2005年9月29日村田製作所、ＴＤＫ、太陽誘電：地球環境にやさしいバルク実装の普及に向け、超小型積層セラミックコンデンサ０６０３サイズの新たな推奨寸法を３社で共同提案村田製作所、TDK、太陽誘電は、テーピング廃棄物削減効果や部品保管スペース削減等、省資源化の面で地球環境にやさしいバルク実装方式（注1）の、普及拡大に向けた環境整備に取り組んでいます。昨年8月31日にはその具体的な取り組みの一環として、積層セラミックコンデンサの世界市場において、数量構成比でおよそ8割を占める1005サイズ（1.0 0.5 0.5mm）と1608サイズ（1.6 0.8 0.8mm）に関して、従来よりも高いレベルの推奨寸法公差（注2）を3社共同で提案しました。今回はこの取り組みをさらに進め、機器の小型高密度化にともなって需要が拡大している、超小型積層セラミックコンデンサ0603サイズ（0.6 0.3 0.3mm）について、新たな部品推奨寸法公差（下表参照）を提案します。新たに推奨する具体的な部品寸法公差は、太陽誘電が販売しているユニット方式のバルクフィーダ（注3）を使用して、3社で検討した結果を踏まえた推奨値です。この新たな推奨寸法公差の0603 サイズ積層セラミックコンデンサと、ユニット方式バルクフィーダを使用して検証してきた結果、実際の生産ラインで部品実装したときの実装信頼性の指標となる部品吸着率（注4）で、99．99％以上を実現。従来の寸法公差による部品吸着率99．9％に比較して優れたレベルを達成することが確認されました。今回3社で共同提案する推奨寸法公差の0603サイズ積層セラミックコンデンサとバルク実装を組み合わせることで、地球環境にやさしい部品実装を実現するだけでなく、半導体ICと積層セラミックコンデンサなどの受動部品を実装する超小型モジュールなど、クリーンルーム内の実装工程においても、超小型積層セラミックコンデンサの高密度バルク実装の可能性を広げることが期待されます。 3社はこの新たな推奨寸法公差使用に関して、前回と同様、JEITA（電子情報技術産業協会）の「バルク実装調査研究G」においてその詳細を説明し、協力を呼びかけるなどして、部品実装におけるバルク化の環境整備に取り組みます。また、JEITAの受動部品標準化委員会では、前回の1608サイズ、1005サイズの寸法推奨値と合わせて、JEITA規格への反映を検討していく予定です。＜従来の一般的な寸法と今回の推奨値＞積層コンデンサ種類 0603サイズ従来の一般的な値長さ寸法と公差 0.60 0.03 mm 幅・高さ寸法と公差 0.30 0.03 mm 3社の新たな推奨値 0.60 0.03 mm 0.30 0.025 mm ＜用語解説＞注 1：バルク実装方式チップﾟ部品を回路基板に自動機械（チップ部品実装機）を用いて装着（表面実装）するには、チップ部品をひとつずつ供給するための装置（フィーダ）が必要となる。現在主流となっているのはテープフィーダといわれる、チップ部品を保持したテープをリール状に巻いた状態から供給する方式。しかし、テープフィーダは通常、紙と樹脂を材料として使用するため、使用後に廃材がでるという問題がある。これに対してバルクフィーダを使用するバルク実装方式は、チップ部品をばらばらの状態でケースに入れ、そこからひとつひとつ供給できるようにした方式。テープを必要としないことから、環境にやさしい供給方式としても注目されている。注 2：部品推奨寸法公差寸法公差とは、チップ部品の基準寸法（縦、横、高さ）に対して、ばらつきとして許容される寸法誤差の範囲。たとえば 1005 サイズ積層セラミックコンデンサの長さ寸法であれば、1.00 0.04mm であり、基準寸法 1.00mm に対して 0.04mm のばらつき（公差）まで許容できることを示す。下表は、3 社が昨年 8 月に提案した新たな推奨寸法公差積層コンデンサ種類 1005サイズ 1608サイズ長さ寸法と公差幅・高さ寸法と公差長さ寸法と公差幅・高さ寸法と公差従来の一般的な値 3社の新たな推奨値 0.50 0.05 mm 0.50 0.03 mm 1.00 0.05 mm 1.60 0.07 mm 0.80 0.07 mm 1.00 0.04 mm 1.60 0.05 mm 0.80 0.04 mm 注 3：ユニット方式のバルクフィーダバルクフィーダの基本機能である「供給・搬送・吸着」を5 つのユニットで構成したことを最大の特徴とするバルクフィーダ。各ユニットは特別な技術を持たない人でも簡単に交換できるワンタッチ構造となっているため、エラー時の対応が極めて容易であるなどのメリットを有する。注 4：部品吸着率チップ部品実装機において、フィーダから送り出される部品総数に対して部品を吸着して保持するノズルで実際に吸着できた数量の比率を示す数値。この吸着率が高いほど吸着時のエラーが起こりにくいことを意味する。