外観評価用BSDF(散乱・透過特性)測定システムIS-SA

散乱ならびに外観測定向けImaging Sphere
「IS‐SA™」
アプリケーション
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包括的なBRDF、BTDFならびにTIS測定に適した
高速かつフレキシブルなシステム
BRDF(双方向反射分布関数)測定
BTBF(双方向透過分布関数)測定
散乱に基づく、金属、プラスチック、紙、
繊維などの材料の特性解析および分類
IS-SA™は、フィルム、金属、プラスチック、紙、繊維などほぼ全ての材料、および
散乱に基づく、洗浄剤、研磨剤、塗料、
コーティングなどの表面処理の特性解析
および分類
な散乱分布関数の測定を提供します。
品質管理サンプリング
方のアプリケーションで使用できるよう設計されています。
洗浄剤、研磨剤、コーティングや塗料といった表面加工のための高速かつ包括的
また、材料の特性解析および品質評価、コンピュータ モデリングやレンダリングに
向けたBSDF測定のライブラリ生成といった、研究開発と製造における品質管理両
光学設計ならびにレンダリングのアプリ
ケーションに向けた、正確かつ完全な
外観モデルの生成
IS-SA™は、今までにない光学コンフィグレーションを活用してBSDF測定にかかる
時間を劇的に短縮し、一度に2πステラジアン(半球全体)の散乱光を測定します。
IS-SA™には、フレキシブルな測定設定と直感的な操作をもたらす高機能なRadiant
Zemax社製IS-SA™制御解析ソフトウェアが付属しており、アイソメトリック プロット、
利点
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断面グラフ、レーダープロット、ビットマップやカラーグラフといった広範囲のデータ
多くの材質のBSDFおよびTIS測定を数秒
で完了
解析機能ならびにディスプレイ機能もご利用可能です。
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関連する幅広い測定アプリケーションに
とって費用効率の高いソリューション
び材料サンプルを自動で動かし回転させるゴニオメトリック ポジショニング システム
・
任意の材料のBSDFライブラリを構築する
最速かつ最も簡単な方法
オプションには、その他BTDF(透過)測定用のTransmission Armアタッチメントおよ
があります。
IS-SA™ユーザーは、ソフトウェアのオプションによりディスプレイの視野角の性能
測定や、小さな光源の配光測定を行うことが可能です。ソフトウェアを追加すること
で、イメージング色彩輝度計IS-SA™ ProMetric®を他のアプリケーション用に単独
で使用することができます。
株式会社プロリンクス
〒101-0035 東京都千代田区神田紺屋町17
SIA神田スクエア3階
TEL 03-5256-2052 FAX 03-5256-2272
Email : [email protected]
担当部署:営業第一課
散乱ならびに外観測定向けImaging Sphere
「IS‐SA™」
主な特徴
• 輝度および色度測定能力
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入射光の自動制御
•
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光源やサンプルの幅広いオプション構成
使いやすい解析制御ソフトウェア
光学設計ツールへのデータエクスポートが可能
仕様*
光学仕様
CCD タイプ
CCD ビット値
CCD解像度
視野
色測定
減光フィルター
標準照明角度
光源
感度
システム精度
最短測定時間
フルフレーム, 電子冷却付CCD
16-bit (65,536:1) ダイナミックレンジ
512x512 または 1024x1024 ピクセル CCD オプション
約 2π ステラジアン
CIE 1931 適合 XYZ フィルター(輝度のみまたはスペクトルオプションも可)
ND 0, 1, 2 標準
連続 80°
メタルハライドランプまたはハロゲンランプ
反射率 5%以下
BRDF: ±5%
TIR: ±5%
単色(輝度): 1 sec
色度 : 5 sec
機械仕様
寸法(WxHxD)
設置方向
角度分解能
重量
構造
最大サンプル寸法
照明領域
88cm x 66cm x 110cm
垂直、上向き、下向き
0.5°
120 kg
イメージング積分球、イメージング色彩輝度計
無制限 (反射散乱測定時)
10 mm または 20 mm
測定制御ソフトウェア仕様
測定性能:
IS 1.x ソフトウェア
BRDF, CCBRDF, BTDF, CCBTDF
TIR (積分全反射)
TIS (積分全散乱)、ゲイン
相対色: CCT; CIE x,y; u’,v’; E
測定セットアップ、撮像制御
グレースケール表示と疑似カラー表示
散乱と相対色の横断面
散乱と相対色の3次元面プロット
散乱と相対色のアイソメトリック プロット
多重キャプチャのグラフ比較と画像比較
光学設計プログラムとレンダリングツールへBSDFデータのエクスポート
TIS、TIRと色のレポート
プロセス測定 (回転、加算、引算、閾値等)
オプション
BTDF 測定用のTransmission Arm
試料の自動ポジショニング&回転台(X,Y,Phi)
自動反射光除去機能
校正用試料
アパチャーマスク校正装置
自動スペクトル調整照明用モノクロメーター
必要システム仕様
• 2.0 GHz 及び高速プロセッサ
• 1GB 若しくはそれ以上の
RAM
• Windows® 7, Vista , XP
• USB 2.0 インターフェイス
*仕様は予告なく変更されることがあります。
株式会社プロリンクス
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