベクタ内の整数式、およびパターンステートメントでのIf/While記述、
Scan構成の拡張として階層スキャンチェーンの定義など
テスト設計への
パターン記述の
拡張情報
1450.2-2002 (DCレベル):DC Level Specification
電圧値および電流値の設定、パワーシーケンスを指定するための記述
1450.3-2007(テスター制約):Target Tester Specification
テスターの制約記述(テスターの精度や、最大信号数、ベクタメモリなど)
‘08年投票
予定
P1450.4(テストフロー):Test Flow Specification
テストシーケンス個々のテストに対するパラメータ、テスト手法定義のためのフ
レーム等の記述
P.4標準化後
活動予定
P1450.5(テストメソッド): Test Method Specification
テスト実行記述(測定アルゴリズム、デバッグオプション、スループット最適化オ
プション、データログオプション等の定義記述など)
1450.6-2005 (コアテスト):Core Test Language Support
コアインスタンス記述、信号記述、スキャン記述、パターン記述、故障検出情報
記述など
テストプログラム
のテスター制御
情報
IPテストパター
ンの制御およ
び利用情報
※ 1450.6.1/.6.2/.7/.8の標準化WGの組織化など活動開始
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STILを用いることのメリット
独自言語利用における問題点
独自言語利用における問題点
„„ 利用の限界があり、十分なテスター機能の利用には常に言語拡
利用の限界があり、十分なテスター機能の利用には常に言語拡
張と機能の拡充が必要
張と機能の拡充が必要
„„ EDAベンダー,ATEベンダー,セミコンメーカー及びお客様とのイン
EDAベンダー,ATEベンダー,セミコンメーカー及びお客様とのイン
ターフェース(I/F)には言語の習得が必要
ターフェース(I/F)には言語の習得が必要
STILの利用によるメリット
STILの利用によるメリット
„ 共通言語としての
会話が可能
„ テスト環境の共通利
用が可能
„ SoCユーザーのテス
トI/Fの負担が軽減
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STILインターフェースのテスト環境構築の目的
„ 設計ツール、装置間でのデータ変換作業を無くす。
„ 共通テスト言語の利用により開発TATを短縮する。
各社/各工程間でSTILをインターフェースとして共通利用。
STILインターフェースのテスト環境
テスト設計
設計検証
0
1
1
スキャン設計
テスト生成
L
シミュレータ
テスト
故障解析
テスタ
故障解析ツール
101010
111111
010000
テストパターン生成
テストプログラム生成
STIL
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STILインターフェースのテスト開発環境
システム設計 > 検証 > レイアウト > マスク作成 > 試作 > 評価 > 量産
テスト設計
設計検証
0
1
1
スキャン設計
テスト生成
L
シミュレータ
BIST設計
テスト
故障解析
テスタ
故障解析ツール
101010
111111
010000
テストパターン生成
テストプログラム生成
STIL
(STILをベースとしたテスト環境構築により)
・テスト関係のデータを全てSTILでハンドリング。
⇒ 各フェーズでのデータ変換/修正作業が不要となる。
開発TAT 1/2
*当社モチーフ
製品による
・TRC(Tester Restriction Checker)により、問題データは流さないし、受け取らない仕組み。
⇒イタレーションを防止。
・テスト情報(テストプログラム/パターン)をSTILで持つことにより、テスト資産の再利用が容易。
・STILをサポートする最適なツール/テスト装置の導入が可能。
⇒コストパフォーマンスの高いツール/装置の速やかな利用。
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2008.09
STILインターフェースのテスト開発フロー
NET
STIL
テストパターン
(手作成STIL、IP
としてのSTIL)
ATPG
STIL1450.3(TRC)
STIL
設計検証
STIL
テストパターン
From Design
ピン情報
STIL
STIL
テストパターン
STIL1450.3(TRC)
ボード結線情報
テストスペック
テスター変換
(メイン、パターン)
テストフロー
STIL1450
.3/.4/.5標準化前
テスト
プログラム
テスター
パターン
テスター
制御情報
STIL1450.2
STIL P1450.4
テストメソッドなど STIL P1450.5
STIL1450
.3/.4/.5標準化後
STIL
テストプログラム
従来型テスター or 新規STIL Drivenテスター
※STARC資料より抜粋
STIL
テスタ-制御情報ファイル
(STIL記述へ拡張中)
その他のファイル
故障診断
STIL
STIL1450.1
(フェイル情報)
ツール/装置
(最適なものを選択可能)
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STILインターフェースのテスト環境の構築
06
07上
07下
08上
08下
◆STIL標準化状況
09下
10上
10下
▼標準化承認(見込含む)
▲標準化公表(見込含む)
標準化済み(1999年)
