TRC社員の学会発表記録

●TRC社員の学会発表記録（平成19年1月〜12月）
TRC社員の学会発表記録
（平成19年1月〜12月）
された。
●③Linear and Non-linear Viscoelastic Behavior of
Poly（Dimethyl Siloxane）Gels
○H. Takahashi, Y. Ishimuro, H. Watanabe*（*Kyoto
TRC社員による学会発表記録を
●題名
○発表者（著者）
University）
○The Second International Workshop for Far East
Asian Young Rheologists（1月28日・京都）
○発表誌あるいは学会名（発表月日・開催地）
●③緩やかに架橋したPDMSゲルの非線形粘弾性挙動
○要旨（論文発表のみ）
○高橋秀明、石室良孝、渡辺宏*（*京都大学）
の順に、研究部室毎に掲載いたします。題名につけられ
○第55回レオロジー討論会（11月3日・金沢）
た数字は、①論文、②総説、解説、単行本（含分担執
●③ナイロン66の機械特性と構造に与える熱処理の影
筆）、③口頭、ポスター、④学術団体主催のセミナー・
響
研究会講演会（講習会は除く）、を意味します。
○大石　学、中西加奈、竹田正明
発表内容に関するお問い合わせおよび別刷りのご請求
○第15回機械材料・材料加工技術講演会（11月17日・
は、営業部までお申し出下さい。
長岡）
●④ 架橋高分子の網目形成反応解析、および網目構造
解析
1．材料物性研究部
○高橋秀明
○社団法人日本ゴム協会　第131回ゴム技術シンポジウ
機械特性
ム（3月9日・東京）
●③A Technique for measuring Adhesion between
Thin Films with Microcutting Instrument
○M. Takeda, N. Matoba, M. Oishi, Y. Ishimuro
○International Conference on Electronics Packaging
（4月20日・東京）
●③ナノインデンテーション法を用いたSi基板上UV照
射SiOC膜の密着性評価
○竹田正明、清水夕美子、的場伸啓、大石学、橋本秀
高分子溶液物性
●③ モノリス型シリカキャピラリーカラムを用いた
SECによるポリマーの分析
○国武豊之、高井良浩、大石学、森里恵1、水口博義2、
中西和樹 3 （ 1 ジーエルサイエンス、 2 京都モノテッ
ク、3京大院理）
○第12回高分子分析討論会（11月6日・東京）
樹
○第68回応用物理学会学術講演会（9月4日・札幌）
化工物性
●④「物性データと物性計算のすべてを知ろう」物性測
高分子物性
●①Viscoelastic Behavior of Scarcely Crosslinked
Poly（ dimethyl siloxane）Gels： 2. Effects of Sol
Component and Network Length
○H. Takahashi, Y. Ishimuro, H. Watanabe*（*Kyoto
定依頼への対応 − 企業側 −
○豊増孝之
○分離技術会、化学工学会基礎物性部会共催第19回
「化学工学物性定数の最近の動向」講演会（3月12
日・東京）
University）
○日本レオロジー学会誌, 35, 191
（2007）
表面物性
○PDMSゲルの線形粘弾性挙動を調べた。ゾル成分を
●③陽電子ビーム法によるCu薄膜の原子欠陥サイズ評
抽出・除去後のゲルの損失剛性率は、高周波数域と
低周波数域で異なる周波数依存性を示した。高周波
数域の緩和は、長さに分布をもつ網目鎖のRouse 型
価
○細見博之、山根常幸、大平俊行*、鈴木良一*（*産総
研）
束縛解放（CR）に帰属された。一方、隣接する複
○第68回応用物理学会学術講演会（9月5日・札幌）
数の網目鎖の協同的CRに対応づけられた低周波数
●③ 石英ガラスとポリカーボネートの陽電子寿命比較
域の緩和は、ゾル抽出後の方が抽出前より速いこと
測定
が見出された。また、架橋密度の異なるゲルの対比
○小林慶規1、伊藤賢志1、岡壽崇1、榊浩司1、白井泰治2、
から、個々の網目鎖の緩和は、架橋密度の増加とと
誉田義英2、島津彰3、藤浪眞紀4、平出哲也5、斉藤晴
もに低周波数側に移行することが見出された。これ
雄 6 、上殿明良 7 、永井康介 8 、佐藤公法 9 、細見博之
より、架橋密度の変化の方が、ゾル成分の存在に比
べ、網目鎖の運動に大きな影響を与えることが推察
（1産総研、2阪大、3日東電工、4千葉大、5原研機構、
東大、7筑波大、8東北大、9東京学芸大）
