任せて安心、デバイス評価サービス ◆経験豊富な高信頼性部品（宇宙・車載）のスクリーニング ◆経験豊富な高信頼性部品（宇宙 車載） クリ グ ◆フレキシブルなテスト（電気的特性測定） ◆対策まで提案するESD(静電気放電)ソリューション ◆スペシャリストによる信頼性シミュレーション 高信頼性部品（宇宙・車載）のスクリーニング フレキシブルテスト（電気的特性測定） 部品（ロジック、メモリ、アナログ、受動部品等）のデー タシートからテストプログラムを作成、電気的特性検査 （ＤＣ特性、ＡＣ特性、機能確認）を１個から実施致しま す（健全性を確認）。 開発品デバイスのテストプログラム開発から、Tr-TEG の特性評価、チップ１個/ウェハ１枚からのテスト、量産 テストの立ち上げ、各種品質確認試験まで、半導体評価 のソリューションをワンストップで提供致します。 MCM(CPU+ﾒﾓﾘ)の特性評価 温度特性評価 SHMOO PLOT(マージン評価) T6575(ﾃｽﾀ T6575( ﾃｽﾀ)+P12XL ﾃｽﾀ) ))+P12XL（ｳｪﾊﾌﾟﾛｰﾊﾞ） P12XL（ｳｪﾊﾌ P12XL（ｳｪﾊﾌ （ｳｪﾊﾌﾟﾛｰﾊﾞ） ﾛ ﾊ） ESD（静電気放電）ソリューション ESD（静電気放電）ソリュ ション 信頼性シミュレーション 信頼性シミュレ ション 半導体デバイスのESD/LU試験（HBM、MM、CDM、 LU、MM法-LU）及び保護回路設計コンサル、その他モ ジュール/機能性フィルム/RF-TAG/チョークコイル/ス イッチ等の静電気イミュニティ試験対策、組立工程の静 電気対策ソリューションを提供致します。 ホットキャリア、NBTI評価用のTEG・要素回路の設計、 TEG・要素回路・LSIの特性測定・劣化特性評価、回路シ ミュレーション用のSPICEパラメータ抽出、劣化前後の SPICEパラメータの設定、素子劣化モデルの抽出、およ び回路シミュレーション用の劣化モデル構築など、回路 設計段階で必要となる環境の構築まで対応可能です。 自動車用電子部品の評価事例の紹介 高信頼性が要求される自動車用部品の信頼性評価では、実使用を想定した特殊な評価や、部品のデータシートに 記載されていない実力を評価することは、予測できない不具合の発生を確認するために、非常に重要です。 このような特殊な評価や実力評価の試験系を開発し、評価することができます。 評価事例として、（１）低ＥＳＲコン デンサの耐突入電流試験、（２）国内外のパワ－MOSFETのアバランシェ耐量試験（マージン評価）を実施しました のでご紹介致します。 コンデンサの耐突入電流試験 自動車の多機能化／電子化に伴いECUが増加し、瞬間的な充放電性能及びノイズ除去性能に優れたESR値が 低いコンデンサが求められています。しかし、低ＥＳＲになるほど、コンデンサの突入電流は数十Ａと非常に大きく なります。コンデンサの耐突入電流評価は、重要な評価ですが、試験規格はまだ定められていないのが現状です。 低ＥＳＲの高分子タイプのコンデンサについて、実際のバッテリを使用して極力Ｌ成分を排除した試験系を開発し、 コンデンサの耐突入電流試験を行うことができます。お客様の製品の品質・信頼性向上のお役に立ちます。 コンデンサの耐突入試験回路 コンデンサの突入電流波形 耐突入電流試験による容量変化 Power ＭＯＳＦＥＴのアバランシェ耐量試験 パワ－MOSFETはスイッチング電源やＤＣ-ＤＣコンバ－タなどパワ－回路の最終段に使用されることが多く、この インダクタンスのエネルギをパワ－MOSFETで吸収させる要求が高まっています。 自動車等の高信頼性分野におい て、採用する部品のデータシート上の性能だけでなく、実際の実力を確認することは非常に大切です。パワーＭＯＳ ＦＥＴについて、大電流試験（アバンランシェ耐量試験）を行うことができます。 お客様の製品の品質・信頼性向上の お役に立ちます。 お問合せ先 問合 先 を自部門 を自部門に合わせ変更 合わ 変更 左側の社名ロゴ、本社住所等は変更しない アバランシェ耐量試験回路 アバランシェ試験波形 〒179-0084 東京都練馬区氷川台3-20-16 TEL：03-5920-2300 （代表） URL：http://www.oeg.co.jp/ アバランシェ耐量試験の破壊波形 お問合せ先 沖エンジニアリング株式会社 デバイス評価事業部 デバイス評価営業Ｇ TEL：03-5920-2366 E-mail：oeg-dsales-g＠oki.com 2010.10
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