標準化済み(2005年)
標準化済み(2002年)
標準化済み(2007年)
1450.0 テストパターン記述
1450.1 設計環境記述
1450.2 DCレベル記述
1450.3 テスタ-制約記述
09上
標準化
1450.4 テストフロー記述(推定)
標準化
1450.5 テストメソッド記述(想定)
標準化済み(2005年)
1450.6 コアテスト記述(CTL)
1450.7 アナログミックスドシグナル記述
1450.8 設計情報記述(DelayTestなど)
組織化など活動開始
◆東芝の動き
STILDirectorの販売開始
STIL言語のeラーニング
(2002/下~)
(2003/上~)
◆STARC
STILテスト推進委員会の活動状況
STIL活用ガイド
(2005年度より活動開始)
STIL活用ガイド
Rev1.0(日英)発行 Rev2.0(日英)発
①STIL活用ガイドの作成
②STILテストプログラム化の推進
③STILデータの互換性の確保
テスター制御情報の整理
あすか2 ΦⅠ
1450.5
1450.4
1450.7&8
STIL活用枠組みの整備
STILテスト開発フローの構築、整備
あすか2 ΦⅡ
◆STC STIL WG Japanの活動状況
STC STIL WG Japan 活動
①STC STIL WG をリスタート
②STIL活用のコンセンサス形成
③STIL標準化とSTILサポートの促進
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2.
TM
STILDirector
の構成、機能
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STILDirectorTMとは?
東芝デザインキットの一部を切り出した
汎用のSTIL対応のプラグインシステムです
東芝デザインキット
シミュレーター
STIL
STILDirectorTM
テスター
STILベースのテスト環境が
早く安く確実に構築できます
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STILDirectorTMのプラグイン例
東芝設計環境用
インターフェース
+
STILDirectorTM
東芝STIL DK
お客様の
設計環境用
インターフェース
+
STILDirectorTM
お客様STIL DK
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2008.09
STIL環境を
早く、安く、確実
に構築!
STILDirectorTMのプラグイン
●用途に合わせたプラグインが可能。
●プログラム毎に実行コマンドを準備し、組み込み可能。
●STILデータベースのアクセスインターフェースを用い
て、お客様の環境に合わせたカスタマイズが可能。
STILDirectorTM
STILDirectorTM
STILインターフェース
のテスト環境の構築に
STILDirectorTMを標
準プラグインシステム
として利用可能
STILDirectorTM
お客様システム
テスターインターフェースとして
STILDirectorTM
お客様システム
お客様システム
STILインターフェースとして
シミュレーターインターフェースとして
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2008.09
システムソリューション
STILインターフェースの
テスト環境
S T I L を 共 通 言 語 と し た 環 境 構 築 に よ り
設 計 ~ テ ス ト 、 解 析 ま で の 開 発 T A T を 短 縮 !
テスト設計
設計検証
0
1
1
テスト生成
L
シミュレータ
テスト
故障解析
テスタ
故障解析ツール
101010
111111
010000
テストパターン生成
お客様システム
テストプログラム生成
STILパーサー
シミュレータ
入力データ作成
テストプログラム
生成
STILジェネレー
ター
DC測定
アドレス抽出
ピンマルチ/パ
ターンマルチ変換
テスタ
ルールチェック
結果解析・
サイクライズ
インクルードファイ
ル抽出
テスタ/逆テスタ
インターフェース
パターンビット
並び替え
故障Sim/故障解析
インターフェース
マスク編集
アクセス
インターフェース
STILDirectorTM
STIL(スタイル)データ
テストパターン
展開
テストデータ記述
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STILDirectorTMの構成
STIL対応のオープンプラグインシステム!
STILDirectorTM
基本パッケージ
STILデータの編集
お客様のデータ
・テスト生成ツール
・ファンクションベクタ
・IPテストベクタ
パターンビット
並び替え
テストパターン
展開
ピンマルチ/パター
ンマルチ変換
STIL
パーサー
STIL
ジェネレータ
テスタの制約検査
インクルード
ファイル抽出
シミュレータとのI/F
STILデータとのI/F
STIL
マスク編集
シミュレータ
入力データ作成
STIL
DataBase
テスタ
ルールチェック
入力データ
結果解析・
サイクライズ
シミュレータ
DC測定
アドレス抽出
出力結果
拡張パッケージ
STIL対応モデル
お客様のシステム とのI/F
(オプション)
アクセス
インタフェース
テスタと のI/F
(オプション)
テスタ/逆テスタ
インタフェース
故障シミュレ ータとのI/F
(オプション)
入力データ
故障シミュレータ
インタフェース
STILデータのご利用に!