6
・55
東レリサーチセンター THE TRC NEWS No.102（Jan.2008）
●TRC社員の学会発表記録（平成19年1月〜12月）
○2007年度京都大学原子炉実験所専門研究会「陽電子
A. Inaba 1, M. Sorai 1, T. Tojo 3, T. Atake 3, G. S.
科学とその理工学への応用」（11月16日・大阪）
Matouzenko 4 , S. Zein 4 , S. A. Borshch 4（ 1 Osaka
●④ 陽電子消滅寿命測定法による先端工業材料の細孔
University, 2 Tsukuba University, 3 Tokyo Institute of
評価
Technology, 4ENS-Lyon）
○細見博之、山根常幸
○Journal of Phyical Chemistry B, 111, 12508
○日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委
員会第3回材料分析WG研究講演会（2月28日・東
京）
（2007）
○表題の錯体の配位子の秩序－無秩序転移を伴うスピ
ンクロスオーバー現象について、断熱法による熱容
●④ 陽電子消滅寿命測定法による先端工業材料の細孔
評価
量測定、遠赤外、赤外、ラマン分光測定により調べ
た。相転移に伴うエントロピー変化は、スピン多
○細見博之
重度の変化、配位子の炭素原子およびカウンターカ
○産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門第
チオンのディスオーダーから予測される値より大き
11回公開セミナー「陽電子ビーム利用材料評価研究
く、残りは格子振動および高スピン－低スピン状態
の新展開」（10月5日・つくば）
間の分子内振動の変化に基づくものと推測された。
また、この相転移を経ることで結晶の崩壊が起こる
熱分析
ことが示された。
●①Magnetic property of neptunyl（+2）complex NpO2
（C6H7O2）2（C5H5N）
●②皮膚角層中の細胞間脂質集合体の構造と相転移
○八田一郎*、中西加奈、太田　昇*（*高輝度光科学研
○A. Nakamura*, M. Nakada*, T. Nakamoto, T.
究センター）
Kitazawa**, M. Takeda**（*JAEA, **Toho
○熱測定, 34, 159（2007）．
University）
●③ ナイロン6におけるDSC法三相モデルと繊維物性
○Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 310,
1447（2007）.
との関係
○細見博之、山根常幸、石切山一彦、十時稔*（*滋賀
○窒素原子が配位したネプツニル錯体NpO（
（
2 acac）
2 py）
のDC磁化率測定を行った。
237
Npメスバウアースペ
女子短大）
○第56回高分子討論会（9月19日・名古屋）
クトルは常磁性緩和を示していたにもかかわらず、
●③ナイロン6, 6の熱酸化劣化解析
磁化率は強い磁場依存性を示し、低温での等温磁化
○中西加奈、山根常幸、薮内恵子・高橋義和・大石　測定ではSQUIDの磁場により過剰に誘起された磁化
学・石切山一彦
が時間とともに緩和する特異な現象が認められた。
○第43回熱測定討論会（10月1日・札幌）
個々のイジング分子磁性体中に、準安定なLS結合に
●③The Relationship between Three-phase Model
よる揺動磁気モーメントが存在することが示唆され
Obtained from DSC and Physical Properties of
Nylon 6 Yarns
た。
●① Molecular magnetism in neptunyl（+1, +2）
complexes:
Np-Mössbauer and magnetic study
237
○A. Nakamura*, M. Nakada*, T. Nakamoto, T.
○H. Hosomi, T. Yamane, K. Ishikiriyama, M. Todoki*
（*Shiga Women’
s Junior College）
○The 10th Pacific Polymer Conference（PPC10）
Kitazawa**, M. Takeda**（*JAEA、**Toho
（12月5日・神戸）
University）
●④DSC・μ-TAによるナノ・ミクロン領域の熱分析
○Journal of Alloys and Compounds, 444, 621（2007）.
