LSI テスティング学会 賛助会員について LSI テスティング学会は、研究会「LSI テスティン グシンポジウム」の開催を通じ、LSI テスティング技 術の発展と普及に寄与することを目的としています。 LSI テスティングシンポジウムは、この目的を達成す る為、設計、プロセス、テストおよび設計・製造・テ スト装置分野の研究者が一堂に会し議論する場を提供 するべく、毎年開催されています。なお、シンポジウ ムの主題は次の通りです。 ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● LSI テスティングのための先進設計手法 LSI テスティングのための先進プロセス技術 先進 LSI テスティング 信頼性物理と信頼性工学 集積回路への放射線効果 先進の IC レベルのデバッグと診断 デバッグと診断のための先進プロービング技術 デバッグと診断のための先進回路編集 故障解析のための物理解析 故障解析のための化学的特性評価 新材料およびトランジスタの故障メカニズム LSI テスティングの経済性 新デバイスのテスティング 先進のテスティング装置・システム LSI テスティングの事例 技術セッション (一般講演) のみならず、コマーシャ ルセッション (新製品紹介) を設け、魅力ある討論の場 を用意し、毎年 400 名前後の方々の参加を得ておりま す (LSITS2008 参加者 371 名)。 LSI テスティング学会では、学会の趣旨に賛同し、そ の運営を援助することを目的とする賛助会員(会費年 額 50,000 円/一口 以上)を募っております。なお、 賛助会員には、次の特典があります。 ● ● 賛助会員は、シンポジウムにて、コマーシャル セッション (新製品紹介) 講演を行って戴けます。 賛助会員は、シンポジウムにて、商業展示を行っ て戴けます。 賛助会員一覧 (平成 22 年 3 月 1 日現在,50 音順) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 (株) アイ・アール・システム アイトランス (株) (株) アクレーテク・マイクロテクノロジ (株) アストロン (株) アド・サイエンス (株) アドバンテスト (株) アプライド マテリアルズ ジャパン (株) アポロウエーブ (株) インターアクション ATE サービス (株) エクセルテクノロジー (株) エスアイアイ・ナノテクノロジー (株) ケーエルエー・テンコール (株) (株) コベルコ科研 (株) サンエス (株) ジーダット (株) 数理システム セキテクノトロン (株) TOOL(株) (有) テクノパシフィック (株) テクノラボ DCG システムズ (株) 東機通商 (株) (株) 東陽テクニカ (株) 豊通エレクトロニクス 日本発条 (株) 日本サイエンティフィック (株) 日本電子 (株) 日本電子システムテクノロジー (株) 日本バーンズ (株) 日本マーテック (株) ハイソル (株) パーク・システムズ・ジャパン (株) 浜松ホトニクス (株) 阪和電子工業 (株) (株) ビーエヌ テクノロジー (株) 日立ハイテクノロジーズ Zyvex Instruments, LLC なお、商業展示には、商業展示・ディスカッション ルームを用意いたします。 賛助会員申込みに関する詳細は、下記までお問い合わせ下さい。 連絡先 LSI テスティング学会 会長 中前幸治 〒565-0871 吹田市山田丘 2-1 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 中前研究室内 Tel: 06-6879-7810, Fax: 06-6876-4599, E-mail: [email protected] Web: http://www-LSITS.ist.osaka-u.ac.jp/
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