お客様の
システム
テスタ
LSI
故障シミュレータ
テストプログラムと設計データ
との情物一致が実現
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STILDirectorTMの特長
1.STILデータとのインターフェース
■STILデータの読み込み及び出力ができます
■STILの言語仕様上の違反をチェックできます
2.シミュレーターとのインターフェース
■各種シミュレーターの入力を生成できます
■各種シミュレーターの結果ファイルを入力できます
■シミュレーション結果を解析することができます
■シミュレーション結果から期待値を自動抽出しSTILファイルを作成できます
■DC測定アドレスを自動的に抽出します
3.テスターとのインターフェース
■テスターで使用できるパターン記述であるかを、テスター実行前にチェックできます
■シミュレーション結果をサイクライズできます
4.お客様システムとのインターフェース
■利用者の環境へプラグインできるオープンシステム構成となっています
■データベースのアクセスインターフェースにより、カスタマイズサービスを提供で
きます。
5.その他
■STILDirectorTMはエンジニアリングワークステーション、PC上で動作します
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STILDirectorTMの利用環境
◆プラットフォーム
EWS(SPARC/UltraSPARC) Sun Solaris 8、9、10(32bit/64bit)
PC(Intel x86)
Windows2000、XP (32bit)
PC(AMD Opteron) RedHat Enterprise Linux v.3(32bit/64bit)
RedHat Enterprise Linux v.4(64bit)
SuSELinux Enterprise 10 (64bit)
*下記のプラットフォームは、2007.08までのサポートです。2008Aからはサポート致 しておりま
せん。
EWS(SPARC/UltraSPARC) Sun Solaris 7(32bit/64bit)
◆サポートシミュレーター
Verilog-XL
NC-Verilog
ModelSim
VCS
NC-VHDL
NC-SIM
V5.6, V5.7, V5.83
V5.7, V5.83, V6.1
V6.1, V6.2a, V6.3
V7.2,V2005.06、V2006.06
V5.5, V5.6, V5.7
V5.5, V5.6, V5.7
※各ベンダーのシミュレーターとプラットフォームの組み合わせについては基本的に各ベンダーが公開しているサポート情報に準じます。
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ATPGとのインターフェース
次のATPGツールで出力したSTILを扱えます
*注)ATPGツールのバージョン、オプションによっては、出力したSTILを扱えない場合もございます。
Synopsys社
TetraMAX
STIL
Mentor社
FastScan
STIL
Cadence社
EncounterTest
ATPG
Work-Around
STIL
STILパーサー
(S2T)
STILDirectorTM
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故障シミュレータとのインターフェース
次の故障シミュレーターとのインタフェースが可能です
-Cadence VeriFault
-Syntest TurboFault
-Synopsys TetraMAX IDDq
テスターとのインターフェース
次のテスター用テストパターンが出力できます
-ADVANTEST(T33xx、T6xxx)
※2009AバージョンよりT2000をサポート予定。
STILDirectorTMでサポートしていないテスターについては、
アクセスインターフェースを用いて容易に開発ができます。
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3.
TM
STILDirector
の利用環境
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STILDirectorTMの販売形態
■ STILDirectorTMタイムライセンス販売 (1年間、メンテナンス付)
● 基本パッケージ (プラットフォームフリー)
STILパーサー/STILジェネレーター/シミュレーター入力作成
結果解析・サイクライズ/DCアドレス抽出/テスタールールチェック/STILデータ編集
● 拡張パッケージ
1.STILデータベースアクセスインターフェース
(プラットフォームフリー)
2.テスターインターフェース
(プラットフォーム限定)
3.故障シミュレーターインターフェース
(プラットフォーム限定)
● STIL対応モデルパッケージ
(プラットフォーム限定)
● STILPlannerTM 基本パッケージ
(プラットフォーム限定)
● テストジュネレータ(テストプログラム生成)
(プラットフォーム限定)
■ カスタマイズサービス
● コンサルテーション~インプリメンテーション、運用
■ その他サービス
● トレーニング
● e-ラーニング
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2008.09
STILDirectorTMの販売パッケージ構成
STILデータの編集
お客様のデータ
・テスト生成ツール
・ファンクションベクター
・IPテストベクター
パターンビット
並び替え
テストパターン
展開
ピンマルチ/パターンマ
ルチ変換
シミュレータとのI/F
STILデータとのI/F
STIL
パーサー
STIL
STIL
ジェネレータ
インクルード
ファイル抽出
マスク編集
① STILDirector TM
基本Pkg
STIL
DataBase
シミュレータ
入力データ作成
入力データ
結果解析・
サイクライズ
シミュレータ
DC測定
出力結果
テスタの制約検査
⑤ STILDirectorTM
テスタ
ルールチェック
アドレス抽出
STIL 対応
モデル Pkg
STILDirector
拡張Pkg
② Tester I/F
お客様のシステム とのI/F
(オプション)
アクセス
インターフェース
テスターとの I/F
(オプション)
テスター/逆テスター
インターフェース
故障シミュレ ータ/故障解析
ツールとのI/F (オプション)
故障Sim/故障解析
インターフェース
テスタ制御情報API生成
お客様の
システム
テスタ制御情報生成
テスター
(各社テスター情報出力)
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入力データ
故障シミュレータ/
故障解析ツール
③ STIL Planner 基
本Pkg
④ Test
Generator
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STILDirectorTM テストプログラム生成用セットモデル
(3)テストプログラム生成パッケージ
(2)テストプログラム生成基本部
STILからテストプログラム生成まで行い
たいお客様に!