○中西加奈
○これまでのネプツニル（+1,+2）錯体（Np（V, VI）; 5f 2,1）
○日本熱測定学会講演会「どこまで測定できるか、微
の
237
Npメスバウアー分光測定結果と磁化測定結果に
小・局所熱分析の現状と応用」（7月18日・東京）
ついて、ネプツニルカチオンのカチオン－カチオン
結合による構造と低次元磁性の相関を焦点として総
熱物性
括的な議論を行った。
●②3ω法による薄膜材料の熱伝導率測定
●① Spin Crossover Phenomenon Accompanying
○山根常幸
Order-Disorder Phase Transition in the Ligand of
○日本熱電学会誌, 4（2）, 20（2007）．
II
［Fe（DAPP）
（abpt）
］
（ClO4）2 Compound（DAPP）
●③シリコンウエハ上薄膜の線膨張係数測定
Bis（3-aminopropyl）
（2-pyridylmethyl）amine, abpt）
○平野孝行、坂本厚、山根常幸、石切山一彦
4-Amino-3,5-bis（pyridin-2-yl）-1,2,4-triazole）and Its
Successive Self-Grinding Effect
○Y. Miyazaki1, T. Nakamoto, S. Ikeuchi1, K. Saito2,
56・東レリサーチセンター THE TRC NEWS No.102（Jan.2008）
○第28回日本熱物性シンポジウム（10月24日・札幌）
●②薄膜材料の熱物性評価
○山根常幸、平野孝行
●TRC社員の学会発表記録（平成19年1月〜12月）
○セラミックス, 42（12）, 921（2007）
1:Kyoto Institute of Technology
◯ International Conference on Silicon Carbide and
Related Materials 2007（10月18日・大津）
2．構造化学研究部
●③Depth Profiling of AI Ion-Implantation Damage in
表面・界面の構造解析
◯ T. Mitani, R. Hattori, and M. Yoshikawa
●④ ラマン分光法による高分子の高次構造解析と表面
◯ International Conference on Silicon Carbide and
SiC Crystals by Cathodoluminescence Spectroscopy
分析への応用
Related Materials 2007（10月15日・大津）
○村木直樹
○第25回高分子表面研究会講座（6月22日・東京）
構造解析（全般）
●④第44回表面科学基礎講座“赤外分光法、ラマン分
●②ラマン分光によるポリマーの構造解析
光法”
○吉川正信
○日本分光学会（10月3日・大阪）
○吉川　正信、井上　敬子
○樹脂の硬化度・硬化挙動の測定と評価方法（サイエ
ンス＆テクノロジー）
●④テラヘルツ分光−新しい工業材料分析技術
微小部の構造解析
◯熊沢亮一
●① Characterization of Si nanostructures using a
◯応用物理学会シンポジウム「分光センシング技術の
non-contact mode, scanning near-field optical
新たな活用と展開」（3月28日・横浜）
Raman microscope, with 100-nm spatial resolution
●④新しい工業材料分析技術としてのテラヘルツ分光
and 5-nm depth resolution, using ultraviolet
◯熊沢亮一
resonant Raman scattering
◯分析展 JAIMAコンファレンスセミナー「産業から
○M.Yoshikawa, M.Murakami, and H.Ishida
見たテラヘルツ波時間領域分光の現在と将来展望」
◯Applied Physics Letters 91, 131908（2007）
（8月29日・幕張）
◯近接場ラマン分光装置を開発し、100nm以下の空間
●④ラマン分光法
分解能でSiの応力評価ができることが分かった。
−ラマン分光法の応用：工業材料−
●③近接場ラマン分光法を用いたSiの応力分布評価
○吉川　正信
○村上昌孝・松田　景子・杉江隆一・吉川　正信
○第43回日本分光学会夏季セミナー（8月31日・幕張
○ナノプローブテクノロジー第167委員会
●③カソードルミネッセンス（CL）法による応力、結
晶欠陥、プロセスダメージ評価
◯杉江隆一、三谷武志、松田景子、味岡恒夫、吉川正
信
メッセ）
●②ひずみ計測技術
○吉川　正信、中島信一（大阪大学名誉教授）
○日経マイクロデバイス9月号（2007）
●④ラマン分光分析の基礎と実際
◯第63回顕微鏡学会（5月21日・新潟）
～測定の注意点とスペクトルの読み方～
●③Expansion of Stacking Faults by Electron-Beam
○吉川正信
Irradiation in 4H-SiC Diode Structure
◯R. Sugie, M. Yoshikawa, S. Harada, and Y. Namikawa
◯International Conference on Silicon Carbide and
Related Materials 2007（10月15日・大津）
