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球面収差補正機能付走査透過電子顕微鏡(Cs

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球面収差補正機能付走査透過電子顕微鏡
(Cs-corrected STEM)による材料評価
■ 装置外観
■ 装置基本仕様
機種名
日立HD-2700 (球面収差補正機能付)
電子銃
冷陰極電界放出形
加速電圧
200, 120, 80kV
分解能
0.144nm 保証
像信号
明視野STEM像,暗視野STEM像, 二次電子像, 特定回折暗視野像
※材料に応じた最適な加速電圧が選択可能
※結晶方位合わせ等が可能
電子線回折 ライブディフラクションカメラ付属
EDS
EDAX Genesis XM2
EELS
日立 EV3000
※ナノ領域の元素分析(Be~U)が可能
※軽元素(Li,C等)の元素マッピング等が可能
※ STEM: Scanning Transmission Electron Microscope , EDS: Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, EELS: Electron Energy-loss Spectroscopy
球面収差補正機能とは?
電子顕微鏡の
レンズの収差
を解消する画
期的な技術に
より、顕微鏡
の分解能と分
析感度が飛躍
的に向上
高分解能像
球面収差
補正器
1) ナノ粒子
セリア(CeO2)
:Sr
:Ti
:O
5nm
① 燃料電池用触媒
Au-Pt
CB
明視野STEM像
明視野STEM像
暗視野STEM像(ZC像)
試料提供:(株)アイテック
※ ZC像: Z contrast(組成コントラスト)像
解析事例
② 自然酸化膜/金属
・アルミ箔 (厚さ:約12m)
明視野
STEM 像
断面観察
ZC像
③ セラミックス/ナノカーボン複合材
・Al2O3/CNC (カーボンナノコイル)
EELSマッピング
CNC
C-K Edge
C
○
1µm
30nm
明視野STEM 像
2nm
Intensity/ a.u.
Au
Pt
260
EDSマッピング
明視野STEM像
Al-K
Distance/ nm
Au/Pt コア・シェル
断面観察
O-K
100nm
2 Al-L Edge
1
12
○
○
150nm
最表面に約5nmの酸化膜を確認
340
8nm
CNC
EELSマッピング
O マッピング
ZC像
5nm
300
Energy Loss, E/ eV
Al2O3
10nm
0 2 4 6 8 10 12
構造を確認
加速電圧:200kV
加速電圧:120kV
加速電圧:200kV
ナノ・原子レベルの観察・分析
が容易に!
・Au-Pt/ CB
3) 構造像
SrTiO3 [100] 単結晶
2) ナノカーボン
MWNT
70 80 90 100 110
Energy Loss, E/ eV
Al 2O3/CNC界面に反応相は確認されず
大阪府立産業技術総合研究所 化学環境科
長谷川泰則
TEL: 0725-51-2624 E-mail: [email protected]
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