(1)テストパターン生成パッケージ
STIL
①STILDirector TM
基本Pkg
・STILデータからシミュレーション入力データを生成
・シミュレーション出力結果からSTILデータを生成
②Tester I/F
・DC測定アドレスの抽出
③STILPlannerTM
基本Pkg
・パターン編集機能
・テスタ用テストパターンを生成
・APIでテストプログラム生成システムへインターフェース
④Test
Generator
API
横河
TS6000
・テストプログラム or テストメーカーのテストプログラム
生成システムへの入力データ作成
Sim Bench
STIL
XTF
Test Pattern
AGEX
Test Program
Tester
TS6000
Templ
ate
SIF
ADVAN
T6XXX
ADVAN
T33XX
Templ
ate
Siteseer
Test Program
Test Program
T6XXX
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T33XX
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2008.09
STILDirectorTM STIL対応モデル
タイプⅠ~Ⅳ
STILデータの読み込み、書き込みが容
易に行えます。
ソフトウェア構成
タイプ I
STILパーサー
テスタルールチェック
コメント
アクセスインターフェース
(Read)
テスタのSTIL対応等で利用。
STILデータを顧客システム用データ
に変換する場合に利用。
※ STILデータから読み込むアプリケーションの開発/運用 専用です。
タイプ II
STILジェネレータ
テスタルールチェック
アクセスインターフェース
(Write)
※ STILデータへ書き出すアプリケーションの開発/運用 専用です。
タイプ III
STILパーサー
テスタルールチェック
アクセスインターフェース
(Read)
STILジェネレータ
テスタルールチェック
アクセスインターフェース
(Write)
テスタでのチューニング結果をSTIL
データに変換する場合に利用。
顧客システム内のデータをSTILに
変換する場合に利用。
タイプ I と タイプIIを合わせたモデル
アクセスインターフェースのReadと
Writeのそれぞれで作成したアプリ
ケーションは同時実行できるが、
1つのアプリケーションでReadと
Writeの両動作をさせる事はでき
ない。
※ アクセスI/FのReadとWriteを同時に使用する事はできません。
タイプ IV
STILパーサー
テスタルールチェック
STILジェネレータ
アクセスインターフェース
(Read/Write)
アクセスインターフェースは拡張パッケージの
ものと同じ。
顧客システムのSTIL対応等で
利用。
※ アクセスI/FはReadとWriteを同時に行う事ができます。
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STILDirectorTMの提供サービス
■アップデートバージョン提供(ライセンス期間内無償)
- メジャーリリース
2回/年
- マイナーリリース
適宜
■カスタマイズサービスの請負(有償)
- お客様の環境へSTILDirectorをプラグインするための開発を請け負います。
・アクセスインターフェースを使用した個別のアプリケーションの開発を請け負い
ます。
■カスタマイズサービスご提供例
・STILデータから各社専用テストデータへの変換アプリケーション開発
・STILデータから各社テスタ環境のテストプログラムへの変換アプリケーション開発
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2008.09
STILDirectorTMの提供サービス
■弊社販売代理店:販売は代理店経由にて行っております。
1、緑屋電気株式会社(技術サポートは当社が実施)
○連絡先
TEL:03-3561-4556
E-Mail:[email protected]
担当:中村
○会社概要
社名 緑屋電気株式会社
本社所在地 〒104-8307 東京都中央区京橋2-7-19(守随ビル)
取締役社長 黒羽 誠
設立 昭和21年11月1日(1946年)
資本金3億2,100万円
*会社概要は緑屋電気殿Webサイトより抜粋(2008年6月現在)