●③ Characterization of Nanometer-sized ZnO by
Raman and Cathodoluminescence spectroscopies
○K.Inoue, T.Nakagawa, M.Yoshikawa, N. Hasuike, and
H.Harima
◯International Conference on Silicon Carbide and
Related Materials 2007（10月15日・大津）
●③Characterization of V-defects in InGaN single-
○サイエンス＆テクノロジー（11月9日・東京ビッグサ
イト）
●③ 医薬品バルビタールの結晶多形による低温テラヘ
ルツ吸収スペクトル変化
◯熊沢亮一、廣理英基、鳥海美晴、吉川正信、
茂本勇*、福島一城**（* 東レ、** 栃木ニコン）
○日本分光学会テラヘルツ分光部会シンポジウム「テ
ラヘルツ分光の最先端Ⅱ　－多様化と進歩－」（11
月21日・逗子）
●②燃料電池用電解質の評価方法
◯崎山庸子
quantum-well films at nanometer level by
◯電池部材の高性能化と信頼性の向上（技術情報協会
high spatial resolution cathodoluminescence
分担執筆）
spectroscopy
●②PEFC電解質の劣化解析と評価法
○M.Yoshikawa, M.Murakami, T.Fujita, K.Inoue,
K.Matsuda, H.Ishida and H. Harima1
◯崎山庸子
◯表面技術　第58巻　第3号　2007年（表面技術協会
・57
東レリサーチセンター THE TRC NEWS No.102（Jan.2008）
●TRC社員の学会発表記録（平成19年1月〜12月）
誌）
○吉川和宏
●③ PEFC水管理によるセル劣化対策−負荷条件・加
湿度がセル劣化に及ぼす影響−
○日本表面科学会関西支部主催第10回実用表面分析セ
ミナー（10月5日・吹田）
◯崎山庸子、佐籐信之、高崎万里、大久保賢治、上野
義弘、片桐元、南出智浩、中山浩*、堀美知郎*（*大
表面分析（SPM）
同工業大学）
●③ C o r r e l a t i o n b e t w e e n s c r e w d i s l o c a t i o n s
○第14回燃料電池シンポジウム（5月17日・東京）
●③固体 Li NMRによるリチウムイオン電池電極材料
7
の劣化前後における状態解析
distribution and cathodoluminescence spectra of
InGaN single quantum well films
○Takaya Fujita, Takeshi Mitani, Masataka Murakami,
◯崎山庸子、三輪優子
Masanobu Yoshikawa and Hiroshi Harima*（*Kyoto
○第42回固体NMR・材料フォーラム（11月6日・京
Institute of Technology）
都）
●③LED用封止樹脂の劣化分析
◯三好理子、泉由貴子、三輪優子
○第42回固体NMR・材料フォーラム（11月6日・京
都）
●③固体NMRによるPTHFA中に存在する水の状態分析
○三輪優子、石田宏之、望月明*、田中賢**（*東海大
開発工、**　北大電子研ナノテク）
○International Conference on Silicon Carbide and
Related Materials 2007（10月18日・大津）
●④ 走査型プローブ顕微鏡による微小領域電気特性
マッピング
○藤田高弥
○応用物理学会結晶工学分科会第12回結晶工学セミ
ナー（10月4日・東京）
●④SCM・SSRMの限界と課題
○第56回高分子学会年次大会（5月30日・京都）
○藤田高弥
●④第137回　ゴム技術シンポジウム
○日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員
○三輪優子
○第137回　ゴム技術シンポジウム（11月2日・東京）
●③ γ線架橋したナイロン-6,6/反応性難燃剤コンポ
ジットの固体NMRによるキャラクタリゼーション
○石田宏之、三輪優子、管野敏之*、柳瀬博雅*、重原
淳孝**（*富士電機アドバンストテクノロジー、**東
京農工大院工）
○第41/6回固体NMR・材料フォーラム（5月8日・東
会開催第48回研究会「半導体を支えるSPM技術の現
状と未来」（11月19日・金沢）
●④SPMを用いた半導体からバイオまでの電気特性イ
メージング
○藤田高弥
○日本顕微鏡学会関西支部特別企画講演会「生物科
学・材料科学におけるイメージングの統合化」（12
月25日・岡崎）
京）。
表面分析（SIMS、TOF-SIMS）
●②Backside SIMSによる有機EL素子界面の不純物拡
3．表面科学研究部
散評価
○宮本隆志、藤山紀之
表面分析（XPS）
○表面科学 Vol.28, No.5, pp.247-252（2007）
●②ESCAによる高分子材料の深さ方向分析
●②SIMSによるhigh-kゲート絶縁膜の高信頼性分析
○山元隆志、吉川和宏、高橋久美子、中川善嗣
○長谷川剛啓、赤堀誠至
○Polyﬁle, Vol. 44, No. 524, p.40（2007）.
