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重ね合せ精度測定装置 MODEL MAC−110MV1
重ね合せの高精度測定でステッパー管理を一層充実させます。
本装置はリソグラフィー工程において、パターニングされたウェーハ上の各チップ
の重ね合せ誤差の自動計測及びウェーハ上の現像仕上がり状態のマクロ
検査する機能を一体化したハイグレードマシーンです。
概要
・新光学系、デジタルCCDカメラ採用による解像度の向上、及び微細駆動を実現した
精密駆動による位置決め等により、高性能・高信頼性をより一層向上!
測定再現性 : 3nm TIS : ±3nm 器差間誤差 : 10nmを実現!
・新規精密駆動方式の採用により重ね合わせ計測は、100 枚/時間( 5 点/ウェーハ)
を実現 !
・Newプロセス対応 (超低段差、CMP、グレインAl、高段差他)
・計測制御部が一体型で小型・省スペース!
・AGV対応機!
特長
ウ
ェ
ー ハ
6・8インチ
キャ リ ア 数 量
3個
キ ャ リ ア 識 別
バーコード自動読み取り
A G V ガイ ド
光通信による位置決め
外 観 検 査 部
傾
斜
: 20度以下
公
転
: 4〜10秒/回転
自
転
: 停止、4〜10秒/回転
照
明
: ハロゲンランプ/出力可変
併用処理時処理速度
処理速度
: 260枚/時間以上(傾斜動作のみ)
検査項目
: 99項目まで入力可
5露光点内の1ポイント測定、傾斜動作のみ
外観検査+重ね合わせ25枚、80枚./時間以上
外観検査+重ね合わせ抜取5枚、190枚./時間以上
重 ね 合 せ 計 測 部 ※1
測定再現性
: 3nm(3σ)以下
TIS
: ±3nm以内
器差間誤差
: 10nm以下(中央値)
スループット
: 100枚/時間以上
(5露光域内の1点測定にて)
通
信
形
式
シリアル方式(RS−232C 準拠)
外
形
寸
法
約1500(幅)×2000(奥)×1700(高)
※1 面内変動の激しいもの、グレインの影響の大きなもの低コントラストの
もの、主尺・副尺間の段差が著しいものについては別途協議事項と
致します。
※本カタログの内容は予告なく変更することがありますので御了承ください。