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2008.09
STILDirectorTMの提供サービス
■弊社販売代理店:販売は代理店経由にて行っております。
2、ATEサービス株式会社(技術サポートはATEサービス殿が実施)
○連絡先
TEL:044-850-8714
E-Mail:[email protected]
担当:加藤
○会社概要
社名 ATEサービス株式会社
所在地 川崎市高津区久本3-5-7 新溝ノ口ビル3F
代表取締役社長 佐々裕一
設立 昭和58年2月1日
資本金 4,700万円
*会社概要はATEサービス殿Webサイトより抜粋(2008年6月現在)
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2008.09
STILDirectorTMの提供サービス
■製品サポートサービス
Webサポートシステムにより、STILDirectorTM について以下のサービスを
提供致します。
- 問い合わせ とその回答 (*)
- 製品情報のアップデート
- ダウンロード機能(アップデート情報、各種マニュアル) (*)
- 利用ノウハウなど
★ 迅速なサービスの提供
- お客様から連絡を頂いた後、ワーキングデーで24h以内に一時回答および
回避策/暫定策を連絡致します (*)
- お客様から連絡を頂いた後、ワーキングデーで2週間以内に抜本的な
Solutionの提供を目指しています(*)
(*)付き項目のサービスは、販売代理店が緑屋電気殿の場合、当社が行います。
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2008.09
STILDirectorTMの提供サービス
■サポート窓口
Web: http://www.tosmec-web.toshiba.co.jp/stildirector/
E-mail:[email protected]
TEL: 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社
テスト環境技術開発部 044-220-1052
STILDirectorサポート窓口 044-220-1052
受付時間 10:00~17:00 土・日・祝日・弊社休業日を除く
※弊社休業日についてはWebサイトをご確認下さい。
FAX: 044-220-1039
STILDirector Webサイト
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2008.09
付録
Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002-2008, All Rights Reserved.
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2008.09
東芝におけるSTIL移行事例
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2008.09
東芝におけるSTILへの移行事例
旧言語からのSTILへの変換ツールを準備
STIL
TSTL2
TSTL2
D.K.
TSTL2STIL
STIL
D.K.
STIL
Director
シミュレーター
テスター
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2008.09
東芝におけるSTILへの移行事例
2002年1月からSTILへ切り替え実施
’01
Oct
VSO
/VITA
LSO
STIL
V1.0
Nov
1.11xx
βRelease
(VSO1.11ベース)
’02
Dec
Jan
Feb
Mar
Apr
May
Jun
’03
Jul
Aug
Sep
Oct
1.12
Nov
Dec
1.13
Jan
Feb
Mar
Apr
May
Jun
1.14
Jul
Aug
Sep
1.XX
Oct
Nov
Dec
2.3
TSTL2 D.K.
STIL D.K.
TSTL2STIL
STIL
V1.1
βRelease
STIL D.K.
(VSO1.12ベース)
TSTL2STIL
STIL
V1.2
βRelease
(VSO113ベース)
STIL D.K.
TSTL2STIL
STIL
V2.0
STIL D.K.