○表面科学 Vol.28, No.11, pp.638-641（2007）
●③HfLaOx/SiO2/Siスタックの熱処理による界面構造
●③自動車塗膜の光劣化における表面状態の解析
変化と組成比依存性
○山元隆志、関洋文、宮本隆志、辻淳一、杉山直之、
喜多浩之*（*東大）
○第68回応用物理学会学術講演会（9月7日・札幌）
●④不純物ドープNi-FUSIの界面構造（AsとBの違いと
ドーズ量依存性）
○山元隆志、小川慎吾、宮本隆志、松田景子、竹野文
人、杉本智美、斎藤正裕、藤山紀之
○ゲートスタック研究会 -材料・プロセス・評価の物
理（第12回研究会）（2月2日・三島）
●④C60+イオンエッチングを用いたXPS深さ方向分析
58・東レリサーチセンター THE TRC NEWS No.102（Jan.2008）
○執行文子、渡邉猛
○高分子学会高分子表面研究会主催「第12回高分子表
面研究討論会」（1月18日・東京）
●③Depth profiling of reacted functional groups in
the chemically amplified photo-resist through the
lithography process
○N. Man, A. Sekiguchi*, H. Seki, T. Matsunobe
（*Litho Tech Japan Corporation）
○The 16th International Conference on Secondary Ion
Mass Spectrometry（SIMS XVI）（11月1日・金沢）
●③Depth Profiles of Ge substrate sputtered by Cs+
●TRC社員の学会発表記録（平成19年1月〜12月）
and O2+ primary ions
○林栄治
○J.Sameshima, T.Hasegawa, K.Yamada, A.Karen
○検査技術　Vol. 12, No. 12, pp. 18-29（2007）.
○The 16th International Conference on Secondary Ion
●②DLC膜中の水素濃度評価について
Mass Spectrometry（SIMS XVI）（11月1日・金
○林裕美
沢）
○㈱情報技術協会　月刊MATERIAL STAGE　2007年
●③ Study of impurity diffusion through an OLED
device interface by backside SIMS
○T. Miyamoto, N. Fujiyama, A. Karen
○The 16th International Conference on Secondary Ion
Mass Spectrometry（SIMS XVI）（11月1日・金沢）
●③ Application of Cluster Ion Beams to Surface
6月号, pp.106-109
●②有機EL素子の高温保存劣化分析
○宮口敏*、大畑浩*、平沢明*、宮本隆志（*パイオニア
総研）
○有機ELのデバイス物理・材料化学・デバイス応用
（11月・CMC出版）
Analysis of Industrial Materials: TOF-SIMS and
●③Co層挿入によるNiSi2の低温形成
XPS Analysis for Organic Compounds
○齋藤正裕、岡田一幸、山元隆志、杉山直之
○A.Karen
○第68回応用物理学会学術講演会（9月6日・札幌）
○8th Workshop on Cluster Ion Beam Technology（11
●③有機EL素子の高温保存劣化分析（3）
月9日・東京）　○小山田崇人*、宮口敏*、宮本隆志（*パイオニア総
研）
薄膜の構造解析、その他
○有機EL討論会第5回例会（11月16日・福岡）
●①固体高分子形燃料電池の劣化解析と評価法
●④ 表面分析機器を用いた工業材料の評価　〜最表面
○林栄治
をいかに調べるか〜
○マテリアルライフ学会誌 Vol. 19［2］, pp. 62-66
○林栄治
（Apr. 2007）.
○日本セラミックス協会主催第11回ガラス表面研究討
○固体高分子形燃料電池のMEAの劣化評価を行うた
論会（2月2日・東京）
めに、EPMA、TEM、ラマン、NMR、MALDITOFMS、LC/MS/MS等、それぞれの分析手法の特
徴を生かした総合的な解析の重要性を示した。
4．形態科学研究部
●① Mechanical Properties and Inhomogeneous
Nanostructures of Dicyandiamide-Cured Epoxy
微小部の形態・構造解析
Resins
●③自己形成CuMnバリアメタルのEELS分析
○H. Kishi*, T. Naitou*, S. Matsuda*, A. Murakami*, Y.
Muraji, Y. Nakagawa（*兵庫県立大）
○Journal of Polymer Science: Part B: Polymer
Physics, Vol. 45, 1425-1434（2007）.
○AFMによってジシアンジアミド硬化エポキシ樹脂の
○大塚祐二、迫秀樹、石橋喜代志、飯島純*、小池淳一*
（*東北大学）
○第63回日本顕微鏡学会学術講演会（5月20日・新潟）
●③価電子EELSを用いた層間絶縁膜の誘電率導出の検
討
ナノスケールのゲル構造を調べ、その形態の違いが
○大塚祐二、川崎直彦、島田美代子*、小川真一*
樹脂の物理的、機械的特性に影響を与えている可能
（*SELETE）
性を明らかにした。
○第63回日本顕微鏡学会学術講演会（5月21日・新潟）
●①Study of Peeling at Doped NiSi/SiO2 Interface
○Masahiro Saito, Naoyuki Sugiyama, Keiko Matsuda,
Tomomi Sugimoto, Takashi Miyamoto, Takashi
Yamamoto, Kimihiko Hosaka*, and Takayuki Aoyama*
（*Fujitsu Laboratories）
○Jpn. J. Appl. Phys., 44, No. 5B, 3219-3223（2007）
○不純物添加NiSiの膜剥がれの原因として、不純物種
●③TEM-トモグラフィ法を用いたPt担持カーボンの三
次元構造評価
○松脇右京、伊藤俊彦、大塚祐二、陣内浩司*（*京都
工芸繊維大）
○第63回日本顕微鏡学会学術講演会（5月22日・新潟）
●③TEMトモグラフィを用いた65nmノードゲートの三
次元構造評価
（B,Sb）によるシリサイド化反応の違いを指摘した。
○伊藤俊彦、大塚祐二
●②MEAの劣化解析と評価法
○第63回日本顕微鏡学会学術講演会（5月22日・新潟）
○林栄治
●④TEMを用いた歪み解析へのアプローチ
○金村聖志監修「電池部材の高性能化と信頼性の向
○杉山直之
上」、部分執筆（第3章4節）、技術情報協会（2007）
●②表面分析機器を用いた工業材料の評価
○応用物理学会結晶工学分科会　第127回研究会「IV
族半導体の歪みエンジニアリング」（7月13日・東
・59
東レリサーチセンター THE TRC NEWS No.102（Jan.2008）
●TRC社員の学会発表記録（平成19年1月〜12月）
京）
●④SiPの内部応力ならびに接続部の信頼性評価
5．有機分析化学研究部
○伊藤元剛、的場伸啓、鈴木亜紀、杉江隆一、吉川正
雄、橋本秀樹
○第37回信頼性保全性シンポジウム（7月17日・東京）
●④FFTフィルタリングによるSi結晶中の欠陥評価
高分子分析
●③ テトラエトキシシラン分解法を用いたシリコーン
樹脂の共重合組成分析
○久留島康輔
○虎谷秀一、日下田成、佐藤信之
○2007夏の電子顕微鏡解析技術フォーラム（8月31
○第12回高分子分析討論会（11月7日・東京）
日・熱海）
●④イオンスライサを用いた先端材料のTEM用薄膜作
製
組成分析
●②シランカップリング剤の分析技術
○大塚祐二
○合屋文明
○東京大-日本電子産学連携開催セミナー「イオンビー
○Material Stage, Vol.7, No.4, pp20-28（2007）
ムを用いた電子顕微鏡用試料作製セミナー」（8月23