βRelease
(VSO1.14ベース)
TSTL2STIL
STIL
V2.1
最初はTSTL2 D.K.とSTIL D.K.、および
TSTL2からSTILへの変換ツール
(TSTL2STIL)を一式としてD.K.を提供
STILへの移行状況をみてSTIL D.K.と
TSTL2STILのみのD.K.への切替えを実施
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2008.09
STILDirectorTM (補足説明)
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2008.09
STILDirectorTMを使用した全体フロー
システムシミュレーション
シミュレーショ
ン結果
タイミング情報
接続情報
テストデータ作成
SIM2STIL
RTLシミュレーション結果等から観測ポイントに対して
のテストパターン抽出→STILテストデータ
論理検証用入力パターン作成
STIL2SIM
STILテストデータから各種シミュレーター(論理検証)
用の入力データ作成
論理検証
シミュレーション実行
シミュレーション結果解析
SIM2STIL
シミュレーション期待値抽出
テスター用パターン変換
論理検証のためのシミュレーション結果からSTIL
テストデータの作成
STILDirectorTM
STIL
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2008.09
STILDirectorTMの全体構成およびフロー
STIL
STIL DK
Simulator I/F
(T2SIM,SIM2T)
シミュレーター
(論理検証)
基本パッケージ
STILジェネレーター
(T2S)
STILパーサー
(S2T)
②
①
STIL
DB
アクセス
インター
フェース
パターンビット並び替え ピンマルチ/パターンマルチ変換
(SCNV)
(STILMUX)
テストパターン展開 マスク編集
(PATEXP)
(PATCHG)
インクルードファイル抽出
ルールチェッカー
(STILDIV)
(TRC)
ルール記述
テスター I/F
故障シミュレーターI/F
拡張パッケージ
①STIL2SIM
②SIM2STIL
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2008.09
STILDirectorTMのコマンド
主要コマンド
①STIL2SIM
S2T,TRC,T2SIMの3コマンドで構成されます。
STILテストデータファイルの記述をチェックし、シミュレーション中に印加する入力信号に 変換
します。また、テスター制約チェックを行います。
②SIM2STIL
T2S,TRC,SIM2Tの3コマンドで構成されます。
シミュレーション中のI/Oピンの値の変化を期待値付きのSTILテストデータファイルに変換し
ます。結果解析・サイクライズおよびDC測定アドレスを抽出します。また、テスター制約チェック
を行います。
STILデータとのI/F
◆S2T STILテストデータファイルの記述をチェックし、STILデータベースファイルに変換します。
◆T2S STILデータベースファイルをSTIL形式のSTILテストデータファイルに変換します。
シミュレータとのI/F
◆T2SIM STILデータベースファイルからシミュレーター入力データファイルを作成します。
◆SIM2T シミュレーション結果ファイルをSTILデータベースファイルに変換します。
また、結果解析・サイクライズおよびDC測定アドレスを抽出します。
テスタ制約の検査
◆TRC テスター制約チェックを行います。
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2008.09
テスター対応を考慮した論理検証
実動作により近い形でシミュレーション検証が可能になる
(a)Delay付きNRZ波形の初期値指定(論理検証用入力パターン作成時)
テストパターンのロード
順により初期状態が
変わる。
テスト時の初期状態を考慮した
初期値をオプションで指定可能。
init=[X|0|1]
(b)I/Oピン 出力→入力切替直後のNRZ波形状態値指定(論理検証用入力パターン作成時)
出力モード
テスター機種により、
状態値が異なる。
入力モード
テスター機種に併せて切り替え直後の状態値を
指定可能。
setoi=prev_in …出力状態直前の入力
パターン値により値を決定
prev_out …出力期待値により値を決定
X …Delay区間をXとして実行
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2008.09
(c)ストローブマージンチェック(シミュレーション結果解析時)
出力波形のストローブ前後の安定領域をマップ表示する。
PIN_NAME:IO10
----**********************************************
STB_TIME = 30, 10
LEFT:8.000
(CYCLE_START_TIME:0.000)
22.000 + 60.000
RIGHT:100.000
(CYCLE_START_TIME:0.000)
(d)コンフリクト/フローティングチェック(シミュレーション結果解析時)
双方向ピンに対するコンフリクト/フローティングの発生領域をマップ表示する。
PIN_NAME:IO11
XXXXX--------------------------------------------+
LEFT:0.000
RIGHT:10.000
(CYCLE_START_TIME:0.000)
(CYCLE_START_TIME:0.000)
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2008.09
STILPlannerTM及びテスタI/Fのご紹介
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2008.09
STILDirectorTM/STILPlannerTM 構成
お客様のデータ
・テスト生成ツール
・ファンクションベクター
・IPテストベクター
パターンビット
並び替え
STILDirectorTM
STILデータの編集
テストパターン
展開
ピンマルチ/パターンマルチ
変換
マスク編集
インクルード
ファイル抽出
シミュレータとのI/F
STILデータとのI/F
STIL
パーサー
STIL
基本パッケージ
シミュレータ
入力データ作成
STIL
DataBase
STIL
ジェネレータ
テスタの制約検査
テスタ
ルールチェック
入力データ
シミュレータ
結果解析・
サイクライズ
DC測定
アドレス抽出
出力結果
拡張パッケージ
テストパターン
作成に利用
(デザインキット
として利用中)
お客様のシステム とのI/F
(オプション)
アクセス
インターフェース
テスターと のI/F
(オプション)
テスター/逆テスター
インターフェース
テンポラリデータ
お客様の
システム
テストプログラム
作成に利用
故障シミュレ ータ/故障解析
ツールとのI/F(オプション)
故障Sim/故障解析
インターフェース
テストパターン
STILPlannerTM
テスタとのI/F
テストプログラム
生成
入力データ
故障シミュレータ/
故障解析ツール
テストプログラム
テスター
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LSI
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2008.09
テスタ I/F 拡張パッケージとテストプログラム生成ツール
STILDirectorで作成されたSTILデータを入力としてLSIテスタ用テストパターン,テスト
プログラムを生成するツールです。
◇ テスタI/F拡張パッケージ
テスタ用テストパターンソースを生成します。
対象テスタ :(株)アドバンテスト社製
T6500/6600シリーズ
T33xxシリーズ
*TS6000シリーズに関しては、横河電機殿がテストパタ ーン生成ツール
(STIL-Converter/STIL-WRITE)を提供されております。
◇
対象プラットフォーム:Solaris 8/9、RedHat Enterprise Linux 3.0
◇ STILPlannerTM
テスタI/Fで生成したテストパターン情報等を利用して、テスタ用テストプログラムソー
スを生成します。(注意: T6500/6600シリーズはSIF、 TS6000シリーズはXTFを生成
します。)
対象テスタ :(株)アドバンテスト社製 T6500/6600シリーズ
T33xxシリーズ
横河電機(株)社製
TS6000シリーズ
◇
対象プラットフォーム:Solaris 8/9
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2008.09
テスタ用パターン,テストプログラム生成の処理フロー
STIL
テスタI/F
STILPlannerTM
STILパーサー処理
拡張
SDB
STIL
DataBase
ピン情報
ファイル
スペック情報
ファイル
テストオーダー
ファイル
テンプレート
Siteseer
@ ADVANTEST
テスタ用パターン出力処理
テスタ制御情報生成処理
テストプログラム
生成処理
SIF
テストパターン
パターン情報
テストプログラム
テ
ス
タ
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2008.09
STILBuilderTMのご紹介
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2008.09
STILBuilderTM
・STILを新規作成、編集、情報検索、記述チェックなどが出来るWindowsで動作す
るSTIL専用のエディタツール。 STIL1450.0、1450.2、1450.1(一部)に対応。
シミュレータ入力ファイル作成
シミュレータ入力ファイル作成
STIL文法チェック
STIL文法チェック
テスター制約チェック
テスター制約チェック
シミュレーション結果解析
シミュレーション結果解析
TM
STILBuilder
STILBuilderTM
STILDirectorとの
連動により可能
タビュラー表示・編集
タビュラー表示・編集
波形表示・編集
波形表示・編集
パターン編集
パターン編集
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TM"
""STILBuilder
STILBuilderTM
の特徴
"の特徴
TM
STILBuilder
STILBuilderTMは下記に示す様々な便利な機能を持っている。
は下記に示す様々な便利な機能を持っている。
„„波形表示・タビュラー形式でのパターン表示機能
波形表示・タビュラー形式でのパターン表示機能
„„指定時刻に対応するパターン検索、スキャン
F/Fに対応するパターン検索
指定時刻に対応するパターン検索、スキャンF/Fに対応するパターン検索
„„GZIP
ファイルのサポート機能
GZIPファイルのサポート機能
„„UNIX
上のSTILファイル編集のためのFTP機能
UNIX上のSTILファイル編集のためのFTP機能
„„パターンのマスク機能
パターンのマスク機能
„„タブ切替えによる複数の
STILファイルの編集機能
タブ切替えによる複数のSTILファイルの編集機能
„„STIL1450.0
およびSTIL1450.2に準拠したSTIL作成
STIL1450.0およびSTIL1450.2に準拠したSTIL作成
„„インクルードファイルへの出力、インクルードファイルからの容易な展開
インクルードファイルへの出力、インクルードファイルからの容易な展開
„„STIL
を構成する各ブロックへの移動、指定行への容易な移動
STILを構成する各ブロックへの移動、指定行への容易な移動
„„専用のステートメントツリービューからの簡単な挿入
専用のステートメントツリービューからの簡単な挿入
„„ファイルビュー画面からの
STILファイルの簡単なオープン
ファイルビュー画面からのSTILファイルの簡単なオープン
„„キーワードなどの着色、改行コードの自動認識
キーワードなどの着色、改行コードの自動認識
TM
„„STILDirector
STILDirectorTMの各機能を外部コマンドとして利用が可能
の各機能を外部コマンドとして利用が可能
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2008.09
波形表示・タビュラー形式でのパターン表示機能
波形イメージで編集したパターンは
波形イメージで編集したパターンは
STIL