●③各種分解法による有機顔料の構造解析
日・東京）
○田口嘉彦、大槻亜紀子、佐藤信之
●①Growth kinetics and thermal stability of a selfformed barrier layer at Cu-Mn/SiO2 interface
○J. Koike*, M. Haneda*，J. Iijima*, Y. Otsuka, H. Sako
and K. Neishi*（*Tohoku Univ.）
○第12回高分子分析討論会（11月7日・東京）
●③LC/MS法による光カチオン重合開始剤の分析
○合屋文明
○第12回高分子分析討論会（11月6日・東京）
○J. Appl. Phys., 102, 043527 （2007）
●②インクジェット関連分析サービス
●③TEMトモグラフィ法を用いた燃料電池電極構造の
○荻野純一
三次元解析
○伊藤俊彦、松脇右京、大塚祐二、陣内浩司*（*京都
工繊大）
○2007インクジェット技術大全
第9編第4章（2007）
●②接着剤中の添加剤の分離・分析技術
○第56回高分子討論会（9月19日・名古屋）
○合屋文明
●③TEM-EELS法を用いた燃料電池電極中の高分子電
○接着剤分析・評価全集、技術情報協会（2007）
解質の評価
○大塚祐二、伊藤俊彦、松脇右京、陣内浩司*（*京都
工繊大）
●②トナーの表面・深さ方向分析
○荻野純一、泉由貴子、高橋久美子、増田昭博
○表面・深さ方向の分析方法、第11節（2007）
○第56回高分子討論会（9月19日・名古屋）
●③電子エネルギ−損失分光法（EELS）を用いた（電
解質）ポリマ−の評価
○大塚祐二、陣内浩司*、伊藤俊彦（*京都工繊大）
○第56回高分子討論会（9月20日・名古屋）
●③高分解能HAADF-STEM像によるメタルゲート電極
中ドーパント原子偏析位置の確認
○川崎直彦、杉山直之、大塚祐二
○応用物理学会秋季講演会（9月5日・札幌）
微量分析
●③Analysis of degradation products from polymer
electrolytes
○佐藤信之、大久保賢治、高崎万理、林栄治、崎山庸
子、片桐元、南出智浩1、中山浩1、堀美知郎1（1: 大
同工業大学）
○2007 Fuel Cell Seminar（10月16日・サンアントニ
オ）
●④ 分析電子顕微鏡法を用いたSiデバイスおよび電池
材料の評価事例
発生ガス分析
○大塚祐二
●③樹脂成型時に発生するガスの解析
○学振131薄膜委員会研究会（10月18日・東京）
○小川賢吾、荻野純一、斎藤重正1
●③ 分析電子顕微鏡によるリチウムイオン電池の劣化
解析
○原田貴弘、大塚祐二、加藤淳、青木靖仁
○第48回電池討論会（11月15日・福岡）
（1：富士電機機器制御）
○13th Symposium on“Microjoining and Assembly
Technology in Electronics”
（2月2日・横浜）
●④部材・製品からの発生ガス分析
○荻野純一
○第36回インターネプコンジャパン（1月19日・東京）
60・東レリサーチセンター THE TRC NEWS No.102（Jan.2008）
●TRC社員の学会発表記録（平成19年1月〜12月）
6．無機分析化学研究部
環境分析
○日本環境測定分析協会（8月31日・千葉）
8．薬物動態研究部
●③ 樹脂中・クロメート処理部品中の六価クロム定量
分析
○西大路宏
○（株）技術情報協会（3月22日・東京）
薬物動態分析
●④API5000TM LC/MS/MSシステムを用いた高速定量
分析の開発について
○廣川順一
微量分析
●②無機汚れの評価法
○坂口晃一、田辺健二、山田敬一、須志田一義、「エ
レクトロニクス洗浄技術」、技術情報協会（分担執
筆）（2007）
○Applied Biosystems / MDS Sciex LC/MSユーザーズ
ミーティング2007（1月23、25日、東京、大阪）
●④ LC/MS/MSを用いた生体試料中医薬品のハイス
ループット分析
○竹澤正明、廣川順一
○日本分析化学会液体クロマトグラフィー研究懇談会
生体内の金属代謝