STIL記述で出力可能
記述で出力可能
タビュラー形式の
パターン表示
STIL
STIL記述からは分かり難いパターン
記述からは分かり難いパターン
情報を、タビュラー形式で分かり易く
情報を、タビュラー形式で分かり易く
表示し、編集も可能
表示し、編集も可能
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波形イメージでの
パターン表示
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2008.09
指定時刻に対応するパターン検索、スキャンF/Fに対応するパターン検索
指定時刻(例えばシミュレーションの期
待値不一致の時刻など)を基にして対
応するSTILパターンを検索する機能
シフトパターンのうち、選択したス
キャンF/Fに対応するSTILパターン
を検索する機能
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2008.09
STIL言語学習システムのご紹介
(STIL eラーニング)
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2008.09
「STIL言語学習システム」(STIL eラーニング)
※STIL言語のeラーニング提供開始(‘03/4/7~)
解説
・ユーザー管理
・ユーザー管理
・進捗管理
・進捗管理
・理解度管理
・理解度管理
章毎のトップページ
演習
問題
利用者
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2008.09
STIL eラーニングの利用方法
http://www.tosmec-web.toshiba.co.jp/stildirector/
STIL学習
システム
利用者
体験コース
購入申請
体験コースはeラーニングの操作方法と
STILとは何かを学習できる
「eラーニング」トップページ
TOSHIBA
サイトID発行
ユーザー登録
なしで
体験可能
ユーザー登録申請
TOSHIBA
登録完了
利用開始
利用開始
STIL eラーニングトップページ
https://www.tosmec-web.toshiba.co.jp:8443/stildirector/training/e-learn/index.html
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2008.09
STIL eラーニングのユーザーサポート
受講履歴
理解度テストの
結果参照
パーソナル情報
ユーザー登録
情報の参照
進捗状況
表示色で受講
箇所の確認
「受講済み」
「受講中」
「受講未」
お問い合わせ
講師への質問と
問い合わせ
終了ページ保存
学習済みページ
の保存機能
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ライセンス期間
利用期間の表示
残り日数の表示
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2008.09
STIL eラーニング講座の開講状況
開講講座
・ 「STIL1450.0基礎講座」
開講中
STIL言語の基本仕様にあたる、信号、タイミング、スキャンなどのテストパターン記述に関す
る基礎知識を理解する
・ 「STIL1450.0応用講座」
開講中
「STIL1450.0基礎講座」では学ばなかった、変数によるタイミング定義、パターンのイベン
ト記述やHex値表記、定義情報の継承や部分定義の再利用による柔軟なタイミング定義など、高
度な記述方法を理解する
・「STIL1450.1基礎講座」
開講中
ATPGツールで出力されるスキャンパターンの記述機能、ブール式などの演算子を使って、ア
ルゴリズミックなテストパターンの記述を理解する
・ 「STIL1450.2講座」
開講中
電圧値や電流値などテストプログラムのテスト制御情報としてDCレベルに対するSTIL記述方
法について理解する
拡張仕様に対するeラーニングの講座
・STIL1450.1応用講座 準備中
・STIL1450.3講座
準備中
・STIL1450.4講座
・STIL1450.5講座
・STIL1450.6講座
準備中
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2008.09
故障解析インターフェースのご紹介
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2008.09
STIL用故障解析インターフェースの構築
故障解析作業フロー
テスター
接続
データ
ATPG
STIL
TetraMAX
FastScan
TestBench
故障候補
ノード
故障診断装置へ
テスター
フェイル
ログ
新規開発
故障診断
各故障解析
ツール用
ファイル
故障解析インターフェース
共通フェイル情報作成部
パターン情報作成部
各種故障情報作成部
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2008.09
STIL用故障解析インターフェースの構築(続き)
故障解析インターフェース
テスター
フェイルログ
共通フェイル情
報作成部
共通故障
ファイル
STIL
パターン名
サンプルNo
DUT No
フェイルアドレス
フェイルピン名
期待値
実測値
パターン情報
作成部
パターン
情報ファイル
全プライマリパターンに
対するATPGパターンア
ドレスと先頭からの展開
アドレスの対応
各スキャンパターンの先
頭パターンに対する
ATPGパターンアドレス
と先頭からの展開アドレ
スの対応
各種故障情報作成部
各故障解析
ツール用
ファイル
フェイルしたパターンアドレス
フェイルピン名
フェイルしたFF位置
実測値など
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2008.09
●本資料に掲載してある技術情報は,製品の代表的動作・応用を説明するためのもので,その
使用に際して当社及び第三者の知的財産権その他の権利に対する保証または実施権の許諾
を行うものではありません。また、本資料の掲載内容は、技術の進歩などにより予告なしに変更
されることがあります。
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