●③肝癌モデルラットを用いた細胞の元素分析
○鈴木美成*、志村まり*、前島一博**、松山智至***、岡
主催　第12回LCテクノプラザ（2月1日・千葉）
●④生体試料中薬物濃度測定におけるHILICカラムを用
いたLC/MS/MS分析の諸問題
村匡史*、片岸恵子***、飯田豊、宮沢雅之*、玉作賢
○廣川順一、竹澤正明
治**、西野吉則**、矢橋牧名**、湯本博勝***、三村秀
○第205回液体クロマトグラフィー研究懇談会（7月20
和***、今本尚子**、石坂幸人*、山内和人***、石川哲
日・千葉）
也**
（*国立国際医療センター研究所、**理研、***大阪大
学大院）
9．生物科学研究部
○第30回日本分子生物学会年会・第80回日本生化学会
大会合同大会（12月14日・横浜）
構造解析
●②構造決定手法の実際と分析装置の活用法
○川口　謙
7．環境分析研究部
○医薬品の安定性・品質・規格試験法と生データの取
環境分析
●③A computer program for automated analysis of C
り扱い（単行本，分担執筆，技術情報協会）
●③ダイオキシン類分析の試験所間比較試験
terminus of a protein by LC-MS
○宮崎徹1）、田中毅一郎2）、大塚健次3）、高菅卓三4）、
○Tatsuru Sasagawa1, Satoko Ohta1, Yasuko Mizuno1,
岩木和夫 5）（日環協・極微量物質研究会、1）ニッ
Yumiko Matsuyama 2 , Toshiji Kudo 2 , Takashi
テクリサーチ、2）東レリサーチセンター、3）JFE
N i r a s a w a 2（ 1東レリサーチセンター、 2日本ブル
テクノリサーチ、4）島津テクノリサーチ、5）奥羽
大学）
○第16回日本環境化学討論会（6月20日・小倉）
●④PFOS/PFOAの分析技術と動向
○大久保賢治
○工業技術会（4月17日・東京）
カー）
○55th ASMS Conference on Mass Spectrometry（6月
3日米国・Indianapolis）　●③ 燃料電池におけるパーフルオロスルホン酸系電解
質の劣化生成物の構造解析
○高崎万里1、佐藤信之1、大久保賢治1、後藤健治1、木
●④PFOS/PFOAの分析技術と動向
村一雄1、崎山庸子1、片桐元1、南出智浩2、中山浩2、
○大久保賢治
堀美知郎 2 （ 1 東レリサーチセンター、 2 大同工業大
○JEITA（5月22日・東京）
学）
●④ダイオキシン類の分析精度は
○第56回高分子討論会（9月19日・名古屋）　−クロスチェックについて
●④超高磁場NMRおよび極低温NMRプローブ利用によ
○田中毅一郎
るメタボリックプロファイリングの試みと分析受託
○日本環境測定分析協会（8月31日・千葉）
業務からの話題提供
●④PFOS/PFOA問題の動向と分析
○川口謙
○大久保賢治
○JAIMAコンファレンス“メタボリック・プロファイ
・61
東レリサーチセンター THE TRC NEWS No.102（Jan.2008）
●TRC社員の学会発表記録（平成19年1月〜12月）
リングとメタボロミクス”（メタボリック・プロファ
イリング研究会主催）（8月29日・幕張）
11．技術開発企画部
熱分析
10．名古屋研究部
●④温度計測技術者のための熱物性基礎「DSCを利用
した“材料の融点、相転移”」
安定性試験
○石切山一彦
●④ 医薬品の品質にかかわる試験検査業務におけるラ
○計測自動制御学会主催　第123回温度計測部会講演会
ボ試験の逸脱管理について
（7月27日・東京）
「受託試験検査施設における異常・逸脱への対応事例
の紹介」
高分子物性
○小林弘武
●④ここまで解析できる高分子材料
○講演会（サイエンス＆テクノロジー）（8月23日・東
○石室　良孝
京）
○高分子学会関西支部主催　第4回関西若手高分子セ
ミナー＠東レ（10月31日・滋賀）
62・東レリサーチセンター THE TRC NEWS No.102（Jan.2008）

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